G01N 21/45 — с помощью методов, основанных на интерференции волн; с помощью шлирного метода

Номер патента: 1332200

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Грилихес, Полянский, Яхкинд

МПК: G01N 21/45

Метки: градиентных, интерференционного, оптических, показателя, преломления, распределения, элементах

...возможная толминщина слоя,Ап - перепад показателя преломления в образце,г - размер градиентной зоныв образце в направлении 5градиента;Ьг - предельно допустимое смещение луча на толщинеслоя.При этом величина Ьг задается исходя иэ предельно допустимого смещения луча на толщине слоя. Значения ги лп могут быть определены несколькими способами, в том числе и с использованием интерференционной картины образца. Размер градиентной зоныг определяется непосредственно поразмеру ее интерферограммы, а величина перепада показателя преломления 20 равнадКдп = - - -1-огде л К - число интерференционных полос в градиентной зоне образца;25; - длина волны используемогоизлучения1 - толщина образца.0Вторично пропускают световой потоки определяют...

Номер патента: 1337737

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Волова, Королев, Красовский, Наумов

МПК: G01N 21/45

Метки: теневое, фотоэлектрическое

...в анализируемой, с 14 Г (г, У ) = ЕаАд,35а сигнал, снимаемый со второго элемента фотоприемника, пропорционален изменению освещенности элемента теневой картины в точке (-г, -у ): 40 о к к У ) =Е макс А(8) с 18 к о45 где Емакс максимально возможнаяосвещенность теневойкартины;нормированная функция,описывающая распределениеосвещенности в изображении диафрагмы по оси,перпендикулярной рабочейкромке ножа. А(д) 50 37717 2головной объектив 4 и эащцтцсе стекло5 и попдддют в анализируемую среду,цо теперь первый пучок проходит через верхнюю половину относительно осиголовного объектинд, а второй - черезнижнюю. Отразившсь от зеркала 6,пучки проходят в обратном направлениичерез элементы 5 и 4, формируют вплоскости визуалцзирующей...

Номер патента: 1350564

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Жигалко, Колышкина

МПК: G01N 21/45

Метки: неоднородностей, плотности, прозрачных, распределения

...интерференционных полос в ре гистрируемой картине: и , /зпып, (п, - регистрируемая частота интерференционных полос на изображении ударной волны; и- частота, равная разрешению прйбора).25 Размеры защитных стекол (фронтальных стенок) камеры для размещения исследуемой среды .выбраны такими, чтобы они не ограничивали опорный и 30 предметный пучки параллельных лучей, которые как и в дифракционном интерферометре примыкают друг к другу. Пучок монохроматических лучей, падающий на защитные стекла вне призмы, освещает рабочую камеру, в которой находятся исследуемый объект и эталонная среда - невозмущенный газ перед фронтом падающей ударной волны - лучами, параллельными главной оптической оси 40 интерферометра, а следовательно, образующей...

Номер патента: 1359688

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Желнова, Фесенко

МПК: G01K 11/00, G01N 21/45

Метки: температуры

...картиной в области перекрывания компо. - нент двойника с границей (1 1 1) в координатах псевдокубической перовскитовой ячейки, а и Ь - вид кристалла с одинаковым характером погасания компонент; с и Й - с различным характером погасания сдвойникованных компонент при температурах Т (а, с) и Т (Ь, й); сь - угол между следом междвойниковой границы на грань кристалла и ребром кристалла. Так как междвойниковые границы направлены под углом ко всем граням кристалла и двойниковые компоненты имеют форму деформированных клиньев, то в области перекрывания двойниковых компонент при прохождении плоскополяризованного света образуются интерференционные линии равной разности хода, параллельные междвойниковой границе. Четкое изображение...

Номер патента: 1361476

Опубликовано: 23.12.1987

Авторы: Кравцов, Скропышев, Соболев

МПК: G01N 21/45

Метки: монокристаллах, неоднородностей, ориентировки, плоских, показателя, преломления, прозрачных

...9 плавно поворачивают вокруг горизонтальной или вертикальной оси, наблюдая за детальностью и контрастностью дифракционной картины на экране 11.В положении, когда плоскости сви 30 леи совпадают с направлением луча,на экране появляется очень детальнаяи относительно контрастная дифракционная картина, на которой можно различить слои толщиной в десятые и сотые доли миллиметра, В этом положенииснимают отсчет с лимба, характеризующий поворот кристалла от ИП вокругсоответствующей оси. С учетом коэффициента преломления обыкновенного 35 40 луча измеренный угол поворота кристалла пересчитывают на угол поворота луча в кристалле, таким образом определяя одно направление (просвечивающего луча), которое лежит в плоскости оптических...

Номер патента: 1363029

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Кулешов, Попандопуло, Софронова, Юрин

МПК: G01N 21/45

Метки: диэлектрической, неоднородности, пленки, подложке

...преломления. Изменяют угол освещенияпленки с подложкой и определяют уголБрюстера для каждого пятна неоднородности по изменению окраски цветовогопятна неоднородности на интерференционной картине до белого цвета иопределяют величину неоднородностипо показателю преломления по формуле К Б ф Бф где- угол Брюстера для пленки; д - угол Брюстера для пятна неЕ однородности на пленке,В способе специально устраняют явление:, интерференции выбором света, 5 1 О 1 г 20 25 30 35 40 поляризованного параллельно плоскости падения, и направлением луча подуглом Брюстера. Нахождение угла Брюс.тера облегчается при использованиибелого света, так как интенсивностьотраженного света, поляризованногопараллельно плоскости падения, вблизи угла Брюстера...

Номер патента: 1368729

Опубликовано: 23.01.1988

Автор: Краснов

МПК: G01N 21/45

Метки: объекта, состояния

...регистрируют распреде ления интенсивностей1 = а(х)11, = )Га(х)11 = а,1.Для этого поочередно и попарноперекрывают затворы 9, 10; 8, 10;55 8, 9 соответственно. Измеряемая средняя интенсивность рассеянного объектом света определяется кака(х) йх=-Г (х) ахЯ хай313687Нормирование зарегистрированных интенсивностей производится, например, поворотом анализатора таким образом, чтобы уменьшить (увеличить) среднюю интенсивность падающего от объекта света в 1/1 раз, где коэффициент пропорциональности (размерность 1 совпадает с размерностьюа 1 с с 1). Величина 1 с и угол поворо 10 та анализатора 15 находятся из следующих соображений. Предположим,что исследуемый объект может менять свою суммарную отражательную способность в 100 раз (от Е,...

Номер патента: 1437749

Опубликовано: 15.11.1988

Авторы: Ильин, Меланьина, Ремизов

МПК: G01N 21/45

Метки: граданах, длины, лучей, периодичности, траекторий

...вдоль оси градиентного образца). ДЛи. ну периодичности обозначим 2 Ь,Таким образом,луч, вошедший в градиентный образец ца расстоянии го от оси, выйдет из него параллельна оси на том же удалении от нее на расстоянии 1, от входного торца.Образец длиной Ь= 7/д с идеальным распределением показателя прелом"1 гления и =и . ЬесЬ яг преобразует плосокий фронт в плоский (Фиг. 1 ), Образец большей длины преобразует плоский волновой фронт в сходящийся с одним осевым экстремумом, образец длиной Ь с Ь создает на выходе расходящийся волновой Фронт с одним осевым экстремумом.Для среды с распределением показателя преломления, отличным от идеального, характер волнового Фронта на выходе отличается. При некоторой длине образца фронт будет...

Номер патента: 790973

Опубликовано: 15.01.1989

Авторы: Жиглинский, Кунд, Морозов

МПК: G01N 21/45

Метки: исследования, объектов, фазовых

...фазовых объектов, заключающийся в просвечивании их когерентным светом.Наиболее близким техническим решением является способ исследования фазовых объектов, заключающийся в фотографической регистрации интерференционной картины сигнального и опорных пучков.Недостатком данного способа является невозможность получения информации о частотных свойствах исследуемого объекта,Целью изобретения является получение информации о частотных свойствах исследуемых объектов. Указанная цель достигается тем,что в известном способе исследованияфазовых объектов, заключающемся в фотографической регистрации интерференционной картины сигнального и опорных пучков, исследуемый объект зондируют полихроматическим сигнальнымпучком и совмещают составляющие...

Номер патента: 1453265

Опубликовано: 23.01.1989

Автор: Бабий

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, рефрактометр

...и 6.Оптический элемент 9 модулятора 10 предназначен для периодического изменения оптических разностей хода в измерительных (рабочих) и опорном (эталонном) плечах интерферометра. Он расположен в вакуумированной камере 19. Блок 11 управления служит для выработки периодического электрического сигнала для управления перемещением оптического. элемента 9 модулятора 10. Мехайиэм 8 перемещения вала 3 представляет собой, например, винтовую пару и приводит-. ся в движение электродвигателем (не показан). В качестве источника 1 излучения можно использовать гелийнеоновый лазер.Устройство работает следующим образом. Заполняют контрольную кювету 18 исследуемым веществом. Луч света от источника 1 излучения светоделительным блоком 2 расщепляется на три...

Номер патента: 1500916

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Жиглинский, Кузнецов, Рязанов

МПК: G01N 21/45

Метки: волновых, интерференционных, положений, полос, прецизионного, чисел, шкале

...поперечных лазерных мод, флуктуации числа фотонов в продольных лазерных модах, точность спектроинтерференционных измерений может ограничиваться дефектами и зеркистой структурой Фотоматериала, используемого для регистрации интерференционной картины, при совместном действии всех этих факторов эквидистантность интерференционных полос 25 воспроизводится с точностью 0,002 + + 0,0005 интерференционного порядка, Экспериментальная проверка этого факта проводилась в спектральном диапазоне от 5889-5922 А, где есть рас положенные с достаточной частотой высокоточные реперные линии (это линии Ие 1, получаемые разрядом с полым катодом - 5922, 709 А, 5919,03 А, 5918, 907 А, 5913,633 Х, 4906,429 А, 5902,462 А, 5898,406, А и линии Иа 1 5889,923 А и...

Номер патента: 1509686

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Наумов, Павлюченко, Фокин

МПК: G01N 21/45

Метки: прибор, телевизионный, теневой

...и 16, а второйвход - с выходом генератора 24 импульсов запуска АЦП, Для контроляположения фотоприемников 9 и 10 относительно экрана ВКУ 5 подвижнаяплатформа 6 снабжена указателем 25положения,4При запуске импульсного излучателясветовой импульс поступает в оптическую систему 1Этот импульс формируется оптической системой в коллимированный световой пучок, которыйзондирует исследуемую прозрачнуюсреду и преобразует распределениеградиента показателя преломления,проинтегрированное по ходу луча всреде, в распределение освещенностина входе телевизионной системы 3 (насветочувствительной площадке преобра-.зователя свет - сигнал).Прибор работает следующим образом,При поступлении импульса с выходаделителя частоты генератора 4 синхроимпульсов...

Номер патента: 1513394

Опубликовано: 07.10.1989

Авторы: Алексеев, Кобелев, Сытин, Харламова, Щербаков

МПК: G01N 21/45

Метки: газов, дисперсии, жидкостей, показателя, преломления

...смещения интерференционной картины повьппает производительность процесса измерений и позволяет производить непрерывный автоматический контроль процесса измерений.Это позволяет широко использовать способ измерения дисперсии покаэате 1 пЯ = ---Д/2 1 45 где 1 - величина перемещения отражателя рабочего плеча интерферометра;п - показатель преломления среды, 50помещенной в рабочее плечо;3 - длина волны источника излучения, используемого в интерФерометре.В случае прохождения через среду 55двух лучей с длинами волн Я =Я + дя и Д = Я -а Л (ДХ= ( ВАР) /с, причем Ы (с 1) ), сведений их после отражения от перемещающегося отражателя с опор 3 151339 где )7 О = -у- - частота излучения монохроматического источника;р=О; 11; 125с - скорость...

Номер патента: 1516910

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Коновалов, Лебедев, Мамакина, Прытков, Черняков

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...что насчетчик 7 интерференционных полос попадает только два луча: один лу отразившийся от зеркала 4, а друг гой - отразившийся от грани АВ кюве-, ты 3 исследуемого образца или отра"1 вившийся от зеркала 5Одновременно юстировкой добиваются того, что на счетчик 8 интерференционншх полос попадает тоже только два луча: один луч, отразившийся от грани АВ кюветы 3 исследуемого образца, а другой от зеркала 5. Такая, .юстировка возможна различными способами. Можно например, диафрагмировать или сместить зеркала 4 и 5 таким образом, что на счетчик 7 попадает только излучение, отраженное от грани АВ клина и зеркала 4, а на счетчик 8 - отраженное от зеркала 5 и отраженное от грани АВ клина. Если источник 1 когерентного излучения испускает...

Номер патента: 1550378

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Александров, Самойлов, Ярошевич

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...относительно 1-й волны пластина может разворачиваться на углы в преоделах от 0 до 90 -О, т.е, углы поворота пластины равны углам падения (при сСо=О), 158 6 выполненный в виде плоскопараллельной пластины, формирование из прошедшего образец, излучения интЕрференционной картинь 1, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения измерений при сохранении их точности, интерференционную картину формируют путем пропускавия через пластину второй плоской монохроматической волны 3 под углом 6 к первой монохроматической волне,поворачивают пластину и измеряют порядок интерференции ДИ, на интерференционной картине при изменении .в результате поворота угла падения первой плоской монохроматической волны от исходного значения Ко до 0 дополнительно...

Номер патента: 1555651

Опубликовано: 07.04.1990

Авторы: Ангельский, Магун, Максимяк

МПК: G01N 21/45

Метки: дисперсии, неоднородного, объекта, тонкого, фазово, фазы

...поляризатора 11 не приводит кизменению интенсивности опорной волны, но влияет на интенсивность объектного пучка. Перемещением одного из клиньев 9 в поперечном направленииизменяют разность фаз между опорнойи объектной составляющими, добиваясьтем самым минимума интенсивности ре зультирующей интерференционной картины. Этот минимум соответствует нротивофазности опорного и объектного пучков и контролируется с помощью Фотоэлектрического регистрирующего устройства 14. Далее измеряют интен- сивность 1 р результирующего поля.Перекрывая с помощью затвора 6 объ ектный пучок, измеряют интенсивность.1 О опорной волны. Дисп ерсию 5, Фазы рассчитываютпо Формуле Хр иии 1 р (х,у) = 21 Г 1+соз(х,у)1 (2) где Ч (х,у) - разность фаз объектнойи опорной...

Номер патента: 1557491

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Ковайкина, Саламандра

МПК: G01N 21/45

Метки: визуализирующая, диафрагма

...изображения. Отличия в изображениях прозрачных неоднородностей возрастают по мере увеличения разности площадей.Поскольку внешнее кольцо и центральная Фигура визуализируюшей диафрагмы выполнены иэ светофильтра одного цвета, визуализирующая диафрагма должна обеспечить заметное различие в световых потоках, проходящих в плоскость изображения через центральную Фигуру и внешнее кольцо, при смещении изображения осветительной диафрагмы на самую узкую часть фигуры.Выполнение этого требования обеспечивается, если при смещении изображения осветительной диафрагмы на самую узкую часть Фигуры площадь, перекрытая Фигурой, отличается от площади изображения осветительной диафрагмы не менее, чем на 8 Х.Диафрагма должна обеспечить увеличение...

Номер патента: 1567935

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Агуреев, Молочников

МПК: G01N 21/45

Метки: градиентных, интерференционный, оптических, показателя, преломления, профиля, световодах

...чувствнелнос гь Определения координат реперной и )носы (,цнбных долях интерференци. оной мое 1) не превышает 0,1 Х. Соответствено, расснтанный профиль показателя прелмления (Лп) От реальной интерферогрдчмы ичеег Гп)грешность 6= - (5 - 7) 1 Г) (поль)нд н рнкальным отрезком нд фиг. 3). ,5;)тем нзченяют ширину интс рференцисаных 1 Ог(с тдлпм Образом, что онд становится больше диаметра центрзльпог( рондла в Грофиле показателя пр. 1 мления,ввь ре Истрируют дополни;сльную .Нгерфео)грамму от среза ис)ытус м " Об; д ца (фп )Е. Лоно.,) т.ьной интерферо рамме ширина ньггерференционной полосы 5 ,ревышаНдметр центрального провала ( -1 Г) пол(н Ьз дидхетрс сердцевины) В этом слу- .1)с ход реперой полосы вблизи ценгрд серд).нНь иреерпевдет лишь...

Номер патента: 1571478

Опубликовано: 15.06.1990

Авторы: Бурмистенков, Ильенко, Метелкин, Скрипник, Хоменко

МПК: G01N 21/45

Метки: газа, концентрации

...положении превывателя каналов, реализуемом разворотом зеркала 6 приводом 11, излучение проходит только через анализируемую среду и регистрируется его интенсивность 121 без образования интерференционной картины приемником 15.Аналогично при третьем положениипрерывателя каналов регистрируется только излучение, прошедшее через эталонную среду Ь,Схема обработки сигналов на основемикроЭВМ обеспечивает управление узлами устройства и расчет концентрации газа в соответствии со следующим алгоритмом.Интенсивность в области минимума интерференционной полосы равна111 = 121+ 131 2 ъЯзсОЗф 1, .(1)где ф - разность фаз интерференцирующих пучков, обусловленная разницей показателей преломления п(Р 1) и п,(И) анализируемого и эталонного газа на частоте т...

Номер патента: 1118177

Опубликовано: 30.06.1990

Авторы: Сухоруких, Харитонов, Шаров

МПК: G01N 21/45

Метки: волной, газа, ионизированного, компонентов, концентрации, плоской, потоке, ударной

...интерференционной картине,причем количество спектральных ин тервалов выбирают равным числу компонентов в газовом потоке, а уголпросвечивания фронта ударнов волнывыбирают из условия(и - п) 11 ЪЫ асвХп(2)АЧ Е .-11где 0скорость фронта ударной волны 4. Ч - скорость развертки спектраинтерФеренционной картины;-.ширина невозмущенных интер-,ференционных полос;и и и - показатели преломления газасоответственно перед и.эафронтом ударной водны;В - разрешающая способность.регистрирующего материала;Ь - наименьшая длина волны, светав спектре интерференционнойкартины,При наклонном просвечивании потока под углом о к фронту ударной волны интерференционные полосы на фронте ударной волны не терпят разрыва;на интерферограмме образуется участок,в котором...

Номер патента: 1582091

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Москалев, Смирнова, Черняков

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, показателя, преломления

...излучение от источника 2 разделяют на два коллимированных пучка с помощью светоделителя 3 и один из пучков лучей направляют на исследуемое вещество клиновидной формы. Поворачивая первоеоснование устройства, добиваются автоколлимации падающих лучей напервую грань клина, при этом преломленные в исследуемом веществе лучи претерпевают нормальное отражение от второй грани клина и возвращаются по своему первоначальному направлению. Затем наблюдают первую интерференционную картину после сведения2-х пучков лучей. Монохроматнческое излучение от источника 8 разделяютна два коллимированных пучка с помощью светодепителя 9 и один из пуч-,ков лучей направляют на зеркало 6,совмещенное с второй поверхностьюклина 5. Поворачивая второе...

Номер патента: 1289195

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Жиглинский, Кунд, Морозов, Самохин

МПК: G01N 21/45

Метки: диагностики, плазмы

...мцогокомпонентной плазмы, у которой концентрациимогут сильно различаться как междуразными компонентами, так и н гространстве, а априорная информация 10о величине концентрации отсутствует.Одновременность эонидцровацияпозволяет получить полную картинупроходящих в плазме процессов ц изучить влияние каждого из компонентовна всю плазму в целом несмогря цато, что параметры последней быстроменяются во времени.Для определения пространстненцогораспределения концентрации каждого 20иэ компонентов производится растпиф" ровка Я интерферограмм, соответствующих И разным длинам волн, На основании соотношения (2) записываетсясистема из И уравнений, что даетвозможность определять концентрации И различных компонентов. В случае,если...

Номер патента: 1599722

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Кузин, Кулешов, Леонтьев, Филатов, Юрин

МПК: G01N 21/45

Метки: диэлектрической, неоднородности, пленки, подложке

...исследуемой пленки. с подложкой производят через дополнительную интерферирующую пленку, нанесенную на поверхность исследуемой пленки,Составитель С.Голубев редактор Т.Парфенова Техред Л,Сердюкова Корректор А,ОсауленкоЗаказ 3137 Тираж 514 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-иэдательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул. Гагарина, 101 верхности интерферирующей пленки, та.к кк эта пленка освещается не под углЬм Брюстера.В местах неоднородности исследуемой неинтерферирующей пленки по показателю преломления свет падает уже не под углом Брюстера и возникает интерференция лучей, отраженных от исппедуемой пленки и нанесенной...

Номер патента: 1599723

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Ангельский, Бучковский, Максимяк, Перун

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, светорассеивающей, среды

...блоком регистрации служит для измерения азимута линейной поляризации результирующего излучения на выходе интерферометра. На модулятор Фарадея подается переменное синусоидальное напряжение определенной. частоты ) , спомощью чего раскачивается плоскостьполяризации результирующего излучения. Вращая анализатор, добиваютсяудвоения частоты 2 1 сигнала., регистрируемого Фотоэлектрическим блоком.Снимая отсчет угла поворота анализатора, находят азимут линейной поляризации, Возникшая в результатевнесения рассеивающих частиц в средуразность азимутов поляризации Ь ь 6однозначно связана с изменением показателя преломления 1 пЬ 0380 1где- длина волны;1- толщина кюветы,35 Последовательность операций поизмерению разности показателейпреломления Ьп...

Номер патента: 1606918

Опубликовано: 15.11.1990

Авторы: Булыга, Козубовский

МПК: G01N 21/45

Метки: вещества, интерферометрический, концентрации

...прошедших по чувствительной площадке фотоприемников. Эти импульсы приобретак)т в формирователях 13 соответствующую форму и амплитуду и поступают на счетчик-сумматор 14, который суммирует, вычитает и проводит, другие математические операции по соответствующей программе с этими импульсами. В блоке 15 масштабного умножения сигнал со счетчика-сумматора умножается на определенное число в зависимости от измеряемого компонента и индицируется на индикаторе 16 в единицах концентрации анализируемого компонента.Известно, что зависимость показателя п преломления от частоты а вблизи центра а линии поглощения имеет вид п=1+1 р+1,/4 где К - постоянная, зависящая от параметров анализируемого вещества; 7 - затухание, которое определяется шириной линии...

Номер патента: 1608507

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Ермоленко, Ушенко

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, объектов, показателя, преломления, прозрачных

...от изменения угла ориентации оси пропускания плоскости световых колебаний. В результате получают информа цию о градиенте показателя преломления прозрачного образца с шероховатой поверхностью раздела двух сред,В процессе распространения плоского волнового фронта линейно поляри- З 0 зованного излучения в слое вещества с градиентом показателя преломления Р(п) возникает эллиптически поляризованная компонента в прошедшем потоке лазерного излучения. Величины эллиптичности и азимута поляризации световой волны 9 в локальном участке объекта связаны с локальным значением градиента показателя преломления и.соотношением 40- соответственно эллиптичИнтенсивность световых колебаний в пределах зоны корреляции, измеряемая в ситуации скрещенных...

Номер патента: 1608508

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Бржазовский, Найденов, Ражев, Старинский

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...от монохроматического45 источника 6 направляется в интерферометр, образованный зеркалами 1 и 2, и одновременно с помощью полупрозрачного зеркала 7 - в дополнительный интерферометр, образованный зеркалами 3 и. 4. После прохождения обоих, интерферометров пучки лучей с помощью полупрозрачного зеркала 7 направляются в блок 8 регистрации, где можно наблюдать с помощью автокаллиматора (не показан) совмещенную от обо их интерферометров картину, представляющую собой две системы колец равного наклона. Перед началом измерений,в отсутствие в основном интерферометре образца, с помощью механизма 5линейного перемещения регулируют базы обоих интерферометров до совпадения в них значений длины оптическогопути, В этом случае расстояние дмежду...

Номер патента: 1631373

Опубликовано: 28.02.1991

Автор: Амстиславский

МПК: G01N 21/45

Метки: пластин, прозрачных, рефрактометр

...проходя подложку туда и обратно по нормали (опорный пучок), а луч 18 рассеивается на прямом пути - до отражения и проходит поверхность 14 туда и 5 10 15 20 25 30 35 40 45 45 50 обратно под углом (предметный пучок), Так как лучи 17 и 18 возникают в результате рассеяния на одной и той же частице, тоУ / дополнительные скачки фаз д р и д р обусловленные рассеянием, имеют одну и(1ту же величину, т,е. д р идар, и на разность хода Ллучей 17 и 18 они не влияют. Поэтому можно добиться высокой степени взаимной когерентности этих лучей.Перекрывание опорного и предметного пучков при условии их когерентности приводит к формированию интерференционной картины, В силу осевой симметрии расположения она имеет вид системы светлых и темных...

Номер патента: 1658041

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Комиссарова, Островская, Островский, Филиппов, Шедова

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45, G03H 1/00 ...

Метки: интерференционного, контраста, поля

...артгцы, что существенно ограничивает его применение в случае гцторйеренциоццых полей высокой пространственной частоты, В предлагаем: способе измеряют усредненные по большой площади характеристики интерференционной картины и плотностиэнергии поля, что приводит к существенному упрощению как методики измерений, так и используемой аппаратуры.:1 ногие материалы, такие, как мет.ллцзированные слои, скачкообразно изменяют свое пропускание (отражение) вследствие нагрева падающим излучеццем. Такие материалы практически цеселективны и могут работать в широом спектральном диапазоне от ультрафиолетовой до далевой инфракрасной областей спектра. В этом случае ,.ос-.игается еще и существенное расширение спектрального диапазона его...

Номер патента: 1659792

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Авербух, Перельман, Поторока, Сопов, Федотова, Штейман, Щербаков

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, поглощения, показателя, преломления

...Операция ЭГодЛЗацИИ )Гх)",О)К 61 Лвна Весовую функцию.1(эждь Й фрэГме 1 т ЭГОдиэиру тся с пгМОШЬЮ З(Одх)эацЛОННОЙ фуНКцииЭусссполушириной 8 см, цэ г)1 р(1 анн -: о,:-осительно )еоед 1 нь,)рай г(ентэ, почегоВЫПОЛНявтСя КС(х)ПЛ 6(СНОВ ,урЬ 8-Ир;( Бвазование (раз)егэост(: 40(ЗБ точек 1, В 1 )лу(ехной интербе ОГ:Зиме автомат 4 че(,к(прОГрэммЙ Опред 8 ляк)г.я величинь Отнод(ЕНИЯ х Э 1 Н6 Ь()НО,;И Перво О реЛе(СЗАл к интенсивности нулевого А,це-Трального максимума) И рЗССТОЯ Ле Й э Ме) (ду Э ГИМИ рефяеКСЭМИ С КоорДИНЭТЭМИ Х 1 И,)",О э =;1 "ХОВыражение для расчета тесретического спектра поопускзния гредстэвляет собой отношение квадрата модуля амплитуды прошедшего све.а к квэдра.у амплитуды пада(ощего света.(омплекснуО В 1 хгЛитуд( ПрОШ 8...