Патенты с меткой «диэлектрических»

Страница 12

Электрический очиститель диэлектрических жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 1255213

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Горячев, Зотов, Кириллов, Молев, Поляков

МПК: B03C 5/00, G05D 27/00

Метки: диэлектрических, жидкостей, очиститель, электрический

...обмотками первого 12 и второго 13 реле, Обмотки питаются от источника 14 постоянного тока через первь 1 й 15 и второй 16 элементы за держки, управляемые в свою очередь несимметричным мультивибратором 17.Электрический очиститель работает следующим образом.В корпус 1 через входной патрубок 40 7 поступает очищаемая жидкость. При этом в связи с тангенциальным расположением входного патрубка 7 в камере 4 происходит закручивание жидкости и ее центробежная сепарация от 45 грубых загрязнений, например от металлических частиц, песчинок, воды которые оседают в грязесборник 5. Поток предварительно очищенной таким образом жидкости движется вверх через 50 отверстия в осадительных дисковых электродах 2 к выходному патрубку 8. При этом...

Способ контроля анизотропии диэлектрических материалов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1255904

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Конев, Михнев, Савич

МПК: G01N 22/00

Метки: анизотропии, диэлектрических

...линейного детектора 11 П в точке С показана на фиг, 2 6. Экстремальные значения сигнала на частоте Р , аО ф ти и а (фиг, 26) выделяют при помощи пикового детектора 12,Минимальная эллиптичность проведшей волны, соответствующая моменту времени г., равна1а,+а 2 л 3.2(2) Т Б. =Я-; нь04 2тичности в данный момент времени,поскольку анализатор 8 при вращенииэллипса дополнительным вращателем7 в минимуме сигнала выделяет малуюось эллипса, а в максимуме - большую,Из фиг. 2 видно, что в моментвремени 1, эллиптичность прошедшейволны минимальна, Это соответствуеториентации эллипса поляризации падающей волны вдоль той оси аниэотропии,которая вызывает сжатие эллипсапри прохождении образца, В моментвремени С эллипс поляризации падаю 2щей...

Устройство для контроля качества поверхности диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1257504

Опубликовано: 15.09.1986

Автор: Хомчук

МПК: G01N 27/60

Метки: диэлектрических, качества, поверхности

...изобретения является повышение надежности и достоверности измерения за счет обеспечения контролявсеи поверхности иэделия,На чертеже приведена функциональная схема.Устройство содержит электрическиедатчики 1, расположенные над поверхностью исследуемого диэлектрическогоматериала 2. Выходной сигнал с датчиков через синхронный коммутатор 3поступает на блок 4 сравнения и обработки информации,в котором происходит сравнение результатов измеренияс данными, занесенными в блок 5 памяти .с дальнейшей передачей .на блок 6отображения информации. Синхронныйкоммутатор управляет генератором 7тактовых импульсов. Управляющий выход синхронного коммутатора 3 подключен к коммутатору 8, обеспечивающему подключение блока 9 электризациик электризующим...

Электрический очиститель диэлектрических жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 1263350

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Дрибин, Костин, Лысиков, Руднев

МПК: B03C 5/00

Метки: диэлектрических, жидкостей, очиститель, электрический

...чертеже схематически изображено устройство.Электрический очиститель включает корпус 1, пакет осадительных электродов 2, патрубки 3 и 4 подвода загрязненной и отвода очищенной жидкости соответственно.Осадительные электроды 2 выполнены в видекруглых металлических пластин с прорезями 5 для прохода жидкости, Между электродами 2 размещены втулки 6, насаженные на два электрических нагревательных 20элемента 7, один из которых соединен сположительным потенциалом источника высокого напряжения постоянного тока, а второй - с отрицательным. Каждый осадительный электрод 2 имеет два отверстияразличного диаметра, Отверстие меньшегодиаметра обеспечивает контакт осадительных электродов 2 с соответствующимпотенциалом источника высокого напряжения. Между...

Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий на электропроводящей неферромагнитной основе

Загрузка...

Номер патента: 1263994

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Беликов, Кислов, Тычинин

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковый, диэлектрических, неферромагнитной, основе, покрытий, толщиномер, электропроводящей

...последовательно соединенные генератор 1, вихретоковый преобразователь 2 с компенсатором (на чертеже не показан),амплитудный детектор 3, логарифмический усилитель 4 и вычитатель 5,а также последовательно соединенныеусилитель-ограничитель 6, вход которого соединен с выходом вихретокового преобразователя 2, Фазочувствительный детектор 7, опорный вход которого соединен,с выходом генератора1 через Фазовращатель 8, второй логарифмический усилитель 9, выход которого соединен с вторым входом вычитателя 5. Выход вычитателя 5 является выходом устройства.Вихретоковый толщиномер работаетследующим образом.Генератор 1 питает синусоицальным током вихретоковый преобразователь 2, вносимое напряжение которого,выделяемое компенсатором,...

Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах

Загрузка...

Номер патента: 1264052

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Конев, Любецкий, Тиханович, Цвирко

МПК: G01N 22/02

Метки: глубины, диэлектрических, залегания, материалах, расслоений

...оси эллипса поляризации. Это положение устанавливается при калиброваке путем поворотаприемной всеполяризованной антенны6 и делителя 7 волны вокруг оси распространения волны, Составляющая40 электромагнитной волны, электрический вектор которой перпендикуляреннаправлению проволочек поляризационной проволочной решетки делителя 7волны проходит через нее, попадаетв направленный ответвитель 8 и детектируется СВЧ-детектором 11. Составляющая, электрический вектор которой параллелен направлению прово лочек решетки (большая ось эллипсаполяризации), отражается от нее, попадает в направленный ответвитель 9и детектируется СВЧ-детектором 12.Продетектированные сигналы с СВЧ-де 1текторов 11 и 12 поступают соответственно на входы индикатора 2. При...

Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1264109

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Гришин, Коротин, Лицов, Свирщевский, Скрипаль, Струков, Усанов

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, параметров

...им доголнительного фазовогосдвига, Прц подклочении СВЧ-переклю 30 тателя 10 к источнику 11 синхроннозамыкается цепь инверсного входачерез усилитель 7 в результате чего отпадает необходимость в выводезеряелого образца из измерительной камеры 1, что приводит к сокрацецпо времени, затрачиваемого на про,зедецце измерений,Изобретение относится к коцтроль -но-измерительной технике и можетбыть использовано для неразрушающего контроля материалов.Цель изобретения - сокращениевремени измерений,На чертеже изображена конструкцияустройства для измерения параметровдиэлектрических материалов.Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов содержит измерительную камеру 1, которая может быть выполнена в видеотрезка...

Стенд для измерения частотных характеристик диэлектрических свойств веществ

Загрузка...

Номер патента: 1265656

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Авдеенко, Скляр, Тонкошкур, Черненко

МПК: G01R 31/00

Метки: веществ, диэлектрических, свойств, стенд, характеристик, частотных

...на вход компаратора 21, Припревышении сигнала 1 Б(Г) уровня ограничения, задаваемого источником 20опорного напряжения,компаратор переводит блок 15 в режим хранения текущего значения напряжения на его входе. При этом сигнал на выходе блока16 вычитания имеет вид 1 ц 1 Ч с,"(Ц --1 КБГ (Г,). На втором входе нульоргана сигнал имеет вид 1 цЦ(1)-1 КМГО). При выполнении условия1 КЯ" /1-7 0=1 и одинаковых коэффициенк (= Сигналы Ц(Я) и Ц(1 ц 3) подаются на входы блока 13 перемножения, а 11(с) - . на вход АЦП 26. Выход блока перемножения соединен с входом логарифмичес" кого усилителя 14, выход которого соединен с входом запоминающего блока 15 и одним из входов бло ка 16 вычитания, второй вход которого соединен с выходом блока 15, Выход блока...

Устройство для очистки диэлектрических жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 1269804

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Латыпов, Неупокоев

МПК: B01D 17/06

Метки: диэлектрических, жидкостей

...от одноименно заряженного с нимиэлектрода 6 к корпусуи, попадая впоток буферной жидкости отводятся сней из корпуса 1, Очищенная от примесей буферная жидкость подается обратно в патрубок 2, а очищенная диэлектрическая жидкость выводится через патрубок 5.Если очистке подвергается высококонцентрированная жидкость, тогдацелесообразно подключать электроды 6к разным полюсам источника тока,таккак в этом случае частицы примесейбудут интенсивно коагулировать и укрупняться под действием внешнего поля между противоположно заряженными соседними электродами 6.Если очищается малозагрязненнаяжидкость, то рациональнее подключитьвсе электроды 6 к одному полюсу источника тока, а корпус 1 - к другому. В этом случае коагуляция частицидет очень...

Способ испытания диэлектрических пленок и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1270638

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Анисимов, Кислецов, Колокольчиков, Подкопаев, Труфанов

МПК: G01N 3/42

Метки: диэлектрических, испытания, пленок

...из диаграмм зависимостей Р(Ю),15Вязкоунругие свойства определяютиз диаграмм зависимостей Р(с) иб(е), где С -время нагружения и внедрения индентора.Диэлектрическую проницаемость при 2 Овдавливании плоского индентора определяют по формуле для плоского конденсатора, а при вдавливании сфери,ческого индентора по формуле 38 4пленку одновременно закручивают вокруг оси.Для определения предела выносливости пленки, а также площади петли гистерезиса нагрузка-деформация при чередующейся нагрузке и разгруке нагружение индентора проводят циклически, изменяя нагрузку по периодическому закону,Диэлектрические пленки в общем случае материалы пористые, и концентрация пор в зоне вдавливания индентора изменяется. Однако при эксплуатации пленок...

Устройство для измерения диэлектрических характеристик материалов

Загрузка...

Номер патента: 1270725

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Бояркин, Онищенко, Фомин, Яцынина

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, характеристик

...иие относится к радиоизмерительной технике СБЧ.Цсль изобретения - сокращение времени измерений за счет уменьшениявремени иа смену образца, 511 я фиг.1 приведена конструкцияустройства для измерения диэлектрических характеристик материалов: нафиг,2 - вид А на фиг.1; на фиг.Зконструкция кассеты; на фиг,4 - раз Орез Б - Б на фиг,З,Устройство для измерения диэлектрических характеристик материаловсодержит коаксиальный резонатор 1,состоящий из неподвижной 2 и подвижной 3 частей, закрепленную на опоре 4 кас.сету 5 в форме диска, узел6 перемещения подвижной части 3, отверстия 7 для образцов из исследуемого материала, откидные пальцы 8, 20ползун 9, взаимодействующий с откидными пальцами 8, например, посредством клинообразного упора 10.Устройство...

Устройство для измерения электростатического контраста на движущихся периодически заряженных диэлектрических и полупроводниковых слоях

Загрузка...

Номер патента: 1272283

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Ворвуль, Ковалелис, Матвеев, Росов

МПК: G01R 29/12, G01R 29/24

Метки: движущихся, диэлектрических, заряженных, контраста, периодически, полупроводниковых, слоях, электростатического

...частот, оконечного усилителя 7 и регистрирующего прибора 8.Неподвижные чувствительные элек- ЗО троды 1 располагаются на расстоянии, например, 0,5-2 мм от контролируемой поверхности по направлению перемещения периодического потенциального рельеФа на расстоянии, равном нечет- З 5 ному числу пространственных полупериодов периодического потенциального рельефа.Чувствительные электроды могут иметь любую форму и быть выполнены 40 различным образом, например из Фольгированного стеклотекстолита (фиг.2),Могут быть предусмотрены конструктивные меры, позволяющие плавно либо ступенчато изменять расстояние между 45 чувствительными электродами, Входное сопротивление дифференциального усилителя 4 равно, например, 10-30 МОм,Принцип действия...

Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1276966

Опубликовано: 15.12.1986

Авторы: Балан, Ванкевич, Кучин, Пиротти, Черенков, Черепнев, Щербаков

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектрических, параметров

...- обеспечениеисследования параметров биологических объектов при воздействии на нихэлектромагнитных полей.На чертеже представлена конструкция устройства для измерения параметров диэлектрических материалов.Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов содержит резонатор 1, выполненный открытым и образованный двумя сйерическими зеркалами, расстояние между краями которых является запредельным,камеру 2 для размещения исследуемого материала, связанную с резонатором 1 посредством запредельного волновода 3, который расположен на оси,перпендикулярной оси резонатора 1,первый элемент ввода 4 и элемент вывода 5 СВЧ-энергии, выполненные соответственно на сйерических зеркапахрезонатора 1 на его оси, второй элемент ввода 6...

Устройство для измерения диэлектрических параметров

Загрузка...

Номер патента: 1277019

Опубликовано: 15.12.1986

Авторы: Немаров, Подгорный

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, параметров

...измерительной схемы при двух значениях емкости модулирующих вари- капов 5 высокочастотное напряжение на контуре модулируется по амплитуде. Демодулятором 7 выделяется низкочастотная (частоты модуляции) огибающая ВЧ-напряжения на измерительном контуре. Если изменение емкости модулирующих варикапов 5 удовлетворяет1условию С(с - , то амплитуда модуляции высокочастотного напряжения на контуре пропорциональна первой производной модуля коэффициента пе- редачи(4) 5 С учетом (5) получаем аналитическое выражение для проводимости 8,эквивалентной потерям в исследуемомобразце: 1 К 9) Ег С=Р 5 нальныи 8, фобразом. Выходиа 13 поступаетблока 15 вычитение перемножиЧц Егальное , , че Сигнал, пропорцимируется следующимнапряжение квадратона...

Устройство для измерения уровня диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1280330

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Берман, Волков, Карась, Куцовский

МПК: G01F 23/26

Метки: диэлектрических, уровня

...ед = 1, рассчитанные по выраже- Анию (11) при различных значениях параметра Мб, из которого следует, что зависимости е;= Й Я)- носят экстремальный характер и что существует диапазон частот (в частности, частота), в котором значения е;А максимальны и который должен быть выбран в качестве рабочего.Устройство содержит излучатель электромагнитного поля, выполненный в виде двух плоскопараллельных пластин 1 (фиг.З), между которыми размещен индуктивный чувствительный элемент, выполненный в виде катушки 2, С пластинами 1 соединен генератор 3 частоты, а катушка 2 соединена с первым входом блока преобразований й, с вторым входом которого соединена шина 5 опорного напряжения.Кроме того, в блоке преобразований й установлены усилитель 6,...

Установка для высокочастотной сушки диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1281845

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Заманский, Коен, Родионова, Трошина

МПК: F26B 3/347

Метки: высокочастотной, диэлектрических, сушки

...расположенная в конце рабочего конденсатора, горизонтальна. Транс- портерная лента 11 конвейера 3 скользит по секциям 8 - 10 низкопотенциальной пластины 2. Зонты 12 соединены с вытяжной системой вентиляции.Установка работает следующим образом.Высушиваемый материал, уложенный на транспортерную ленту 11 конвейера 3, перемещается внутри экранированной камеры 4 между высокопотенциальными пластинами 5 - 7 и низкопотенциальной пластиной 2, Регулирование скорости сушки по длине рабочего конденсатора осуществляется перемещением высокопотенциальных пластин 5 - 7 по высоте и за счет автоматического уменьшения расстояния между высокопотенциальными пластинами 5 - 7 и секциями 8 - 1 О заземленной пластины 2 вследствие выпуклой формы последней,...

Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1283665

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Дайнеко, Ренгарт, Ценципер

МПК: G01R 22/04

Метки: диэлектрических, параметров

...напряжения, снимаемого с детектора 6, судято влажности материала. изобретения Формул а15 Составитель Ю. МамонтовРедактор М. Циткина Техред М.Ходанич Корректор Т, Колб Заказ 7433/43 Тираж 730 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к влагометрии и может быть использовано для определения влажности материалов, например угля, на конвейерной ленте.Цель изобретения - расширение полосы рабочих частот и повышение чувствительности.На чертеже приведена структурнаяэлектрическая схема устройства дляизмерения влажности диэлектрическихматериалов.гУстройство для измерения...

Способ дифракционного допускового контроля диаметров прозрачных диэлектрических волокон

Загрузка...

Номер патента: 1285317

Опубликовано: 23.01.1987

Авторы: Лазарев, Мировицкая, Сарвин

МПК: G01B 11/08

Метки: волокон, диаметров, дифракционного, диэлектрических, допускового, прозрачных

...осуществляетсяследующим образом,Располагают контролируемое прозрачное диэлектрическое волокно 730вертикально (что обусловлено пространственной ориентацией вытяжной машины), а непрозрачные волокна 3под углами= 60 к нему так,чтобы проекция их пересечения находилась в центре облучающего пучка.Этообеспечивает создание трех дифракционных картин, расположенных под углами 60 друг к другу, которые незатеняют друг друга и не интерферируют между собой.1Два непрозрачных эталонных волокна 3 выбирают таким образом, что поле допуска, сформированное положения ми минимум дифракционных картин от нихопределяет максимальный и минимальный размер контролируемого диэлектрического волокна. Использование двух эталонных волокон 3 позволяет получить...

Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1288562

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Борисевич, Брей, Воробейчик, Гайдукова, Казаков, Максимчук, Петров

МПК: G01N 22/04

Метки: диэлектрических, параметров

...1288562раций приемопередаюшую антенну 2располагают в направлении к почве 19,При перемещении приемопередающейантенны 2 по вертикали, например,вверх через первый минимум напряженности поля стоячей волны напряжениеБ автогенератора 1 снановится меньшенапряжения Б, источника 4, Напряжениеразности Б, - Б, выделяемое сумматором 3, положительно. Оно поступаетна неинвертирующий вход масштабногоусилителя 6 и на инвертирующий входмасштабного усилителя 5, усиливаетсяи поступает на инвертирующие входы 15компараторов 7 и 8, где сравнивается с нулевыми напряжениями резисторных матриц 9 и 10 соответственно,Напряжение на масштабном усилителе бинвертируется, т,е, становится отри, цательным заведомо меньшим нулевогонапряжения резисторной матрицы 1...

Расходомер для диэлектрических сред

Загрузка...

Номер патента: 1296844

Опубликовано: 15.03.1987

Авторы: Вяткин, Дубровский, Петриченко

МПК: G01F 1/56

Метки: диэлектрических, расходомер, сред

...коллектора 7, смещенных соосно по течению жидкости относительно электродов 2 и 3, причемколлекторы 6 и 7 соединены электрически между собой и через измерительтока 8 - с источником 4 питания постоянного тока,Предлагаемый расходомер работаетследующим образом.35При подаче напряжения на электроды 2 и 3 между ними возникает в слабопроводящей жидкости объемный заряд,величина плотности которого тем больше, чем больше неоднородность рабочей жидкости по удельной ее электро"проводности, Протекающая по трубопроводу рабочая жидкость разделяется надве трубки тока: центральную и коаксиально расположенную ей перифеРийную. Центральная трубка тока с большей (усредненной по-сечению) скоро"стью электронейтрального потока про"ходит внутри полого...

Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1298517

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Арбузов, Коровяков, Шкарлет

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковый, диэлектрических, покрытий, толщиномер

...вход индикатора 6, пропорционален величине 7,1 пА + С, где С - величина прямо пропорциональная выходному (опорному) сигналу логарифмического усилите в . ля 10.Показания индикатора б прямо пропорциональны входному сигналу, т.е, величине 1 пА, и обратно пропорциональны сигналу, подаваемому на опорный вход индикатора 6.Таким образом, показания индикатора 6 прямо пропорциональны величинеКф 1И (1)1 + К,1 пАгде К, и К - постоянные,Выходные сигналы логарифмическихусилителей 5 и 10 ввиду идентичностисхем прямо пропорциональны величийеч, - температурному потенциалу, чтоявляется существенным недостаткомтаких схем логарифмирования сигналсв,несмотря на их простоту, но так какдифференциальные транзисторные парылогарифмических усилителей 5...

Устройство для контроля толщины диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1298518

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Ефремов, Любимова, Свиридов, Скрипник

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, толщины

...К - регулируемый коэффициентусиления избирательного усилителя 12,К - коэффициент выпрямлениясинхронного детектора 13.Постоянная составляющая последовательности видеоимпульсов 0 - == в (Б + 13 ) выделяется фильтром 14 ЗО12 знижних частот и воздействует на один вход блока 15 сравнения, на второй вход которого воздействует опорное напряжение источника 1 б. На выходе блока 15 формируется разностное напряжение, которое интегрируетсяинтегратором 17. Выходное напряжение интегратора 17 изменяет коэффициент усиления высокочастотного усилителя 12 в направлении уменьшения разности сравниваемых напряжений Б и Б . При равенстве сравниваемых найряжений С + СП =П =ВИКК- --Цсь Б 1 2 2" 1 45 выходное напряжение блока 15 сравнения становится равным...

Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов

Загрузка...

Номер патента: 1302213

Опубликовано: 07.04.1987

Автор: Белов

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, параметров

...усилителями 17 и 18 низкой частоты, и поступают на синхронные детекторы 19 и 20, При синхронном детектировании устраня ются помехи от переходных процессов, сопровождаюших нарастание и спад амплитуды колебаний на выходе измерительного моста. С этой целью блок импульсных команд вырабатывает специальные импульсы напряжения, управляющие работой ключей синхронных детекторов, Форма этих импульсов показана на эпюрах 111 и 1 Ч (фиг, 2), Эти импульсы следуют с частотой ком О мутации измерительного и эталонного конденсаторов, Импульсы, управляющие синхронным детектором, начинаются позже импульсов, управляющих модулятором, а заканчиваются раньше последних,Благодаря этому синхронные детекторы подключаются к усилителям низкой частоты...

Свч-датчик для измерения параметров диэлектрических сред

Загрузка...

Номер патента: 1305584

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Барабохин, Безбородов, Гура, Лавриненко

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектрических, параметров, свч-датчик, сред

...параметров диэлектрических 10сред; на Фиг. 2 - распределенияэлектромагнитного поля в диэлектрическом резонаторе и электромагнитного поля основной волны в прямоугольном волноводе со щелью в широкойстенке.СВЧ-датчик для измерения параметров диэлектрических сред содержитпрямоугольный волновод 1 с продольной щелью 2, ячейки 3 и 4 для эталонной и исследуемой сред соответственно, отрезок 5 прямоугольного волновода с детектором, первый 6 и второй 7 идентичные диэлектрическиерезонаторы, а также первый 8 и второй 9 регулировочные винты,СВЧ-датчик для измерения параметров диэлектрических сред работаетследующим образом,30При одинаковых параметрах сред в,ячейках 3 и 4, расположенных в непосредственной близости от продольнойщели 2 прямоугольного...

Устройство для отвода зарядов статического электричества с диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1309335

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Асатов, Гариев, Евменов, Набоков, Петроченков, Харламов

МПК: H05F 3/02

Метки: диэлектрических, зарядов, отвода, статического, электричества

...электростатическиезаряды, то в соответствии с электропроводностью этих участков они отводятся на электропроводящие элементы 3и далее через проводники 4 - на землю, При малой электропроводности обрабатываемых участков 2 возможно накопление зарядов на них. 45Так как электропроводящие элементы 3 ограничивают свободное перемещение зарядов по поверхности оболочки1, в зону, где производятся операцииклейки на участках 2 и в случае возникновения искрового разряда в зонеэтих участков, его энергия (зависящая от плотности заряда 1 = Е с ираспределенной электрической емкостиразряжающегося участка поверхности,определяемой площадью этого участкаограничена,При соблюдении эмпирического условия где К - расстояние между токопроводящнми элементами...

Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов

Загрузка...

Номер патента: 1317275

Опубликовано: 15.06.1987

Автор: Федотов

МПК: G01B 7/06

Метки: геометрических, диэлектрических, объектов, параметров

...и т,п.Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет упрощения технологии нанесения электропроводного покрытия на диэлектрическое изделие.На чертеже показана конструкция устройства для реализации способа контроля геометрических параметров диэлектрических объектов,Устройство содержит измерительный конденсатор 1, к одному из электродов которого подключен генератор 2 переменного тока, а к другому электроду - измерительный блок 3. Между электродами измерительного конденсатора 1 помещают с воздушным зазором относительно них контролируемый диэлектрический объект 4, На его поверхность в процессе измерений наносят электро- проводное покрытие 5, например, в виде пленки водного конденсата. Для этого пространство между...

Устройство для измерения толщины экструзионных диэлектрических пленок

Загрузка...

Номер патента: 1318784

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Ефремов, Значковский, Марченко, Осецкий, Петухов, Свиридов, Сенатос, Скрипник

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, пленок, толщины, экструзионных

...12 на информационный вход синхронного детектора 13, на управляющий вход. которого подают опорное напряжение с выхода генератора 14 низкой частоты. На выходе синхронного детектора 13 появляется выпрямленное напряжение, величина которогосвязана пропорциональной зависимостьюс разностью емкостей преобразователей 1 и 2. Так как эта разность определяется емкостью, вносимой контролируемой пленкой, напряжение на вы 1318784ходе синхронного детектора 13 функ - ционапьно связано с толщиной пленки и не изменяется от температурных изменений диэлектрической проницаемости материала пленки. 5Преобразователь 10 установлен так, что его рабочая часть располагается в канале подачи расплава головки 16 экструдера с воэможностью зондирования...

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1318938

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Конев, Любецкий, Счисленок, Швайко

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, покрытий, толщины

...соСтав-. ляющих) от длины волны излучения (фиг,2 а). В блоке 10 выборки-хранения по сигналам генератора 15 тактовых импульсов происходят запоминанией хранение мгновенного значения входного напряжения. Частота выборок опре деляется частотой тактовых импульсов генератора 15 (фиг.2 в)Сигнал на выходе блока 10 выборки-хранения по казан на фиг,2 б.В начальный момент времени вычис-, литель 13 включен в ждущем режиме на вход разрешающий работу, не подается сигнал "Пуск" ). При поступле нии первого импульса, поступающего с блока 10 выборки-хранения на вход сумматора 11, его значение (отношение амплитуд ортогональных составляю. щих) записывается в первый регистр памяти сумматора 11 и подается на блок 12 сравнения, Всего регистров памяти,...

Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1322131

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Колесниченко, Прудкий, Сафонов, Усенко

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектрических, параметров

...также согласованные нагрузки 10,смеситель 11, индикатор 12Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов работает следующим образом.Две пары элементов 8 и 9 связи,отрезок первичной линии 5 передачи 30образуют два направленных ответвителя. На резонансных частотах осесимметричных диэлектрических резонаторов 6 при оптимальных связах черезэлементы 8 и 9 связи сигналы в установившемся режиме с выходов СВЧусилителей 3 возбуждают осесимметричные диэлектрические резонаторы 6,При расположении элементов 8 и 9 связи под углом 90 по азимуту в осесимметричных диэлектрических резонаторах 6 возникают автоколебания насобственной частоте, на типе колебаний НЕ, в режиме бегущей волны,т.е, с круговой вращающейся поляризацией, которые...

Способ обнаружения дефектов в диэлектрических материалах

Загрузка...

Номер патента: 1322992

Опубликовано: 07.07.1987

Автор: Пекка

МПК: G01N 22/02

Метки: дефектов, диэлектрических, материалах, обнаружения

...ТЕМ волну, приемную антенну 3 в виде волноводакруглого сечения, детектор 4 и предварительный усилитель 5, конвейер 6для подачи исследуемого диэлектрического материала - доски 7 с сучками 8.Устройство для обнаружения дефектов в диэлектрическом материале работает следующим образом.СВЧ-генератор 1 генерирует волну .фтипа Н (ТЕ, ), при расстояниях отраскрыва от передающей антенны 2,болыпих 39 (9, - длина волны в свободном пространстве), электромагнитная волна имеет основной тип (ТЕМ - 35поперечная электромагнитная волна).Таким образом, микроволновое излучение, достигающее поверхности доски 7,имеет только один тип колебаний,т.е.имеется только поперечная составляю Ощая электрического или магнитногополя и отсутствует продольная...