Патенты с меткой «диэлектрических»
Измеритель толщины диэлектрических и полупроводниковых материалов
Номер патента: 1185199
Опубликовано: 15.10.1985
Авторы: Водотовка, Кадочников, Скрипник
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрических, измеритель, полупроводниковых, толщины
...- скорость распространения СВЧколебаний в свободном пространстве.Принятый приемной антенной 3 сиг нал поступает на вход балансного смесителя 5, на второй вход которого по-, ступает сигнал частоты Е от регулируе1экоторые вьщеляются первым и вторым фильтрами 9, 10 нижних частот.При указанном состоянии двухпозиционного управляемого переключателя 11 сигнал разностной частоты 2 с выхода первого фильтра 9 через линию задержки 12 и первый амплитудный ограничитель 13 поступает на один вход фазового детектора 15 с фаэовым сдвигом(2) дУ= 27 Ео где й - время задержки линии задержки 12;Г - текущее значение разностнойчастоты. Ра другой вход фазового детектора 15 сигнал раэностной частоты поступает непосредственно с выхода первого фильтра 9 через...
Способ контроля качества диэлектрических покрытий проводников
Номер патента: 1187224
Опубликовано: 23.10.1985
МПК: G01N 27/68, H01J 37/00
Метки: диэлектрических, качества, покрытий, проводников
...3, выполненный в виде изолированного проводника с рабочей площадкой 4 диаметром 1-3 мм,вспомогательный электрод 5, натекатель 6, систему 7 вакуумной откачки, 20измеритель 8 давления в камере,источник 9 напряжения, один полюскоторого подключен к дополнительномуэлектроду 3, а второй через переключатель 10 может быть подключен 25либо к вспомогательному электроду 5,либо к проводнику контролируемогоизделия 11. Установка содержит такжекоординатно-чувствительный фотоприемник 12 и счетчик 13 дефектов покры. З 0тия.Способ контроля диэлектрическихпокрытий осуществляется следующимобразом. Контролируемое изделие 11 устанавливают в камеру 1 и измеряют максимальное Йм и минимальное Ймин расстояния от площадки 4 дополнйтельного электрода 3 до...
Способ измерения толщины стенок полых изделий из диэлектрических материалов
Номер патента: 1188520
Опубликовано: 30.10.1985
Авторы: Алеев, Клявлин, Марголин, Протасов
МПК: G01B 7/06
Метки: диэлектрических, полых, стенок, толщины
...со стороныФ зделия - электростатичес- Епри этом для измерений т индуктивный датчик без итного сердечника. С."188520 Составитель В. КрапивинТехред М.Гергель Корректор Л.Патай Редактор Е. Копча Заказ 6732/40 Тираж б 50 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное Филиал 1 ШП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для измерения толщин стенок изделий и деталей иэ диэлектрических материалов, в том числе полимеров .и композитов на их основе.Цель изобретения - повышение точности измерений,На чертеже изображена схема контроля толщины стенок изделий из диэлектрического материала., На внешней стенке...
Устройство для измерения характеристик диэлектрических материалов
Номер патента: 1188673
Опубликовано: 30.10.1985
Автор: Трепов
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, характеристик
...структурная электрическая схема устройства для измерения характеристик диэлектрических материалов; на фиг, 2 - конструкция измерительной линии. Устройство для измерения характеристик диэлектрических материалов содержит генератор 1, индикатор 2 падающих и отраженных сигналов, измерительную линию 3, выполненную в виде четырех токопроводящих жестких стержней 4, соединенных с центральным жестким стержнем 5 посредством жестких перемычек 6, и симметрирующий элемент 7,Устройство для измерения характеристик диэлектрических материалов работает следующим образом.Усилием, приложенным к центральномужесткому стержню 5, измерительную линию 3 внедряют в исследуемый диэлектрический материал. Сигнал с выхода генератора 1 поступает на вход индикатора 2...
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий
Номер патента: 1191814
Опубликовано: 15.11.1985
Авторы: Беликов, Кислов, Тимаков, Тычинин
МПК: G01N 27/90
Метки: вихретоковый, диэлектрических, покрытий, толщиномер
...4/5 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, использующей метод вихревого контроля, иможет быть использовано для измерений расстояния до электропроводящихпокрытий, толщины диэлектрическихпокрытий, амплитуды вибраций изделийи поверхностей.Цель изобретения - .повышения точности измерений,На чертеже представлена блок-схема вихретовокового толщиномера.Толщиномер содержит соединенные,последовательно генератор 1, вихретоковый преобразователь 2,фазочувствительцьй детектор 3, второй входкоторого подключен к генератору 1,блок 4 возведения в квадрат, сумматор 5, блок 6 извлечения квадратного корня ц второй сумматор 7, второйвход которого подключен к выходу фазочувствительцого...
Устройство для измерения диэлектрических параметров
Номер патента: 1195289
Опубликовано: 30.11.1985
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, параметров
...вставлены пять заземленных электродоц 2 и шесть потенциальных электродов 3, вместе образующих многосекционный измери" тельный конденсатор, Каждый контактный лепесток заземленного электрода 2 образован двумя разрезами боковой Стенки стакана параллельно его оси через 15. Лепестки расположены че рез 90. Втулка потенциального электрода имеет два разреза по взаимно перпендикулярным направлениям. Перфорированная трубка 4, заполненная стекловолокном, расположена по оси корпуса 1 и является несущим элементом потенциальных электродов 3. Электроды 2 и 3 фиксируются в корпусе 1 резьбовым фланцем 5. Корпус 1 закрывается крышкой 6 с кольцевой проточкой, К крышке 6 присоединена трубка со шлифом 7, имеющим кроме продольного боковое отверстие 8. Шлиф...
Измерительная ячейка для определения диэлектрических характеристик жидких электроизоляционных материалов
Номер патента: 1195305
Опубликовано: 30.11.1985
Автор: Школьник
МПК: G01R 31/16
Метки: диэлектрических, жидких, измерительная, характеристик, электроизоляционных, ячейка
...При этом измерительный 2 и охранные 6 и 7 электроды нагреваются от тепла, выделенного нагревательным элементом 9, авысоковольтный электрод 1 - за счетпотерь, создаваемых вихревыми токами от обмотки 8 индукционного нагрева.Измерительная ячейка позволяетпроизводить испытания для определения диэлектрических характеристикжидких электроизоляционных материалов при положительных температурах.Причем по сравнению с использованиемдля этих целей известной измерительной ячейки, помещенной в термостат,предложенная ячейка обеспечиваетболее высокую скорость нагрева испытуемого материала, что особенноважно при испытаниях увлажненной изоляции. Это .объясняется тем, что втермостате нагрев осуществляетсяпутем переноса тепла от его стенокпосредством...
Устройство для контроля сплошности диэлектрических покрытий в металлических трубах
Номер патента: 1203421
Опубликовано: 07.01.1986
Авторы: Короп, Никитин, Ситников, Юсупов
МПК: G01N 27/02
Метки: диэлектрических, металлических, покрытий, сплошности, трубах
...корпусе неподвижно, а кольцо 6, поджатое гайкой 7, установленос возможностью скольжения и вращенияотносительно корпуса. С обоих торцов корпуса установлены сцепные механизмы 8,служащие для сцепления с движителем 9и центратором 10 при перемещениях устройства в трубе 11. Электроэнергия подается по кабелю 12, который одновременноявляется и линией передачи данных.Устройство работает следующим образом.Перед включением его регулируют перемещением до упора кольца 6 и его вра 1 цецием, добиваясь требуемого диаметра.При этом каждая из проволок оболочкивыгибается и скручивается в петлю перпендикулярно оси устройства, причем вепичинапетли, а вместе с ней и диаметр кольцевого контакта определяется углом перемещения подвижного кольца относительно...
Способ определения куметрами релаксационной составляющей тангенса угла диэлектрических потерь материалов со значительной удельной электрической проводимостью на радиочастотах
Номер патента: 1205063
Опубликовано: 15.01.1986
Авторы: Биржанов, Векслер, Орлова, Тонконогов
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, значительной, куметрами, потерь, проводимостью, радиочастотах, релаксационной, составляющей, тангенса, угла, удельной, электрической
...что,с целью получения достоверных результатов измерения, вычисляют 1 Ьсри, изменяя параметры индуктивногодатчика, добиваются выполнения условия1205063 полнения условия Е 10,е нер помо можн тчиыполне де обеспечить ка уменьш или исполь я коэ ения, разна аемость; рами ными диа Составитель .СорокинаТехред С.Мигунова Корректор В,Бутяг Редактор А.Лежнина каз 8523/4 Тираж 747 ВНИИПИ Государственного комитета ССС по делам изобретений и открытий 035, Москва, ЖРаушская наб., д, одписное филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,Изобретение относится к определению электрических свойств материалов а именно тангенса угла диэлектрических потерь.Способ осуществляют следующим образом.Исследуемый материал помещают в индуктивный датчик резонансного...
Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов
Номер патента: 1205069
Опубликовано: 15.01.1986
Авторы: Немаров, Подгорный, Терлецкая, Штраль
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, параметров
...напряженияна выходе блока извлечения квадратного корня напряжение, пропорциональ БИное мнимой составляющей,Е диэлектрической проницаемости вещества,заполняющего емкостный датчик, исключая проводимость, эквивалентнуюсобственным потерям в элеметнах нагруженного колебательного контура.Напряжение на выходе второго блокавычитания является мерой мнимой соЦставляющейдиэлектрической проницаемости, 45Введение связи входа источникаопорного напряжения с дополнительным выходом высокочастотного генератора дополнительно повышает точностьНизмеренияза счет исключения 5 Опогрешности, обусловленной нестабильностью амплитуды генератора,На чертеже изображена блок-схемапредлагаемого устройства,Устройство содержит высокочас- утотный генератор 1, резистор 2...
Способ определения параметров диэлектрических материалов
Номер патента: 1210091
Опубликовано: 07.02.1986
Автор: Славин
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрических, параметров
...то 2 пцины и дчэлектрической проницаемости.Согласно предлагаемому способу измеряют приращение частот при нормальном угле падении электромагнитной волны на поверхность диэлектрического материала, что позволяет определять электрическую толщину" материала из соотношения гце 4 - толщина диэлектрика;Е - диэлектрическая проницаемостьдиэлектрического материалаь- скорость света в вакууме; .1.,и 1 - частоты, соответствующиесоседним экстремальным значениям коэФФициента отражень."1 ч диэлектрического. материала;затем измеряют приапьение частот при угле падения отличном от гормальоного, например с =30 , что п(озволяет записать выражение для "электрической толщины" диэлектрического материала при с0 в виде 1 де 1 и 1 - частоты, соответствующие...
Способ защиты поверхности изделий из диэлектрических материалов
Номер патента: 1212996
Опубликовано: 23.02.1986
Авторы: Вискова, Гершойг, Капулкин, Павлова, Степанова
МПК: C03C 15/00
Метки: диэлектрических, защиты, поверхности
...и является усовершенствованием способа по авт. св. Р 990706Цель изобретения - повышение надежности защиты.По предлагаемому способу усилие прижатия пленки к иэделию обеспечивает надежное прилегание пленки к4 изделию в процессе травления и исключает попадание паров кислоты под пленку и возникновение подтравов. Величину усилия прижатия пленки к изделию определяют, исходя из условий прочности материала изделия экспериментальным путем.На чертеже показан вариант устройства, с помощью которого осуществляют способ.На стягивающий болт 1 устанавливают нижнюю прижимную губку 2 с предварительно наклеенной резиновой прокладкой 3 для равномерной передачи усилия. На нижнюю прижимную губку 2 устанавливают изделие 4 с предварительно...
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий
Номер патента: 1213345
Опубликовано: 23.02.1986
Авторы: Арбузов, Бакунов, Коровяков
МПК: G01B 7/06
Метки: вихретоковый, диэлектрических, покрытий, толщиномер
...- Фаза вносимого напряжения есКи К, - постоянные коэффициенты, 1 ил,радиусами К измерительной и возбуждающей обмоток, са структурои последних, близкой к нитевидной, расположенного над Ферромагнитным полупрастранством на расстоянии 11, внаимая ЭПС выражается следующим образом:"Р 2 -Х 1,11 = 1 с ) . (Х) еср3,х)А хс (1)- нормированная вносимаяЭе 1 С 1- постоянная (одначастотныйрежим работы ВТП;- Функция Бесселя первогорода первого поряцканормированньй зазор,КОСТЕ . В общем случае магнитная проницаемость может носить комплексный характер , Е 7 = Ъ, - 117,. , учитывая это, : - ,Олуеаеье рее 1 еЕН-;е (1, относительно ,С учетом обобщенной теоремы о жр-дьеевссов =12 У1 х )Л (х) е А х, (2)о где х - некоторая средняя точка 6(х, в (О,о), Введем...
Толщиномер диэлектрических покрытий
Номер патента: 1216637
Опубликовано: 07.03.1986
Авторы: Беликов, Кислов, Тимаков, Тычинин
МПК: G01B 7/06
Метки: диэлектрических, покрытий, толщиномер
...детектор 6,Толщиномер содержит второй комплект иэ. аналогично соединенныхвторого накладного вихретоковогопреобразователя 7, второго Фазочувствительного детектора 8 и второгоамплитудного детектора 9, второгоФазовращателя 10 и второго сумматора 11, а также блок 12 деления,через который сумматоры 6 и 11 соединены с индикатором 13,Толщиномер работает следующимобразом,Автогенератор 1 обеспечивает питание преобразователей 2 и 7 синусоидальным током, Причем преобразователь 2 удален от изделия на расстояние , равное искомой толщине диэлектрического покрытия, а преобразователь 7 - на расстояние ,1 + о, где о - заданное и Фиксированное в процессе ,контроля расстояние. Вносимые на,пряжения преобразователей 2 и 7 ,являются Функциями...
Устройство для неразрушающего контроля диэлектрических материалов
Номер патента: 422324
Опубликовано: 15.03.1986
Авторы: Бергманис, Клотиньш, Матис
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, неразрушающего
...АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Институт механики полимеровАН Латвийской ССР(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ МАТЕРИАЛОВ, содержащее высокочастотный генератор, к контуру которого подключен измерительный конденсатор, опорный генератор,смеситель и частотомер, о т л и -ч а ю щ е е с я тем, что, с цельюповышения точности, в качестве измерительного конденсатора использована система ленточных электродовс переключателем электродов на минимальную и максимальную глубинупроникновения электрического поля висследуемый материал, а блок сбросапоказаний частотомера соединен сего счетчиком через ключ, управляемый синхронно с...
Электроочиститель диэлектрических жидкостей
Номер патента: 1223996
Опубликовано: 15.04.1986
Авторы: Бербер, Задорожний, Краснов, Никитин
МПК: B03C 5/02
Метки: диэлектрических, жидкостей, электроочиститель
...очистителя жидкости; на фиг.2 - часть системы электродов с нанесенными силоО выми линиями электрического поля. Злектроочиститель состоит из корпуса 1 с входным 2 и выходным 3 патрубками, в котором установлены положительно заряженные электроды аноI ды) ч и 5 и отрицательно заряженные электроды (катоды) 6 и 7. Каждый электрод выполнен в виде набора полос прикрепленных к диэлектрической прокладке 8. Полосы могут быть расположены вдоль канала, однако предпочтительнее располагать их поперек канала, т.к. в этом случае струя жидкости многократно будет пересекать зоны с сильным неоднородным полем что повышает качество очистки жидкости, Полосы анода и катода расположены зеркально относительно диэлектриче ской прокладки 8,11 ри подаче...
Способ определения емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсаторов
Номер патента: 1226346
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Брауде, Гессен, Литвинов
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, емкости, конденсаторов, потерь, тангенса, угла
...4 и 5 через электронный переключатель б поочередно подключаются к цифро.вому вольтметру 7, информационные выходы 25которого соединены с ЭВМ 8, выход которойсоединен с отсчетным блоком 9. Выход одновибратора 10 соединен с входом таймера 11 ис одним из входов логического элементаИЛИ 12, к второму входу которого подклю. чен выход таймера 11,При запуске процесса измерения в некоторый момент времени одновибратор 10 выра.батывает импульс и через логический элементИЛИ 12 стробирует запоминание мгновенныхнапряжений на генераторе 1 и конденсаторе 335в блоках 4 и 5 выборки и запоминанияаналогового сигнала соответственно. Этим жеимпульсом запускается таймер 11, а ЭВМ8 информируется об окончании первой выборки10мгновенных напряжений,После этого, до...
Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов
Номер патента: 1226347
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Конев, Попельнюк, Тиханович
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, параметров
...на вход первого усилителя 16 автоматической регулировки мощности, который вырабатывает управляющийсигнал, в соответствии с которым регулируется с помощью аттенюатора 2 мощность СВЧволны, поступающей в интерферометр 3.Часть СВЧ.волны направляется третьим делителем 10 на третий детектор 14, Продетек.10 тированнйй сигнал с третьего детектора 14поступает на вход второго усилителя автоматической регулировки мощности, которыйвырабатывает управляющий сигнал, в соответствии с которым регулируется с помощьюаттенюатора Я мощность волны, прошедшейпо опорному каналу. Продетектированныйсигнал со второго детектора 13, пропорциональной мощности составляющей СВЧ-волны,соответствующей малой оси эллипса поляри-,зации, поступает в индикатор 15. По...
Емкостная накладная ячейка для измерения диэлектрических характеристик материалов
Номер патента: 1226348
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Зотов, Круминьш, Матис, Слава
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, емкостная, накладная, характеристик, ячейка
...дейСтвующее навходных зажимах),Таким образом, коэффициент преобразования К - функциональнЬй параметр, связывающий в конверторе 4 отрицательного сопротивления по напряжению величину сопротивления нагрузки2 ь и входное сопротивление 2 ; причем К - величина отрицательная,т,е. входное сопротивление 2 с имеетпротивоположный знак, чем 2, а модуль 2 с Определяется величийой коэфФициента преобразования К, . о с где У - суммарная проводимость между входными зажимами конвертора Конвертором 4 Отрицательного сопротивления по напряжению создается дополнительное электрическое поле между высокопотенциальным рабочим 1 и дополнительным 2 электродами противоположного направления по отношению к электрическому полю между высоко- потенциальным...
Способ исследования поверхности образцов полупроводниковых и диэлектрических материалов
Номер патента: 1228003
Опубликовано: 30.04.1986
МПК: G01N 27/92
Метки: диэлектрических, исследования, образцов, поверхности, полупроводниковых
...обращен к положительной обкладке конденсатора 1.Способ осуществляют следующимобразом,Поверхность пластинки полупроводникового кристалла тщательно очищаютот пыли, жировых пятен и подвергаютполирующему химическому травлению 5 10 15 20 25 30(для арсенида галлия, например, используют свежий травитель состава Н О : Н О ; Н БО в соотношении 1 г 21 : 18) в течение 2-3 мин. На протравленную поверхность наносят раствор нитроцеллюлозового клея (1-2 капгли на 2-2,5 см поверхности) полимеризуют до образования прозрачной тонкой твердой пленки, помещают в поле плоского конденсатора (сторона с нитропленкой обращена к положительной обкладке конденсатора) при напряженности поля 3000-3500 В/см и прилагают усилие изгибания величиной 25- 50 г/мм , Образец...
Способ определения координат источников акустической эмиссии в диэлектрических материалах
Номер патента: 1229682
Опубликовано: 07.05.1986
Авторы: Барташевский, Прибыток, Серко, Турчин
МПК: G01N 29/04
Метки: акустической, диэлектрических, источников, координат, материалах, эмиссии
...сигналы акустической эмиссии и измеряют временные интервалы, по которым определяют искомый параметр, о т л и - ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повьшения достоверности, при нагружении дополнительно принимают электромагнитное излучение, а временные интервалы измеряют между моментом появления электромагнитного излучения и моментами приема сигналов акустической эмиссии. Составитель В. ГондаревскийРедактор А. Козориз Техред Л,Олейник Корректор А. Ференц Заказ 2446/45 Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к области расстояние К от каждого...
Ячейка для измерения диэлектрических характеристик материалов
Номер патента: 1231474
Опубликовано: 15.05.1986
Авторы: Берлин, Гильбух, Комаровский, Линский
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, характеристик, ячейка
...узкой стенке, один конец которого электрически связан с заглушкой6, полностью закрывающей отверстие4 в стенке, а на втором конце закреплена чашка 7 из диэлектрика с малымипотерями, в дне которой выполненодополнительное отверстие 8 с диаметром, составляющим 753 площади сечения образца 9, не соприкасается сдном чашки 7, высота которой не более 107. от высоты образца 9.Ячейка для измерения диэлектрических характеристик материалов работает следующим образом,. Вначале в прямоугольном волноводном проходном резонаторе 1 находитсядержатель без образца 9, Измеряетсярезонансная частота и добротностьсистемы прямоугольный волноводныйпроходной резонатор-держатель. Затемв него вводится образец 9, установленный в чашку 7 на конце...
Устройство для распыления диэлектрических компонентов
Номер патента: 1240460
Опубликовано: 30.06.1986
Автор: Гершман
МПК: B05B 5/00
Метки: диэлектрических, компонентов, распыления
...компонентов.п. 1, отличающееся тем, ена из пористого мате1240460 Составитель Г. Догадки Техред И. Верес Корректор М. Самборская Тираж 681 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д, 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор М. ЦиткинаЗаказ 3427/5 Изобретение относится к технике распыления жидкостей и может применяться для распыления топлива, технологических жидкостей, нанесения покрытий,Целью изобретения является обеспечение возможности распыления двух компонентов с различной диэлектрической проницаемостью.На чертеже представлено предлагаемое устройство, разрез.Устройство содержит корпус 1, вставку 2 из диэлектрического пористого...
Электрический очиститель диэлектрических жидкостей
Номер патента: 1242237
Опубликовано: 07.07.1986
Автор: Алексейчук
МПК: B03C 5/00
Метки: диэлектрических, жидкостей, очиститель, электрический
...8 выполнены с прорезями и покрыты тонким слоем электро - изоляционного материала и вместе с лиэлектрическими прокладками 9 образуют пакет. 20Диэлектрическая прокладка 9 (фиг. 4 и 5) выполнена из электроизоляционного материала и состоит из двух частей. Каждая часть разделена продольными прямоугольными перемычками, которые расположены25 между прорезями осадительных электродов и образуют с ними прямоугольные ячейки- накопители 10 загрязнений (фиг. 3).Собранный пакет осадительных электродов (8) вместе с диэлектрическими прокладками 9 с двух сторон ограничены пластинами 11. Эти пластины выполнены из лиэлекществляется электроконтакт. Обеспечение чередования положительных и отрицательных электродов достигается при сборке.При работе...
Способ определения влажности диэлектрических материалов
Номер патента: 1245963
Опубликовано: 23.07.1986
Авторы: Золотарев, Кофман, Сычев, Финкельштейн
МПК: G01N 22/00
Метки: влажности, диэлектрических
...1 ил.1245963 Изобретение относится к технике радио- измерений и может использоваться в качестве экпресс-метода в полевых условиях для определения средней по глубине влажности торфа при разведке и эксплуатации торфяных месторождений.5 Цель изобретения - повышение точности при определении влажности торфа.На чертеже приведена графическая зависимость между влажностью торфа и ско О ростью распространения электромагнитной волны в торфе. Формула изобретения Способ определения влажности диэлектрических материалов, включающий радиолокационное зондирование диэлектрического материала и определение скорости распространения электромагнитной волны в диэлектрическом материале, отличающийся тем, что, с целью повышения точности при 20определении...
Устройство для измерения диэлектрической проницаемости полупроводниковых и диэлектрических слоев
Номер патента: 1247781
Опубликовано: 30.07.1986
Автор: Пронин
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, диэлектрической, полупроводниковых, проницаемости, слоев
...8, инвертирующий и неинвертирующий входы сумматора подключены к измерительным электродам 1, расположенным соответственно по обе стороны от исследуемого слоя, а вы 30 ход соединен с входом усилителя 7.Блок 3 измерения расстояния соединен механически с измерительными электродами 1. Блак 4 формирования заряда состоит из коронирующего элек- З 5 трода 9 и контрэлектрода 10, расположенных по разные стороны слоя 5, а также источника 11 высокого напряжения, выход которого соединен с коронирующим электродом 9, Источ ник высокого напряжения и контрэлектрод 10 заземлены.Устройство работает следующим образом.Посредством источника 11 высокогонапряжения электрода 9 и контрэлектрода 10 на поверхность исследуемого слоя 5, обращенную к электроду...
Способ определения тангенса угла диэлектрических потерь материала покрытий
Номер патента: 1247782
Опубликовано: 30.07.1986
Автор: Толстопятов
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, покрытий, потерь, тангенса, угла
...М,Демчик Заказ 4 119/44 . Тираж 728 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Изобретение относится к электро- измерениям и может быть использовано при проведении диэлектрических характеристик на переменном токе пленок и покрытий. 5Целью изобретения является повышение точности определения 188 материала покрытий на проводящей подложке обусловленной электрическими потерями в обкладке конденсатора и 10 расширение частотного диапазона измерений.На чертеже показана схема, реализующая способ определения тангенса угла диэлектрических потерь ма териала покрытий.Схема содержит измеритель 1 тангенса диэлектрических потерь, проводящую подложку 2, обкладку 3, линейный...
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий
Номер патента: 1252657
Опубликовано: 23.08.1986
Авторы: Арбузов, Бакунов, Коровяков, Смолягин
МПК: G01B 7/06
Метки: вихретоковый, диэлектрических, покрытий, толщиномер
...20детектора 4 логарифмический усилитель 5, перемножитель 6 и индикатор7, дополнительный канал, идентичныйпо параметрам основному и состоящийиз последовательно соединенных усили- р 5теля 8 и амплитудного детектора 9,включающий между стволом от частивитков полеэадающей катушки ВТП ивходом управляемого источника 10 опорного тока логарифмического усилителя,последовательно соединенные источник10 опорного напряжения и сумматор 11,второй вход которого подключен к выходу логарифмического усилителя 5, авыход соединен с вторым входом пере 35множителя 6,Устройство работает следующим образом.Генератор 1 питает синусоидальнымтоком фиксированной амплитуды и час 40тоты ВТП, В результате электромагнитного взаимодействия ВТП с объектомконтроля на...
Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий
Номер патента: 1252669
Опубликовано: 23.08.1986
Авторы: Крымский, Кумок, Флакс
МПК: G01B 21/08, G01B 7/06
Метки: диэлектрических, покрытий, толщины
...вибратора 9 укреплен индентор 10. Выход преобразователя 8 амплитуды колебаний соединен с входом включения преобразователя 3, а выход датчика 5 достижения основы изделия устройства соединен с входом остановки преобразователя 3 и схемой 11 возврата механизма перемещения в исходное положение.Устройство работает следующим образом.Изделие с покрытием устанавливают на изолирующую прокладку с датчиком 5 достижения индентором основы изделия так, что его проводящая основа касается датчика. Включается вибратор 7 и механизм 2 перемещения индентора. Подвижный элемент вибратора 7 при этом совершает колебания в плоскости, перпендикулярной направлению перемещения индентора 10, наличие которых фиксируется преобразователем 8 амплитуды колебаний. В...
Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на металлической подложке
Номер патента: 1254287
Опубликовано: 30.08.1986
Авторы: Гейн, Коровин, Харланов
МПК: G01B 7/06
Метки: диэлектрических, металлической, подложке, покрытий, толщины
...для измерения толщины диэлектрических защитных покрытий, нанесенных 5 на металлическую подложку.Цель изобретения - повышение точности измерений за счет исключения погрешностей, обусловленных изменениями внешних условий температуры, 10 влажности и т.д.),Способ реализуется следующим образом.При помощи накладного преобразователя, входящего в состав иэмери тельного контура, возбуждают в под". ложке вихревые токи, преобразуют наведенную в преобразователе ЭДС в постоянное напряжение, по величине которого судят о толщине контроли руемого покрытия, при этом при нахождении преобразователя на расстоянии от металлической подложки, равном пяти-семи диаметрам накладного преобразователя, стабилизируют ампли туду колебаний, возбуждаемых в...