Устройство для измерения характеристик диэлектрических материалов

Номер патента: 1188673

Автор: Трепов

ZIP архив

Текст

1188673 А б 1 А Е В Риг,СостаТех ред Тираж Государст елам изобр сква, Ж - Патент,ЧиняковКорректор О. ЛПодписноекомитета СССРи открытийская наб., д. 4/5од, ул. Проектная, 4 итель ВИ. Верес47енногоетений5, РаушУжгор Редактор А. Заказ 6741/4 угов НИИ 113035, Млнал ППП Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн.Целью изобретения является повышение производительности измерений.На фиг, 1 приведена структурная электрическая схема устройства для измерения характеристик диэлектрических материалов; на фиг, 2 - конструкция измерительной линии. Устройство для измерения характеристик диэлектрических материалов содержит генератор 1, индикатор 2 падающих и отраженных сигналов, измерительную линию 3, выполненную в виде четырех токопроводящих жестких стержней 4, соединенных с центральным жестким стержнем 5 посредством жестких перемычек 6, и симметрирующий элемент 7,Устройство для измерения характеристик диэлектрических материалов работает следующим образом.Усилием, приложенным к центральномужесткому стержню 5, измерительную линию 3 внедряют в исследуемый диэлектрический материал. Сигнал с выхода генератора 1 поступает на вход индикатора 2 и через симметрирующий элемент 7 на измерительную линию 3. При этом он, отра жаясь от границы раздела воздух - исследуемый диэлектрический материал и от расположенного в исследуемом диэлектрическом материале конца измерительной линии 3, через симметрирующий элемент 7 также поступает на вход индикатора 2, с помощью которого путем сравнения падающего и отраженных сигналов определяют характеристики исследуемого материала.

Смотреть

Заявка

3669268, 28.10.1983

ОРДЕНА ЛЕНИНА АРКТИЧЕСКИЙ И АНТАРКТИЧЕСКИЙ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ

ТРЕПОВ ГЕННАДИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, характеристик

Опубликовано: 30.10.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1188673-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-kharakteristik-diehlektricheskikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения характеристик диэлектрических материалов</a>

Похожие патенты