Способ измерения толщины стенок полых изделий из диэлектрических материалов

Номер патента: 1188520

Авторы: Алеев, Клявлин, Марголин, Протасов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 7 0 51)4 С САНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ЕТЕЛЬСТ СКОМУ У 40 на Ленина полим. 50-летияциалистическ итехагнитныи порошо ют замк созд ежду ом с ел й порошкомвозь стен- индуктивее толщия тем,ую магии ную цепьным датчиа по ве и индукт ку издел ности да В.В. Клявлин,,Д. Протасов88.8)зина, 1959, В ичин ка опре ч а юяю у, отлто, с цеерений,и ю повышения точности и етельство СССР1 В 7/06, 1968 внешнеи с янным маг полости и ким полем вторско 3375, к в С использую ферромагн ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ(71) Киевский орднический институткой Октябрьской сволюции(54) (57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫСТЕНОК ПОЛЫХ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ, заключающийсяв том, что в полость изделия вводят на порошок воздеиствуют с тороны стенки изделия посто- нитным полем, а со стороныФ зделия - электростатичес- Епри этом для измерений т индуктивный датчик без итного сердечника. С."188520 Составитель В. КрапивинТехред М.Гергель Корректор Л.Патай Редактор Е. Копча Заказ 6732/40 Тираж б 50 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное Филиал 1 ШП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для измерения толщин стенок изделий и деталей иэ диэлектрических материалов, в том числе полимеров .и композитов на их основе.Цель изобретения - повышение точности измерений,На чертеже изображена схема контроля толщины стенок изделий из диэлектрического материала., На внешней стенке контролируемо" го изделия 1 расположен измерительный датчик 2 и электромагнит 3 с заземленныммагнитопроводом, питаемый постоянным током. Внутренняя полость изделия 1 содержит магнитный порошок 4 и электрод 5, создающий электростатическое поле. Способ осуществляется следующимобразом. К контролируемому изделию 1 к месту, толщину которого необходимо измерить, с внешней стороны на определенном расстоянии подводят электромагнит 3 и вплотную к стенке - индуктивный датчик 2, не содержащий 1 О ферромагнитного. сердечника, На обмот.ку электромагнита 3 подают постоянный ток, а внутрь изделия вводятмагнитопроводящий порошок 4. Черезэлектрод 5, расположенный внутри из делия, на порошок 4 воздействуют электростатическим полем. Процесс измерения толщины стенки иэделияосуществляют путем определения индуктивностидатчика 2.

Смотреть

Заявка

3776032, 25.07.1984

КИЕВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. 50-ЛЕТИЯ ВЕЛИКОЙ ОКТЯБРЬСКОЙ СОЦИАЛИСТИЧЕСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ

АЛЕЕВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ, КЛЯВЛИН ВАЛЕРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, МАРГОЛИН ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ, ПРОТАСОВ ВИКТОР ДМИТРИЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, полых, стенок, толщины

Опубликовано: 30.10.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1188520-sposob-izmereniya-tolshhiny-stenok-polykh-izdelijj-iz-diehlektricheskikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины стенок полых изделий из диэлектрических материалов</a>

Похожие патенты