Суховольская
Способ определения рассеивающей способности излучателя
Номер патента: 1278693
Опубликовано: 23.12.1986
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: излучателя, рассеивающей, способности
...рентгеновской т.чбки (РТ), 3,5 БВХ -938 (Рд), корпус,2 РТ, бериллиевое выходное окно 3 РТ толщиной 0,05 см, образец-излучатель 4, выходной коллиматор 5, "эффективно" рассеивающий объем б излучателя, бленду 7 из свинца толщиной 0,5-1,0 мм и более,Ось РТ перпендикулярна к поверхности обраэца-излучателя (средний угол падения первичного пучка на пробу Ю = 90 ), Угол отбора вторичного излучения 9=30, что обеспечивает регистрацию квантов излучения, рассеянного на угол 8 =120 , Высоковольтный источник питания обеспечивает генерирование напряжения до 70 кВ при токе 50 пА. Вторичное излучение разлагают в спектр кристал лом иэ кварца толщиной 0,012 см с отражающей плоскостью 1010. Излучение регистрируют сцинтилляционнымсчетчиком СРС(разрешающая...
Способ определения рассеивающей способности вещества
Номер патента: 1257484
Опубликовано: 15.09.1986
Авторы: Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: вещества, рассеивающей, способности
...трубки перпен дикулярна к поверхности образца-излучателя (средний угол падения перовичного пучка на пробу=90 ) Уголотбора вторичного излучения 1 =30, чтоообеспечивает регистрацию квантовогоизлучения, рассеянного в среднем на уголоС=120 . Рассеянное пробой 1 излучение проходит через коллиматор, разлагается в спектр по схеме Кошуакристалл-анализатором 5 из кварцатолщиной 0,012 см с отражающей плоскостью 1010 и через приемную щель брегистрируется сцинтилляционным счетчиком 7 типа СРС(разрешающая способность его равна 557 для излученияСцК ),Д 11Спектрометр ФРСоснащается блоком сменных коллиматоров 2-4 с различным зазором 1 между пластинами(1=0, 16 см; 1, =О, 25 см; 1, =0,40 см) .Пробу анализируемого порошкообразного вещества засыпают в...
Способ определения интенсивности фона
Номер патента: 1226212
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Слободянюк, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: интенсивности, фона
...2,56 2,64 2,75 1,47 1,63 1,79 2,06 2,10 2,19 1,25 1,24 1,29 1,36 1,35 1,39 1,14 1,18 1,20 1,23 1,20 1,16 1,06 1,03 1,03 0,977 0,922 0,903 1,О 1,05 1,06 1,02 0,966 0,935 0,994 0,977 0,95 0,881 0,798 0,758 0,924 0,888 0,845 0,76 0,640 0,592 Пф2,78 2,94 Пф2,.20 2,29 Пф1,83 1,84 Пф1,33 1,331,10 1,11 ПфПФ0,909 0,924 Пф0,958 0,964 ПФ0,801 0,805 ПФ0,650 0,629 Способ определения интенсивности фона осуществляется следующим образом.Анализируемый материал помещают в спектрометрическую кювету, облуФают смешанным излучением рентгеновской трубки (при Б 50 кВ) и регистрируют детектором интенсивность фона М( 3 ) от-Ф них на месте аналитической линии ТеК , а также в максимумах пикова фкогерентно и некогерентно (0,0709 и 0,0743 нм) рассеянного М К, -излу....
Способ определения рассеивающей способности многокомпонентного вещества (его варианты)
Номер патента: 1187039
Опубликовано: 23.10.1985
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: варианты, вещества, его, многокомпонентного, рассеивающей, способности
...анализа соста" ва вещества и может быть использовано при анализе материалов сложного5 химического состава (порошков, растворов, сплавов).Цель изобретения - расширение возможностей рентгеиоспектрального анализа.Изобретение применимо к исследованию материалов, содержащих элементы с атомными номерами от 6 до 92 (а известные способы - только от 6 до 30), реализуется на любом кристаллдиффракционном спектрометре, квантометре, дифрактометре (варианты 1 и 2), а также на любом рентгеновском спектрометре, в том числе на реитге-, норадиометрических спектрометричес ких приборах (вариант 3).Предлагаемый способ определения рассеивающей способности многокомпойоднентного вещества й применим при 25анализе порошкообраэных, жидких итвердых...
Способ определения фона при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе
Номер патента: 1151875
Опубликовано: 23.04.1985
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: анализе, рентгеноспектральном, флуоресцентном, фона
...определяемогоэлемента. В табл,1 представленсостав искусственных препаратов.(8) фо Лд сЛд 3 11518Исследования проводилиеь на К,2 линии молибдена (0,0710 нм), Прибор ФРСоснащен рентгеновской трубкой 3,5 БХВ(Р 3) с торцовым расположением выходного бериллиеного окнатолщиной 0,50 мм, а ось трубки перпендикулярна к поверхности обраэцаизлучателя (средний угол паденияпервичного пучка на пробу 9 =90 ),Угол отбора вторичного излучения=30 О, что обеспечивает регистрацию квантов излучения, рассеянныхма угол 9 =120,Вторичное излучение разлагаютв спектр кристалл-анализаторомиз кварца толщиной 0,12 мм с отражающей плоскостью 1010. Радиускруга фокусировки равен 400 мм, аразрешение прибора характеризуютаппаратурной шириной флуоресцентной К - линии на...
Способ определения массового коэффициента ослабления рентгеновского излучения образцом (его варианты)
Номер патента: 1099260
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Григорьев, Конев, Слободянюк, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: варианты, его, излучения, коэффициента, массового, образцом, ослабления, рентгеновского
...11 е " пдРаналогичныепараметры для образца сравнения,Соотношение компонентов Б р, МИр Ы в И. определяется напряжениемсна рентгеновской трубке, геометриейи конструктивными особенностями условий рассеяния первичного излученияобразцом, шириной приемной щели 1 ирежимом работы амплитудного анализатора импульсов (ААИ), и может бытьпроиллюстрировано дифференциальнымиамплитудными спектрами излученияРЙКс 1 о, некогерентно рассеянного образцами, состоящими из химических соединений ЫО, СиО, РЬО и ВаСо, и зарегистрированными на приборе ФРС при ширине приемной щели 1. = 0,15 .мм(пик 1 на фиг, 1), Пик 2,соответстнквует компонентам Б р и Нр, а пик 3компоненту Б . Пик 4 соответствуетфлуоресцентному излучению основногоэлемента образца (Сц, РЬ, Ва),...
Способ определения рассеивающей способности вещества
Номер патента: 1087856
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: вещества, рассеивающей, способности
...для окисей железа и свинца; на фиг, 3 - спектры рассеянного излучения,Эксперимент выполнен на спектрометре ФРС - 7 при различных напряжениях (.) на рентгеновской трубке и двух режимах работы амплитудного анализатора импульсов (ААИ) - интегральном и дифференциальном (И и Д): кривая 1 -= 30 кВ, ААИ - И; кривая 2 - (.) = 30 кВ; ААИ - Д; кривая 3 - (.) = 50 кВ; ААИ - И, кривая 4 - (.) = 50 кВ; ААИ - Д; кривая 5 - ) = 70 кВ; ААИ - И; кривая 6 - (.) = 70 кВ, ААИ - Д.Монотонная зависимость параметраот Е (а это необходимое условие для реализации предлагаемого способа определения(2) где К эффек О с),б/дЯ ) наблюдается в интервале 11 = 1,0 5,0 мм при напряжении на рентгеновской трубке, превышающем потенциал возбуждения1 флуоресценции атомов...
Способ определения линейного коэффициента ослабления
Номер патента: 1004836
Опубликовано: 15.03.1983
Авторы: Григорьев, Конев, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: коэффициента, линейного, ослабления
...помещают кювету (1, наФиг. 1), облучают пробу потоком первичного рентгеновского излучения ирегистрируют интенсивность рассеянного пробой первичного излучения илиФлуоресцентного излучения от одной,и той же пробы при двух различныхразмерах выходного окна кюветы (1(и 1).Аналогичную операцию выполняютс внешним стандартом и, деля соответствующую интенсивность излученияот пробы на интенсивность излученияот стандарта, получают относительнуюинтенсивность рассеянного излучения(11 р) или Флуоресцентного излученияэлемента А (1,). Внешний стандартА,используют для умейьшения влияниянестабильности работы прибора и интенсивность от него регистрируют,напрмер, через три пробы. Отношение относительных интенсивностей - -е или + зависит от линейного...