Устройство для измерения профиля объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1717951
Автор: Петров
Текст
(51)5 6 01 В 11/2 ОМИТЕТОТКРЫТИ ГОСУДАРСТВЕННЬПО ИЗОБРЕТЕНИПРИ ГКНТ СССР БРЕТЕНИЯ СТВУ(56) Авторское свидетельство СССРМ 1084600, кл. 6 01 В 11/24, 13.08,82,С;Бча 99,.=Л.цК Юйогй. Розтой /(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ОБ.ЬЕКТА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано дляизмерения профилей поверхностей местностей в геодезии, для измерения неровностей дорог и аэродромов, для измерения:положения обьектов и измерения профиляизделий в машиностроении. Цель изобретения - повышение точности измерения и расширение области использования за счет Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения профилей поверхностей местно- стей в геодезии, для измерения неровностей дорог и аэродромов, для измерения положения обьектов и измерения профиля изделий в машиностроении.Известно устройство для контроля перемещения обьектов, содержащее два измерительных канала, каждый из которых представляет собой оптически связанные осветитель с объектом и фотоприемник, а ОПИСАНИЕ ИК АВТОРСКОМУ СВИДЕ измерения по дифференциальной. схеме одновременно в двух точках поверхности и возможности измерения ровности дороги или аэродрома при установке устройства на автомобиле. Устройство содержит два лазера с фокусирующими объективами и с параллельными оптическими осями, фотоприемную систему,.состоящуЮ из последовательно расположенных полупрозрачного зеркала, отображающего объектива, светофильтра и фоточувствительной линейки, причем полупрозрачное зеркало. находится на одинаковом расстоянии от оптических осей лазеров и параллельно им, а фоточувствительная линейка расположена в плоскости изображения обьектива. Лазеры последовательно облучают объект в двух точках, изображения которых полупрозрачным зеркалом и объективом проецируются на фотоприемную линейку, Позиционное положение засвеченных элементов фоточувствительной линейки зависит от расстояния до светового пятна на поверхности объекта, 1 ил. также блок обработки, при этом оптические оси двух каналов параллельны.Недостатком известного устройства я в- ляется низкая точность измерения иэ-за зависимости выходного сигнала фотоприемников от отражающих свойств поверхности объекта, а также из-за нестабильности параметров и фотоприемника.Известно устройство для измерения профиля иэделия, содержащее источник излучения, направляющийсветовое излучение на измеряемую поверхность, и дискретный1717951 ед М,Моргентал актор Н. Лазаренко ректор Л. Па аказ 869ВНИИ Подписноетениям и открытиям при ГКНТ СССская наб., 4/5 Тираж Государственного комитета по иэоб 113035, Москва, Ж, Рауроизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 10 дает на фоточувствительную линейку 8. Позиционное положение засвеченных элементов фоточувствительной линейки 8 зависит от расстояния до светового пятна на поверхности объекта 9. После измерения этого расстояния лазер 1 выключается, включается лазер 2, световой поток которого образует второе световое пятно. Часть излучения второго пятна,отразившись от полупрозрач.ного зеркала 5, также после объектива 6 и светофильтра 7 попадает на фоточувствительную линейку 8. После измерения расстояния до второго светового пятна лазер 2 выключается.Положительный технико-экономический эффект применения данного устройства достигается благодаря .возможности : измерять расстояние до двух точек объекта, что позволяет измерять профиль объекта независимо от вертикальных смещений измерительного устройства, это повышает точность измерения и расширяет функциональные возможности и область применения,Формула изобретения 5 Устройство для измерения профиляобъекта, содержащее последовательно установленные на одной оптической оси лазер, фокусирующий объектив и Фотоприемную систему, состоящую из обьектива и фоточув ствительной линейки, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью повышения точности измерения и расширения области использования, оно снабжено последовательно установленными на одной оптической оси, 15 параллельной первойоси, вторым лазероми вторым объективом, полуп розрачным зеркалом, расположенным в фотоприемной системе перед объективом на одинаковом расстоянии от оптических осей лазеров и 20 параллельно им, и светофильтром, расположенным между объективом и фоточувствительной линейкой.
СмотретьЗаявка
4834642, 05.06.1990
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СОЮЗНЫЙ СИБИРСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ АВИАЦИИ ИМ. С. А. ЧАПЛЫГИНА
ПЕТРОВ АНДРЕЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/24
Опубликовано: 07.03.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1717951-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-profilya-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения профиля объекта</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения перемещений
Следующий патент: Отражатель для оптико-электронного углоизмерительного устройства
Случайный патент: Устройство для регулировки положения спинки кресла