Устройство для измерения диэлектрических параметров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИРЕСПУБЛИН 09) 26 594 СО Й НОМИТЕТ СССР РЕТЕНИЙ И ОТНРЬГП 4 ЙГОСУД АРСТВЕНН ПО ДЕЛАМ ИЗО НИ ПИСА ДВТОРСН ЕТЕ УС ТЕЛЬСТВ ен оды "ерфоые канов илии" совме(21) 3740662/24-21(71) Воронежский сельскохозяйств ный институт им. К.Д.Глинки (72) В.В.Саушкин и И.В.Жиленков (53) 621.319,4(088,8)(54)(5) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, содержащее корпус, размещенный в нем измерительный конденсатор с заземленным и потенциальным электродами, шлиф и вакуумный кран, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью упрощения я Й, 13, 1/, измерений и повышения чувствительности измерений диэлектрических па раметров адсорбционных систем мето дом диэлектрической спектроскопии оно снабжено перфорированной трубкой, заполненной стекловолокном и размещенной в корпусе, и дополнительными заземленными и потенциал ными электродами, при этом корпус выполнен. в виде металлического цилиндра, потенциальные электр в виде дисков и размещены на п рированной трубке, а заземленн электроды выполнены в виде ста и закреплены в металлическом ц дрическом корпусе между потенц ными электродами,причем шлиф щен с вакуумным краном.11Изобретение относится к физичес кой химии, в частности к устройствам для измерения диэлектрических постоянных адсорбционных систем методом диэлектрической спектроскопии, и может быть использовано в научно-исследовательских лабораториях для изучения свойств поверхности твердого тела.Цель изобретения - повышение чувствительности и упрощение измерений диэлектрических свойств адсорбционных систем методом диэдектрической спектроскопии, а также упрощение процесса исследования температурных зависимостей адсорбции указанным методом.Испытания предлагаемого устройства при адсорбции воды и гексаметилдисилоксана на различных адсорбентах (крупнодисперсный кварц, аэро- . сил, силикагель, окись алюминия, гидроокись алюминия) с различной величиной удельной поверхности (от 0,21 до 590 м /г) показали, что чувствительность метода диэлектрической спектроскопии в результате его применения увеличилась по сравнению с применением известных устройств приблизительно вдвоеНа чертеже. изображено устройство для измерения диэлектрических параметров адсорбционных систем, разрез.Устройство содержит металлический корпус 1, в который вставлены пять заземленных электродоц 2 и шесть потенциальных электродов 3, вместе образующих многосекционный измери" тельный конденсатор, Каждый контактный лепесток заземленного электрода 2 образован двумя разрезами боковой Стенки стакана параллельно его оси через 15. Лепестки расположены че рез 90. Втулка потенциального электрода имеет два разреза по взаимно перпендикулярным направлениям. Перфорированная трубка 4, заполненная стекловолокном, расположена по оси корпуса 1 и является несущим элементом потенциальных электродов 3. Электроды 2 и 3 фиксируются в корпусе 1 резьбовым фланцем 5. Корпус 1 закрывается крышкой 6 с кольцевой проточкой, К крышке 6 присоединена трубка со шлифом 7, имеющим кроме продольного боковое отверстие 8. Шлиф 7 входит в муфту стеклянного вакуумного крана 9, патрубок 10 которого служит для подключения манометра.95289 10 15 20 25 30 35 40 45 50 5Трубка 4 закреплена в изоляторах 11и 12 и соединена с потенциальнымэлектрическим выводом 13 устройства.Штуцер 14 вакуумного крана 9 служитдля подключения устройства к вакуумно-адсорбционной аппаратуреУстройство работаетследующим образом.Исследуемым образцом в процессесборки измерительного конденсаторапоследовательно заполняется пространство между электродами 2 и 3.Снаряженный конденсатор стягиваетсярезьбовым фланцем 5, герметизируется пайкой вдоль кольцевой проточкикрышки 6 и присоединяется к крану 9.При термовакуумной подготовке образца и при дозировке пара адсорбатаустройство сообщается с вакуумно -адсорбционной аппаратурой путем поворота корпуса 1 вокруг его оси до совпадения отверстия 8 шлифа 7 со штуцером 14, Выносу частиц образцапри вакуумировании препятствует жгутстекловолокнаперфорированной трубки 4. Удаление газа .и напуск параадсорбата в рабочую зону устройстваосуществляется через перфорацию трубки 4. Измерение диэлектрических параметров производится при закрытомкране 9 и заземленном корпусе 1.Предлагаемая конструкция имеетследующие. параметры.Полезная емкость пустого конденсатора, пф 43,3,Балластный объем (ш/р), см 5 1,д,где ш - масса адсорбента, г;у - плотность вещества адсорбента, г/смэ .Радиальный градиент температурывнутри измерительной зоны при 200 К,К/мм не более 0,1Время установления температурногоравновесия, ч не более 1,0.Непосредственный контакт заземленных электродов с корпусом устройствапозволяет отказаться от применениявспомогательного газа, что существенно упрощает процесс дозировкиадсорбата. Резьбовой фланец и перфорированная трубка, заполненная стекловолокном, обеспечивают постоянствогравитационной плотности образца впроцессе адсорбции - десорбции, астенки стаканов и разрезные втулкиобеспечивают постоянство расстояниялмежду электродами и, следовательно,постоянство начальной емкости измерительного конденсатора, что повышает достоверность измерений,1195289 71 пи аказ омитета СССи открытий и Р 5 шская наб.,лиал ППП ктор М,Петрова/50ИИПИ Государпо делам и3035, Москва оставитель А.Салынскийехред Л.Мартяшова Корре ираж венно брете Жф т", г.ужгород, ул,Проектная,
СмотретьЗаявка
3740662, 07.03.1984
ВОРОНЕЖСКИЙ СЕЛЬСКОХОЗЯЙСТВЕННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. К. Д. ГЛИНКИ
САУШКИН ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ, ЖИЛЕНКОВ ИГОРЬ ВСЕВОЛОДОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, параметров
Опубликовано: 30.11.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1195289-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-diehlektricheskikh-parametrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения диэлектрических параметров</a>
Предыдущий патент: Емкостной элемент связи устройства для измерения параметров вращающихся деталей машин
Следующий патент: Преобразователь емкости в интервал времени
Случайный патент: Устройство для подогрева топлива и стабилизации его температуры