Способ определения параметров диэлектрических материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1210091
Автор: Славин
Текст
/ ПИСАНИ БРЕТЕН ПЬСТВУ Тру вен соедине Электр олщинь ство СССР5/02, 1978. мула д 1,В 1 и КгЕ=й-ь 1,а,-а 1 ь 51 а; гд ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССС ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ ТОРСКОМУ СЕИД(71) Днепропетровский орденго Красного Знамени государуниверситет им.300-летия вония Украины с Россией,с, 874-882.Авторское свидетельУ 590652, кл. С 01 В 1 4) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ7) Изобретение может использоватьсяя измерения диэлектрической прониемости и толщины изделий из диэлектрических материалов. Повышаетсяточность и расширяются функциональные возможности путем обеспеченияодновременного измерения толщины идиэлектрической проницаемости. Поизмеренным значениям приращений частот (а 1а) при нормальном углепадения электромагнитной волны наповерхность диэлектрического материала и при угле падения (Ы), отличномот нормального, можно одновременноопределить толщину (3) и диэлектрическую проницаемость (6) диэлектри"ческого материала соответственно по скорость света в вакуумеа 1, )ь)(,Еь дХ- д 1,д" с с 4 Н 24 Д з) д г где л 2, и- приращения двухчастот;скорость света ввакууме. су, (3) ВНИИПК Заказ 51353 Тири( 7 78 Подписное Филиал ШЙ "Пмект" г, ужгород, ул.Проектиая,4 Изобретение относится к радиотехническим измерениям и может быть использовано для. измерения диэлектрической проницаемости и толщины изделий из диэлектрических материалов.Цель изобретения - повышение точности и расширение Функциональных возможностей путем обеспечения одновременного измерения то 2 пцины и дчэлектрической проницаемости.Согласно предлагаемому способу измеряют приращение частот при нормальном угле падении электромагнитной волны на поверхность диэлектрического материала, что позволяет определять электрическую толщину" материала из соотношения гце 4 - толщина диэлектрика;Е - диэлектрическая проницаемостьдиэлектрического материалаь- скорость света в вакууме; .1.,и 1 - частоты, соответствующиесоседним экстремальным значениям коэФФициента отражень."1 ч диэлектрического. материала;затем измеряют приапьение частот при угле падения отличном от гормальоного, например с =30 , что п(озволяет записать выражение для "электрической толщины" диэлектрического материала при с0 в виде 1 де 1 и 1 - частоты, соответствующие соседним экстремальным значениям коэФФициента отражения диэлектрического мате-, риала при угле падения (. Ф О,4Определяя из выражения (1) толщину диэлектрического материала 10091 2и подставляя это значение в (2), получают соотношение для определениядиэлектрической проницаемости Из выражений (ч) и (3) получают дляопределения толщины выражение ь"ьй,-ьщ (,)1 2Таким образом, из выражений (4)и (5) видно, что по измеренным значениям приращений частот при нормаль ном угле падения электромагнитной волны на поверхность диэлектрического материала и при угле падения, отро личном от нормального, можно одновременно определить толщину и диэлектрическую проницаемость диэлектрического материала. Формула изобретения Способ определения параметров диэлектрических материалов, заключающий(.я в облучении диэлектрического -.ььь .: атс; -.ала электромагнитными колебаниями СВЧ-диапазона и измерении приращения двух частот между соседнимиэкстремальными значениями коэффици"ента отражения, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышенияточности и расширения Функциональныхвозможностей путем обеспечения одновременного измерения толщины и диэлектрической проницаемости, изме )рение приращения одной из частотпроводят при нормальном угле паденияэлектромагнитнои волны на поверхностьдиэлектрического материала, другой -опри угле падения 30 , а диэлектрическая проницаемость в толщину диэлекьтрического материала определяет соответственно по Формулам ьььь,.ЬО ь,)ьь,.ьй,д 12 -д 4 д, е 22 з)п 20
СмотретьЗаявка
3722248, 30.03.1984
ДНЕПРОПЕТРОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. 300-ЛЕТИЯ ВОССОЕДИНЕНИЯ УКРАИНЫ С РОССИЕЙ
СЛАВИН ИГОРЬ ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрических, параметров
Опубликовано: 07.02.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1210091-sposob-opredeleniya-parametrov-diehlektricheskikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров диэлектрических материалов</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения абсолютных коэффициентов отражения
Следующий патент: Способ обнаружения и локализации дефектов в изделиях и устройство для его осуществления
Случайный патент: Держатель керноввсесоюзнаяйатентйо-техи1ие нчбиелиоте; -а i