G01N 21/45 — с помощью методов, основанных на интерференции волн; с помощью шлирного метода

Номер патента: 1116365

Опубликовано: 30.09.1984

Автор: Саламандра

МПК: G01N 21/45

Метки: визуализирующая, диафрагма, прибора, теневого, трехцветная

...фильтр 2 и боковые фильтры 1 и 3. Прямоугольные фигуры 4 и 5, совпадающие по размерам с фильтрами, расположены непосредственно за боковыми фильтрами. Пять прямоугольных фигур той же высоты шириной 0,6-0,8 ширины фильтров размещены по обе стороны от центрального фильтра 2, фигуры 6, 7 и 8 раз" мещены по одну сторону от центрального фильтра, фигуры 9 и 10 - по другую сторону от него.Пример выполнения предлагаемой визуалиэирующей диафрагмы.1116365 30 3Фильтры 1-3 выполнены соответственно красного, синего и зеленого цветов. Фигуры 4 и 5, совпадающие по размерам с фильтрами, выполнены одна непрозрачной (4), другая - бесцветной (5) и размещены непосредственно за боковыми фильтрами 1 и 3. Пять фигур 6, 7, 8, 9 и 10 шириной, равной...

Номер патента: 1117493

Опубликовано: 07.10.1984

Автор: Хавинсон

МПК: G01N 21/45

Метки: газов, жидкостей, интерференционный, оптического, показателя, преломления

...ипривод 16 снова настраивает основнойинтерферометр на максимум интерференционной полосы, При этом В,лина 2 СЕ,+Е," )-Е,+Е,М=ЕС.- )представляет собой изменение суммыоптических путей в воздухе и в вакууме. Таким образом, удвоенное изменение оптической длины ( изменениеоптической разности хода) основногоинтерферометра при перемещении окна11, которое является границей междувоздушной и вакуумной частями интерферометра, равно изменению суммыоптических путей в воздухе и вакууме.Способ реализуется следующим образом.20Излучение от источника 1 монохроматического света делится светоделительным элементом 8 на два пучка,один из которых поступает в основнойинтерферометр, а другой - во вспомогательный, служащий для измерения величины перемещения...

Номер патента: 1117494

Опубликовано: 07.10.1984

Авторы: Ковайкина, Лунева, Федосеева

МПК: G01N 21/45

Метки: визуализирующая, диафрагма, линейная, многоцветная, прибора, теневого

...нейтрального фильтра.Красный цвет начинает появляться, 40когда изображение осветительной диафрагмы начинает попадать на фильтр 5,причем по мере смещения сначала возрастает яркость красного цвета, достигающая своего максимального значе 45ния (при попадании изображения диафрагмы целиком на фильтр 5), а затемначинает уменьшаться чистота красного цвета за счет смешения световыхпотоков, проходящих одновременно через фильтр 5 и бесцветный фильтр 13(положение диафрагмы 16), Дальнейшеесмещение диафрагмы сопровождаетсяпостепенным уменьшением доли красного, увеличением доли желтого световых потоков при сохранении долибелого светового потока. Изображениеосветительной диафрагмы попадает сразу на два цветных фильтра, разделенных бесцветным фильтром...

Номер патента: 1117495

Опубликовано: 07.10.1984

Автор: Саламандра

МПК: G01N 21/45

Метки: изображений, теневых, цветных

...к другому, расстояние между осями симметрии Фигур равно ширине щелевой осветительной диафрагмы и образуют просветы в непрозрачном экране 10.Фигуры 1 - 3 выполнены из фильтров трех основных цветов, Остальные разноцветные фигуры выполнены из блоков с высотой, равной высоте осветительной диафрагмы, составленных из расположенных один над другим прозрачного бесцветного элемента и фильтра одного из основных цветов, Оптические плотности бесцветного элемента и фильтра3 1117495 4 одинаковы, В каждой фигуре содержатся иены бесцветными. Их оптическая фильтры только одного цвета. плотность совпадает с оптическойБлоки Фигуры 4 составлены из бес- плотностью фильтров. цветных элементов 11 - 15 и фильтров Устройство работает следующим об - 20. Блоки...

Номер патента: 1121605

Опубликовано: 30.10.1984

Авторы: Лапушкина, Муниц, Петров, Шендерович

МПК: G01N 21/45

Метки: входной, гранью, кристалла, между, одноосного, оптической, осью, угла

...осью одноосногокристалла и его входной гранью,заключающийся в том, что кристаллпросвечивают коническим пучком монохроматического поляризованного света и совмещают центр коноскопической фигуры с маркой 1,Недостатком известного споСобаявляется низкая точность определения угла между оптической осью одноосного кристалла и его входнойгранью. Цель изобретения - повышение точности измерений.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения угла между оптической осью одно.- осного кристалла и его входной гранью марку образуют путем дополнительного просвечивания кристалла параллельным пучком света, а угол между Оптической осью одноосного кристалла и его входной гранью определяют по углу между падающим на входную грань...

Номер патента: 1121606

Опубликовано: 30.10.1984

Авторы: Александров, Готлиб, Закиров, Комаров, Лейкин, Молочников, Павленко

МПК: G01N 21/45

Метки: варианты, его, интерференционный, показателей, преломления, разности, рефрактометр

...1 РЯСЩЕ)1 ЛЕт.,Я ЯСХСДН1 О 1 Ут(Я та ДВЗ П;Ра) т 1)х и счещенных относи Гель)о друг другапучка, прсходяп;.Гх через ука" анные кюветы, а блок рег патрьци 1 и: тс)е - Е)ЕЕтциа Ниай КартЕНЬ а ттр:З т. т,;- мерения разности хода иетерфар 1 Г).ющих пучковь ризу чьтя"е тагО ч" О 1 и: - ее аженнам способе пучки с-ета 1 а р. в"ляют на преломляощую границу раздтлаисследуекьех сред псд равными у. Лами)Оба ПУЧКа ПрЕЛОМЛЯЮ 1 Сст На Од",Нтат же угол и, следоватетеьес, уголмежду пучками посое кюветы а стае "яравным углу меж)1 пучками до кюве Гь,ГР) СОВМЕЩЕНИИ ПУЧКС В 11)Е): МЕжДЧ Еиьпе воз никяет ряз ность КГ)да Гтро" порциональная углу,. на котрьей с .- кпоняются оба пучеа, и по )зет;ичипе возникающей разности хада ",ДНГ величине яп,ПОВЬПЕНИЕ...

Номер патента: 1130778

Опубликовано: 23.12.1984

Авторы: Рокос, Рокосова

МПК: G01N 21/45

Метки: интерферометра, маха-цендера, оптических, основе, параметров, прозрачных, сред

...компенсатор, электрооптический фазовый модулятор и механизм вращения поляризатора, а также два избирательных усилителя, причем первый поляризатор, первый ромб Френеля, второй поляризатор второй ромб Френеля, третье полупрозрачное и третье непрозрачное зеркала установлены последовательно между коллиматором и интерферометром, третий и четвертый ромбы Френеля расположены внутри интерферометра на пути одного иэ лучей, прерыватель луча и фазовый компенсатор установлены последовательно внутри интерферометра на пути второго луча, электрооптический фазовый модулятор расположен между интерферометром и анализатором, а фотоприемник соединен с регистрирую щим устройством через параллельно соединенные избирательные усилители, один:из которых...

Номер патента: 1140082

Опубликовано: 15.02.1985

Авторы: Войцеховский, Кравцов, Скропышев, Уркинеев

МПК: G01N 21/45

Метки: монокристаллах, неоднородностей, ориентировки, плоских, показателя, преломления, прозрачных

...11 устанавливают на пути лучаза кристаллом на расстоянии 0,5-3 мв зависимости от желаемой степениувеличения дифракционной картины впределах 2-20 раз. Перемещением объектива 10 вдоль луча сначала добиваются фокусировки изображения кристаллана экране (определяется по четкомуизображению пылинок или царапин, имеющихся на гранях), а затем сбиваютфокусировку небольшим перемещениемобъектива в ту или другую сторону.Необходимость "сбивания" фокусировкцопределяется тем, что неоднородностипоказателя преломления кристалла обусловливают появление на экране дифракционной картины итменно в условиях дефокусации, причем максимальная контрастность дифракционной картины получается нри вполне определенной степени дефокусации, зависящей в своюочередь от...

Номер патента: 1157416

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Пилипко

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, многолучевой, эллипсометр

...фотоприемнику,измеритель частоты, подключенныйк электронному ключу, и преобразователь интервал времени - напряжение,вход которого подключен к формирователю интервалов времени, а выходк электронному ключу и одночастотному перестраиваемому лазеру, причем поляризаторы оптических развязоки дополнительный поляризатор установлены так, что оптические осиполяризаторов оптических развязоквзаимно ортогональны, а оптическаяось дополнительного поляризатораориентирована под углом к ним.На чертеже, изображена принципиальная схема предлагаемого устройства,Устройство содержит одночастотныйлазер 1, оптическую развязку, состоящую из поляризатора 2 и невэаимногофарадеевского вращателя 3, поляризатор 4, перестраиваемый одночастотный лазер 5 и...

Номер патента: 1163216

Опубликовано: 23.06.1985

Авторы: Кирьянов, Ханов

МПК: G01N 21/45

Метки: вариаций, показателя, преломления

...к значительным ошибкам в результатах измерений, а также к недейственности способа в турбулентных слоях.Цель изобретения - повышение помехозащищенности измерений вариаций показателя преломления в естественных условиях, т.е. обеспечение возможности продолжения измерений с высокой чувствительностью после прохождения турбулентного слоя.Поставленная цель достигается тем, что при способе измерения вариаций показателя преломления, включающем распределение излучения с длиной волны В в основной и дополнительный каналы, разделение излучения в каждом канале на опорный иизмерительный потоки излучения,воздействие этих потоков на исследуемую среду, сведение их вместе 5и регистрацию по полученной информационной картине дробных...

Номер патента: 1179171

Опубликовано: 15.09.1985

Авторы: Арефьев, Старостенко

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления

Номер патента: 1185196

Опубликовано: 15.10.1985

Автор: Саламандра

МПК: G01N 21/45

Метки: прибор, теневой

...4 и прямоугольныефильтры 13,17,21,25,29 и 33 выполнены бесцветными. Фильтр 5 и прямоугольные фильтры 37,41,45,49,53 и57 выполненынепрозрачными. Фильтры10, 14, 18,24,28,32, 36,40,44,46, 50,54выполнены красными. Фильтры 11,-15,19,23,27,31,34,38,42,48,52,56 выполнены синими. Фильтры 12, 16, 20, 22, 26,30,35,39,43,47,51,55 выполнены зелеными.Визуализирующая диафрагма работаетследующим образом.Ее устанавливают в Локальной плоскости основного объектива приемнойчасти теневого прибора, До тех пор,пока исследуемая среда однородна,плоскость изображения окрашена в цветцентрального фильтра виэуализирующейдиаЛрагмы, с которым совмещено изображение щелевой осветительной диафрагмы ( в рассматриваемом нами примере - зеленый цвет).При смещении...

Номер патента: 1213395

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Виноградов, Медовиков, Нигаматьянов, Прилепин

МПК: G01N 21/45

Метки: влияния, коррекцией, рефракции, углов

...интенсивностям пропорциональныфототоки, амплитуды которых имеютвид По измерениям , получают Ъ , а по измерениям- цп+ 1). Сначала, изменяя Ь , получают максимальное значение фототока 1 = 3 , тогдаах оафах3(2 В ь)ахт.е. выполняют градуировку прибора. Затем при медленном изменении путем увеличения напряжения генератора 6 устанавливают необходимую величину 1 и определяют величину 2 Ъ аппо таблицам функции Бесселя. Аналогичные действия производят для другой интерференции и определяют величину 3=Ь( ). Угол рефракции находят по формуле Г= 3/Ъ - 11,Источник 5 постоянного напряжения служит для выведения разности хода интерферирующих лучей в зону максимальной чувствительности. Формула изобретения Устройство для измерения углов с коррекцией...

Номер патента: 1213396

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Виноградов, Медовиков

МПК: G01N 21/45

Метки: астрономический, рефрактометр

...детекторов 10 и 15. Генераторпостоянного напряжения подключен кзвукововому генератору 12,Устройство работает следующим образом,Верхний световой поток от источника света падает на зеркало 1, которое направляет его на зеркало 4, азатем через полупрозрачное зеркало 2 световой поток падает на фотоприемник 14, Нижний световой потокпадает на диагональную отражающуюгрань призмы 3 и направляется после,пучком. Сигнал с Фотоприемника 14постуг:.ает на синхронный детектор 15,детектирующий амплитуду фототока начастоте звукового генератора 12.Амплитуду фототока измеряют прибо-,ром 1 З,причем переменчая составляющая Фототока пропорциональна раз-,ности хода интерферирующих пучков,в которую входит набег г.ути вследствие рефракции. Действительно,для...

Номер патента: 1213397

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Ангельский, Максимяк, Полянский

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, светорассеивающей, среды

...еЯБ 1 ИЯ 11 (1)и 3.ьт0( 1(1;,:;, Снтт 1 аа ( Я Б",-;(Етгсннгд 0 еть ИЗЛУ -=.-:Ог(тт.3 а : этси синине 1 опо:".т.:(Гь(, Г;.,Иате тдтнтет)(лд 30(;етт.а и( ОльзуР", Г Я 11 а(30 и НГйтг ал( )тьгт сви Гдя)гттьтО(г.,Тзнсхяюгик Бг 1)мнг из сть иктен:.";:.,н:)сть;гн(1)( ( сетан,)тя)т:тит;, )(;)тст 31 е и с.апают ),а Тестте:-. ( б ту(11(сн.Ггс)тяп "зац 110 гньгй б.т(ск"аьта 31 изатООБместс 1.-. юстсэле 1)31. - ;30)(иг блоксрет 51;,(Оа тии Г,Г 1(трат 1 ля из.ге)ения а )т;,1(.,)а )т;ттгт ейной 110 ляси.апии 13(дзттль - тирую 1(1 егс излучения . Йа (10 ду 3151 тОБ Фарадея годается переменное (.ину. Оидальггое Напра.:;ение слзеделенной частот 1 , с помощью чего раскачиББГ т,я т(31 Г)(1(с ть тгсдяригации Г 3 е зуттьтирующегс из 31 ттчения, Бращая ана...

Номер патента: 1213398

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Москалев, Смирнова

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, показателя, преломления

...ближе форма образца к клиновидной,Скорость изменения номера интерференционной полосы по координате находят как производную от ранее найденной аналитической эависимости.Для образца с показателем преломления , помещенным в интерферометр, т,е. в проходящем свете, разность хода 6 запишется в виде а для интерференционной картины вотраженном свете, т.е. при интерференции лучей, отраженных от 1-йи 2-й поверхности образца,где Ки К- порядки интерференции;- длина волны;1(х) - функция толщины образца.Номер интерференционной полосы р) связан с порядком интерференции (М формулой р = 1 - с, где с - постоянная величина. Тогда производная порядка интерференции по координате в проходящем и отраженном свете имеет вид:-= 21 х 1 - ,)-) - ) =21 (х -.5...

Номер патента: 1226199

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Каск, Лексина, Радченко, Скакун, Федоров, Чопорняк

МПК: G01N 21/45

Метки: зависимости, коэффициента, объеме, показателя, постоянном, преломления, среды, температурной

...температуры расплавленной среды на границе твердого и расплавленного состояний внутриобъемной локальной расплавленной зоны; и - коэффициенты теплового ЗЗ тв пл объемного расширения для твердого и расплавленного состояний сред соответственно; К и К модули всестороннего сжа О тв плтия среды образца в твердом и расплавленном состояниях еоответственно, решается соответствующая термоупругость. При этом учтены следующие факторы: геометрия напряженного состояния нагреваемой изотропной среды, создаваемая цилиндрической симметрией, фокусирующей лазерный пучок сферической линзы; термоупругие процес О сы перехода диэлектрической среды из твердого состояния к вязкоупругому и жидкому и связанная с ними релаксация упругих напряжений в приосной и...

Номер патента: 1237960

Опубликовано: 15.06.1986

Автор: Шехтман

МПК: G01N 21/45

Метки: варианты, его, интерферометр, неоднородности, оптической, отражающих, поверхностей, прозрачных, сдвига, сред, формы

...настроенных по схемам,20 изображенным ца Фиг. 1 и 2 25 30 35 40 45 50 55 Расходящийся световой пучок ис,тачцика 1 (Фиг. 1) направлен светоделительной пластикой 2 к исследуемому объекту и зеркалу 3, Отраженный от последнего сходящийся световой пучок разделен светаделительнойпластикой 4 ца два пучка, направленных к зеркалам 5 и 6, В результатеотражения одного лучка ат зеркала 5,а другого от зеркала 6 и светоделительной пластины 7 в плоскости цабгаодения Я имеет место интерферецциакная картина. Зеркало 6 совместно сосветоделительнымк пластиками 2, 7и зеркалам 3 формирует изображение 8источника 1, а зеркала 5 - изображение 9 источника 1. В отличие отзеркала 6 зеркало 5 своей гибкойчастью формирует изображецие 1 О источника 1. Участок...

Номер патента: 1257475

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Альтшулер, Белашенков

МПК: G01N 21/45

Метки: интерферометрическое, лазерное, нелинейности, оптических, показателя, преломления, сред

...возникает интерференция, картина которой регистрируется фотоприемником 7, По изгибу интерференционных полос, возникающему в результате различия нели- Ы нейных набегов фаз световых импуль.сов при их прохождении исследуемой оптической среды, судят о нелинейносУстройство представляет собой двухлучевой интерферометр с фотоприемником для регистрации интерференционной картины, обеспечивающий совмещение оптических трактов интерфериру ющих световых пучков. При этом устраняется снижение контраста интерференционной картины. Контраст интерференционной картины двух световых пучков можно определить по формулег Г;т,сов (иг,-и)Т+ Т где 7 - контраст;1 1 г - интенсивности световых пучков;Ч Ч - набеги Фазы, связанные сдифракцией и рассеянием света на...

Номер патента: 1260773

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Балабанов, Ковтун, Куфтерина

МПК: G01N 21/45

Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, прозрачных, тонкопленочных

...микропроцессором для автоматической обработки данных и расположен таким образом, чтобы его объектив был через одну из граней призмы 2 сфокусирован на исследуемую область изделия 6.Устройство работает следующимобразом. нанесенную на верхнюю поверхность пластины 3, которая разделяет на два потока равной:интенсивности.Первый из них, отразившись от ме" таллической пленки, затем испытывает полное внутреннее отражение от грани призмы ввода излучения 2 и затем при условии под угломМ290 пересекает исследуемое изделие 6 непосредственно у края пластины 3. Второй световой поток, проходя сквозь металлическую пленку попадает на нижнюю поверхность пластины 3 таким образом, что крайние лучи светового потока попадают строго на край ее нижней...

Номер патента: 1260774

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Иванов, Черный

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, рефрактометр

...образованный линзой 7 и перетяжкой 5. Излучение распространяется по световоду 1 к интерференционному датчйкуи отражается от плоского торца световода и от отражающего элемента 2.Отраженное излучение распространяется по световоду 1 и попадает наприемник 4 излучения. Разность ходалучей, отраженных от торца световода 1 и от отражающего элемента 2зависит от показателя преломлениявещества в зазоре между ними. Интенсивность излучения, попадающегона приемник 4 излучения, также зависит от показателя преломпениясреды в зазоре интерферометрическогодатчика, Схема 8 регистрации фиксирует изменение освещенности приемника 4 излучения.В примере конкретного выполнения(фиг. 2) источником излучения служитполупроводниковый лазер, Схема 8 ре"от...

Номер патента: 1270657

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Александров, Власов, Готлиб, Комаров, Молочников, Судьин, Шевкунов

МПК: G01N 21/45

Метки: варианты, его, интерференционно-поляризационный, рефрактометр

...взаимного положения кристаллической пластины и системы отражателей в целом. Неизменность взаимного положения отражателей как в первом, так и во втором вариантах обеспечивается тем, что они жестко соединены между собой.Существенно также, что снижение чувствительности к изменению положения кристаллической пластины позвопяет снизить требования к жесткости Фиксации пластины, что, в свою очередь, обеспечивает снижение термоупругих напряжений, которые могут оказаться различными в пределах светового сечения одной и той же кристаллической пластины.Воэможность появления дополнительного фактора нестабильности, связанного с изменением амплитуды и фазы световых волн при отражениях, в предлагаемых вариантах рефрактометра исключена тем, что...

Номер патента: 1275271

Опубликовано: 07.12.1986

Авторы: Гомонай, Козубовский

МПК: G01N 21/45

Метки: газоанализатор, интерферометрический

...и 3, при отражении от которых образуются три параллельных световых пучка, два из которых (о, Б) проходят через сравнительную кювету 4, а тре тий (В) - через рабочую кювету 5.Отражаясь от отражателя б, лучи повторно проходят через те же кюветы, и снова попадают на светоделительные пластины 2 и 3. При отражении от передней поверхности пластины 3 и поверхности раздела пластин 2 и 3 интерферируют лучи а, 6 , прошедшие только сравнительную кювету 4. При отражении от задней поверхности пластины 2 и передней поверхности пластины 3 интерферируют лучи д, 6, причем луч 6 проходит"через рабочую кювету 5. Интерференционные картины с помощью объективов 7 и 8 проектируются на соответствующие фотоприемные линейки 9 и 1 О, Положение интерференционной...

Номер патента: 1278689

Опубликовано: 23.12.1986

Автор: Рокос

МПК: G01N 21/45

Метки: кристаллов, оптических, параметров

...состояниемполяризации, при котором проходитсквозь исследуемый кристалл без изменений, Азимут с.р и эллиптичностьр соответствует собственному вектору Р, при этом выходной сигнал равен нулю (интерференционный членотсутствует). Через схему обратнойсвязи отключают модуляцию эллиптичности на кристалле 3, прекращаютвращение полуволновых пластинок 7и 8 и тем самым фиксируют параметрыЫ и ф луча а,р2. Когда известны параметры собственных векторов, определяют ко 1 о Рэффициент поглощения Х = . -- . Дляэтого включают вращение прерывателя14, который с частотой -1 поочередно прерывает оба луча интерферометра, Величину Хр определяют по ампли"туде выходного сигнала узкополосного усилителя 17, настроенного начастоту о3. Фазовое смещение луча а 1...

Номер патента: 1286961

Опубликовано: 30.01.1987

Автор: Соколов

МПК: G01N 21/45

Метки: двухчастотный, интерферометрический, рефрактометр

...выражениями 1 Я = ( -- 1) и ИЬЬ. сЭ, ч,( -- 1)ч, ЫЫЯ,( - 1) г г гЗависимость (1) позволяет для данного исследуемого вещества с высокойточностью связать величины фазовыхскоростей света ч, и чг (а следовательно, и показатели преломления и,и пг) с частотами излучения , и 1 г(или длинами волн 9, и Ъг ), например,по известной ч можно определить фазовую скорость ч Вывод формулы (1) сделан с учетом следующих рассуждений.Путь ЬЬ в исследуемом веществе свет проходит за время С = й Ич, где ч - фазовая скорость света. За это же время с второй луч интерферометра проходит в воздухе путь ЬЬ(ч, где с - скорость света в воздухе. Следовательно, опережение составляет величиЬЬну - с - Ь Ь, что дает смещениелиний ьЬ с.в интерферометре Б = ( --...

Номер патента: 1312466

Опубликовано: 23.05.1987

Авторы: Ганжерли, Гуревич, Катушкина, Константинов, Маркелов, Маурер, Черных

МПК: G01N 21/45, G01N 27/26

Метки: денситометр, медицинский

...через блок 13 управления.13124 Во втором варианте момент завершения процесса определяется автома 20 тически, сравнивая сформированную интерференционную картину с заложенной в память микроЭВМ интерференционной картиной конечного состояния, При недостаточном разрешении проводятся операции по повышению точности и улучшению разрешения полученных фракций, для чего производится изменение периода полос несущей частоты. Отключение системы осуществляется аналогично рассмотренному выше варианту.В примере конкретного выполнения в качестве источника света используется лазер ЛГ, Через электромагнитный затвор 2, светоделитель 3, узел 4 формирования несущей частоты, представляющего собой плоскопараллельную пластинку толщиной 2 мм на поворотной...

Номер патента: 1318859

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Глухенька, Гришко

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления

...13 и 15 (для левой половины ход лучей симметричен показанному), Лучи первой эоны 12-13 проходят через две стенки трубчатого объекта и внутреннее отверстие и выходят под углом О Лучи второй зоны 13-15 входят в него, испытывают полное внутреннее отражение на границе внутреннего отверстия и выходят из под углом 6 . Лучи третьей зоны 15-16 выходят под углом 95Углы выхода лучей из трубчатого объекта определяются соотношениями, полученными аналитически для каждой из зон;1 1 . 1 8, =2(агсз 1 п -- агсз 1 п + агсздп -а папЬ (1) 1 э 1 э 0 =2 ( атс з 1 п 1-атс з п - + а тс и дп --Э па пЬ(3) где 0 (1 с а; а 1 э па; па 1 Ъ - переменные величины, характеризующие удаление входа лучей от оси пучка излучения, проходящей через центр трубчатого...

Номер патента: 1323925

Опубликовано: 15.07.1987

Автор: Гурский

МПК: G01N 21/45

Метки: водного, слоя, характеристики, частотно-контрастной

...7, 8, 10 и 11 раздель но поступают на вход блока 12 регист. рации и обработки данных, который собран на базе стандартных радиоэлектронных элементов,Устройство работает следующим образом,Излучение от источника 1 света, вкачестве которого может быть использован, например, мощный светодиод,мадулируется с помощью модулятора 2,Последний позволяет осуществить эффективную фильтрацию полезного сигнала, отделить его от постоянной составляющей Фоновой засветки и работатьс усилителями переменного напряжения,После модулятора излучение попадаетв ГтерестраиваемьГй интерферометр 8,в котором разцеляется на два взаимно когерентных пучка, сходящихся,навходной линзе каллиматора 4, Излучение на выходе коллиматора представля ет собой результат...

Номер патента: 1323926

Опубликовано: 15.07.1987

Авторы: Барихин, Зейликович, Карнаухов, Недолугов, Спорник

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, сред, фазовых

...кубик 5интерферометра 6. После входногосветоделительного кубика 5 излучение обоих лазеров, имеющее взаимноперпендикулярную поляризацию, проходит через оптическую схему интерферометра 6 и делится выходным светоделителем интерферометра на дваканала.В каждом из каналов излучение про ходит через анализаторы 12 и 13,представляющие собой поляризаторы,скрещенные друг с другом под углом90 , причем оптическая ось одного изполяризаторов совпадает с плоскостью 15поляризации одного из зондирующихизлучений. Таким образом, анализаторы 12 и 13 осуществляют селекциюзондирующего лазерного излучения пополяризации и на регистраторы 10 20и 11, расположенные за анализаторами, попадает излучение только одногоиз зондирующих источников света. Каждый из...

Номер патента: 1330519

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Демидов, Живописцев

МПК: G01N 21/45

Метки: оптических, теневой, элементов

...участок дБ фотопластины 13, оптически сопряженный с элементарной площадкой ЙБ. Освещенность площадки ЙБ, такимобразом пропорциональна составляющей ЗОтангенциального отклоненияв участке волнового Фронта, сформированном элементарной площадкой ОБ контролируемой поверхности. При этом соответствующая элементарная площадИка йБ фотопластины 11, установленной симметрично фотопластине 13 относительно оси 00, имеет нулевую освещенность, так как на нее свет от участка ЙБ не попадает. Таким образом, щ в плоскостях расположения Фотопластин 11-14 формируются четыре теневые картины, которые попарно содержат взаимодополняющую информацию о составляющих тангенциальных отклонений сформированного поверхностью 6 волнового фронта в двух взаимно...