Поляризационный интерферометр-рефрактометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Класс 42 Й, 3442 К 36148550 СССР 1 т,;1.; Г з ТтИСАНИЕ ИЗОК АВТОРСКОМУ СВ РЕТЕНИЯЕЛЬСТВУ ппа17 одписн Р. Я, Кеймах и В. И. Кудрявцев ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР-РЕФРАКТОМЕТЗаявлено 21 апреля 1959 г. за626178/26елам изобретений и открытий при Совете Министров СССР омитет Опублнковано в Бюллетене изобретений13 за 962 Известные поляризационные интерферометры-рефрактометры дляизмерения показателей преломления прозрачных сред по разностихода двух взаимно перпендикулярно поляризованных лучей, разделенных по плоскости поляризации и в пространстве призмой Волластонаи проходящих соответственно через измеряемую и эталонную среду,модулированных по плоскости поляризации, с использованием фотоэлектрического следящего устройства с двухфазным реверсивным электродвигателем имеют низкую точность измерения и не могут обеспечитьавтоматизацию процесса.В предлагаемом поляризационном интерферометре-рефрактометреприменен поляризатор, который устанавливается по отношению плоскостей поляризации под углом, определяющим чувствительность измерительной схемы. Для измерения показателя преломления по разностихода этих лучей. анализатор механически связан с сервоприводом. Этоотличие позволит автоматизировать процесс измерения и значительноповысить его точность,На чертеже изображен предлагаемый поляризационный интерферометр-рефрактометр.Луч света от источника 1 через диафрагму 2, поляризатор 3 и модулятор 4 направляется на призму Волластона 5, которая разделяетлуч по плоскости поляризации и в пространстве, Разделенные лучичерез линзу б попадают в сосуды 7 и 8 с измеряемой и эталонной средой, на выходе которых помещена линза 9 и вторая призма Волластона 10, Лучи света, проходя вторую призму Волластона 10, поляризуются во взаимно перпендикулярных плоскостях и попадают на анализатор 11, с которого через линзу 12 они попадают на фотоэлектрическоеследящее устройство 13,148550Переменная составляющая фототока через усилитель 14 питает управляющую обмотку 15 двухфазного реверсивного электродвигателя 1 б, ротор которого через редуктор 17 и шестерню 18 механически связан с анализатором 11. Кроме того, ротор электродвигателя 1 б связан с регистрирующим устройством 19, фиксирующим показатель преломления измеряемой среды. Сосуды 7 и 8 с измеряемой и эталонной средой помещены,в резервуар 20, связанный с термостатом 21, что обеспечивает постоянство температуры сред в процессе измерения.Для определения чувствительности измерительной схемы поляризатор 3 установлен под углом по отношению плоскостей поляризации, Показатель преломления определяют по разности хода лучей, проходящих через измеряемую и эталонную среду.Центральный научно-исследовательский институт спиртовой и ликерно-водочной промышленности при ВСНХ отмечает увеличение точности измерения показателя преломления прозрачных сред при использовании предлагаемого поляризационного интерферометра-рефрактометра.П редм ет изобретенияПоляризационный интерферометр-рефрактометр для измерения показателей преломления прозрачных сред по разности хода двух взаимно перпендикулярно поляризованных лучей, разделенных по плоскости поляризации и в пространстве призмой Волластона и проходящих соот. ветственно через измеряемую и эталонную среду, модулированных по плоскости поляризации, с использованием фотоэлектрического следяще. го устройства с двухфазным реверсивным электродвигателем, о тл ич а ю щ и й с я тем, что, с целью автоматизации и повышения точности измерений, в нем применен поляризатор, установленный по отношению плоскостей поляризации под углом, определяющим чувствительность измерительной схемы, а для измерения показателя преломления по разности хода этих лучей анализатор механически связан с сервоприводом.148550 ставитель описания В. Г. Туфел еедактор Н. С. Кутафина Техред Т. П. Курилко Корректор Н. В. Щербак делам изобретен Совете ММосква Центр р р., д, 2/6.ипография ЦБТИ Москва, Петровка, 14. Поди. к печ. 25/Ч 1-62 г. Фо ак. 7185 ЦБТИ Комитета по мат бум. 70 К 08/16ираж 550 ий и открытий приМ. Че касский пе ъем 0,26 изд Цена 4 к истров ССС
СмотретьЗаявка
626178, 21.04.1959
Кеймах Р. Я, Кудрявцев В. И
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02, G01J 4/04, G01N 21/45
Метки: интерферометр-рефрактометр, поляризационный
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-148550-polyarizacionnyjj-interferometr-refraktometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Поляризационный интерферометр-рефрактометр</a>
Прибор для демонстрирования законов отражения и преломления световых лучей
Номер патента: 88148
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Глазырин
МПК: G09B 23/22
Метки: демонстрирования, законов, лучей, отражения, преломления, прибор, световых
...введением приспособления, выполненного в виде нескольких поворотных зеркал,разбивающих пучок света на несколько лучей, направляемых на линзы под разными углами.На фиг, 1 изображен общин вид описываемого поибора; на фиг. 2 - этот же прибор, впд сзади; на. фиг. 3 в устройст осветителя.Прибор состоит пз диска 1 с градусной шкалой, закрепленного на стойке 2, осветительного устройства 3, монтированного на стержне 4, поворачивающемся вокруг оси 5 и снабженном стопорным винтом б, а также набора линз, зеркал и других приспособлений, монтируемых на диске 1.Осветитель 3 состоит пз источника света 7, линзы 8, шапбы 9 с тремя щелевыми отверстиями и поворотных зеркал 10, монтпрованных в общем кожухе 11.Для демонстрирования законов отражения и...
Способ измерения длины волны монохроматического излучения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1026538
Опубликовано: 23.03.1985
Авторы: Абрамов, Буковский, Томашевский, Торопов
МПК: G01J 9/02
Метки: волны, длины, излучения, монохроматического
...,лонного и измеряемого излучений в интервале, ограниченном моментамисовпадений фаз интерференционных сигналов, счет ннтерференционных полос производят между всеми совпадениями во всем интервапе счета, фиксируют результаты .счета числа интерференцнонных полос от эталонного Р и от измеряемого Р источников между сов-, падениями ближайших к центру групп равноотстоящих совпадений в начале и конце интервала счета, н находят измеряемую длину волны Л, по формулеРзЪ=А,ригде- длина волны излучения эта"лонного источника.В устройство для измерения длины волны монохроматического излучения,538 49, входы оперативного запоминающегоустройства 10 соединены с выходамисчетного регистра совпадений 9 так,что первый вход оперативного запоминающего устройства...
Тяговое устройство
Номер патента: 259941
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Берсенев
МПК: B66B 9/06, E21F 13/04
Метки: тяговое
...хомутами 9. Шарнирами 10 поперечные плечи 11 угловых рычагов соединены с гибкими тягами 12, огибающими блоки 13 и 14. Блок 13, переводящий тягу 12 в положение, перпендикулярное плоскости пути, смонтирован на оси 15, которая вращается в подшипниках, расположенных в тележке 1 б тягового устройства. Блок 14 возвращает гибкие тяги 12 в плоскость, параллельную пути.Противоположные концы гибких тяг 12 соединены шарнирами 17 с траверсой 18, которая передает продольные усилия через шарнир 19 на тягу 20 с поршнем 21, перемещающимся в цилиндре 22. Пружина 23 между поршнем 21 и дном цилиндра 24 обеспечивает натяжение гибкой тяги 12, Цилиндры 22, перемещающиеся в направляющих, взаимодействуют с упорами 25, Со стороны, противоположной пружине, в...
Многолучевой интерферометр
Номер патента: 1060939
Опубликовано: 15.12.1983
Автор: Рокос
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, многолучевой
...а также оптические оси анизотропных элементов, нумерация которыхсвидетельствует нумерации, приведенной на фиг. 1; на фиг. Э - зависимость выходного сигнала узкополосно 20 го усилителя О от Фазового смещения Ф; на фиг. 4 - функции Эйридля лучей, поляризованных соответственно в плоскостях о = (110) ир = (110 1, а также аппаратная функ 25 ция устройства 0 = Е (сР)Устройство состоит из источникамонохроматического излучения 1, поляризатора 2, зеркал интерферометрафабри-Перо 3 и 4, Фазовой пластинки 30 5, гониометра б, на столике которого установлена исследуемая пластина 7, поляризационнйй комйенсатор,например компенсатор Бабине 8,элект.рооптического модулятора 9, анализа тора 10 диаФрагмы 11, фотоэлектронного умножителя 12,...
Устройство для измерения оптических параметров прозрачных сред на основе интерферометра маха-цендера
Номер патента: 1130778
Опубликовано: 23.12.1984
МПК: G01N 21/45
Метки: интерферометра, маха-цендера, оптических, основе, параметров, прозрачных, сред
...компенсатор, электрооптический фазовый модулятор и механизм вращения поляризатора, а также два избирательных усилителя, причем первый поляризатор, первый ромб Френеля, второй поляризатор второй ромб Френеля, третье полупрозрачное и третье непрозрачное зеркала установлены последовательно между коллиматором и интерферометром, третий и четвертый ромбы Френеля расположены внутри интерферометра на пути одного иэ лучей, прерыватель луча и фазовый компенсатор установлены последовательно внутри интерферометра на пути второго луча, электрооптический фазовый модулятор расположен между интерферометром и анализатором, а фотоприемник соединен с регистрирую щим устройством через параллельно соединенные избирательные усилители, один:из которых...
Предыдущий патент: Ультрамикротом
Следующий патент: Устройство для определения температуры плазмы по методу обращения спектральных линий
Случайный патент: Установка для получения металлических порошков распылением расплава