Теневой способ измерения аберраций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 103230
Автор: Уханов
Текст
М 1 ОЗ 2 ЗО Класс 42 Ь, 35 о 1 СССР Все"оючтентио-технюз,сбюбпуотека МБд ИЯ ИЕ ИЗОБР ЛЬС ТОРСКОМУ СБ ТЕНЕВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АБЕРРАЦИЙаявлено 7 октября 1950 г, за М 05268/436275 в Гостехн редмет пзоб е Теневой спосоо пзмер оптцческцх сцстем, о т л тем, что, с цельго увели ности п повышенця ярко ной картцны, в плоское щслн теневой установки, но цлц вдоль оптической ют сетку с узкпмц прям зовымц экранамц псремс ения аберрацийпчающцйся гения контрастстц дцФракционтп пзооражснпя псрпендцкуляросц, персмещаолцнсйнымц Фанной ширины. Известные способы измерения аберраций прн помощи теневых устройств основаны на применении непрозрачных экранов, например, лезвия ножа, нити, щели решеткц цлн экрана с Фигурным вырезом п т. п.Способы, основанные на прцмененцц непрозрачных цлн цветных решеток, пригодны для измерения только больших аберрации.Способы, в которых попользуется в качестве экрана тонкая нить, также непригодны для измерения малых аоерраций пучков с малым апертурным углом.Предлагаемый тепевой спосоо позволяет измерять аберрациц независимо от цх величины.Измерения производятся прн помощи узкого прямолинейного Фазового экрана, перемещаемого микрометром.Сущность способа заключается в том, что вместо непрозрачной нити, применяемой при обычном теневом способе, вблизи пзображенпя щели теневой установки располагают сетку с узкпмн прямолцнейнымн Фазовыми экранами переменной шцрюны. Получаемое цзображенцс щели,параллельное экранам, оолее яркое и контрастное, чем прц других способах, частцчно плц целиком покрывает один цз узких Фазовых экранов.Прц этом в зрачке теневой установки наблюдаются дцФрагцпонные полосы от Фазового экрана цлц его края.Прн перемещении экрана в направлении, псрпендцкулярном изображению щели, на зрачке теневой установки перемсгцаются дцФракцпонныс полосы. Ло вслц 1 цнс перемещения экрана н величине перемещенця одной пз полос определяют значение аберраццй исследуемой системы.
СмотретьЗаявка
436275-IV, 07.10.1950
Уханов М. А
МПК / Метки
МПК: G01N 21/45
Опубликовано: 01.01.1956
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-103230-tenevojj-sposob-izmereniya-aberracijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Теневой способ измерения аберраций</a>
Предыдущий патент: Учебный прибор для демонстрации вращения магнитов вокруг прямого тока
Следующий патент: Иммерсионный способ измерения показателей преломления
Случайный патент: Аппарат для нанесения покрытий на частицы в кипящем слое