Архив за 1990 год
Многомасштабная линейка
Номер патента: 1587309
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Добринов, Пархоменко, Шапошников
МПК: G01B 3/04
Метки: линейка, многомасштабная
...муфты 18. Масштаб шкал10 и 11 определяют по формулеК 21/и,где 1 - расстояние между нулем и предельным штрихом соответствующей шкалы;и - Максимальное значение величины Р.Шкалы 4 и 7 оцифрованы в значенияхперемещения опор вала 16 соответственнов вертикальном и горизонтальном направлениях, Масштаб шкал 4 и 7 определяют поформулеК 2Кэ =- -- ,а 2где а 2 - коэффициент, выбираемый из конструктивных соображений по формуламО+Сд 2 для шкалы 4,ОВ1 Е+О+Са 2 = -----для шкалы 5;ОВгде О - расстояние от кормовой опоры домуфты 17;С - расстояние между муфтами 17 и 18;Е -. расстояние между опорами вала 14; ф В диаметр осчета размера Р.Шкалы 5 и 6 оцифрованы в значенияхрасстояния О муфты 17. Их масштабы определяют по формуле К 1 - а 1 Кз, 5 Огде а 1 =-.для...
Координатно-измерительная машина
Номер патента: 1587310
Опубликовано: 23.08.1990
МПК: G01B 5/008
Метки: координатно-измерительная
...18 излучения, установленные Машина включает также коордь топриемники 19 и 20, установле ретке 9, точечный источник 21 полупрозрачные зеркала 22 и ленные на .траверсе 8, регуля давления воздуха в аэростатиче 5-7, 10 и 11, электрически связ топриемниками 15, 14, 19 и 20.Координатно-измерительн работает следующим образом.В аэростатические опоры 5 4 портала и 10-13 каретки 9 под воздух. Регулировкой регулят давления устанавливают траве мещения на координат. анонленные 4 почупрозый источник на столе 2.натные фонные на каизлучения и 23, устанонторы 24-27 склх(порах анные с фо1587310 Фиг.1лельно столу 2, а каретку 9 - параллельно траверсе 8, при этом луч от источника 18 совмещают с началом координат фотоприемников 19 и 20, При отклонении в...
Устройство для контроля размеров деталей
Номер патента: 1587311
Опубликовано: 23.08.1990
Автор: Добровольский
МПК: G01B 5/04
Метки: размеров
...с контролируемым изделием по поверхностям, что уменьшает его износ, Цель достигается тем, что в усгройстве, содержащем лоток и калибр, установленный с возможностью поворота в боковой плоскости лотка, губки калибра выполняют смещенными в плоскости поворота калибра, который устанавливают так, что рабочие поверхности губок перпендикулярны боковой поверхности лотка, боковая поверхность одной из губок лежит в одной плоскости с боковой поверхностью лотка, а вторая губка лежит над плоскостью лотка, 2 ил,боковая поверхность В однорасположена в плоскости с бокностью А лотка 1, а губка 3 устбазовой плоскостью лотка 1. Устройство работает следующим обраПри движении изделия 9 по лотку 1 оно взаимодействует с губкой 3 и поворачивает калибр 1...
Устройство для измерения в сферической системе координат точек
Номер патента: 1587312
Опубликовано: 23.08.1990
Автор: Гендзехадзе
МПК: G01B 5/14
Метки: координат, системе, сферической, точек
...при изг 010 влении, монтаже и 11 астройке обрудова ия.Цель изобретения повышение точности измерении,На чертехе показана схема устройства,лля измерения в с 1 ерической сисеме координат точек,Устройст во содержит основание 1, уста.новленную на нем поворотну 1 о сгойку 2 сг 1 одшипникоеь 1 ми опорами 3 и 4, зак 11 еплен 1н.,(й на основании 1 датчик 5 угла (10 воротастоики 2, установленный в подшип 1(иковыхопорах вал 6, закрепленный на стойке 2датчик 7 угла повортга валэ 6, закреплен 11 ыи на валу измерительнь 1 й механизм с на 1 ра ля 01 цей 8, выполненный в виде,сгановленного на валу 6 с возможностьквра 1 цения барабана 9, на котором размещен;ибкий мерный элемонг 10 и механизма111 11 атяжения эг 1 емента 10, пропущенного1 ерез не 1...
Прибор для измерения радиуса вогнутых поверхностей
Номер патента: 1587313
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Колесов, Полипанов, Тузов, Шепельский
МПК: G01B 5/12, G01B 5/213
Метки: вогнутых, поверхностей, прибор, радиуса
...местах и неполных окружностей,Цель изобретения - расширение номенклатуры контролируемых деталей за счет снабжения прибора дополнительными механизмами микроподачи с разными переда 1 очными отношениями,На фиг;1 изображен прибор, общий вид; йа фиг.2 - кинематическая схема перемещеия измерительных наконечников.Прибор содержит корпус 1, в котором азмещен механизм 2 микроподачи измеительных наконечников 3 и 4, и отсчетныйзел 5, Кинематический узел связи механиэа 2 с измерительными наконечниками 3 и 4 выполнен следующим образом. На валу беханизма 2 расположена коническая шестерня 7, с которой связаны конические шетерни 8 и 9 с разным количеством зубьев, ,то определяет разное передаточное отноение Шестерни 8 и 9 выполнены с гайка- и 10 и 11 и...
Способ измерения радиуса вогнутой сферической поверхности и устройство для его осуществления
Номер патента: 1587314
Опубликовано: 23.08.1990
МПК: G01B 5/22
Метки: вогнутой, поверхности, радиуса, сферической
...поверхности объекта 9 эталонный измерительныйсферический элемент 2, Совмещают центрсферы измерительного элемента 2 с центром сферы измеряемого объекта 9, для чего,перемещая обьект 9 в горизонтальной плоскости при подключенных к соплам 3 и 4измерительного сферического элемента 2системы подачи воздуха и отсчетного манометрического устройства, добиваются совмещенид центра сферы измеряемогообъекта 9 с осью измерительного элемента2, на что указывают равные показания истечения сжатого воздуха из сопел 3 в плоскости А-А и из сопел 4 в плоскости Б-Б, а элемента 2 определяют искомый радиус вогнутой сферической поверхности обьекта 9.2 с,п. ф-лы, 1 ил. затем, перемещая измерительный сферический элемент 2 вдоль оси В-В с помощью микроподачи...
Устройство для контроля отклонения от соосности отверстий
Номер патента: 1587315
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Ананченко, Иванов, Капустянский
МПК: G01B 5/25
Метки: отверстий, отклонения, соосности
...наб., 4/5 Производственно издательский комбинат "Патент", г, Ужгород ул,Гагарина, 101 И зобретение огносится к измерительной технике.Цель изобретения - расширение технологических возможностей устройства заСчет контроля отверстий различных диаметров.На чертеже показана схема устройствадля контроля отклонения от соосности отверстий.Устройство содержит корпус 1 с пазами 10, равномерно расположенными по окружости, в которых установлены измерительные ножи 3, имеющие рабочие поверхностии выступы 5. В корпусе 1 установлен измеительный стержень б, взаимодействуюций одним концом с отсчетным узлом 1, Надругом конце стержня 6 выполнен корпус 8,кинематически связанный с выступами 5,Контакт выступов 5 с конусом 8 обеспечивается пружинами 9,...
Устройство для контроля отклонений пересечения осей пересекающихся отверстий и от их перпендикулярности
Номер патента: 1587316
Опубликовано: 23.08.1990
Автор: Блохин
МПК: G01B 5/24, G01B 5/245
Метки: осей, отверстий, отклонений, пересекающихся, пересечения, перпендикулярности
...их измерительных стержней 9 и 10 с наружной поверхностью оправки 1, третий отсчетный узел 11, установленный во втулке 5 перпендикулярно ее оси с возможностью контактирования его измерительного стержня 12 с вторым плечом измерительного рычага 6. Устройство снабжено девятью базирующими элементами 13 и 14, установленными по три на каждой втулке 2,3 и 5, при этом один изкаждых трех элементов (13) подпружинен в адиальном направлении относительно сответствующей втулки 2,3 и 5, а два других элемента(14) жестко закреплены в них.Устрбйство работает следующим образом,В отверстия 15 изделия 16 вводят втулки 2 и 3, при этом базирующие элементы 14 годжимаются элементами 13 к образующим этих отверстий, что обеспечивает фиксацию х осей. Затем в...
Устройство для определения центров отверстий
Номер патента: 1587317
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Каракулев, Никифоров, Юнин
МПК: G01B 5/25
...М) - искомый центр окружности.Теперь необходимо определить положение данной теоретической точки й относительно реальной системы отсчета в видеточки 0(полюса спирали) и начального положения полярной оси ОР. В устройстве этиэлементы выполнены на пластине 2, Положение центра И определяется величинойрадиуса-вектора ОМ и углом РОМ,Величину радиуса-вектора ОМ находятпо шагу 1-МК между двумя последовательными витками спирали, который являетсяпостоянным. Шаг задается конструктивнымисполнением спирали,Эти параметры связаны зависимостьюОМ = й.= 1/2 л (1)Из геометрических сообращений выт екаетРОМ = У гк+/р, (2)Из треугольника МОИ ММа = агс 1 у -.Р(3)А. р находится из выражения для радиуса кривизны Мй.спирали5 М 1(з + 1)з/2 (Р+ 2) (4)Из...
Устройство для определения центра отверстия
Номер патента: 1587318
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Койбин, Нечаев, Орехов, Остапенко
МПК: G01B 5/25
...ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 И зобретение относится к контрольноизмерительной технике, а именно ксредствам центрирования,Цель изобретения - повышение точности центрирования. 5На чертеже представлено устройство,общий вид.Устройство содержит целевой знак, выполненный в виде протяженной металличекой втулки 1, кинематически связанный с 10ней механизм центрирования, предназнаненный для взаимодействия с контролируемым отверстием и выполненный в видеопорных планок 2, установленных диаметрально противоположно на втулке 1 параллельно ее оси посредством парождественных рычагов 3, противоположные концы которых шарнирно закрепленына соответствующих...
Задатчик микроперемещений
Номер патента: 1587319
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Ершов, Николаев, Смирнов, Чупак
МПК: G01B 7/00
Метки: задатчик, микроперемещений
...22 подключен к второмувходу первого дифференциального усилителя 13, 50Задатчик микроперемещений работаетследующим образом.При подаче на первый вход первогодифференциального усилителя 13 электрического напряжения Она его выходе появляется напряжение, которое усиливаетсяусилителем 14 напряжения и вызывает изгиб биморфных пьезокерамических пластин3 вверх или вниз в зависимости от полярности Овх, Изгиб биморфных пьезокерамических пластин 3 приводит в движение направляющий шток 5 и связанный с ним измерительный стержень 6, перемещение которого изменяет индуктивность катушек 7 и 8, причем у однойкатушки происходит увеличение индуктивности, а у второй - уменьшение. Изменение индуктивности первой 7 и второй 8 катушек приводит к изменению...
Устройство для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1587320
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Ахмалкин, Карасев, Коробко, Мельник-Куцин
Метки: линейных, перемещений
...блоку 2, Узел эталонногосмещения катушки 5 выполнен в виде парьидентичных, консольно установленных упругих рычагов 10 и 11, закрепленных регулирующими винтами 12 и 13 на кронштейнах 14 и 15, жестко зафиксированных в корпусе датчика. С помощью регулирующихвинтов 12 и 13 узел эталонного смещения может быть перемещен и зафиксирован вдоль оси датчика, что позволяет регулировать начальные положения катушки 5. Рычаги 10 и 11 выполнены из пластин биметалла, обращенных одна к другой пассивными слоями, На рычаге 10 размещена нагревательная обмотка 16 и термопара 17.При подаче питания в нагревательную обмотку 16 происходит разогрев рычага 10 и смещение его конца вверх (фиг.1). Так как смещение конца биметаллической пластины функционально связано...
Преобразователь перемещений
Номер патента: 1587321
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Барский, Иващенко, Шепелевич
МПК: G01B 7/00
Метки: перемещений
...концентраторы 3 и 4, выполненные в виде трехгранных равносторонних призм, которые обращены одна к другой своими ребрами, В ребре трехгранной призмы одного из полюсных наконечников-концентраторов 3 выполнен паз, в котором размещен чувствительный элемент в виде датчика 5 Холла. Рабочая поверхность этого датчика параллельна магнитной оси постоянных магнитов 1 и 2, один из которых, например магнит 2, установлен с воэможностью перемещения в направлении, перпендикулярном их магнитным, асям, следовательно, перпендикулярном к рабочей поверхности датчика 5 Холла,Преобразователь перемещений работает следующим образом.В исходном положении, когда концентраторы 3 и 4 находятся один напротив другого, силовые линии магнитного поля, создаваемого...
Преобразователь перемещений
Номер патента: 1587322
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Михайлов, Моисеев, Почуев
МПК: G01B 7/00
Метки: перемещений
...6 индуктивности и обмотку 7 положительной обратной связи начинает протекать постоянный ток, величина которого определяется сопротивлением катушек, Ток в обмотке 7 создает в магнитопроводе 2 магнитный поток Ф 2, определяющий предварительное подмагничивание стержня 5 и, следовательно, начальное значение индуктивности катушки 6 индуктивности. При подключении регулируемого источника напряжения постоянного тока к обмотке 3 подмагничивания постоянного тока по ней начинает протекать ток, создающий в магнитопроводе 1 постоянный магнитный по-, ток Ф 1, величина которого зависит от величины зазора 13 между выступами магнитопровода 1 и якорем 12, Наличие воздушного зазора 11 между магнитопроводами 1 и 2 исключает шунтирование потока Ф 1 через...
Накладной вихретоковый преобразователь
Номер патента: 1587323
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Калабухов, Кравчик, Трофименко, Трунин
МПК: G01B 7/06
Метки: вихретоковый, накладной
...каркас 9 для фиксации преобразователя в вертикальном положении.Преобразователь работает следующим образом,Преобразователь устанавливается на поверхности контролируемого изделия, Обмотка 4 возбуждения подключается к источ 3 1587323нику 10 переменного тока, Создаваемый приэтом электромагнитный поток Ф проходитпо стержневому магнитопроводу 1, далееего основная часть Ф, пересекает витки из мерительной обмотки 5, а далее по магнитному концентратору 6 через отверстиеэкрана 7 и поверхности 3 контролируемогоизделия попадает на рабочий конец 2 стер жневого магнитопровода 1, При этом потокФи магнитным концентратором 6 локализуется вокруг полусферического рабочего конца стержневого магнитопровода 1. Крометого, часть потока Фи, не проходящего...
Способ контроля толщины электропроводящего покрытия
Номер патента: 1587324
Опубликовано: 23.08.1990
МПК: G01B 7/06
Метки: покрытия, толщины, электропроводящего
...где пср - средняя толщина покрытия в диапазоне контроля, д - глубина проникновения поля вихревых токов в материале покрытия, При этом достигается максимальная относительная чувствительность фазы вносимого напряжения к толщине покрытия, 1 табл. одлежит контролю и из я в не от пмин до пмаксмощью вихретокового преобразоозбужают вихревые токи, частота 1выбирается из условия д = (0,4 - где пср = 0,5 (пмин+ и макс) - средняя покрытия вдиапазоне контроля, д - проникновения поля вихревых тоериале покрытия.ину проникновения вихревых токов го вихретокового преобразоватериал можно оценить по формуле:1587324 Составитель П.Шкатоведактор В.Данко Техред М,Моргентал Корректор В,Гирн Заказ 2411 ПодписноеВНИИХИ Госуда ретениям и открытиям при ГКНТ...
Устройство для градуировки тензорезисторов
Номер патента: 1587325
Опубликовано: 23.08.1990
МПК: G01B 7/16
Метки: градуировки, тензорезисторов
...плоскостях пластины 2 в ее рабочей зоне (внутри окружности 8, радиус которой меньше радиуса гн внутренного ряда опор на величину д, равную шагу между опорами в этом ряду) наклеивают одиночные тензорезисторы или розетки тензорезисторов 9, нагружают пластину изгибом в соответствии со схемой фиг.2 и регистрируют показания тензорезисторов на каждом заданном уровне нагружения. С учетом толщины и пластины, радиусов гн и гн и силы Р рассчитывают уровень задаваемой тензорезисторам деформации е и по известным зависимостям определяют коэффициент тензочувствительности тензорезисторов, Перемену знака задаваемой деформации осуществляют повторным нагружением пластины после ее поворота,В устройстве обеспечивается одинаковость деформирования по...
Учебный интерферометр
Номер патента: 1587326
Опубликовано: 23.08.1990
Автор: Амстиславский
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, учебный
...зависимости от положения второй призмы 5 в большей или меньшей степени покрывают полутемную область, соответственно увеличивая ее освещенность в области перекрывания, Прижатие15 20 призм и образование тонкой плоскопараллельной воздушной прослойки между гипотенузными гранями призм 4 и 5 приводит к полному перекрыванию бликов и в случае подготовленного интерферометра, когда соприкасающиеся грани призм тщательно очищены от пыли, в области перекрыванияформируются яркие и насыщенные красками интерференционные спектры,Отличительная особенность явления состоит в том, что картина представляет собойсовокупность полос равного наклона самыхпервых интерференционных порядков, и высокая степень временной ксгерентности перекрывающихся пучков...
Интерферометр
Номер патента: 1587327
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Мирошниченко, Салоид
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр
...к нормальному падению, на равнобедренную призму 3 с угломпри вершине 90, При этом траектория прохождения излучения не меняется, На малойграни 4 призмы 2 происходит деление потока излучения на два. Один поток, отразившись от светоделительного покрытия черезуголковый отражатель 6, попадает на ком-пенсирующую призму 8 и после отраженияпроходит все указанные элементы 4 и 3 вобратном направлении. Прошедший же через светоделительное покрытие поток проходит последовательно элементы 2, 7 и 8 впрямом направлении, После отражения вкомпенсирующей призме 8 лазерный лучпроходит элементы 7 и 2. Можно подобрать 45такое положение лазера 1, моноблока, состоящего из элементов 2, 3 и 8, при которомлучи, пришедшие от двух отражателей б и 7,совмещаются в...
Интерферометр для измерения расстояний
Номер патента: 1587328
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Бычков, Городишенин, Карцев, Коваленко, Титков, Черепица
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, расстояний
...направления излучения, и фотоприемник. блок измерения отношения сигналови СВЧ-генератор, выход которого электрически соединен с кристаллом, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью расширениядиапазона измерений, интерферометр снабжен первой и второй четвертьволновымипластинками, дополнительным двулучепреломляющим кристаллом, дополнительным фотоприемником и призмой Валастона, перваячетвертьволновая пластинка размещена между источником света и двулучепреломляющимкристаллом, дополнительный двулучепреломляющий кристалл, вторая четвертьволнов упластинка и призма Валастона установле Ьпоследовательно по ходу излучения между полупрозрачным зеркалом и фотоприемником,5 дополнительный фотоприемник размещен походу дополнительно...
Устройство для измерения диаметра движущегося нитевидного материала
Номер патента: 1587329
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Варламов, Виткина, Волкова, Кальда, Макаров
МПК: G01B 11/10
Метки: движущегося, диаметра, нитевидного
...в виде трехроликов 2 - 4, установленных по траекторииперемещения нити 1, Ролики 2 - 4 выполнены с У-образными канавками на боковой 20поверхности с углом развала 2 а, например150 С, Ролик 3 установлен со смещением поотношению к линии, соединяющей Оси роликов 2 и 4 (фиг.2), на величину Ь и относительно плоскости их вращения на величину 25а. Величинь а и Ь определяются из системыуравнений С паковки (не показана) нить 1 подают вмеханизм для натяжения. Величину натяжения нити задают в зависимости от.ее вида.Далее нить проводят через ролик 2, фото- оптический преобразователь 6, ролики 3 и 4 и наматывают на паковку. На нить 1, проходящую в натянутом состоянии по наклонной поверхности канавки ролика 3, действует крутящий момент, который при...
Интерференционное устройство для измерения углов наклона объекта
Номер патента: 1587330
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Арефьев, Варфоломеев, Здоркин, Канашкин, Шерешев
МПК: G01B 11/26
Метки: интерференционное, наклона, объекта, углов
...стей пластины 3 и зеркала 5, получаемой ти устройства, 30 путем предварительной юстировки пластиИсточник и фотоприемник установле- ны 3, соблюдается условие: 1=2; 01 =%: ны подострым углом к плоскопараллельной ОО = О Д = О пластинке 3 и зеркалу 5, которые в началь- При этом поле зрения объектива 7 равном положении параллельны друг другу. номерно освещено и на поверхности фотоВсе элементы устройства жестко закрепле приемника 8 формируется ны в корпусе 9 за исключением плоского интерференционнаяполосабесконечнойшизеркала 5. Корпус предназначен для уста- рины, так что на все светочувствительные новки его на контролируемом объекте, площадки фотоприемника 8 падают световыеНа чертеже также обозначены углы 1, 2 потоки равной интенсивности....
Устройство для измерения шероховатости поверхности
Номер патента: 1587331
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Коваль, Левченко, Савченко
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...3. Вогнутое зер кало 9 установлено с возможностью отраже 1 ния астигматической совокупностисветовых пучков на многоэлементный приемник 10 излучения, соединенный с блоком 4011 обработки сигнала;Устройство работает следующим образом.Световой пучок от лазера 1 проходитчерез коллиматор 2 с диафрагмой 3, сужается, коллимируется и направляется на светоделительную клиновидную пластинку 4,Указанный первичный световой пучок многократно отражается от пленок 5 и 6 внутрипластинки 4 и, преломляясь на ее стороне,. 50обращенной к измеряемой поерхности 12,образует вторичную астигматическую сходящуюся систему световых пучков, величина астигматизма и угловое расстояниемежду пучками которой определяется углом 55падения первичного светового пучка на...
Способ исследования микроструктуры образца
Номер патента: 1587332
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Грудин, Сафронова, Шмакова
МПК: G01B 11/30
Метки: исследования, микроструктуры, образца
...линии более яркой, чем остал ьное изображение.До фокусировки изображения наблюдаемой поверхности используют расфокусировку оптической системы микроскопа, получая белый ручеистый узор 1 неконтакта, лежащий выше плоскости изображения, это и будет изображением микрорельефа в недофокусе,В фокусе наблюдают микроструктуру, расположенную точно в плоскости изображения данного микроскопа, при этом визуализируется четкое изображение реплики 2 от материала закалочного диска и контуры 3 наиболее крупных каверн.После фокусировки выполняется пере- фокусировка, заключающаяся в визуализации предметной плоскости, совпадающей с дном наиболее крупных каверн и каналов топологии 4 дна каверны и лежащей ниже плоскости изображения реплики. В перефокусе, как...
Способ исследования микроструктуры образца
Номер патента: 1587333
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Василенко, Плотников, Сафронова
МПК: G01B 11/30
Метки: исследования, микроструктуры, образца
...в объект,на котором формируется смешанный амплитудно-фазовый контраст, визуализиро 5 вать который можно традиционнойфокусировкой или расфокусировкой, Такимобразом, любой дефект внешней поверхности аморфной ленты позволяет найти "условный" фокус.10 После определения "условного" фокусаполучают восстановленное изображениепенообразной структуры ленты в точках, находящихся по оптической оси микроскопавыше и ниже "условного" фокуса, а расстоя 15 ние между выбранными точками определяют по соотношению Л= - 0,3 о/лА, где 1 О -размер наименьшей фазовой неоднородности, А - длина волны используемого излучения (численный коэффициент 0,3 следует изучета средней величины погрешности метода), Это соотношение справедливо при наблюдении фазового...
Проекционный объектив с увеличением 15
Номер патента: 1587334
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Гуревич, Тихончук, Цуран, Шевлюкевич
МПК: G02B 13/24
Метки: объектив, проекционный, увеличением
...к плоскости предметов; двенадцатый - отрицательный мениск, обращенный выпуклостью к плоскости предметов, склеенный из положительной 12 и отрицательной 13 линз; тринадцатый - отрицательный мениск 14, обращенный выпуклостью к плоскости предметов; четырнадцатый - отрицательный мениск 15, обращенный вогнутостью к плоскости предметов; пятнадцатый - положительный мениск, обращенный выпуклостью к плоскости пРедметов, склеенный из отрицательной 16 и положительной 17 линз; шестнадцатый - двояковыпуклая линза 18; семнадцатый - положительный мениск 19, обращенный выпуклостью к плоскости предметов.Объектив. имеет высокую степень коррекции аберрации для области спектра 404,6+5 нм, Увеличение объектива - 1/5. Апертура 0,35, поле зрения 23,2 мм....
Способ измерения толщины изделий с плоскими поверхностями
Номер патента: 1587335
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Вовк, Протопопов
МПК: G01B 17/02
Метки: плоскими, поверхностями, толщины
...в совмещенном режиме, в иммерсионной жидкости 2 над поверхностью 4 ввода .иэделия 1 осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости с неизменным сечением изделия 1 до достижения макси мального значения амплитуды эхо-сигнала, отраженного поверхностью 4 ввода, и фиксируют угловое положение пьезопластины .3 в этой плоскости, Затем осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости непа.- 40 раллельности поверхностей 4 и 5 изделия, т.е. в плоскости фиг. 1, Наклон осуществляют путем перемещения центра пьезопластины 3 по дуге (представлена на фиг, 1 штриховой линией) с неизменным расстоя нием между центром пьезопластины 3 и точкой ввода УЗ колебаний в иэделие. В ходе наклона пьеэопластины 3 излучают импульсы УЗ колебаний, принимают отраженные...
Фотоэлектрический датчик линейных перемещений
Номер патента: 1587336
Опубликовано: 23.08.1990
Автор: Астраух
МПК: G01B 21/00
Метки: датчик, линейных, перемещений, фотоэлектрический
...4, выход является выходом датчика,Датчик работает следующим образом, Поток излучения, создаваемый источником 2 излучения (излучателем), отражается от перемещающейся поверхности и посту- пает на входы первого 3 и второго 4 фотоприемников. Сигнал, пропорциональный величине перемещения, с выхода второго фотоприемника 4 усиливается третьим усилителем 11 и с его выхода поступает на выход датчика. Для исключения влияния на результаты измерения коэффициентов отражения поверхности (К 1) и пропускания среды (К 2), в которой распространяется излучение, излучатель 2 и первый фотоприемник 3 через усилители 7 и 8, суммирующий интегратор 9, управляемый делитель 6 напряжения и источники 5 и 10 опорного напряжения замкнуты в систему автоматического...
Способ исследования слоистых материалов и других объектов с помощью акустической микроскопии
Номер патента: 1587337
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Бондаренко, Еськов, Колосов, Маев, Мациев, Троицкий
МПК: G01B 21/00
Метки: акустической, других, исследования, микроскопии, объектов, помощью, слоистых
...(РАМ).Устройство для осуществления способасодержит первый и второй пьезоэлементы 1и 2, первый и второйсапфировые стержни 3и 4, установленные соосно на некоторомрасстоянии друг от друга, на удаленных торцах которых закреплены, соответственно,первый и второй пьезоэлементы 1 и 2, аближние друг к другу торцы выполнены ввиде вогнутых сферических поверхностей,образующих, соответственно, синфокальные излучающую и приемную линзы 5 и б,пространство между которыми заполненоиммерсионной средой 7, электронный блок8, первый выход и вход которого соединены,соответственно, с входом первого пьезоэлемента 1 и с выходом второго пьезоэлемента2, полутоновый дисплей 9, вход которого соединен с вторым выходом электронногоблока 8, и набор фильтров...
Устройство для измерения геометрических параметров движущихся лесоматериалов
Номер патента: 1587338
Опубликовано: 23.08.1990
Авторы: Васекин, Дорошенко, Рыбочкин, Титович, Харитонов
МПК: G01B 21/00
Метки: геометрических, движущихся, лесоматериалов, параметров
...14 зося сигнал записи схемой 44 предустановки. ны контроля иэ единичного состояния в нулеКод с выходного регистра 38 поступает на 15 вое на выходе элемента ИЛИ-НЕ 40.вход цифроаналогового преобразователя возникает перепад иэ нулевого состояния в39 (фиг. 2), а с его выхода преобразованный единичный, тем самым происходит записьсигнал - на управляющий. вход компаратора числа в выходной регистр 38. С выхода10. Предустановка осуществляется для тех выходного регистра 38 цифровой код постуцелей, чтобы, пока не будет определен уро пает на вход цифроаналогового преобразовавень. порогового напряжения, компаратор теля 39, а с его выхода преобразованный10 был заблокирован, Предустановка ис- код - на второй вход компаратора 10, Измепользуется...