Патенты с меткой «анизотропии»

Номер патента: 1665293

Опубликовано: 23.07.1991

Автор: Сулковский

МПК: G01N 29/00

Метки: анизотропии, свойств, упругих

...упругих свойств материала. 15 Таким образом, непосредственно определяется искомый параметр, что повышает точность и производительность измерений. Возможность выполнения указанных операций на образцах сколь угодно малых 20 размеров снижает материалоемкость процесса измерений, Для количественного определения коэффициента К анизотропии на экране осциллографа измеряют величиныАох и Аоу большой и малой осей эллипса соответСтвенно и рассчитывают его по фор- муле А А8(п дув)п дх Ахо Ауо(5) Аох Направление распространения энер. гии ультразвуковых колебаний в анизотропных материалах не совпадает с направлением волнового вектора, но оп ределяется тензором упругих свойств ма.териала. В результате прохождение поперечной ультразвуковой волны...

Номер патента: 1677570

Опубликовано: 15.09.1991

Авторы: Гойхман, Кобзарь, Павлычко, Тормахов, Шевченко

МПК: G01N 3/00

Метки: анизотропии, главных, механических, направлений, осей, свойств

...механических свойств материалов и направлений ее главных осейв исследуемой плоскости. Цель изобретения - снижение трудоемкости испытаний. Иэ заготовки материала вырезают образец в форме кругового цилиндра, ось которого перпендикулярна исследуемой плоскости анизотропииНагружают образец осевым сжатием и измеряют поперечные деформации образца. О главных направлениях и степени аниэотропии судят по максимальным значениям отклонений формы, поперечного сечения образца от формы круга, аП р и м е р. Иэ листа сплава Д 16 Т толщиной 30 мм вырезали перпендикулярно плоскости листа цилиндрический образец диаметром 18 мм и длиной 30 мм. Образец нагружали осевым сжатием при напряжени ях 300 - 400 МПа, Максимальные попеоеч- с 3ные деформации...

Номер патента: 1387654

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Власов, Гребенников, Попов

МПК: G01N 29/18

Метки: анизотропии, свойств, упругих

...11 на Фигурахобозначен образец из исследуемогоматериала.Способ измерения анизотропии упругих свойств материала осуществляетсяв ходе работы Устройства следующимобразом,Образец 11 .в виде плоскопараллель.ной пластины, например, толщиной З.мм 50и диаметром 30 мм из материала12 Х 8 Н 10 Т крепится в держателе 4 ипомещается в ванну 1 с контактнойжидкостью, выполняющей роль промежуточной среды. Ось механизма 6 поворо- -5та располагают в одной плоскости сглавной осью устройства и перпендикулярно ей так, что главная ось устройства лежит на внешней поверхности образца 11 и ось механизма 6 поворота совпадает с нормалью к центру внспшсй поверхности образца 11, Вращая держа" тель 4 относительно главной оси устройства механиэиои 5,...

Номер патента: 1689815

Опубликовано: 07.11.1991

Авторы: Максимович, Тиханович

МПК: G01N 22/00

Метки: анизотропии, диэлектрических, механической, неразрушающего

...азимуту отраженной волны, поступает в блок 12. Блох 9 в соответствии с управляющим сигналом с модулятора 3 работает в двух режимах. В 35 первом, при облучении материала 4 линейно г(оляризованной электоомагнитной волной, плоскость поляризации котовой составляет 450 с плоскостью падения, с помощью блока 9 определяют отношение ми нимального значения сигнала к максимальному, которое дает значение коэффициента эллиптичности отраженной электромагнитной волны, поскольку анализатор 6 при вращении эллипса поляризации вращателем 5 в минимуме сигнала выделяет малую ось эллипса, а в максимуме - большую. Во втором режиме, при облучении материала 4 линейно поляризованной электромагнитной волной, плоскость поляризации которой составляет...

Номер патента: 1698683

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Аблогин, Мацегорин, Прасолов, Ямщиков

МПК: G01N 3/00

Метки: анизотропии, металлов, пластической, сплавов

...пластической анизотропии с помощью приведенных соотношений позволяет учесть упругое взаимодействие кристаллитов в справе, что повышает точность ,способа,Расчетные соотношения получены на основе рассмотрения исследуемого сплава как совокупности кристаллитов, напряженное состояние в каждом из которых при нагружении сплава находится из решения задачи упругого взаимодействия, рассматриваемого как сферическое вклочение кристаллита с однородным континуумом, обладающем свойствами сплава, При атом принималось, что упругой анизотропией исследуемых сплавов можно пренебречь и для определения пластической анизотропии по данному способу достаточно использовать только две упругих константы - модуль сдвига и коэффициент Пуассона,Приведенные...

Номер патента: 1700460

Опубликовано: 23.12.1991

Автор: Тимофеев

МПК: G01N 27/83

Метки: анизотропии, величины, магнитной, направления

...возникающего в непроводящую неферромагнитную среду, подчинается закономерности, отображаемой формулойгде х и укоординаты точки наблюдения на поверхности магнитоанизотропного ферромагнетика;г =Ух +у-,ик и,иу - наибольшее и наименьшее значения магнитной проницаемости;К - некоторая постоянная величина.Начало системы координат совмещено с точкой касания электрода, а направления осей совмещены с главными направлениями тензора магнитной анизотропии.Для определения величины и направления магнитной анизотропии корпус преОбразователя плотно прижимают торцом к исследуемой поверхности изделия. Прижимаемый пружиной электрод 2 входит в контакт с поверхностью изделия, включение переменного тока требуемой силы приводит к возникновению...

Номер патента: 1723503

Опубликовано: 30.03.1992

Авторы: Калличаран, Суриков, Шляхтенко

МПК: G01N 21/55

Метки: анизотропии, волокнистых, оптической, плоских, светорассеяния

...фотоприемники подсоединены к блоку 10 регистрации, так, что сигнал, снимаемый с фотоприемников, установленных в каждой плоскости, суммируется, т,е. возрастает в два раза. В случае, когда полезным сигналом, снимаемым с фотоприемника, является ток, фотоприемники соединяются параллельно, Блок регистрации выдает на выходе значение коэффициента оптической анизотропии,Во избежание паразитной засветки фотоприемников светом, отраженным от боковой поверхности светозащитного цилиндра 9, его внутренняя поверхность покрыта светопоглощающим материалом,Для проверки работоспособности на оптической скамье был собран лабораторный макет устройства. В качестве источника 1 света был использован Не - Ке лазер с не- поляризованным излучением (ЛГИБ)....

Номер патента: 1737366

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Конев, Савич

МПК: G01R 27/26

Метки: анизотропии, диэлектрика, диэлектрической, проницаемости

...верхних частот 4 подключен к измерительному устройству 5. Волновод 1 соединен с генератором 6 с изменяющейся частотой,Устройство работает следующим образом, В волноводе 1 возбуждается основная гармоника Н 1 о с вектором электрического поля, параллельным узкой стенке, при отражении волны Н 10 в случае существования анизотропии в контролируемом образце имеет место изменение поляризации электрического поля в раскрыве волновода 1, в результате чего возникает отраженная гармоника Н 10, вектор электрического поля которой параллелен широкой стенке и1737366 оставитель Р,Кузнецоваехред М.Моргентал Корректор О,Кундрик актор Н.Коля каз 1888 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениями открытия113035, Москва, Ж, Раушская наб.,...

Номер патента: 1755220

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Калиникос, Ковалева, Ковшиков, Кожусь, Панчурин, Север

МПК: G01R 33/05

Метки: анизотропии, констант, намагниченности, насыщения, неразрушающего, пленок, ферромагнитных

...значениям частот с помощью дисперсионных соотношений,2 ил.расстоянии. Измерительную секцию помещают в магнитную систему, создающую постоянное магнитное поле напряженностью Но, направленное вдоль оси антенн спиновых волн. При этом реализуется режим возбуждения поверхностной спиновой волны. С помощью СВЧ-генератора измеряют частотные зависимости отраженной мощности СВЧ-сигнала РО 2 р = фо) при двух различных направлениях магнитйого поля Но относительно кристаллографических осей пленки, что реализуется поворотом пленки относительно поля Но Как видно иэ фиг.2, зависимость Ротр, - 1 (в) имеет осциллирующий характер, а значения волновых чисел в точках минимумов зависимостей РО 2 р = 1 (в) определяются при Л р 2 = 0 иэ простого...

Номер патента: 1765847

Опубликовано: 30.09.1992

Авторы: Логунов, Рандошкин

МПК: G11C 11/14

Метки: анизотропии, магнитного, магнитной, одноосной, пленке, поля, эффективного

...во время действия импуль- (Я сного магнитного поля Ни, изменяют напря- ф женность внешнего магнитного поля Н = Ни ф - Нсм и определяют зависимость Р " от Н, по которой судят об эффективном магнитном поле однооснои анизотропии в магнитной пленке путем экстраполяции этой зависи- ф мости до пересечения с осью абсцисс,Изобретение поясняется чертежом, где приведена зависимость Р от Н, а также зависимость х от Н, по которой определяют эффективное магнитное поле одноосной анизотропии в прототипе, Здесь х - время перемагничивания магнитной пленки. На чертеже видно, что при экстраполяции кри1765847 но, что экстраполяция обеих кривых даетзначение эффективного магнитного поляодноосной анизотропии равное 108 Э,у оГн, РЗаказ 3387 Тираж Подписное...

Номер патента: 1775644

Опубликовано: 15.11.1992

Автор: Жданкус

МПК: G01N 15/08

Метки: анизотропии, водопроницаемости, грунта, исследования, прибор, фильтрационный

...только однао бачка обуславливает простоту и компактность измерительного узла и всего прибора и удобство работы с ним,На фиг, 1 показан прибор, общий вид; на фиг, 2 - гидравлическая схема измерительного узла; на фиг, 3 - позиции распределителя измерительного узла,Фильтрационный прибор для исследования анизотропии водопроницаемости грунта состоит из зонда 1, штанги 2, рукоятки 3 и измерительного узла 4, который содержит бачок 5, мерную трубку 6, распределитель 7, воздушный кран 8, вспомогательный кран 9, рабочую камеру 10 и шкалу 11, Распределитель прибора имеет три позиции О - открыт, Р - работа, 3 - закрыт (см. фиг, 3), Воздушный и вспомогательный краны могут быть открытьге или закрытые,Фильтрационный прибор для исследования...

Номер патента: 2005311

Опубликовано: 30.12.1993

Авторы: Воробьев, Поздеев, Романычев

МПК: G01R 33/12

Метки: анизотропии, вращательного, гистерезиса, магнитной, момента, образцов, сферических, ферромагнитных

...является повышение точности измерений величины анизотропии и моментов вращательного гистерезиса сферических ферромагнитных образцов.Цель достигается тем, что в устройство для определения осей и величины анизотропии сферических ферромагнитных образцов, содержащее два симметрично расположенных относительно образца электромагнита, датчик зазора между образцом и полюсом электромагнита и после. довательно с ним соединенные усилитель и выходной блок, нагруженный катушками электромагнитов, дополнительно введены прикрепленный к образцу проводящий цилиндр, статор датчика момента, охватывающий цилиндр, датчик скорости вращения цилиндра, блок разности, квадратурный генератор, блок перемножения, два усилителя мощности переменного тока и...

Номер патента: 1309731

Опубликовано: 30.10.1994

Авторы: Калмыков, Серебряный

МПК: G01N 29/18

Метки: акустического, анизотропии, кристаллографической, металлических, предела, текучести

СПОСОБ АКУСТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ ПРЕДЕЛА ТЕКУЧЕСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают две линейно поляризованные поперечные волны со взаимно ортогональными плоскостями поляризации и измеряют скорость распространения этих волн, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля металлических изделий одноосной симметрии с гексагональной решеткой, возбуждают линейно поляризованные поперечные волны в направлении, перпендикулярном оси симметрии изделия, плоскость поляризации одной из которых параллельна этой оси, затем измеряют скорость поперечной волны на другом бестекстурном образце из данного материала в трех взаимно перпендикулярных направлениях,...

Номер патента: 1657004

Опубликовано: 20.12.2005

Авторы: Грязев, Нестеренко, Талуц

МПК: G01R 33/05

Метки: анизотропии, доменосодержащих, напряженности, поля, структур

Устройство для измерения напряженности поля анизотропии доменосодержащих структур, содержащее последовательно оптически соединенные источник поляризованного света и поляризационный микроскоп, источник переменного магнитного поля, ориентированный вдоль оптической оси поляризационного микроскопа, источник постоянного магнитного поля, ориентированный вдоль фокальной плоскости поляризационного микроскопа, управляемый источник постоянного тока, согласующий элемент, цифровой вольтметр, измерительный вход которого подключен к выходу согласующего элемента, вход которого подключен к выходу источника постоянного магнитного поля, вход которого подключен к выходу управляемого источника постоянного...