Способ изготовления образца для измерения деформаций прозрачных материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1232940
Авторы: Альварес-Суарес, Мартынов, Рязанцев, Юречко
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК В 111 ГОСУДАРСТ 8 ЕННЫ ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕ ОМИТЕТ СССЕНИЙ И ОТКРЫ иОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ ДЕТЕЛ ВТОРСНОМ о СССР 1978. физичесАН СССР, ИЗГОТОВЛЕНИЯЕфОРМАЦИИ П(46) 23.05.86. Бюл. У 19 (71) Институт проблем механики АН СССР(56) Авторское свидетельств В 712744, кл. С 01 В 25/16,Изучение механических и ких свойств льда. М, изд-во 1957, с. 123.1 (54) СПОСОБ ОБРАЗЦА ДЛ ИЗМЕРЕНИЯ Д РОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ(57) Изобретение относится к измерению деформации при прочностных испь- таниях прозрачных материалов, получаемых из растворов. Цель изобрете" ния - повышение точности измерения деформаций, Для этого в жидкую фазу материала образца при температурео50-60 С добавляют поверхностно-активные вещества в концентрации 1010г/л и фотохромные вещества в такой же концентрации, полученный раствор перемешивают и отстаивают не менее 20 ч при отсутствии света, затем его облучают в течение 20-40 с видимым светом. После замораживания и обработки поверхности образец просвечивают тонкими пучками когерентного излучения, интенсивность и длина волны которого выбирается иэ ус-. ловия возникновения фотохимической реакции в фотохромных веществах, В качестве фотохромных веществ применены спиропираны. 1 э.п. ф-лы.1232 Формула изобретения Составитель Б. ЕвстратовТехред О,Сопко Редактор Н, Егорова Корректор И.Зрдейи Заказ 2757/40 Тираж 670 ВНИИПИ Государственного комитета СССР . по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб,. д, 4/5Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к измерениюдеформации при прочностных испытанияхпрозрачных материалов, получаемых израстворов.Цель изобретения - повышение точности измерения деформаций.Указанная цель достигается тем,что объемная сетка в образце создается без его повреждения, шаг сеткиможет меняться по объему образца., 10сетка фиксируется точно.Способ осуществляется следующимобразом,В жидкую Фазу материала образца(дистиллированную воду) при 50-60 С 15добавляют поверхностно-активные вещества в концентрации О- - 10- г/ли фотохромные вещества (спиропираны)в такой же концентрации, Полученныйраствор перемешивают 16 ч и отстаи бахают не менее 20 ч в отсутствие света, затем его облучают в течение20-40 с видимым светом лампы мощностью 1 кВт. Полученный раствор эамораживают в термостате, Обрабатываютповерхность образца посредством шлифовки и полировки, Затем образецпросвечивают тонкими пучками когерентного излучения лазера, интенсивность и длина которогс выбираетсяиз условия возникновения Фотохимической реакции в Фотохромных веществах.Для спиропиранов интенсивность излучения составляет О, 1- 1 Дж, длина волны - 250-400 нм. При этом в том мес- Зте, где прошел лазерный луч, образуется цветовая полоса, Смещая образецна определенные расстояния и просве 940 2чивая образец лучом лазера, в образце создают систему цветовых полос, образующих координатную сетку, Фотографируя эту сетку с помощью кинокамеры при прочностных испытаниях образца, получают процесс развития деформаций внутри образца во времени. 1. Способ изготовления образца для измерения деформаций прозрачных материалов, заключающуюся в том, что жидкую Фазу материала образца замораживают в термостате и обрабатывают поверхность образца, о т л и - ч а ю щ и й с я тем что с целью повьшения точности измерения деформаций, перед замораживанием в жидкую Фазу материала образца при темОпературе 50-60 С добавляют поверхностно-активные вещества в концентрации 1 О " - 10" г/л и Фотохромные вещества в такой же концентрации, полученный раствор перемешивают и от,стаивают не менее 20 ч при отсутствии света, затем его облучают в течение 20-40 с видимым светом, после обработки поверхности образец просвечивают тонкими пучками когерентного излучения, интенсивность и длина волны которого выбираются из условия возникновения фотохимической реакции в Фотохромных веществах.2 Способ по п.1, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что в качестве фотохромных веществ применены спиро- пираяыо
СмотретьЗаявка
3809810, 02.11.1984
ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ МЕХАНИКИ АН СССР
АЛЬВАРЕС-СУАРЕС ВЛАДИМИР АНАТОЛЬЕВИЧ, МАРТЫНОВ ЮРИЙ ВИКТОРОВИЧ, РЯЗАНЦЕВ ЮРИЙ СЕРГЕЕВИЧ, ЮРЕЧКО ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, образца, прозрачных
Опубликовано: 23.05.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1232940-sposob-izgotovleniya-obrazca-dlya-izmereniya-deformacijj-prozrachnykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления образца для измерения деформаций прозрачных материалов</a>
Активное веществе субмиллиметровоголазера c накачкой излучением -лазера
Номер патента: 719444
Опубликовано: 15.03.1981
Авторы: Бугаев, Кудряшова, Шлитерис
МПК: H01S 3/22
Метки: активное, веществе, излучением, лазера, накачкой, субмиллиметровоголазера
...излучением СО-лазера,вкл чающий источник накачки и резонатор заполненный газообразным активным веществом (2, При заполнении резонатора парами 1,1-дифторэтилена, ви нилцианида и метиламина получена ге нерация на 18 линиях в интервале . длин волн 148-990 мкм. На чертеже представлена схема ре15 лизации изобретения, где изображеныгаэоразряднаятрубка 1 с внутреннимзеркалом СО -лазера, дифракционнаярешетка 2, поворотное зеркало .3, фой кусирующее зеркало 4, субмиллиметрор вый резонатор 5, входнос окошко 6,выходное Окошко 7, излучение 8 нас качки., субмиллиметровое излучение 9 ю- лазера.СБМ лазер работает следующим об 25 разом.Выходное излучение СО-лазера, идщее в нулевом порядке дифракционнойрешет 2, попадает на поворотноезерк 3, а затем...
Способ изготовления образца для исследования деформаций
Номер патента: 1551967
Опубликовано: 23.03.1990
Автор: Дементьев
МПК: G01B 5/30
Метки: деформаций, исследования, образца
...точноСти изготовления путем исключениявзаимных смещений концентрическихцилиндров при диффузионной сваркеэкструдированием .На чертеже показан элемент поперечного сечения цилиндрического образца для исследования деформаций.Образец состоит из полых концентрических цилиндров 1 с размещеннымив канавках 2 между ними стержневымиэлементами 3,Способ осуществляется следующимобразом,Изготавливают несколько концентрических полых цилиндровс различной толщиной стенкой, но с одинаковой площадью поперечного сечения.Вдоль внешних и внутренних образую- ИРАМ цилиндров по всей их длине выполняют канавки 2, размещая их иэ совмещаемых концентрических цилиндрах найротив друг друга. Совмещаемые канавки 2 выполняют одинаковой Формы и размеров, Затем...
Способ определения деформаций образцов нитей и волокон после термообработки
Номер патента: 1585649
Опубликовано: 15.08.1990
МПК: G01B 5/30
Метки: волокон, деформаций, нитей, образцов, после, термообработки
...образцы 4 исследуемых невытянутых нитей или волокон. Поворотом головки 3 поочередно совмещают каждый образец 4 с плоскостью линейки-шаблона 6, растягивают его и закрепляют его свободный конец на линейке-шаблоне 6 с помощью магнитного прижима 10 так, чтобы нижний край магнитного прижима 1 О совмещался с верхним краем прорези 7 в линейке-шаблоне 6. Выступающий конец образца 4 обрезают для получения образца зада нной длины.Затем цилиндрическую головку 3 с образцами 4 снимают со стойки 2 и помешают в термокамеру для проведения термообработки, где нити усаживаются под действием горячего пара или воздуха. Затем головку 3 с образцами 4 вновь устанавливают на стойку 2, поочередно совмещают каждый из образцов 4 с плоскостью...
Способ дозиметрии ионизирующего излучения
Номер патента: 1661702
Опубликовано: 07.07.1991
Авторы: Адериха, Гофштейн, Гочалиев, Дубова, Плескачевский, Рубин, Селькин, Смирнов
МПК: G01T 1/02
Метки: дозиметрии, излучения, ионизирующего
...используют в качестве образцов, после чего помещают образцы в сенсибилизатор (о-дихлорбензол) и .выдерживают в нем при комнатной температуре (20 ф 5 фС) в течение 2 ч, т.е. до достижения равновесной степени набухания (около 15 мас. ). Содержание сенсибилизатора в образце определяют гравиметрически, Затем образцы облучают непосредственно в о-дихлорбензоле измеряемым ионизирующнм излучением (гамма-излучение на установке РХИ-гамма), после чего извлекают их из о-дихлорбензола, нагревают до 170+10 С в течение 1 мин .и измеряют штангенциркулем конечную длину. По конечным линейным размерам образцов для каждого примера осуществления способа строят тарировочную зависимость их относительной длины 1/1 (где 1 - длина образца, облучен- ного...
Установка для исследования динамических характеристик грунтовых образцов при ударных деформациях
Номер патента: 541106
Опубликовано: 30.12.1976
Авторы: Прокопенко, Рипка
МПК: G01N 3/307
Метки: грунтовых, деформациях, динамических, исследования, образцов, ударных, характеристик
...крепится к стойке 22. Массивная опорная плита 23 жестко соединена с основанием 24 ударно-регистрирующего устройства посредством кронштейна 25. Она служит для крепления тензометрического фланца 26 с тензометрическим одометром 27 и образцом испытуемого материала. Тензометрический фланец 26 при помощи диафрагменного датчика (аналогичного датчику штампа ударника 18) измеряет напряжение деформации под образцом и скорость ее изменения, а одометр 27 - напряжение бокового распора. Игольчатый шток 28 с тарельчатым упором 29 и электродатчиком перемещений 30 смещен относительно оси образца, не нарушает его структуру и служит для регистрации деформаций. Электрические сигналы тензодатчиков подаются на усилитель 31 и фиксируются при помощи...
Предыдущий патент: Следящая система для инерционного объекта
Следующий патент: Способ определения оптической постоянной оптически чувствительного материала
Случайный патент: Синхронный двигатель