Уркинеев
Способ определения ориентировки плоских неоднородностей показателя преломления в прозрачных монокристаллах
Номер патента: 1140082
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Войцеховский, Кравцов, Скропышев, Уркинеев
МПК: G01N 21/45
Метки: монокристаллах, неоднородностей, ориентировки, плоских, показателя, преломления, прозрачных
...11 устанавливают на пути лучаза кристаллом на расстоянии 0,5-3 мв зависимости от желаемой степениувеличения дифракционной картины впределах 2-20 раз. Перемещением объектива 10 вдоль луча сначала добиваются фокусировки изображения кристаллана экране (определяется по четкомуизображению пылинок или царапин, имеющихся на гранях), а затем сбиваютфокусировку небольшим перемещениемобъектива в ту или другую сторону.Необходимость "сбивания" фокусировкцопределяется тем, что неоднородностипоказателя преломления кристалла обусловливают появление на экране дифракционной картины итменно в условиях дефокусации, причем максимальная контрастность дифракционной картины получается нри вполне определенной степени дефокусации, зависящей в своюочередь от...