G01N 21/45 — с помощью методов, основанных на интерференции волн; с помощью шлирного метода
Интерферометрический газоанализатор
Номер патента: 284416
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Жариков, Панов, Цейслер
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45
Метки: газоанализатор, интерферометрический
...25 и контактной группой 2 б сигнально-отключающего устройства 27. Реверсивный двигатель, механически связанный с подвижной пластинкой, представляет собой компенсирующее устройство. При заполнении полостей А, В, С газо- воздушной камеры чистым атмосферным,воздухом интерференционные картины находятся в исходном нулевом положении (фиг. 2, положение 1). Световые потоки интерференционных картин, равные по величине, через щелевые диафрагмы 18 и 1 б попадают на фотоприемники 18, 19, которые включены в соседние плечи моста переменного тока. Введение н схему двух фотоприемников позволило автоматически выполнить условия коррекции температурной погрешности, При равенстве световых потоков, падающих на фотоприемники, световые сопротивления их...
285317
Номер патента: 285317
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01N 21/45
Метки: 285317
...Для пониже мера и обеспечения многокр ССА ПОЛИМВРИЗАЦИ ния стекол целесобразно обработать их поверхности диметилдихлорсиланом. Между стеклами устанавливают первоначальный зазор с помощью трех проволочек одного диаметра (например, 100 мк). Каждую проволочк изгибают на 90, один конец ее длиной 3 - 4,ц,я помещают между стеклами, другой закрепляют на боковой поверхности нижнего стекла пластилином. Затем верхнее стекло снимают, в центр нижнего помещают небольшое количество полимеризующейся смеси и накладывают верхнее стекло. Между стеклами в свете ртутной лампы в зоне, не заполненной пол имеризующейся смесью, наблюдаются кольца или полосы интерференции. Как только в контрольной пробирке станет заметным переход смеси в гелеобразное...
Интерферометр для диагностики плазмы
Номер патента: 315102
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Коробкин, Тницкий, Якушев
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: диагностики, интерферометр, плазмы
...10, и,попадает на фотоумножители 24 и 25. Частота лазера 2 устанавливается в выбранные точки кривых пропускания резонаторов интерферометра. При изменении расстояния между зеркалами 5, б (или 9, 10) изменяется величина сигнала, снимаемого с фотоумножителя 24 (или 25). Это изменение усиливается усилителем 30 (или 31) и подается на пьезоэлектрик 32 (или 33), компенсирующий изменение длины резонатора лазера 1 (или резонатора 3),Однако при этом изменение интенсивности излучения лазера 2 воспринимается системой стабилизации как изменение пропускания резонаторов лазера 1 и интерферометра 3, т, е. как изменение их длин, и ложно компенсируется, Так как кривые пропускания резонатора лазера 1 и резонатора 3 различны, нарушается постоянство их...
Устройство для исследования оптических свойств веществ
Номер патента: 315994
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Зеликсон
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: веществ, исследования, оптических, свойств
...прп взаимном вращеци диафрагм 4 ц 6 площадь перекрытия отверстий изменялась цо гармоническому закону. Вертикальная ц горизонтальная развертка отклоняющих систем 11 подключена к Гсц.р втору Гарх 1 оццческого ца 11 р 51 женця со сдвигом фаз между собой в 90 для создания10 вращающегося поля, К кольцевому электроду 9 приложено напряжение несколько цике катодного, а к аксиальному электроду 10 - выше катодного. Выход диссектора соединен с регистрирующим прибором, например, многоканальным самописцем через узкополосные усилители.Луч света источника 1 зондирует исследуемую среду 12 и фиксируется приемным обьективом 2 в плоскости первой диафрагмы 4 - фотокатода диссектора 3, при этом прямой луч проходит в центральное отверстие б диафрагмы 4, а...
327403
Номер патента: 327403
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01N 21/45
Метки: 327403
...параллельно колебаниям в поляризаторе б, По,выходе ,из вещества луч снова, проходит через жидкость,и попадает на,полупрозрачное зеркало 5.Луч света 19, проходя через поляризатор 7, также поляризуется в одной плоскости, но лл Ос кос т ь е ГО кол ео а н)и и Ориеинти р О В аИ а и Од углом 90 к плоскости колебаний поляризатора 6. Затем луч 19 проходит через компенсатор 20 и кювету конденсатора Кедра 11 с изотрапной жидкостью,и, Отражаясь от непрозрачного зеркала 4, поступает на полупрозрачное зеркало 5. Когереитные лучи 21 и 22 сводятся воедино полупрозрачным зеркалом 5 и далее, двигаясь вместе, поступают в анализатор 8, за которым может быть доставлен фотореги 1 стратор. В том случае, когда вещество 12 отсутствует (исходное состояние...
Рефрактометр
Номер патента: 340948
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Аэросъемки, Картографии, Михайлов, Центральный
МПК: G01C 1/00, G01N 21/45
Метки: рефрактометр
...в кристаллекоторая, в свою очередь, зависит от направления распространения света в кристалле относителыно его оси.Для получения большей угловой чувствительности устройства при измерении горизонталыных углов, ось кристалла располагается в горизонтальной алоскости и составляет угол в 45 с направлением проходящего сквозь кристалл света. Плотскость поляризации подающего на кристалл света,составляетс горизонтом угол в 45. После кристаллических пластин установлен поляроид-анализатор 12, создающий интерференционную,картину на катоде фотодетектора И. При изменении направления падающего на кристалл света в горизонтальной плоскости изменяется интенсивность светового потока, падающего на катод фотоприемника,Изменение интенсивности падающего на...
Автоматический интерференционный рефрактометр
Номер патента: 360594
Опубликовано: 01.01.1972
Автор: Эцин
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45
Метки: автоматический, интерференционный, рефрактометр
...согласовании двух интерферометров.На чертеже изображена схема предлагаемого рефрактометра.Предлагаемый рефрактометр содержит осветитель с источником белого света, состоящий из электрической лампы 1 накаливания, объектива 2 и поляризатора 3, и осветитель с источником монохроматического света, состоящий из спектральной лампы 4, объектива 5 и поляризатора 6. Направления пропускания поляризаторов 3 и б составляют между собой угол 90, Оптические оси осветителей совмещены с пол 1 ощью полупрозрачной пластины 7, расположенной между осветителями и интерферометром Майкельсона. Интерферометр содержит призму 8 Кестерса, кюветы 9, 10 соответственно с исследуемой и образцовой жидкостью и зеркало 11. В,ветви интерферометра помещен компенсатор 12...
Устройство для измерения структурной
Номер патента: 386325
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Воробьев, Гурвич, Старобинец
МПК: G01N 21/45, G01W 1/00
Метки: структурной
...на ленте само,писца 12, По истечении одной минуты с начала регистрации светового потока через щель зеркала 5 и 8 переводят, например, при помощи кулачкового механизма из положения, изображенного на фиг. 1, в положение, изображенное на фиг. 2. Одновременно в ЯС-цепи 10, 11 переключается электрическая емкость 10 на меньшую, так что постоянная,времени ЯС-цепи в положении ирибора, изображенном па фиг. 2, равна 3 сек. В эзом положении прибора поток лазерного излучения, пропущенный линзой 8 и большс никакимп элементамн оптической схемы недиафрагмируемый, направляется системой зеркал 5 - 8 на ФЭУ 9, сигнал которого после осреднения также регистрируется на самописце 12.При установке система юстируется таким образом, что оптическая ось...
Способ измерения вертикального угла с учетом влияния рефракции
Номер патента: 398817
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Прнлепнн
МПК: G01C 1/00, G01N 21/45
Метки: вертикального, влияния, рефракции, угла, учетом
...точке собираются приемной оптической системой э 15 ц 1)Охусцру 10 тс На фцксироаннОЙ диафрагме 6, после которой установлено устройство для счета ч)сла интерферецццоцных полос.Свгтоделцтельное устройство 2 может бытьвыполнено, например, в виде единого блока 20 (см. фцг. 2), вклцочающего лазер 3, призм ),отражающие зеркала 9, 9, и рассеивающие линзы 10 и 10.Для определения вертикального угла, свободного от влияния рефракции, выполняют цз 2 в меренце вертикального угла теодолитом и измерение разности оптических путей световых потоков двух вторичных когереитных источников после цх перемещения из точек 1,1 в точки 22 (см. фиг. 3).Перемещение источников цзлу-2 РУО - У 02 Ь - длина базы между вторичными псточиками излучения;Ы в разнос...
Устройство для исследования прозрачных неоднородностей
Номер патента: 409118
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: исследования, неоднородностей, прозрачных
...1, 2, ), ), 7, 8, 9, 10. 51 ецяя осветительные 5 и визуализирукнцце 9 л, фрг 1 ь 1, можно настраивать устройство для работы цо одному из следующих теневых мс)гОв: щслц; ножа, щели и пити, цветцы; изображений, рясфокусировацных штриховы; ;.1 и)фря м, я также цо мстодям ди 1ЯкиОнно 409118го, поляризационного и зеркального интерферометров сдвига.Для перенастройки предлагаемого устройства по автоколлимационной схеме с двухкрагным просвечиванием неоднородности параллельным пучком необходимо ввести светоделительный кубик 11 и плоское зеркало 12. В этом случае используются элементы 1, 2, 8, 7, 8, 12, 9 10 (штрихами помечены позиции элементов в новом положении). 1 ОДля настройки устройства по автоколлимационной схеме с двухкратным...
Всесоюзнаяятент1ш. гехн11ггн(д; ,
Номер патента: 363022
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: всесоюзнаяятент1ш, гехн11ггн(д
...резонатора и, следовательно,об изменении показателя преломления среды,В известном способе частоту излучения лазера устанавливают в некоторую точку одногоО из максимумов пропускания резонатора интерферометра и удерживают ее в этом положении с помощью системы стабилизации. Изменение показателя преломления среды в резонаторе интерферометра приводит к смеще 5 нию максимума пропускания интерферометраотносительно лазерной линии (в том случае,если характерное время этого изменения тменьше характерного времени установлениясистемы стабилизации т,т). При этом максиО мальное измеряемое изменение показателяпреломления пропорционально ширине кривоймаксимума пропускания, в то время, как точность измерения обратно пропорциональнаширине,5 В...
^ггентни-г: . библио
Номер патента: 368773
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Германска, Иностранец, Мединген
МПК: G01N 21/03, G01N 21/45
...при двоичИзобретение относится к устройствам для измерения показателя преломления газов и жидкостей.В известных ионструкциях кювет для измерения показателя преломления газов и жидкостей заполняемая исследуемой средой полость ограничена по ходу лучей двумя плоскими поверхностями.Особенность предложенной кюветы заключается в выполнениями ее внутренней полости в 10 виде последовательного ряда плоских ступеней, которые имеют отношение оптически действующих дляи, соответствующее выбранному коду (например, 1:2:4:8 при двоичном коде).На чертеже изображена предложенная кю вета. Параллельные световые пучки двух ветвей интерферометра проходят через две идентичные кюветы 1 и 2 с эталонной и исследуемой средой, полости которых имеют...
Интерференционный газоанализатор
Номер патента: 375531
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Мукомолов
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45
Метки: газоанализатор, интерференционный
...измеряемого компонента непосредственно в условиях основного измерения.5 На чертеже приведена блок-схема предлагаемого газоанализатора.Он содержит осветительное устройство 1,устройство 2 для подготовки пробы, рабочую кювету 3, первую эталонную кювету 4, вто рую эталонную кювету 5, поворотную пластину б, плоско-параллельную пластину 7, двигатель 8, фотоприемник 9, блок 10 опорного сигнала, усилитель-преобразователь 11, устройство 12 управления, первый счетчик 13, 15 второй счетчик 14, делитель 15, щелевую диафрагму 1 б.Пропуская между кюветами опорный световой луч, получают две интерференционные картины, разделенные между собой этим лу чом. Расстояние между лучом и интерфереп- ционными картинами интерферометров, кювета одного из которых...
Устройство для измерения вертикальных углов с коррекцией влияния рефракции
Номер патента: 428206
Опубликовано: 15.05.1974
Авторы: Аэрофотосъемки, Затравкин, Московский, Прилепин, Свешникова
МПК: G01C 1/00, G01N 21/45
Метки: вертикальных, влияния, коррекцией, рефракции, углов
...приемника в соответствии с принципом Ферма может быть выражен формулой1 о(51) О = ) и, с 15 О, (1)огдеи - текущее значение показателя преломления вдоль траектории;ыо - дифференциал дуги траектории, В атмосфере при геодезических измерениях направление касазельной к траектории в любой точке отличается от направления хорды 5, весьма незначительно (3 - 5 мин дуги).В связи с этим дифференциал дуги сс 5 О траектории с пренебрегаемой погрешностью может быть заменен дифференциалом д 5 хорды и интегрирование выполнено по хорде в пределах 0 - 51, т. е. можно вместо формулы (1) написать:(51) О =и с 15 (2)оАналогично, для верхнего луча 1 А запишем:3,(51)О =и с 15 (3)огде и, - текущее значение показателя преломления по лучу 1 А.Для разности...
Диффузионная ячейка
Номер патента: 511539
Опубликовано: 25.04.1976
МПК: G01N 13/00, G01N 21/03, G01N 21/45 ...
Метки: диффузионная, ячейка
...происходит в дви жушемся как целое газе, то измеряемые коэффициенты будут характеристиками суммарного массопереноса. Надо отдельно измерить скорость течения, чтобы измерить коэффициенты диффузии в этом случае. И сду которыми на скольктах установлен чувстарометра,временно измерять ипроходят через капилляр 1 перпендикулярнооптически, прозрачным стенкам 8," один- через смесь в капилляре 1, другой - в воздухе между стенкой капилляра и полюсом магнита 6. Магниты 6 и интерферометр могутперемещаться вдоль капилляра 1, позволяяпроизводить измерения в любом сечении,При исследовании процесса массоперено-,са диффузионной ячейки соединяют объемыс исследуемыми газами. Диффузия происходит через капилляр 1, Чувствительный элемент 3 катарометра с...
Интеферометр для исследования качества поверхностей и аберраций крупногабаритных оптических элементов и прозрачных неоднород ностей
Номер патента: 529362
Опубликовано: 25.09.1976
Авторы: Астахова, Духопел, Федина
МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...
Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов
...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...
Теневой прибор
Номер патента: 792108
Опубликовано: 30.12.1980
Авторы: Земсков, Кобелев, Сагалович, Терещенко, Шаймарданов
МПК: G01N 21/45
...линзу и экран, диафрагма выполнена точечной, на одной из поверхностей цилиндрической линзы частично нанесено непрозрачное покрытие, так что образуется прозрачная полоса шириной Ь, которая проходит через ось симметрии цилиндрической линзы под углом ф, и в точке пересечения с осью делится пополам, а экран установлен в фокальной плоскости цилиндрической линзы, при этомОг 1000 М)с уС .йУ30- длина волны излучения осветителя; 15Я - длина прозрачной полосына цилиндрической линзе,Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором представлена схема теневого прибора.Теневой прибор состоит из двух частей: осветительной - коллиматора 1 и приемной - регистратора 2. Коллиматор 1 в своюочередь, состоит из источника света 3, точечной диафрагмы 4 и...
Способ рефрактометрии оптическипрозрачных жидкостей и газов
Номер патента: 802853
Опубликовано: 07.02.1981
Авторы: Земсков, Кобелев, Сагалович, Терещенко, Шаймарданов
МПК: G01N 21/45
Метки: газов, жидкостей, оптическипрозрачных, рефрактометрии
...сроки и себестоимость получаемой информации. А й Д угде Д - абсолютное значение показателя преломления исследуемойсреды,- длина волны зондирующего излучения;2 ОЙ - число интерференциовных полос;, - изменение геометрической длиныпути луча в исследуемой среде.На чертеже дана схема устройства дляреализации способа рефрактометрии оптически прозрачных жидкостей и газов.Устройство состоит из источника света,(не показан), создающего коллимированный пучок лучей 1, полупрозрачного зеркала 2, делящего луч 1 нв два луча 3 и4, кюветы 5 с исследуемой жйжостькзеркал 6 и 7, счетчика 8 и устройства9 для перемещения кюветы.Устройство работает следующим образом.Коллимированный пучок света полупрозрачным зеркалом 2 разделяется надва луча 3 и 4, при...
Теневое устройство
Номер патента: 802854
Опубликовано: 07.02.1981
Авторы: Волова, Копылов, Королев, Красовский, Наумов
МПК: G01N 21/45
Метки: теневое
...6. Параллельный пучок лучей, который после прохождения отражательныхпризм-ромб 7 и иллюминаторов 8, проходит через исследуемую среду и падает наоснование усеченной равнобедренной пирамиды 9,В дифференциальных каналах пучок лучей проходит равнобедренную пирамиду иотражается от ее боковых граней,Параллельный пучок лучей проходит вобратном направлении исследуемую среду,иллюминатор 10, призму-ромб 11, иобъектив 12, который формирует изображение световой диафрагмы в плоскости теневой диафрагмы 13, Объектив 14 и конденсатор 16 формируют непрекрытую теневой диафрагмой часть изображения световой диафрагмы на светочувствительном20 слое приемника 17.В автоколлимационных каналах пучоклучей, попавший на основание усеченнойравнобедренной пирамиды...
Интерферометрический газоанализатор
Номер патента: 802855
Опубликовано: 07.02.1981
МПК: G01N 21/45
Метки: газоанализатор, интерферометрический
...искомому содержанию его в анализируемой смеси, на 20% больше чем всреднем канале. Поэтому величина смещения интерференционной картины выражает20%-ное содержание водорода от искомого. Содержание водорода, полученное пошкале, соответствует искомому содержанию его в анализируемой смеси.Предлагаемый интерферометрическийгаэовнвлизатор может быть использованв широком диапазоне измеряемыхконцентраций газов. При этом время анали 2 О эа высоких ксоцентраций газов за счетустранения разбавления смеси сокращае- ся в 5-6 раз при существенной экономии поглогителей. Интерферометрический газоанализатор, содержащий газовоздушную камеру,поглотители газов и отсчегную шкалу,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения диапазона измерений, повышения...
Интерференционное устройство дляизмерения показателя преломлениядиэлектрических пленок переменнойтолщины
Номер патента: 805141
Опубликовано: 15.02.1981
МПК: G01N 21/45
Метки: дляизмерения, интерференционное, переменнойтолщины, пленок, показателя, преломлениядиэлектрических
...оси каналов наблюдения и линии, соединяющие точку пересчения этих осей и центры вторичных источников света 3 и 4. Оптические длины путей вдоль оптических осей каналов от точки 0 их пересечения до точки О соединения в призме должны быть равны. Это обеспечивает равенство увеличений в обоих каналах наблюдения. Главное сечение собирающей призмы, состоящей из элементов 9 и 10, должно лежать в плоскости, образованной оптиескими осями каналов набщодения, а частично отражакзпая граница 11 собирающей призмы допжна находиться э плоскости, проходящей через точку пересечения оптических осей каналов. При таком расположении элементов устройства и исследуемой пленки наблюдаемое смещение интерференционных полос обуславливается только изменением...
Способ определения показателяпреломления прозрачных слоевпеременной толщины
Номер патента: 805142
Опубликовано: 15.02.1981
МПК: G01N 21/45
Метки: показателяпреломления, прозрачных, слоевпеременной, толщины
...пробное стекло так, чтобы между ао верхностями подложки и пленки образками ся воздушный клин. При освещении м 4 аФ хроматическим светом возникают дйВ Фйестемы интерференционньтх полос, сдвилу тых одна относительно другой на вепичи"М ну, пропорциональную толщине пленки 1.Однако известный способ не позволя ет измерить показатель преломления плени.Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения показателя преломления диэлектрических пленок переменной тошпины, в котором исследуемую пленку переменной толщины освещают монохроматическим светом под разными уг лами. Показатель лраломления пленки вычисляется по результатам измерения ширины интерференционных полос при двух углах падения освещающего пучка2.Недостатком сиособа...
Устройство для измерения измененийкоэффициента преломления прозрачныхсред c градиентом коэффициента пре-ломления
Номер патента: 807164
Опубликовано: 23.02.1981
МПК: G01N 21/45
Метки: градиентом, измененийкоэффициента, коэффициента, пре-ломления, преломления, прозрачныхсред
...и длиной волны ,А При этом в Фокальной плоскости получается широкое изображение щели, образованное наложением друг на друга спектрально 65 окрашенных иэображений осветительной щели, образованных лучами, проходящими на различной высоте в исследуемой среде, Темные полосы периодической решетки 7 частично перекрывают цветные иэображения щели, и в поле зрения приемного объектива формируется изображение исследуемой среды, окрашенное . в систему цветных спектральных полос, параллельных щели и полосам диафрагмы. В жидкости с однородным значением градиента плотности максимальное число полос равно удвоенному значению числа штрихов в решетке, причем спектры являются обращенными относительно центра изображения. В жидкости со сложным нелинейным рас-...
Интерференционное устройство дляопределения границ полос
Номер патента: 807165
Опубликовано: 23.02.1981
Авторы: Биенко, Буров, Толкун, Чехович
МПК: G01N 21/45
Метки: границ, дляопределения, интерференционное, полос
...потоков сОи от, которые формируются с помощьюполупрозрачного 2 и отклоняющего 3зеркал интерферометра 4.При прохождении светового пучкаоборачивающей телескопической системы 5, установленной в одном из1 э плеч интерферометра, направлениедвижения иэображения в последнемменяется на противоположное, в результате чего на полупрозрачномзеркале б наблюдается встречное20 движение изображений одной и тойже полосы (сО увеличивается отхдо х в и Ж увеличивается от х до х)(фиг.2).При постепенной засветке щели довстречи изображений на зеркале брезультирующий световой поток сь,поступающий на Фотоприемник 7,равен сумме световых потоков сиз,и с 01 и увеличивается по линейномуЗО закойуВ момент встречи изображений в точке Хц Фотоприемник регистрирует...
Способ исследования и контроляповерхностной диффузии и сегре-гации
Номер патента: 807167
Опубликовано: 23.02.1981
МПК: G01N 21/45
Метки: диффузии, исследования, контроляповерхностной, сегре-гации
...ЭА после усилителей 10 и 15 подаются на схему 16 разности. Схема разности формирует сигнал, который дает информацию о процессах, происходящих на контролируемой поверхности.Еерут контрольный образец с плоской отражающей поверхностью.Для катализатора в форме гранул и таблеток зто достигается обычной полировкой. Из катализатора в виде порошка прессуют таблетку, а потом приготовляют отражающую поверхность путем полировки. Контрольный образец, находящийся в реакторе и участвующий в процессе реакции вместе с остальной массой катализатора, помещают н переменное магнитное поле, На плоскую отражающую поверхность катализатора направляют поляризованный свет. Отраженный от катализатора луч делят на два и выделяют из первого луча только свет с длиной...
Устройство для исследования газовыхпотоков оптическими методами
Номер патента: 811116
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Добкес, Нишневич, Фельдберг, Юшкевич
МПК: G01N 21/45
Метки: газовыхпотоков, исследования, методами, оптическими
...фиг. 3 - часть кольцевого канала, расположенная, например, выше оаи симметрии на фиг. 4 - сечение Б - Б0 фиг. 3.Канал (фиг. 1) в зоне прохождения светового пучка имеет горизонтальные стеньки 1, Наклонные боковые стенки 2 (фиг. 4) образуют со стенками 1 равнобсд 15 ренную трапецию, 1 рмеющую отношени горизонтальных сторон (стенок), равнос отношению диаметра сердцевины к внешнему диаметру канала аВ = Й 0,Ось Х параллельна, ребру двугранного утла, образуемого наклонными прозрачны 20 1 ми стенками; ось у перпендикулярна к это.му ребру. Обе оси перлендикулярны к пучку лучей, просвечивающему модель. Канал представляет собой сектор исследуемого кольцевоо канала. При этом геометрические искажения не превышают величины (1 - сов а) 100%, где а -...
Способ определения показателяпреломления
Номер патента: 811117
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Алтухов, Троян, Яцкова
МПК: G01N 21/45
Метки: показателяпреломления
...известны и определяются параметрами решетки.Для нахождения показателя преломления плоскопараллельного слоя толщиной 6 жидкого или твердого вещества определяют по максимальному контрасту реплики решетки кординату Г; смещенной г-той плоскости саморепродукции, вычисляют величину смещения ЛЕ = Г; - Л; и по соотношению (1) рассчитывают показатель преломления гг,.Таким образом, данный способ предусматривает три операции при измерении показателя преломления по сравнению с де вятью в прототипе. Таблица имя Вещество 1,3330 1,3591 1,4010 1,3326 1,359 1,4009 Вода Лцетон Трнэтнламин ц 1 етывсххлористый углерод Кедровое масло Бромнафталин0,765 0,826 0,922 1,061,1841,513 1,4610 1 5148 1,6578 1,46071,5151,6582 1. Способ определения показателя пре...
Устройство для измерения пульсацийградиента оптического коэффициентапреломления
Номер патента: 811118
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Батов, Белогольский, Горев, Кузнецов, Саморукова
МПК: G01N 21/45
Метки: коэффициентапреломления, оптического, пульсацийградиента
...в , - с от главной оптической оси объекЛузтива, проходящей через эту прямую, а два оптических ножа регистрирующей системы выполнены в виде прозрачного креста, щели которого ортогональны соответствующим направлениям ультразвуков. К выходу фотоприемников подключено еще по фильтру, настроенному на двойную частоту второго ультразвукового излучателя, выходы которых подсоединены ко входам второго фазометра, выход которого подключен к допол. нительному индикатору.Устройство работает следующим образом.Световой пучок источника света 1 проходит через модулятор 2, где он дифрагирует на бегущей ультразвуковой волне. Дифрагированные пучки передаются объективом 3 на непрозрачный экран 4, который пропускает пучки первого порядка, при этом последние...
Интерференционный рефрактометр
Номер патента: 811119
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Александров, Кузьмин, Павленко
МПК: G01N 21/45
Метки: интерференционный, рефрактометр
...толщины.Рефрактометр работает следующим образом.Световой поток от источника 1 освещает щелевую диафрагму 2, стоящую в фокусе линзы 3. Параллельный световой поток, сформированный линзой 8, проходит через кювету 4 и делится полупрозрачным покрытием, нанесенным на внешнюю сторону пластины б, являющейся гранью кюветы с измеряемой жидкостью б, на два равных по интенсивности световых пучка, Световой пучок, прошедший кювету б, отражается от зеркала 7, вновь проходит кювету б и направляется полупрозрачной гранью плас. тины б в систему 8,Отраженный пучок проходит через кювету 4, отражается, поворотным зеркалом 9, проходит кювету 4, полупрозрачный слой пластины б и через кювету б направляется в систему 8. В результате равенства оптических путей...
Теневой прибор
Номер патента: 811120
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Белозеров, Кутикова, Мустафина
МПК: G01N 21/45
...максимальную чувствительность измерений при работе теневого прибора в этой же области: идентичность условий регистрации и восстановления позволит обеспечить высокое аберрационное качество теневого прибора. Фокусное расстояние объектива при записи может быть выбрано любым. Значение угла отклонения лучей фазовым объектом и фокусное расстояние голограммного объектива с уменьшением длины волны источника света возрастает. Смещение частоты излучения в длинноволновую область спектра приводит к уменьшению фокусных расстояний коллиматорного и приемного объективов, чем обеспечивается возможность исследования фазовых объектов, вызывающих значительные отклонения лучей (грубых неоднородностей),На чертеже приведена оптическая схема теневого...