Патенты с меткой «анизотропии»

Номер патента: 1251002

Опубликовано: 15.08.1986

Авторы: Найден, Рябцев

МПК: G01R 33/12

Метки: анизотропии, гексагональной, магнитной, полей, поликристаллических, структурой, ферритов

...НПовышение степени текстуры образцаприводит к обострению пика на кривой д м/,1 в окрестности особойтачки при направлении импульсногомагнитного поля перпендикулярноплоскости текстуры (кривая 2). Приодинаковом доверительном интервалепри измерении Р М /д погрешностьопределения Н на текстурированном415 материале уменьшается до 10-127при степени текстуры 1, - "0,75.На Фиг. 2 приведены зависимостид М д 7 и Н(11 для поликристаллического гексаферрита с анизотропией 20 рипа "легкая ось", при этом кривая- для нетекстурированнаго образца,кривая 2 - для текстурированногообразца с 1,= 0,65 при направлении внешнего поля перпендикулярноплоскости текстуры, кривая 3 - временная развертка поля. Криваяполучена известным способом; погрешность измерения...

Номер патента: 1252677

Опубликовано: 23.08.1986

Авторы: Антонюк, Волков, Горбань, Паско, Скирда, Суббота-Мельник, Храпко

МПК: G01J 4/00

Метки: амплитудной, анизотропии, отражателей, фазовой

...с лучом, отраженным от задней грани плоскопараллель"ной пластины 9, проходит анализатор22 и поступает на фотопреобраэователь 23. Коммутатор 11 оптического 40излучения осуществляет поочереднуюподачу на фотопреобразователь 23лучей, взаимодействующих с исследуемым объектом 19 и эталоном 10, спомощью поочередно замыкающихся элек тронных ключей 24 и 25,Управление электронными ключами24 и 25 обеспечивается опорными напряжениями формирователей 16 и 17,которые снимаются с дополнительных 50фотоприемников 12 и 13, облучаемыхдоподнительными источниками 14 и 15света. В течение времени, когда нафотопреобраэователь 23 поступает излучение, взаимодействующее с исследуемым объектом 19, напряжение, снимаемое с фотопреобразователя 23,через...

Номер патента: 1255904

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Конев, Михнев, Савич

МПК: G01N 22/00

Метки: анизотропии, диэлектрических

...линейного детектора 11 П в точке С показана на фиг, 2 6. Экстремальные значения сигнала на частоте Р , аО ф ти и а (фиг, 26) выделяют при помощи пикового детектора 12,Минимальная эллиптичность проведшей волны, соответствующая моменту времени г., равна1а,+а 2 л 3.2(2) Т Б. =Я-; нь04 2тичности в данный момент времени,поскольку анализатор 8 при вращенииэллипса дополнительным вращателем7 в минимуме сигнала выделяет малуюось эллипса, а в максимуме - большую,Из фиг. 2 видно, что в моментвремени 1, эллиптичность прошедшейволны минимальна, Это соответствуеториентации эллипса поляризации падающей волны вдоль той оси аниэотропии,которая вызывает сжатие эллипсапри прохождении образца, В моментвремени С эллипс поляризации падаю 2щей...

Номер патента: 1260901

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Лисицын, Сергеев, Тер-Маркарян, Хоботько

МПК: G01V 3/08

Метки: анизотропии, магнитных, свойств

...крепится на диске посредством подшипников 6 с возможностьюосевого вращения.Ка оси держателя образца установлена шестерня 7, задевающая своимизубьями, при вращении вместе с диском, за неподвижный рычаг 8,Держатель образцов с осью размещены на диске таким образом, что осьдержателя образцов расположена наддиском, а держатель образцов выступает за диск. Полюса магнита 9 и измерительные катушки 10, подключенныек блоку 11 усиления и регистрации 4 бсигнала, расположены на расстоянииот оси вала двигателя, равном расстоянию от нее до держателя с образцом,ла в измерительных катушках, Возникший сигнал усиливается и регистрируется. После прохождения образцом измерительных катушек его ось с ус" тановленной на ней шестерней...

Номер патента: 1265558

Опубликовано: 23.10.1986

Автор: Семиошко

МПК: G01N 21/41

Метки: анизотропии, коэффициента, нелинейного, поглощения, показателя, преломления

...т.е, когда и я 1 и= и соя ,или о = 0 Уо г и 2 г Если и , и имеют различные знаки, то угол между плоскостями поляризации записывающих пучков должен быть взят равным нулю, и производит.ся только изменение угла между опти- Ы ческой осью и плоскостью поляризацииобеих пучков, так как только в этом случае будет наблюдаться компенсация противофаэных решеток. Устройство работает аналогично ив случае измерения аниэотропии коэффициента поглошения.Пусть угол между оптической осью 5 образца С и плоскостью поляризациикаждого из записывающих пучков равен (1 . Тогда можно разложить электрические вектора записывающих пучков Е, и Ег на составляющие вдоль иперпендикулярно оптической оси С(фиг.2). Из векторной диаграммы нао Офиг.2 видно, что компоненты Е и...

Номер патента: 1275325

Опубликовано: 07.12.1986

Автор: Полянская

МПК: G01R 27/00

Метки: анизотропии, заряда, коэффициента, носителей, подвижности

...вектору плотноститока и параллельное оси У (направление В ), при этом измеряют коэффициент магнитосопротивления МДалее образец поворачивают вокругоси Е таким образом, чтобы магнитное поле было параллельно направлению В в плоскости, образованной векР -ьторами В, ( о сь Х ) и В (ось У) , иМ Мизмеряют коэффициент йланарного эф"фекта Холла Р, Затем образец поворачивают вокруг оси Е таким образом,чтобы магнитное поле было параллельно направлению В , перпендикулярному В- в укаэанной плоскости, пог сле чего измеряют коэффициент планарного эффекта Холла Р , Далее образец помещают в магнитйое поле, параллельное оси Е (направление Вм ), т.е. перпендикулярно плоскости, образованной векторами В (ось Х) и ,юф 1Ви (ось У) и измеряют коэффициенты Р...

Номер патента: 1286984

Опубликовано: 30.01.1987

Авторы: Андрюшенко, Ахметов, Карпинская, Нурлыгаянов, Шипков

МПК: G01N 27/02

Метки: анизотропии, прессованных, электропроводности

...на фиг.1.Устройство содержит диэлектрическую матрицу 1 с диэлектрическими пуансонами 2, на противоположных гранях которых установлены токовыеэлектроды 3. Потенциальные электроды 4 встроены на гранях матрицы 1,смежных граням установки токовыхэлектродов, Вся электродная системасоединяется через коммутатор с измерительной схемой (коммутатор и измерительная схема не показаны).Устройство работает следующим образом,Исследуемый материал помещаетсяв необходимом количестве в матрицуи прессуется.Электроды соединяютсяс коммутатором и, соответственно, сизмерительной схемой, При помощикоммутатора выбирают группу токовыхи соответствующую им группу потенциальных электродов, обеспечивающихизмерение электропроводности в направлении, параллельном оси...

Номер патента: 1293621

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Венгринович, Цукерман

МПК: G01N 27/83

Метки: анизотропии, материалах, напряжений, неразрушающего, ферромагнитных

...его в исходное нулевое состояние, Таким образом, интегратор 7 производит интегрирование выходного сигнала катушки 6 в интервале времени, за которой индукция вмагнитопроводе электромагнита 1 изменяется от +В до -Вш, причем производная ЙЬ/Й 1 в этот же промежутоквремени имеет одну полярность. Очевидно, что амплитуда выходного сиг 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 55 нала интегратора 7 пропорциональна величине 2 Вщ, т.е. максимальной индукции в магнитопроводе электромагнита 1.По положительному Фронту компаратора 10 амплитуда выходного сигнала интегратора 7 запоминается блоком 8 памяти выходной сигнал которого представлен на фиг. 2 г, Этот выходной сигнал поступает на один вход блока 9 управления, на второй вход которого подано опорное...

Номер патента: 1315888

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Гордиенко, Колодий, Рыбачук, Тетерко

МПК: G01N 27/90

Метки: анизотропии, коэффициента, немагнитных, реализации, электропроводности

...следующим образом.Генератор 1 гармонического напряжения генерирует напряжение, частота которого определяется управляющим сигналом, поступающим на входгенератора от блока 22 управлениячастотой. Генератор 1 выполнен потипу преобразователя постоянного напряжения в частоту гармоническогонапряжения, Его выходное напряжениеусиливается усилителем 2 мощности,выход которого соединен с началомобмотки 4 возбуждения.Ток возбуждения от усилителя 2мощности протекает по последовательно соединенным обмотке 4 возбужденияи печигтору 15 обратной связи. Прм 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 этом напряжение, снимаемое с резистора 15 обратной связи, поступает на второй управляющий вход усилителя 2 мощности и регулирует его коэффициент . передачи таким образом,...

Номер патента: 1325353

Опубликовано: 23.07.1987

Авторы: Бурминов, Шадов

МПК: G01N 29/04

Метки: акустических, анизотропии, волокнистых, свойств

...2. При этом углы расположения приемных преобразователей отсчитываются от осей каждого квадранта по часовой стрелке и, в частности, составляют Ы,= 4 К.для первого в первом квадранте приемного . преобразователя 3; К = 2 61 для первого во втором квадранте приемного преобразователя 4; р. = Зд(, для первого в третьем квадранте приемного преобразователя 5; К = 4 Одля первого в четвертом квадранте приемного преобразователя 6; 1 = 5 ьК для второго в первом квадранте приемного преобразователя 7 и т,д.Приемные ультразвуковые преобразователи на внешней концентрической окружности размещены аналогичным образом, образуя пары приемных преобразователей 3-15; 4-16; 5-17 и т.д., лежащих на общих с излучающим преобразователем 2 диаметрах внутренней и...

Номер патента: 1347054

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Алексеев, Левин, Мордвинцев, Папорков

МПК: G01R 33/02

Метки: анизотропии, магнитной, пленки, тонкой

...гармоники, должно составлять2максвеличину порядка -(20 1 р) дБ.а3 да.,максПолагая а г а, для ай =- 0,01получают, что вторая гармоника должна ослабляться на 30 дБ, Это можетбыть осуществлено с помощью промышленных приборов.Таким образом, измерение поля анизотропии с помощью третьей гармоники позволяет уменьшить погрешность до 1 Х и менее,Однако формулы (1) и (2), а следовательно, и (5) и (6) получены в .". предположении, что ОТН совпадает с направлением поля. Если пленка устанавливается так, что между ОТН и направлением поля существует некоторый уголи вектор поля лежит в плоскости пленки (ОТН пермаллоевых пленок тоже лежит в плоскости пленки)при перемагничивании пленки можетвозникнуть гистерезис, и в зависимости а (Н,Н,Н),...

Номер патента: 1357867

Опубликовано: 07.12.1987

Авторы: Крылов, Лепарский

МПК: G01R 27/02

Метки: анизотропии, кристаллов, электропроводности

...повыбранным осям;- токи, измеренные вдольвыбранных осей;- ширина электрода. 1 2, ф 1 х Составитель Кринов Техред А.Кравчук Корр е к тор М. Шар оши Редактор О.Головач Заказ 5994/45 Тираж 730 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к техникеизмерений, квантовой электронике,и,в частности, может быть использованопри конструировании электрооптическихустройств,Целью изобретения является повьппение точности определения анизотропииэлектропроводности.10На чертеже дана схема осуществления способа.На схеме обозначены: охранная сетка 1, электроды 2 - 5, нанесенные наодну из...

Номер патента: 1385015

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Байдюк, Васильев, Петрушин, Поташников, Скобло

МПК: G01N 3/28

Метки: анизотропии, механических, оценки, свойств, сравнительной

...относительно друга винтов 3,4 и индентора 5, На противоположном конце основания установ-.лена стойка 6 с закрепленной на ней 20балкой 7 прямоугольного сечения, навсех гранях которой установлены тензодатчики 8. На противоположном конце балки 7 установлен испытуемый образец 9.25Способ осуществляется следующим образом,Изготавливают образец 9 испытуемого материала, обеспечивая расположение рабочей поверхности образца подострым угломк главной плоскости материала. Для удобства обработкиобразца 9 он может быть залит, например, сплавом Вуда. Образец 9 устанавливают на конце балки 7 и воздействуют на него индентором 5 до разрушенияучаетка поверхности, с которым взаимодействует индентор 5. При этом сначала индентор 5 подводят к образцу 9с помощью...

Номер патента: 1388767

Опубликовано: 15.04.1988

Автор: Боровский

МПК: G01N 19/02

Метки: анизотропии, оценки, плоских, поверхностей, шероховатости

...поверхностью контртело, состоящее из двух независимых частей.Затем осуществляют движение контртела по исследуемой поверхности так,что обе части контртела перемещаются 20в одной плоскости, параллельной базовой плоскости шероховатости исследуемой поверхности. Движение осуществляют в различных направлениях,при этом измеряют разность сил сопротивления перемещению каждой. частиконтртела. По отношению этихразностей, полученных для каждогонаправления, судят о степени анизотропии. 30Одна из частей контртела, первойсоприкасающейся с материалом поверхности в направлении движения контртела, срезает выступающие выше плоскости перемещения частей контртеланеровности, Сила сопротивления перемещению этой части складывается изсилы ее адгеэии к...

Номер патента: 1388769

Опубликовано: 15.04.1988

Автор: Тарасов

МПК: G01N 19/02

Метки: анизотропии, механических, поверхностных, преимущественно, свойств, физико, фрикционных

...предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к экспериментальным методам механики деформируемого твердого тела и является усовершенствованием способа по авт.св. Р 705312.Целью изобретения является повышение достоверности результатов для пары тел с анизотропными поверхностями за счет учета фактора взаимной ориентации анизотропных поверхностей,Способ осуществляют следующим образом.На неподвижно закрепленный образец под действием нормальной нагрузки устанавливают контрольный образец (индентор), Образцам задают опреде" ленную ориентацию относительно друг друга и затем с помощью исполнительного механизма индентор перемещают по неподвижному образцу, поддерживая при этом заданную ориентацию образцов.При перемещении...

Номер патента: 1401421

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Лисовский, Чижик, Щеглов

МПК: G01N 27/72, G01R 33/12

Метки: анизотропии, магнитной, магнитных, параметров, пленок

...пленку10 (фиг.2) воздействуют постоянныммагнитным полем и переменным магнитным полем (Н и Ь соответственно).При этом постоянное магнитное полеформирует в пленке вдоль линии изме"кения направления вектора напряженности на противоположное плоскую доменную границу. Переменное магнитноеполе вызывает колебания этой границыс частотой, равной частоте этогополя. Границы наблюдаемой областиколебаний (удвоенная амплитуда колебаний) показаны пунктирными линиямина фиг. 2.Меняя частоту переменного магнитного поля, снимают зависимость относительной амплитуды А/А (где А, -амплитуда при Г- О) колебаний границы от частоты этого поля (фиг.3),после чего устанавливают частоту назначение Г , соответствующее области максимальной крутизны...

Номер патента: 1427262

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Конев, Тиханович

МПК: G01N 22/00

Метки: анизотропии, диэлектрической, малой, проницаемостью

...минимального значения максц1.1 ман К эл ГЙ, -г где Ко Кэи- коэффициенты эллиптичности суммарной электромагнитной волны для случаев, когда анализируемая составляющая СВЧ- волны измерительного канала параллельна первой и второй главным осям анизотропии; сигнала к максимальному, определяя значение коэффициента эллиптичности в данный момент времени, поскольку анализатор 8 поляризации при вращении эллипса вращателем 7 при минимальном сигнале выделяет малую ось эллипса, а при максимальном - большую. Коэффициент эллиптичности с помощью аналого-цифрового преобразователя 13 преобразуются в цифровой код и поступает на блок 15 обработки.Путем вращения с частотой Рполяризационной решетки сумматора 6 из электромагнитной волны эллиптической...

Номер патента: 1428987

Опубликовано: 07.10.1988

Авторы: Дубина, Локшин

МПК: G01N 3/00

Метки: анизотропии, упругой

...цилиндра. Нагружают образец 1через захваты 2 и 3 растяжением последовательно в различных диаметральныхнаправлениях одинаковыми усилиями.азличные диаметральные направления)гказаны на чертеже штрихпунктирнымиЛиниями. Изменение направления нагружения осуществляют поворотом цилиндра вокруг оси,сююетрии. 25При нагружении регистрируют упругуюподатливость С, в каждом -м направ,лении нагружения,После того, как последовательнымиповоротами на заданный угол образец ЗОнагружался во всех направлениях, изнего в одном из направлений испытания.вырезают дополнительный призматический образец 4 (показан жирной контурной линией).35Для дополнительного призматическоГо образца определяют модуль упругости Ев,Модуль упругости Е в каждом изнаправлений...

Номер патента: 1492053

Опубликовано: 07.07.1989

Авторы: Бобылев, Прицкер, Страбыкин, Шехтман

МПК: E21C 39/00

Метки: анизотропии, горных, пород, степени, текстурной

...перпендикулярным первому, а третье направление (Е) совпадает с продольной осью керна.5 В каждом направлении возбуждают ультразвуковые колебания, определяют скорости их распространения и определяют степень текстурной анизотропии породы по формуле 10ЧлРЧ Ч.,где Ч - скорость распространенияультразвуковых колебанийвдоль диаметра, совпадающего с направлением слоистости керна;Ч - скорость распространенияультразвуковых колебанийвдоль второго диаметра;скорость распространенияультразвуковых колебанийвдоль продольной оси керна.Предлагаемый способ базируется на следующих физических предпосылках.Степень аниэотропии определяется иэ соотноешния скоростей вдоль и поперек слоистости породы, т.е.30 а стспень анизотропиигЧхсФЧ П р и м е р. Проводят...

Номер патента: 1495676

Опубликовано: 23.07.1989

Авторы: Прасолов, Ямщиков

МПК: G01N 3/08

Метки: анизотропии, металлов, пластической

...а 1 занных трех направлениях. ЖС помощью рентгеновского дифрактометра определяют распределение интенсивности отраженного от базисной плос" кости рентгеновского излучения, покоторому определяют распределение ба- фф зисных плоскостей ГПУ-решетки исследуемого сплава,еееееееЗьПо результатам испытаний рассчитывают Параметры текстуры еее ее ре,1е "ее = 1 1 е еоо е"ее м-2, -СХилла составляют, МПа : Р = 1,21 1 ОС = 4,63 1 О ; Н = 5,26 10 ф 1. =12,56 1 ОМ = 6,60 10 и Я =11,75 О Формула изобретения Составитель М.КузьминТехред А.Кравчук Редактор Н,Бобкова Корректор О.Ципле Заказ 4253/40 Тираж 289 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5...

Номер патента: 1543307

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Зильберштейн, Ромм

МПК: G01N 21/23

Метки: анизотропии, горных, оптической, пород

...1 и 1, вышедшего из системы поляризатор - анализатор, от угла Ы поворота шлифа. Вычисляют сред ние за один оборот значения интенсив.". ностей света 1 ц и 1.1.Определяют по построенной зависимости преимущественную оптическую ориентировку индивидов в агрегате.154330 У ности, пучок света сечением, равнымсечению шлифа, пропускают через систему и измеряют интенсивность света,вышедшего из системы, соответственнопри параллельных 1, и при скрещенных1 поляризаторе и анализаторе приразличных углах поворота шлифа вокруг оптической оси этой системы, затем по измеренным зависимостям определяют преимущественную оптическуюориентировку индивидов в шлифе какугловое положение максимума эависимости 1 от угла поворота, среднее значение двулучепреломления и...

Номер патента: 1569900

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Дудоров, Куделькин, Рандошкин

МПК: G11C 11/14

Метки: анизотропии, доменосодержащей, кристаллографической, кубической, ориентации, осей, пленке

...ОО йгй Составйитель й,Аьйийкееь8;"Ред Гй:"й 10)Геьг; ал ОР 1амОРСК.Я Реда кт.Шандор ПОдпи"ное008 тениям и Открытигйм ГОи ,йййй(: йй й 1 й/5 ж 408ОМИТ 8 ТЯ ПО .30Осква, )й(-", Ра Тира ТВ 8 НЧОГО К 1 1:Р)й) Ч аказ 1453 ВНИИ Осуда Производственно-издательскич комбинат йПй)теьйт", й, Ужгород, ул, Гай арийча,векторов намагниченности в ионно-имплантированном слое, в результате которого они выстраиваются вдоль трех эквивалентных направлений, составляющих друг с другом углы 120 О, При этом в окрестности пеоесечения осью симметрии пространственно- неоднородного магнитного поля доменосадержащей пленки,в, ирнно-имплантирован. ном слое образуются три домена, разделенные дОменньйми стенками, Зт(1 , стенки ориентированы под улом 12 О другк другу...

Номер патента: 1380430

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Гребенников, Попов

МПК: G01N 29/00

Метки: анизотропии, свойств, упругих

...4 по вертикали относительно корпуса 1, и координатный столик 10, обеспечивакщий смещение преобразователя н горизонтальной плоскости.Способ определения анизотропии уп" ругих свойств материалов осуществляется следующим образом.Полусферический образец 5, например, радиусом 15 мм из материала 12 Х 18 Н 10 Т крепят н держателе 6 и помещают в ванну 2, заполненную, например, дистиллированной нодой. Ось вращателя 7 располагают и одной плоскос" ти с осью вращения держателя 6 относительно корпуса 1 и перпендикулярно ей так, что ось вращения держателя 6 относительно корпуса 1 лежит на плоской поверхности образца 5 и ось нращателя 7 совпадает с нормалью к центру плоской поверхности образца 5. Вращая держатель 6 относительно корпуса 1, добиваются...

Номер патента: 1608747

Опубликовано: 23.11.1990

Автор: Рандошкин

МПК: G11C 11/14

Метки: анизотропии, магнитной, магнитных, пленке, полей, эффективных

...критической напряженности постоянного магнитного поля Нлк , по которой судят о компонентах эффективных магнитных полей, имеющих различную физическую природу.Сущность изобретения заключается в следующем.Известно, что согласно результату классической теории Стонера-Вольфарта перемагничивание магнитных пленок вращением векторов намагниченности должно происходить при достижении критерия, который для магнитоодноосных пленок можно записатьв виде Н /з+Н/= (4 к - 4 дМ ) /, и 8 где Н и Ни в компоненты магнитного поля,перпендикулярная и параллельная плоскости пленки соответственно;Н - поле одноосной анизотропии;4 лМ - намагниченность насыщения, Для данного случая это условие может быть переписано в виде=(Н 4 М )ф,где выделены перпендикулярная...

Номер патента: 1618862

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Васильев, Дранкер, Поташников

МПК: E21B 7/08

Метки: анизотропии, бурового, горных, индекса, пород

...- радиус сферы подпятника шарнира; 60 - угол падения пластов породы.1618862 с 4 Р )с 1 Ь зп Р --(С -Д Б ) + ( ОБ + 2 СК г) 2 п,ь к 9 Ф к Э -040с 11,з зхп 10 ----- (С -Б ) + (- - 6 Я + 2 СК г)пР к 93 "Р"т11 фЯ Т.з 1 п 2 (6, - ф) Составитель М. Алимов Редактор И. Шулла Техред А. Кравчук Корректор В. Гирняк Заказ 28 Тираж 368 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д, 4/5 Производственно. издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О 1,О - диаметр компоновки низа в опорномсеченИи непосредственно у шарнирногосоединения, м;6 - осевая нагрузка, кН;5. - контактная площадь долота, мм;2,Ьр - твердость породы, кН/мм;г,0 о - угол падения пластов...

Номер патента: 1618863

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Васильев, Дранкер, Поташников

МПК: E21B 7/08

Метки: анизотропии, бурового, горных, индекса, пород

...постоянной осевой нагрузке. ЗнаИзобретение относится кнаклонно направленных сктропных породах.Цель изобретенияверности определения бСпособ определенияанизотропии горных породдующим образом.Жесткой компоновкой нлонны, содержащей опорэлемент, осуществляют бупри постоянной осевой нагДо начала бурения изамеряют следующие пара чение индекса и анизотропии определяют по формуле Ь=у 1.апрр - 2 Мк+(Ь - Оо)/2 БЕ 1/ /1.2 - (6 - бпр 5 к +1 БЕ 1 - 5/61 (б - 6 р 5 л + 1-4 О/9 лб р 5.)/б р 51.яп 2(Оо - срр), где и - буровой индекс анизотропии пород; 0 - вес направляющей штанги, в буровом растворе, отнесенный к ее длине; 1. - длина направляющей штанги комйоновки низа бурильной колонны; О. - диаметр скважины;6 - осевая нагрузка; го 1 р - твердость...

Номер патента: 1619115

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Зибров, Шевяков

МПК: G01N 3/32

Метки: анизотропии, внутреннего, исследования, модуля, трения, упругости

...(или с помощью шпилек с навинченными на их концы гайками). После сборки систему образец (образцы) - грузы подвешивают на струнах в расчетных узлах колебаний, возбуждают резонансные изгибные колебания рабочих участков 7 образцов по требуемой форме и измеряют параметры колебаний, в частности резонансную частоту системы и число циклов свободных колебаний, эа которое амплитуда колебаний уменьшается в 2 раза, и по измеренным параметрам рассчитывают соответственно модуль упругости и характеристику внутреннего трения (в данном случае, декремент колебаний) материала образца. После определения исследуемых характеристик для одного направления зондирования ослабляют болты зажима одного из образцов, поворачивают его на необходимый угол,...

Номер патента: 1624544

Опубликовано: 30.01.1991

Авторы: Ваньков, Зюзин

МПК: H01F 10/24

Метки: анизотропии, одноосных, поля, ферромагнетиках, эффективного

...пленки, то1 г К (у(св)ра = К- ",Р) 20М 1- Нфф/Нпа 22 1-юфан,.1Пленка как в первом, так и во втором случае остается параллельной внешнему квазистатическому полю.Сопоставляя (21 и (3), можно полунить 25 выражение для НН ьф к = -2 - ф. (4)Таким образом, регистрируя интенсивность линии ферромагнитного резонанса ЭО (ФМР) при двух различных ориентациях, но при прочих идентичных экспериментальных условиях, можно по полученным интенсивностям и резонансному полю при параллельной ориентации определить значение З 5 эффективного поля одноосной анизотропии, Зная Нфк и Нр, легко рассчитать значение гиромагнитного отношения у.П р и м е р. Испытания проводились на семи образцах. 40Измерения интенсивностей линии ФМР при перпендикулярной и параллельной...

Номер патента: 1640542

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Недужко, Стринадко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: анизотропии, образцов, оптической, прозрачных

...регистрации, измеряют распределение интенсивности и азимутов поляризации в нулевой полосе, по которым определяют оптическую анизотропию и высоту миронеровностей поверхности образца. 1 ил. деления оптичес ых образцов.йство содержит источник 1 иэлучещий высококогерентное излучение волновым фронтом, светоделитель ные зеркала 3 и 4, оптический смемагнитооптический модулятор б, р 7 и фотоэлектронный умножиПредлагаемый способ одующим образом, Полупрозрачная пластин учение,от источника 1 из ка; объектный, который наказ 1012 Тираж 393 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035; Москва, Ж, Раушская нэб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород, ул,Гагарина, 101 исследуемому...

Номер патента: 1642339

Опубликовано: 15.04.1991

Авторы: Конев, Любецкий, Швайко

МПК: G01N 22/00

Метки: анизотропии, диэлектрических, листовых, частотно-поляризационный

...Ю , Яр ) и кон- Ъу измерений А, Г, ) . МаксимумЙ Иопределяет разность Фаз волн.Ло 35 распространяющихся вдоль ортогональных осей анизотропии с соответствующими диэлектрическими проницаемостями глох ф Ее где 62(с) - сдвиг частоты сигнала впроизвольный момент времени 9ч(ь) - скорость распространения5сигнала в среде;Ь - размеры участка, на котором происходит изменение(л)выражение (1) справедливо при10чф)уф).При прохождении СВЧ-сигнала с изменяющейся во времени поляризацией через анизотропную пластину толщиной Ь со ско остью распространения= с/ Я (б) выражение (1) можно записать следующим образом6 К(.)= -- , -- Я( ) - -. - т -- =л 1 йоЬ, л с ,)с 1 Я(б)2 са ( --Способ реализуют следующим образом.СВЧ-сигнала с выхода СВЧ-генератора 1...