Способ определения профиля сечения объекта

Номер патента: 1835485

Автор: Котцов

ZIP архив

Текст

,г ЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ сится к анализу проктеристик объектов, тивным способам опо видеоинформации.(54) СПО СЕЧЕНИ (57) Изо странст преимущ ределен СОБ ОПРЕДЯ ОБЪЕКТА ретение отновенных хараестве)но к акия сечений и ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОВЕДОМСТВО СССР(71) Институт космических исследований АСССР(56) Патент США М 4825263, кл. 6 0111/24, 1989. Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения профиля сечения объекта.Цель изобретения . - повышение точности за счет непрерывности сканирования.Для достижения цели формирование растра и анализ его положения осуществляют последовательным синхронным сканированием ио одному и тому же закону.На чертеже приведено устройство для осуществления способа.Источник 1 через конденсатор 2 освещает диск 4 Нипкова, который вращает привод 4, а движущийся растр обьективом 5 проецирует на поверхность 6 обьекта. Это изображение растра на поверхности 6 фокусируется обьективом 7 на втором диске 8 Нипкова, который вращается приводом 9 синхронно с приводом 4 первого диска 3. При этом в случае совпадения проекции растров диска 3 и 8 на поверхности 6 излучение,Целью изобретения является повь точности определения положения и сечения. Для этого освещают и наб объект вонаиравлении, перпендику направлению базиса, а формирован тового растра и преобразование опт го изображения в видеосигнал про последовательным синхронным ска нием по одному и тому же закону. и вводят дополнительное постоянное ное смещение вдоль направления при сканировании на величину пара для заданной плоскости сечения, а и ние профиля сечения определяют ио туде видеосигнала. 1 ил. гашение рофиля людают лярном ие све- ическоизво 0 ят нировари этом взаимбазиса ллакса оложе- амплиотраженное этои поверхностью, будет пропущено через диск 8 и соберется объективом 10 на фотоприемнике 11. В случае несовпадения проекции этих растров отраженноеизлучение будет задержано диском 8. Плоскость совпадения проекции является СО положением плоскости сечения и определя- (А)ется величиной смещения разверток, зада- (Л ваемой узлом 17, Перемещая диск 3 вдоль р направления базиса, устанавливается необходимый параллакс, соответствующий заданной плоскости сечения для определения профиля Объекта. При попадании излучения на фотоприемник 11 формируется електрический Сигнал, который через усилитель 12 ьзажигает источник 13. освещающий через объектив 14 диск Нипкова 15, положение которого связано с диском 8 и задает положение точки формируемого изображения, В, результате на выходе получим изображение следа сечения объекта плоскостью в виде1835485 оставитель В, Котхред М.Моргента едактор С, Кулакова Те л Корректор Н. Кешел каз 2979 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 133035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 зводственно-иэдательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина,светового следа этого сечения. Полученное иэображение может быть непосредственно отпечатано на фотоматериале или спроецировано в любом заданном масштабе на экран,Способ может быть реализован также иными средствами,Способ позвбляет получить изображение следа сечения объекта плоскостью непосредственно в процессе формирования видеосигнала,Формула изобретения Способ определения профиля сечения объекта, заключающийся в том, что устанавливают на базисное расстояние источник и приемник излучения, формируют световой растр на поверхности контролируемого объекта, регистрируют изображение поверхно сти контролируемого объекта, анализируютположение растра на поверхности обьекта и по результатам анализа определяют профиль сечения объекта, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, 10 формирование растра и анализ его положения осуществляют последовательным синхронным сканированием по одному закону.

Смотреть

Заявка

4896606, 11.11.1990

ИНСТИТУТ КОСМИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ АН СССР

КОТЦОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, профиля, сечения

Опубликовано: 23.08.1993

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1835485-sposob-opredeleniya-profilya-secheniya-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения профиля сечения объекта</a>

Похожие патенты