Устройство для измерения отклонений от прямолинейности объекта

Номер патента: 1682769

Автор: Соколов

ZIP архив

Текст

Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено для измерений отклонений от прямолинейности, плоскостности, соосности, а также для центрирования объектов.Цель изобретения - повышение точности измерения эа счет обеспечения линейности соотношения величины смещения энергетического центра падающего на фотоприемник пучка лучей от величины смещения уголкового отражателя, т. е. от измеряемой величины.На чертеже изображено устройство для измерения отклонения от прямолинейности объекта, общий вид.Устройство содержит источник 1 света, например газовый лазер, установленный в корпусе 2 с помощью юстировочных винтов 3, коллиматор 4 и установленный на кронштейне 5 блок оптических элементов, включающий двухлучевую поляризационную призму 6 Фостера, линейный поляризатор 7 и четвертьволновую пластину 8. Призма 6 установлена таким образом, чтобы оптическая ось элементов призмы была перпендикулярна направлению прохождения пучка света от источника 1 света и параллельна плоскости поляризации этого пучка света. Это условие достигается при сборке путем поворота источника 1 света в корпусе 2 до положения максимальной интенсивности прошедшего через призму 6 пучка света, после чего устанавливается линейный поляризатор 7 также по условию максимальной .интенсивности прошедшего пучка света, На выходном торце призмы 6 неподвижно закреплена четвертьволновая пластина 8. В этом же блоке установлен и позиционночувствительный фотоприемник 9, выходной сигнал которого, пропорциональный смещению падающего на фотоприемник 9 пучка света, подается на вход блока 10 индикации.Проходящий от источника 1 света через оптический блок пучок света направляется на уголковый отражатель 11, установленный в центрирующем корпусе 12 на контролируемом объекте 13.Устройство работает следующим образом.Источник 1 света излучает пучок света, который, проходя через коллектор 4, преобразуется из расходящегося в параллельный, В качестве коллиматора 4 могут быть применены афокальные оптические системы Кеплера или Галилея, Полученный параллельный пучок .света падает на линейный поляризатор 7, где дополнительно стабилизируется положение плоскости поляризации пучка света, проходит через50.пучок света испытывает полное отражение, Формула изобретения 1. Устройство для измерения отклонений от прямолинейности объекта, содержащее источник линейно поляризованногосвета, уголковый отражатель, предназначенный для установки на контролируемомобъекте, четвертьволновую пластину и фотоприемник, о т л и ч а а щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения,оно снабжено двухлучеаой поляризацион 5 1015202530 35 двухлучевую поляриэационную призму 6Фостера и направляется на уголковый отражатель 11, установленный на контролируемом объекте 13.При совпадении вершины уголкового отражателя 11 с центром падающего пучка света отраженный пучок лучей совпадает с пучком света, выходящим из оптического блока. При смещении вершины уголкового отражателя 11 от центра падающего пучка лучей на величину а отраженный пучок света сместится от своего первоначального положения на величину 2 а. Проходя далее черезчетвертьволновую пластину 8 и поляриэационную призму 6, данный пучок света полностью отразится от плоскости раздела элементов поляризационной призмы 6, а эат,м от верхней зеркальной грани призмы 6 и попадает на фотоприемник 9, Так как положение оптического блока при измерении остается неподвижным, то и смещение центра падающего на фотоприемник 9 пучкасвета также будет равно удвоенному значению смещения контролируемого объекта 13 от своего номинального положения, что вызывает пропорциональное изменение сигнала фотоприемника 9, поступающего на вход блока 10 индикации.Отсутствие отражения при прохождении через плоскость разреза элементов поляризационной призмы 6 пучка лучей, идущих со стороны источника 1 света и наоборот, полное их отражение от этой плоскости при прохождении пучка света от уголкового отражателя 11 объясняется свойствами самой поля ризационной призмы 6, а именно тем, что в первом случае показатель преломления прозрачного слоя разреза поляризационной призмы 6 Фостера больше показателя преломления падающего на него пучка света, имеющего плоскость поляризации, параллельную оптической оси элементов призмы 6, а во втором случае, после поворота плоскости поляризации проходящего пучка лучей на 90" с помощью двойного прохождения им четвертьволновой пластины 8, показатель преломления его становится меньше показателя преломления прозрачного слоя разреза призмы 6 и1682769 Составитель Л. ЛобэоваТехред М.Моргентал Корректор Н. Король Редактор В. Данко Заказ 3401 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4 Й Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 ный призмой Фостера, неподвижно установленной по ходу светового пучка эа источником линейно поляризованного света, четвертьволновой пластиной, установленной на торце призмы, обращенном к уголковому отражателю таким образом, что оптическая ось призмы перпендикулярна направлению прохождения пучка от источника линейно поляризованного света и параллельна плоскости поляризации этого пучка.2.Устройствопоп.1, отличающая с я тем, что оно снабжено линейным поляризатором, установленным на торце призмы, обращенным к источнику линейно поляризованного света.

Смотреть

Заявка

4758334, 09.11.1989

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8772

СОКОЛОВ АЛЕКСЕЙ ВАЛЕРИАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/24, G02B 27/28

Метки: объекта, отклонений, прямолинейности

Опубликовано: 07.10.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1682769-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-otklonenijj-ot-pryamolinejjnosti-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения отклонений от прямолинейности объекта</a>

Похожие патенты