Интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1279337
Авторы: Городецкий, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков
Описание

где

l - расстояние от источника света до центра голограммы;
n - показатель преломления материала образцового элемента;
R - величина радиуса кривизны эталонной поверхности;
t - толщина образцового элемента;

Q - скважность структуры голограммы;
K - коэффициент, равный -1 для выпускной эталонной поверхности, +1 для вогнутой, 0 для плоской.
Заявка
3893990/28, 12.03.1985
Городецкий А. А, Ларионов Н. П, Лукин А. В, Мустафин К. С, Рафиков Р. А
МПК / Метки
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: интерферометр, оптических, поверхности, формы
Опубликовано: 27.06.2002
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1279337-interferometr-dlya-kontrolya-formy-poverkhnosti-opticheskikh-detalejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей</a>
Предыдущий патент: Устройство управления паровой котельной установкой
Следующий патент: Способ получения отражающего покрытия
Случайный патент: Электрододержатель гибких электродов для электрогидравлических установок