Патенты с меткой «диэлектрических»

Страница 8

Способ неразрушающего контроля изделий из диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 868579

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Головин, Дьячек, Тялин

МПК: G01N 29/04

Метки: диэлектрических, неразрушающего

...зависит от напряженности электрического поля. За счет концентрации механических напряжений в области дефекта уровень механических напряжений в области дефекта существенно превышает уровень механических напряжений в изделии в удалении от дефектной области, Генерация электрического поля в виде серии импульсов с возрастающей от импульса к импульсу868579 Составитель К.Хилков Техред А.Ач Корректор С. Шекмар Редактор М.Янович Заказ 8313/62 Тираж 910 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по,-делам иэобретенйй и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 напряженностью позволяет. достичьуровень механических напряжений вобласти дефекта, при котором дефектстановится...

Устройство для измерения толщины диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 879278

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Гугелев, Резников, Синицкий, Федоров

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, толщины

...с колебательного контура.Поскольку максимальная величина измеряемой толщины диэлектрического материала зависит от расстояния, на которое распространяется электромагнитное поле преобразователя с заданной величиной напряженности, вызывающей реакцию токопроводящей подложки, устройство позволяет расширить диапазон измеряемых толщин путем создания электромагнитного поля большей мощности без увеличения диаметра преобразования, Необходимую добавочную мощность электромагнитного поля преобразователя, добав" ляемую к мощности плоской спирали 2, получают за счет мощности цилиндрической спирали 1, Поскольку оси спиралей совпадают, а витки направлены в одну сторону, электромагнитные поля, создаваемые ими, суммируются.Токопроводящее сечение...

Устройство для высокотемпературной обработки поверхности диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 880768

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Золотовский, Киселевский, Московский, Науменко, Шиманович, Шипай

МПК: B28D 1/00

Метки: высокотемпературной, диэлектрических, поверхности

...А-А на фиг. 1.5Устройство для высокотемпературной обработки поверхностей диэлектрических материалов состоит из анода 1 н катода 2, выполненных в виде графитовых стержней и содержащих приводы 3 вращения их вокруг собственных осей, блока 4 прижатия плазменного шнура 5 к обрабатываемой поверхности 6, привода 7 движения устройства относительно обрабатываемой поверхности 6 и привода 8 возвратно-поступательного перемещения блока 4 над об Б рабатываемой поверхностью 6.Устройство работает следующим образом.При включенном магнитно-механическом блоке 4 прижатия плазменного шнура 5 на аноди катод 2 подают постоянное напряжение и осуществляют поджиг разряда. Устройство подводят к обрабатываемой поверхности 6 изделия на заданное рассгояние и,...

Устройство для спектрометрических измерений диэлектрических параметров материалов

Загрузка...

Номер патента: 881626

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Волков, Козлов, Лебедев

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, измерений, параметров, спектрометрических

...4 излуч устройством поворо пендикулярной его пл каждым приемником явитель . Ордена Л спектрометрических ических параметров ашее перестраиваемый ор 1 излучения, полярометр 2 с поляриэаором 4 излучения и ия, второй приемник 6 енный на направлении ны, отраженной от ения, который снабжен та 7 вокруг оси, пероскости, а перед5 и 6 излучения усУстройство для спектрометрических из 10 мерений диэлектрических параметров материалов, содержащее перестраиваемый почастоте генератор излучения, поляризованный интерферометр с поляризатором и анализатором излучения и приемник иэлуче 15 ния, отличающеесятем,что, с.целью повышения точности измерений, вве-,ден второй приемник излучения, установленный на направлении распространенияволны, отраженной...

Способ тепловой дефектоскопии изделий из диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 890204

Опубликовано: 15.12.1981

Автор: Дятлов

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, диэлектрических, тепловой

...Государственного комитета СССР по делам изобретений и оз крытий 113 ОЗ 5, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г, Ужгород, ул, Проектная, 4дефект в диэлектрическом материале контролируемого изделия с иным, чем у дефекта показателем преломления, вследствие резонансного поглощения электромагнитных волн дефектом (вибратором) при частотах, соответствующих основной собственной частоте 1/1 и гармоникам высшего порядка, в области дефекта выделяется избыточное количество энергии, в конечном счете превращающейся в тепло, что и обеспечивает ряд максимумов. По значению частоты Ч, можно по известным формулам, описывающим резонансное поглощение электромагнитных волн, определить размер дефекта.Пример. Проводят тепловую...

Устройство для измерения диэлектрических характеристик веществ

Загрузка...

Номер патента: 890271

Опубликовано: 15.12.1981

Автор: Подгорный

МПК: G01R 27/26

Метки: веществ, диэлектрических, характеристик

...входами переключателей 15 и 16, коммутирующие контакты которых соединены с измерительным 1.С-контуром, Каждый из коммутируемых контактов переключателя 15 связан с первыми выводами основной и дополнительной катушек индуктивности 2 и 17, а каждый из коммутируемых контактов переключателя 16 связан с первым полюсом одного из двухполюсников связи 18 и 19, Вторые полюса двухполюсников свя. зи связаны с выходом питающего генератора 1. Двухполюсники связи состоят из последовательно включенных резистора и конденсатора свяПараметры двухполюсников связи основной и дополнительной катушек индуктивности 2, 17 связаны между собой следующими соотно. шениями:В 2 = КВУ, (1) Х 2 ЙХ 1 (2)1(3)1--- - ) В + х Ккоэффициент, определяющий отношение...

Раствор для химического серебрения диэлектрических подложек

Загрузка...

Номер патента: 891588

Опубликовано: 23.12.1981

Авторы: Ботвинкин, Плетнев, Плетнева, Столбова

МПК: C03C 17/06

Метки: диэлектрических, подложек, раствор, серебрения, химического

...2, слегкаперемешивают и вливают в кювету,куда уже помещены подготовленные детали,заранее залитые водой, Воду спускают 55 и вместо нее немедленно вливают объединенный серебрильный раствор 1 и 2.Серебрение проводят при покачиваниикювет, при этом количество раствора,Азотнокислое сереброГидроокись калия илинатрия 25 -ная гидроокись аммония Глюкоза 1,1 - 3,5 0,41 - 0,640,1 - 1,07 5 89 влитого в кювету должно быть таким, чтобы на 0,5 см закрывать сверху все детали. Покачивания кюветы производят до визуального определения полноговосстановления серебра, т.е. до зна"чительного появления шлама в течение8-15 мин. Если необходимо получитьтолщину слоя серебра от 0,5 до 1 мкм, то сереберение второго слоя продляют до 23 мин. Образовавшийся шлам...

Способ определения качества поверхности диэлектрических волноводных пленок

Загрузка...

Номер патента: 892207

Опубликовано: 23.12.1981

Авторы: Ганшин, Кубринская, Петрова

МПК: G01B 11/30

Метки: волноводных, диэлектрических, качества, пленок, поверхности

...волноводов, соответственно (см. Фиг. 3). Расчет таких зависимостей для самых различных значений параметров диэлектрических пленок, толщины и показателя преломления, показывает,.что форма кривых является практическинеизменной, Параметр В можно определить из кривых фиг. 3, если значения величины В лежат в диапазоне порядка 10- 500 нм.Пленки оксинитрида кремния 510 И толщиной 1,6 мкм и коэффициентом преломления 1,59 осаждают на подложки из окисленного полированного кремния, при этом пленки поддерживают четыре направляемые моды ТЕ поляризации.Перед началом измерений для укаэанных параметров пленок рассчитывают графическую зависимость отношений двух максимумов интенсивности рассеиваемого волноводной пленкой. излучения 1 = 1" /1...

Ячейка для исследования диэлектрических характеристик твердых диэлектриков

Загрузка...

Номер патента: 894521

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Лущейкин, Подгорный, Шахматов

МПК: G01N 27/02

Метки: диэлектриков, диэлектрических, исследования, твердых, характеристик, ячейка

...ячейку из термостата, и измерятьодновременно легкодоступными измерителями толщину образцаНа чертеже показана ячейка, общийвид,Нижнее основание 1, соединенное спомощью теплоизоляционных несущихстержней 2 с верхним основанием 3,представляет собой каркас ячейки. Неподвижный потенциальный электрод 4закреплен на нижнем основании черезтемпературостойкие электроизоляционные втулки, Подвижный электрод 5 закреплен через шаровой шарнир на штокемикрометрического винта 6 и перемещается ручкой 7. Перемещение держателя8 с образцами 9 в ячейке осуществляется поворотным манипулятором 10, состоящим из пластин с захватом для образца, закрепленной на оси.Поворотный манипулятор вращается внаправляющей 11 над нижним основанием 1. Перемещение манипулятора...

Способ дефектоскопии тонких диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 896526

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Баженов, Зубков, Митькин

МПК: G01N 27/24

Метки: дефектоскопии, диэлектрических, тонких

...Бокшан Заказ 11689/33 Тираж ЯЯ 2 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 1 3035, Москва, Ж - 35, Раушская наб д. 4/5 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4се их изготовления образуются сквозные проколы. Сквозные проколы и каналы в материале могут образовываться и при его эксплуатации, например, за счет, деформации при тепловом расширении и других воздействиях. Наличие сквозных каналов существенно снижает качество диэлектрических материалов, их электрическую прочность.Способ дефектоскопии осуществляется следующим образом.На одну сторону контролируемого материала наносят феррожидкость, размеры частиц которой меньше размеров пор материала. Материал помещают в магнитное поле, градиент...

Датчик диэлектрических параметров волокнистого материала

Загрузка...

Номер патента: 898311

Опубликовано: 15.01.1982

Авторы: Бунаков, Румянцев, Слываков

МПК: G01N 27/22

Метки: волокнистого, датчик, диэлектрических, параметров

...напряженности от радиуса может быть вполне уцов898311 Датчик диэлектрических параметровволокнистого материала по авт. св.669280, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности,ЭО. внутренняя поверхность измерительногоцилиндра дополнительно снвожена кольцевым выступом, на котором расположеныэлектроды, а опорные цилиндры введены.в измерительный цилиндр до упора с кольцевым выступом, причем внутренний радиус опорных цилинцров составляет 0,9 радиуса кольцевого выступа.Источники информации,1принятые во внимание при экспертизе летворительно аппроксимироввнв прямой линией на участке О Й 0,9. На участке жек р 0,9, т.е, непосрецственно в приалектродной области, даже при максимально возможной величине электродов, наблюцается...

Устройство для разделения диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 899140

Опубликовано: 23.01.1982

Авторы: Гнилошкуров, Горелов

МПК: B03C 7/02

Метки: диэлектрических, разделения

...под электродами перпендикулярно их поверхности установленсетчатый транспортер 7, который может приводиться в движение ведущимроликом 8. В нижней части одной изразграничительных пластин 5 установлен ролик 9 из диэлектрического материала, служащий для вывода осевших на сетчатом транспортере частициз рабочей эоны. Под транспортером1расположен выходной патрубок 10 приемника жидкости с мелкими частицамисортируемого материала из установки.Установка снабжена отстойником 11и приемником 12 крупной Фракции.Для подвода суспензии.и отвода жид"кости с мелкодисперсными частицамиустановка имеет гидравлическую систему (не показана),Установка работает следующим образом.Установка герметизируется при помощи крышки 3 и весь объем ванны1 заполняется...

Способ измерения толщины диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 901890

Опубликовано: 30.01.1982

Авторы: Водотовка, Глазков, Скрипник

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектрических, толщины

...измеренной величине приращения частоты электромагнитных колебаний, обеспечивающей равенство разности фаз электрромигНитных волн, распределяюшихся по 5различным каналам во времени и в пространстве, при известных и постоянных/значениях Со, 1, Сиопределяется толщина контролируемого материала 7. 1 ОУстройство работает следующим образом.Сигнал СВЧ генератора 1, стабилизированного по частоте, через управляемыйдвухпозиционный переключатель 2 поступа ет на вход трехканального разветвителя3, На один вход фазового детектора 4поступает сигнал, прошедший через измерительную ячейку, образованную излучающей и приемной антеннами 5 и 6, например, логопериодического типа, между которыми помещен контролируемый диэлектрический материал 7, а на второй...

Толщиномер диэлектрических покрытий

Загрузка...

Номер патента: 905620

Опубликовано: 15.02.1982

Авторы: Бакунов, Беликов

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, покрытий, толщиномер

...диэлектрических покрытий на немагнитной электропроводящей основе. Снижение мешающеговлияния удельной электрической проводи 15мости основы достигается выбором достаточно высокой рабочей частоты 11Однако для проведения точных измерений необходимо проводить калибровкуприбора под каждый материал основы,Наиболее близким по техническойсущности к предлагаемому являются толшиномеры диэлектрических покрытий, содержащие последовательно, соединенные автогенератор, накладной зихретоковый преобразователь, фазочувствительный детектор, опорное напряжение на который подается от автогенератора через фазовращатель, и индикатор 21 . Однако эти толшиномеры не обеспечивают достаточной точности и не позволяют одновре менно лзмерять толщину диэлектрических...

Способ оценки качества диэлектрических пленок

Загрузка...

Номер патента: 830977

Опубликовано: 15.02.1982

Авторы: Булатов, Воробьева

МПК: H01L 21/66

Метки: диэлектрических, качества, оценки, пленок

...к растравливанию вглубь микропор, главным образом потенциальных, т. е. всех структурных нарушений, куда проникли молекулы воды, Растравливаться могут поры, размеры которых соизмеримы с размером молекулы воды. Средний размер большинства пор составляет 10 А. Тот факт, что не увеличение количества пор, а глубина проникновения скрытых дефектов играют главную роль в изменении Уо, подтверждается тем, что после обработки значения токов утечки остаются, как правило, на прежнем уровне, а значения пороговых напряжений изменяются.Обработка диэлектрика в водном растворе с низким рН приводит к разбуханию слоя геля и закупорке потенциальных дефектов структуры диэлектрика, что приводит к увеличению порогового напряжения.Оценку качества диэлектрика...

Устройство для измерения диэлектрических характеристик материалов

Загрузка...

Номер патента: 921137

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Бельская, Сергеева, Фадеева, Фомин, Яцынина

МПК: H05K 13/08

Метки: диэлектрических, характеристик

...измерения свойств образцов диепектриков. Увепичивая объем кассет можно беэ переналадки камер (обпучения,впажности ипи температуры) осуществитьизмерения. свойств диэпектриков при раэ. пичных дозах обпучения и температурах,что позвопяет попучать быструю и своевременную информацию о свойствах материапов дпя испопьзования их в радиотехической аппаратуре,форму па изобретения тия 9 и 10 загрузки и выгрузки образцов, а также отверстия 11 и 12, в которые входят штоки 13 и поршни 14 топ.кателей ддя перемещения образцоввдолькассет, К кассетам жестко прикреппеныпотки (попые желоба) 15 и 1.6 прямоугопьного профипя, На резонаторе 4 установпена с возможностью осевого перемещения измеритепьная ячейка 17, которая представпяет собой стакан с отвер...

Способ определения напряжений в изделиях из диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 932223

Опубликовано: 30.05.1982

Авторы: Денисенко, Сабокарь

МПК: G01B 11/16

Метки: диэлектрических, изделиях, напряжений

...Авторское свидетельство СССРИ 638 МЗ кл. 0 01 В 11/16, 1978(прототип)3 93 222ния, просвечивают их пучком коллими"рованного излучения, регистрируютвосстановленное изображение и по нему определяют механические напряжения,5На фиг; 1 изображена оптическаясхема устройства, на фиг. 2 - оптическая схема восстановления изображения поверхности изделия,Способ осуществляется следующим 1 ообразом.Световое излучение от источника 1 поляризуют поляризатором 2, Формируют пучок необходимых параметровколлиматором 3 и освещают поверхность 1изделия М. Отраженное излучение собирают с помощью объектива 5 и Формируют изображение поверхностй на Фотоматериале 6, Анализатор 7 устанавливают в положение 8 (показано пунктиром) и на Фотоматериале б получаютпозитив 9...

Электроочиститель диэлектрических жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 937023

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Адаменко, Алексеенко, Аниканов, Бакланов, Волюжский, Гаркави, Репин, Седлуха, Торопов

МПК: B03C 5/00

Метки: диэлектрических, жидкостей, электроочиститель

...ролики 8, канал 9, соединяющий цилиндрические щели и грязесборник 10. Для привода во вращение осадительного элемента могут быть использованы фрикционные ролики 11 или зубчатое колесо 12 при условии выполнения торцовой поверхности пустотелого металлического цилиндра зубчатой.Электроочиститель работает следующим образом.Загрязненная жидкость подается в наружную цилиндрическую щель 4 и проходит между корпусом 1 и осадительным элементом, состоящим из пустотелого металлического цилиндра 2, покрытого слоем диэлектрика 3, например титаната бария, Осадительный элемент приводится во вращение либо фрикционными роликами 11, либо шестерней 12 в случае выполнения торцовой поверхности пустотелого металлического цилиндра зубчатой, причем...

Устройство для изготовления диэлектрических пленок

Загрузка...

Номер патента: 941875

Опубликовано: 07.07.1982

Авторы: Куликов, Рожин

МПК: G01N 1/00

Метки: диэлектрических, пленок

...1,941875 Формула изобретения йри этом ряд подложек 5 и прокладок 6 должны оказаться между упорами привода 3, Через клапан 8 осуществляют насосом 7 откачку камеры 1до давления остаточного газа в нейпорядка 0,1-1,3 кПа. После этого эаполняют емкость 2 диэлектриком, Придостижении равного слоя диэлектриканад .подложками 5 толщиной около 23 мм прекращают заливку диэлектрика.1 Перемещая вращением упора 4 привода 103, производят прессоваиие. Все подложки 5 и рамочные прокладки б приэтом собираются в одну стопку, а .канавки подложки .5 и пространство,ограниченное приемом рамочной прокладки 6, остаются заполненнымидиэлектриком. Закрытием клапана 8прекращают откачку камеры 1. Черезнатекатель 9 в камеру 1 напускаютатмосферу. Поднимают крьааку...

Устройство для измерения диэлектрических веществ

Загрузка...

Номер патента: 949543

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Кринкер, Петрушенко

МПК: G01R 27/26

Метки: веществ, диэлектрических

...а.диагональподключена к индикатору, введена дополнительная измерительная ячейка,включенная в другое плечо моста, адиагональ моста подключена к индикатору через детекторы и усилитель разности.Кроме того, в качестиспользуют измерительтотных характеристик.На чертеже представлена стрУктурная схема устройства.Устройство содержит 1качающейся частоты изм амплитудно-частотных хара подключенный к мостовой с ржа3 949543 щей измерительные конденсаторные ячейки 3 и 4, резисторы 5 и б, подключенные через детекторы 7 и 8 к усилителю 9 разности, выход которого подключен к входу 10 измерителя 2.Устройство работает следукщим. образом.Яапрязение на параллельных ветвях равно векторной сумме активных и реактивных составляющих. Так как проводимости...

Измеритель коэффициента диэлектрических потерь

Загрузка...

Номер патента: 957127

Опубликовано: 07.09.1982

Автор: Штраус

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, измеритель, коэффициента, потерь

...потерь, вырабатывает тактовые импульсы с периодом сле- дования 1(ф) которые поступают на вход блока 8 логарифмического тактирования. Цикл работы блока 8 логарифмического тактирования начинается с момента переключения переключателя 3, он из последовательности равно- стоящих тактовых импульсов выбирает импульсы, имеющие равномерное распространение в логарифмическом масштабе времени (при основании 2), т.е, реализует закон дискретизации,После подачи при помощи переключателя 3 скачка постоянного напряжения на испытуемый материал в диэлектрике начинается процесс поляризации, вызывающий поляризационный ток 1(1) через испытуемый материал. Поляризационный ток создает падеиие напряжения на образцовый резистор 5 1-1(1) =йЬ (2)и поступает...

Измеритель толщины диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 958846

Опубликовано: 15.09.1982

Авторы: Бурмистенков, Марченко, Свиридов, Скрипник

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, измеритель, толщины

...образцового преобразователя 2 с малой высотой зондирующего электрического поля к блоку 10 преобразования емкости в напряжение, и, соответственно, высокопотенциаль-ные электроды 2.2 образцового преобразователя 2 и высокопотенциальный электрод 1.3 измерительного преобразователя 1 подключаются к низкопотенциальным электродам 1.1 и 2.1 при помощи коммутаторов 6,7.этих преобразователей к блокам 9 и 10 преобразования емкости в напряжение, их электрические поля будут пронизывать одни и те же слои диэлектрической подложки 3.При отсутствии контролируемого материала 4 емкости преобразователей 1, 2 одинаковы. Вследствие этого при поочередном их подключении к блокам 9 и 10 преобразования емкости в напряжение постоянного тока с частотой...

Способ получения планарных волноводов на диэлектрических подложках

Загрузка...

Номер патента: 866953

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Войтенков, Редько

МПК: G02B 6/10

Метки: волноводов, диэлектрических, планарных, подложках

...14,02.79 (про СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПЛАНАР ОВОДОВ НА ДИЭЛЕКТРИЧЕСОЖКАХ, включакщий термоподложек при температуре ниже ы деформащщ на 100-200 Ч" электрическом поле напряжен - 500 В/мм в течение ч и последуккцее охлаждение, ающийся тем, что,с учения волноводов в стеклах, ах с высоким показателемпреохлаждение осушествляют вэлектрическом полеПродолжение тяГпипы 0,5 200 460 0,5 400 460 Ф 1 1,7526 176 1,7510 160 10 100 Бф 2,7 520 Из приведенной таблицы видно, что получаемые указанным способом волноводы обладают хорошими волноводными свой-. ствами. Использование описываемого способа позволяет изготавливать волноводы Составитель Г, БуровцеваРедактор Л, Письмен Техред М,Надь Корректор В, Гирняк Тираж 508 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета...

Способ контроля качества изделий из диэлектрических материалов с помощью акустической эмиссии

Загрузка...

Номер патента: 966586

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Алабичев, Головин, Дьячек, Тялин

МПК: G01N 29/04

Метки: акустической, диэлектрических, качества, помощью, эмиссии

...изделия судят по сигналамакустической эмиссии при совпадении последних с задержанными импульсами электромагнитного излучения в заданном временном ин Отервале,Способ заключается в следующем.Нагружают изделие из диэлектрического ма.териала, Принимают сигналы акустической 15эмиссии и импульсы электромагнитного излучения, возникающие при развитии дефекта.Задерживают импульс электромагнитного излучения на время распространения акустического сигнала по изделию из зоны возникно.2 о вения дефекта до места расположения преобразователя акустической эмиссии, Регистрируютсигналы акустической эмиссии только в момент появления задержанного импульса электро.магнитного излучения в заданном временномРедактор М. Товтин Корректор М. ДемчнкПодписное...

Способ неразрушающего контроля объемного электрического заряда в диэлектрических материалах

Загрузка...

Номер патента: 976507

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Громов, Розно

МПК: H05F 1/00

Метки: диэлектрических, заряда, материалах, неразрушающего, объемного, электрического

...достаточной чувствительности, а максимальная - 10 с - требованием-Ьдостаточного пространственного разрешения для практически интересных размеров образцов (до 2,5.10 2 м) различ ных материалов. Максимальная величина внешнего поля определяется напряжением пробоя для диэлектриков и не превышает 10 В/м; минимальная - 10 В/м 8 3должна быть достаточна для определения 55 распределения заряда в образцах большого размера с необходимым разрешением. 4П р и м е р 1, Измеряют объемный электрический заряд в образце алюмоиттриевого гранта в виде пластины толшиной 10м. Необходимое пространственное разрешение составляет 10 м. Амплитуда импульса внешнего электрического поля 10 В/м. При скорости8звука в материале 10 м/с длительность4импульса внешнего поля...

Измеритель толщины покрытия двухслойных диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 977935

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Захаров, Иванов, Марушкин, Ручкин, Скрипник

МПК: G01B 7/06

Метки: двухслойных, диэлектрических, измеритель, покрытия, толщины

...генераторов 1 и 2 поступают"на смеситель 7. Выходной сигнал опорного генератора 2 модулируется напряжением прямоугольной формы с частотногомодулятора 4, Частота модулирующегонапряжения равна частоте Я, задаваемойсигналом с выхода генератора 8 синхросигналов, При этом в первый полупериодчастоты Я выходной сигнал опорного гене 1ратора 2 имеет частотуш 2, а во второйполупериод 3)/Я =с 0, Частота сигнала измерительного генератора 1 определяетсяпараметрами емкостных датчиков с измеряемым объектом и контрольным образцом, периодически подключаемых к частотозадающей цепи измерительного генератора 1. Первый коммутатор 3 управляетсясигналом прямоугольной формы.с делителя10, частота которого также задается генератором 8 синхросигналов и...

Установка для металлизации диэлектрических волокон

Загрузка...

Номер патента: 981265

Опубликовано: 15.12.1982

Авторы: Домрачев, Ларионова, Лысенков, Петров, Слушков

МПК: C03B 37/12

Метки: волокон, диэлектрических, металлизации

...вакуумируют до 1,313 Па, включают нагреватели волокнадля поднятия температуры, превышающей на 10-100 С температуру распададанного металлорганического соединения. Включают электродвигатели, осуществляющие перемотку волокна,итистоцник звуковых колебаний. В реактор через дозатор подают металлорганицеское соединение. Нагретое волокно непрерывно протягивают соф 5 скоростью 0,2-0,5 м/мин Иеталлизиро-ванное волокно наматывается на приемную катушку.После окончания перематывания волокна выключают электродвигатели,источник звуковых колебаний и нагреватели,Величину удельного сопротивленияметаллизированных волокон по всейдлине определяют с помощью мостасопротивления. Толщину получаемогопокрытия по всей длине волокна определяют на электронном...

Бункер для сыпучих диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 984942

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Геворкян, Маркарян, Цатурян

МПК: B65D 90/54

Метки: бункер, диэлектрических, сыпучих

...из стенок 1 - 4 и источника 5 электрической энергии, Стенки 1 и 2 выполнены в виде металлических электродов, а стенки 3 и 4 изготовлены из не электропроводного ма984942 Формула изобретения фиг.4 фиг.Г Н. Слезинас КорректорПодписноекомитета СССРи открытийшская наб., д. 4/5род, ул. Проектная СоставительТехред И. Вер ираж 708 Редактор И. Ковальцу Заказ 0065/27. Шароши ВНИИПИ Гос по делам3035, Москва,Филиал ППП ПатдарственногоизобретенийЖ - 35, Раунт, г. Уж го тор ала и изолируют электроды друг от друга. 110 ледник соединены с источником электричской энергии 5. Электрод установлен под углом Я к горизонтальной плоскости.Работа бункера заключается в следующем.Буйкер заполняют сыпучим материалом, который истекает через прямоугольную шель...

Способ измерения диэлектрических характеристик веществ и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 809952

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Быстров, Мальцев, Поляков

МПК: G01N 22/00

Метки: веществ, диэлектрических, характеристик

...б компоненты сигналапоступают на многоканальный блок11 регистрации и обработки, Работа модулятора 5 и синхронных детекторов б синхронизирована при помощи генератора 7.Спектр сигнала приемника 9 при таком виде фазовой модуляции содержитийформацию о фазовом спектре исследуемого вещества 3."Предложим, что исследуемое ве,щество 3 характеризуется комплексным пропусканием вида Е =(Е+Ед)(Е + Е). 30 Отсюда видно, что отношение бесселевых функций 1 фд)1 будет изме-0 няться с изменением частоты генератора (источнйка 1), зто можно учестьпри обработке, либо устранить приизмерении, уменьшая амплитуду модуляции А с ростом частоты (о источника 1. В последнем случае отношение сигнал/шум. при перестройкечастоты источника 1 будет...

Электроприводной насос для диэлектрических сред

Загрузка...

Номер патента: 987165

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Грачев, Мотин

МПК: F04B 17/04

Метки: диэлектрических, насос, сред, электроприводной

...известного насоса является достаточная сложность конструкции. Цель изобретения - упрощение корукции.Цель достигается тем, что электровод выполнен в виде двух электродов,ключенных к разноименным полюсамточника электропитания, причем электрми служат торцовые стенки корпуса.На чертеже схематически предстапредлагаемый насос.Насос содержит корпус 1, в полостио между торцовыми стенками 2овлен поршень 4 из электропровод материала, взаимодействующий с электроприводом, подключенным к источнику 5 электропитания. При этом электропривод выполнен в виде двух электродов, подключенных к разноименным полюсам источника 5 электропитания, причем электродами служат торцовые стенки 2 и 3 корпуса 1. Между стенками-электродами 2 и 3 и поршнем 4...