G01N 21/45 — с помощью методов, основанных на интерференции волн; с помощью шлирного метода

Страница 6

Рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1673925

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Коновалов, Лебедев, Мамакина, Прытков

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...3, Как известно, свет взаимно ортогональных поляризаций не интерферирует. Все перечислен н ые отражен н ые пучки сводятся светоделителем 2 в один, направленный на двулучепреломляющую призму 9. Призма 9 выделяет из падающего на нее излучения два пучка ортогональных поляризаций, направленных под углом друг к другу на счетчики интерференционных полос 10 и 11, Она установлена таким образом, что направления поляризации исходящих иэ нее пучков совпадают с направлениями поляризации, задаваемыми скрещенными поляризаторами 4 и 7. В результате на одном иэ счетчиков полос наблюдается интерференция пучка, отраженного зеркалом 3, с соответствующей поляризационной компонентой пучка, отраженного от стенки б, а на другом - интерференция пучка,...

Рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1673926

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Коновалов, Лебедев, Мамакина, Прытков

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...грани АВ кюветы 3, и излучение, прошедшее кювету 3 и отразившееся "назад" от зеркала 4, э на счетчик 8 интерференционных полос - излучение, прошедшее кювету 3 и последовательно отразившееся от зеркала 4 и грани ВС кюветы 3, и излучение, прошедшее через полупрозрачную пластину 5 и отразившееся от зеркала 6. Входные апертуры счетчиков 8, 9 и 10 интерференционных полос ориентируют таким образом, чтобы максимально осла 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 бить возможные паразитные интерференционные сигналы, Для этих же целей допустима раэьюстировка на 1-3 полупрозрачной пластины 5.После юстировки перемещают кювету исследуемого вещества 3 в плоскости грани ВС. При этом происходит изменение оптической разности хода (ОРХ) между лучами,...

Устройство для измерения показателя преломления прозрачных сред

Загрузка...

Номер патента: 1679301

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Бородин, Веселев, Лизунов, Мокрош

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...22 сигналов, нуль-индикатора 23 и процессора 24Устройство работает следующим образом, 1679301Параллельный пучок источника 1 моно- хроматического света делится светоделительным элементом 6 на две равные части, одна из которых при помощи светоделительного элемента 2, уголковых отражателей 3 и зеркал 4 и 5 образует интерференционную картину в основном интерферометре считывающим регистрируемым устройством 21, а вторая часть при помощи зеркал 8-11 уголковых отражателей 12 и светоделительного элемента 7 - интерферирующую картину во вспомогательном интерферометре считывающего регистрирующего устройства,По заданной программе процессор 24 управляет механизмом 17 перемещения вакуумных камер 13, при этом считывание полос осуществляется...

Способ определения температуры

Загрузка...

Номер патента: 1682829

Опубликовано: 07.10.1991

Автор: Беркутов

МПК: G01K 11/00, G01K 13/00, G01N 21/45 ...

Метки: температуры

...образом.Между верхней и нижней плитами нагрузочного устройства располагают модель молотового штампа 3, в нижней части которого на его гравюру передается тепловая нагрузка от модели поковки 4, которая предварительно нагрета до более высокой температуры, чем сама модель, На модель сверху передают усилие Р через индентор 5 от плиты 1, Модель просвечивают поляризованным светом, в результате чего появляется картина интерференционных полос 6. Изменением величины силы осуществляют совмещение минимума освещенности первой интерференционной полосы с исследуемой точкой, замеряют размер первой полосы от точки приложения силы к модели до точки пересечения первой интерференционной полосы с линией направления действия силы.По величине силы Р и размеру...

Способ определения показателя преломления прозрачных слоев на прозрачных подложках

Загрузка...

Номер патента: 1693483

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Бендерский, Ржевский, Рупчев

МПК: G01N 21/45

Метки: подложках, показателя, преломления, прозрачных, слоев

...нормальны к зондирующему излучению, Один пучок проходит сквозь исследуемую пленку и подложку, другой - через подложку без пленки,Линия г.рорези перпендикулярна осивращения пластинки, а сама ось вращениялежит в плоскости зондирукгщих пучков. Отъюстированное на бесконечную полосу излучение интерферометра попадает на оптическое приемное устройство 9, электрический сигнал которого подается на один из входов двухкоординатного самописца, Второй вход самописца соединен с потенциометром, напряжение на котором пропорционально углу поворота образца,Включение двигателя разворота пластинки приводит к одновременному изменению напряжения на выходе оптического приемного устройства и напряжения на потенциометре, отсчитывающем угол поворота 25 30 35...

Способ определения формы воспроизводимой поверхности раздела двух сред, движущейся в канале

Загрузка...

Номер патента: 1693484

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Данилов, Тарасенко

МПК: G01N 21/45

Метки: воспроизводимой, движущейся, двух, канале, поверхности, раздела, сред, формы

...2 зп а 4 = пст зп а 5;пзп а 5 = пв зп аб;да =ав - а,где пв,пта, п 1, п 2 - показатели преломлениясоответственно воздуха, стенок канала, среды перед поверхностью раздела и среды заповерхностью раздела;а, а 2, аз, а, а 5, аб - угл ы наклонапучка к плоскости поперечного сечения среды в канале соответственно в воздухе допрохождения через исследуемые среды иканал в ближней к источнику излучениястенке канала, в среде 1 до пересечения споверхностью раздела, в среде 2 после пересечения с поверхностью раздела, в дальней от источника излучения стенке канала,в воздухе после прохождения через канал иисследуемые среды,Решая эту систему для всех возможныхр при заданных и и а, получают зависимость Р ( ф углового отклонения луча д аот угла грот...

Способ определения профиля показателя преломления оптических неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 1695184

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Нагибина, Преснов, Хопов

МПК: G01N 21/45

Метки: неоднородностей, оптических, показателя, преломления, профиля

...из пучков, а две другие установлены с возможностью равномерного перемещения в двух взаимнб ортогональных направлениях в ходе пучка,.падающего на контролируемый объект, кювету 6 с иммерсионной жидко-. стью и объектом 7 исследования, вторую светоделительную пластину 8 и фотоприемное устройство 9, соединенные со схемой 10обработки сигнала, информационные входы которого соединены с выходами устройства 4 модуляции оптической разности хода и блока 5 длафрагм.Устройство работает следуюш 1 лм образом.Светоделительная пластина 3 разделяет монохроматический гучок света, идущий от источника 1 излучения через оптическую систему 2, которая формирует параллельный пучок света необходимой ширины, на два параллельных пучка и направляет их через...

Оптическая система теневого прибора для исследования неоднородностей в прозрачных средах

Загрузка...

Номер патента: 1695185

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Камалов, Комиссарук, Смирнов, Тогулев

МПК: G01N 21/45

Метки: исследования, неоднородностей, оптическая, прибора, прозрачных, средах, теневого

...и астигматизма, но Вследствие нарушения симметрии опт 1 ческой системы имеет слабую кому. Однако качество изобракенп сс.ается более Высоким по сравнению с известныкьНа ОСНОВЕ даННОй ОПтИЧЕСКОй СИСТЕМС. разрабать Ваю гся интерференционно-теневье приборы ИАБ, ИАБ, ИАБИАБ - 468 и "Поток". Оокусные расстояния Объективов соответственно равны 1840, ,000, 3200, 1000 и 1000 мм при относительном отверстии 1,2. Для получения эмпирическбй зависимости были проведены специальные исследования изменения качества йзобракения Опической системы в зависимости отормы положительной линзы и, линь: обьектива, Выбор соотношений не более : и ДруГих, укаэанных В форму" ле изобре.ения, сделан на основе сравнения мноГих Ваоиантов, В которых В каждом...

Теневое устройство

Загрузка...

Номер патента: 1695186

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Волова, Корлев, Красовский, Наумов

МПК: G01N 21/45

Метки: теневое

...пучком 2 К раз прошедшим через исследуемый объем, и каждое соответствующее теневое изображение, которое может быть ими образовано, отличается по контрасту визуализируемых неоднородностей от аналогичных изображений, которые могут быть образованы пучками, прошедшими через исследуемый объем иное число раз.Яркость каждого теневого иэображения (в фоновой его части), образованного от пучка следующего порядка, ниже предыдущего в К= р р 1 т тср раз за счет уменьшения яркости светового пучка при отражении от светоделительного покрытия с коэффициентом отражения р и от АК-зеркала с коэффициентом отражения р 1, а также из-за поглощения в клине с коэффициентом пропускания т и в исследуемой среде, находящейся между клином и АК-зеркалом с...

Интерференционный способ измерения показателей преломления монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1702259

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Алексеев, Филимонова

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, монокристаллов, показателей, преломления

...направлению распространения света в кристалле отвечает свое значение (и- п") и соответственно свое значение периода Лпространственной модуляции рассеянного света, а следовательно, и свое 30 значение периода б контрастных интерференционных полос, наблюдаемых со стороны грани кристалла, оротсгональной биссектрисе угла между соответствующими главными осями оптической индиктрисы, 35Именно это и определяет возможность, облучая кристалл, например, в двух различных направлениях (,в той или иной плоскости облучения и измеряя периоды б; и б соответствующих интерференционных кар тин, а также зная длину волны Аобпучающего кристалл света, определить численные значения разности показателей преломления (и- и") и(п - и") в данном направлении в...

Шахтный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1703994

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Лисогорская, Салоид

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр, шахтный

...2 и после отражения на входном поворотном зеркале 3 попадает на вход призмы Кестерса 4. В этой призме происходит разделение светового пучка на два потока, параллельно выходящих из призмы Кестерса 4. Один луч с выхода призмы Кестерса 4 проходит только в полости. заполненной эталонной газовой смесью 5. а другой луч - только в полости, заполненной исследуемой газовой смесью б, Обд луча, пройдя соответственно камеры 5 и б, отразившись от уголкового отражателя 7, далее снова через камеры 5 и б поступают нд компенсирующую призму 8, После отражения от компенсирующей призмы 8 оба луча снова проходят камеры 5 и б и, отраэившсь от уголкового отражателя 1, через камеры 5 6 поступают после отрджения от боковых граней призмы Кестерса 4 на ее...

Устройство для измерения градиента показателя преломления

Загрузка...

Номер патента: 1704038

Опубликовано: 07.01.1992

Автор: Гуменник

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, показателя, преломления

...фильтра 5, который располагается о фскальной плоскости приемного объектива 4. При этом, так как характеристики пространственного фильтра согласованы с характеристиками источника излучения (например, щелевой источник излучения - нож Фуко), то через пространственный фильтр проходят лишь те соетовые лучи, которые были отклонены неоднородностями объекта от направления невозмущенного распространения. Прошедшие через пространственный фильтр 5 лучипопадают о блок б регистрации теневой картины объекта, в котором происходит формирование и регистрация теневой картины объекта,Одновременно с широким световым пучком объект эснд руется узким лазерным пучком, который генерируется лазером 7, и после отклонения дефлекторсм 8 направляется о...

Способ определения размеров оптических неоднородностей твердотельных сред

Загрузка...

Номер патента: 1487641

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Альтшулер, Балашенков, Иночкин, Романов, Студеникин, Храмов

МПК: G01N 21/45

Метки: неоднородностей, оптических, размеров, сред, твердотельных

...волны излучения. 35При прохождении через исследуемый активный элемент с оптическими неоднородностями коллимированного лазерного излучения Формируется картина интерференции невозмущенной коллимированной составляющей светового потока и волны, рассеянной на оптических неоднородностях,В оптической среде имеется одиночная Фаэовая неоднородность шарообразной формы с радиусом а. Направим ось Е в сторону распространения коллимированного пучка лазерного излучения с волновым вектором К. Для достаточно большой (по сравнению с длиной волны света) Фазовой неоднородности пучок приобретает на ней дополнительный Фазовый набег Ч(г) (г - поперечная к оси Е радиальная .йкоордината), который сохраняется приближенно на всей длине образца. Тогда...

Пластинчатый влагочувствительный элемент

Загрузка...

Номер патента: 1711058

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Астанов, Власкин, Прищепов

МПК: G01N 21/45, G01N 25/68

Метки: влагочувствительный, пластинчатый, элемент

...комнат 30 ной температуре в течение 1 ч до образованиятиксотропного геля. Кусочек геляобъемом примерно 1 мм помещали на пло 3скость каждой пластины и растирали в одном направлении по площади примерно 535 см: В процессе растирания молекулы водыиспарялись из тонкой пленки псевдоизоци-,анинхлорида, толщина которой порядка0,001 мм, Растирание проводили двумя пластинками в одном направлении, и на пло 40 скостях этих пластинок получалисьодноосно ориентированные пленки агрегированного псевдоизоцианинхлорида, длякаждой из которых измеряли угол негиротропного поворота плоскости поляризации в45 длине волны 550, 562 и 575 нм. Углы негиротропного поворота плоскости поляризации соответственно равны 2, 3,2 и 1,8.Выбрав длину волны линейно...

Способ определения показателя преломления конденсированного газа

Загрузка...

Номер патента: 1721477

Опубликовано: 23.03.1992

Авторы: Желтобрюх, Подкорытов, Шнырев, Яровиков

МПК: G01N 21/45

Метки: газа, конденсированного, показателя, преломления

...для Л 1 и поглощающей для Лг, а сдвиг фаз р находят по формуле Р=- Л -Лг), Л С 12б 1 где б 1 и бг - расстояния на интерферограммах от начала координат до первого минимума для Л 1 и Л 2 соответственно.Повышение точности стало возможным благодаря выбору в качестве измеряемой величины разности фаз двух интерферограмм. Эту разность фаз представляется возможным измерить в малый отрезок времени, за который практически не сказывается влияние изменения структуры криоосадка, Выбор в качестве измеряемой величины разности фаз накладывает жесткие условия построения интерферограммы, а именно параллельности падения излучения на образец в обоих случаях,Выбор математической обработки результатов измерения ставит условием строго определенное...

Способ измерения угловой атмосферной рефракции и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1755124

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Виноградов, Лебедев

МПК: G01N 21/45

Метки: атмосферной, рефракции, угловой

...согласно заявляемому изобретению, разность хода 40 пучков модулируют по гармоническому закону в одном из приемных каналов, разлагают сигнал в частотный спектр и измеряют амплитуды гармоник, по которым определяют амплитуду модуляции, выделяют первую 45 и вторую гармоники сигнала для двух длинволн Л 1 иЛг, а угол реФракции г находятпо соотношениюг = кЛ В ( агс 1 ц а - агстц.Ь 3 (1)- 1 Л 1 Лг2 л 2 л50где(,О 1) г(Л)а О, (2)А (2 Лд- ) 11(Л 1)л 1 ( 2 тг Л - ) 1 г (Лг )ООповорачиваться вокруг оси, перпендикулярной плоскости чертежа в пределах 40 - 48 О.Покрытие зеркал М 2 МЗМ 11 - внешнее, М 4 -внутреннее. Толщина М 4 равна толщинекомпенсатора К. Фильтр Г (спектроделитель) - интерференционный; отраженный отнего свет по спектральному...

Устройство для определения показателя преломления

Загрузка...

Номер патента: 1755125

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Александров, Черных

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления

...устройства, что уменьшает вли тоделителя 2 формирует в своей фокальной яние вибраций, и пространственно распо- плоскости интерференционйые полосы. Реложены близко друг к другу, что уменьшает гистрация и обработка интерференционной влияние конвекционнйх потоков воздуха,. картины осуществляется системой анализаВозможность проведения измерений интерференционной картины 7,. При раэвопри больших углах разворота образца обес роте исследуемого образца 8 с помощью печивается путем устранения смещения ин-. устройства поворота 5 фаза светового пучтерферирующих световйх пучков в области ка; прошедшего через образец, изменяется, формирования интерференционной карти- что приводит к перемещению...

Способ ориентации одноосных оптически прозрачных кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1770849

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Войтукевич, Лапицкий, Лившиц

МПК: G01N 21/45, G03H 1/00

Метки: кристаллов, одноосных, оптически, ориентации, прозрачных

...монохроматическим когерентным излучением. обеспечивающее достижение положительного эффекта - повышение точности определения ориентации оптической оси кристалла, Следовательно, заявляемыйспособ ориентации одноосных оптическипрозрачных кристаллов представляет собой новую совокупность признаков как сочетание известных признаков и нового технического свойства, что позволяет признать его соответствующим критерию "существенныеотличия",На чертеже представлена оптическая схема устройства, реализующего предлагаемый способ,Схема устройства содержит источник 1монохроматического плоскополяризованного когерентного излучения, двухосевой20 гониометр 2, исследуемый кристалл 3, систему 4 сбора оптической информации и оптический регистратор 5.Процесс...

Способ определения профиля показателя преломления оптических неоднородностей и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1777053

Опубликовано: 23.11.1992

Автор: Преснов

МПК: G01N 21/45

Метки: неоднородностей, оптических, показателя, преломления, профиля

...потерями света при помощи поляриэационного светоделителя на дьа пучка света в соответствии е 50 поляризацией падающего излучения. Эти пучки формируют две интерференционные картины, каждая из которых образована световыми пучками одной длины волны. При изменении разности оптического пути между первым и вторым пучком в плоскостях регистрации формируются изменяющиеся во времени интерференционные картины. Фотоприемные устройства последователь 45 вмещают при помощи второй светоделительной пластины с металлическимно во множестве соответствующих точек поля интерференции синхронно регистрируют интерференционные картины, интенсивности которых определяются выражениями11(1) = 2 А 12 1 + сов 2 1 г ( Ь - Л Ф(1)/ Л 12(1) - 2 А 2 1 + сов(2 7 г( Ь - Ь...

Способ определения показателя преломления жидкостей в капиллярах

Загрузка...

Номер патента: 1824545

Опубликовано: 30.06.1993

Авторы: Дорошевич, Ильин

МПК: G01N 21/45

Метки: жидкостей, капиллярах, показателя, преломления

...расстояние, е =А/2 э 1 п (а/2)-цена интерференционной полосы на стороне обьекта, 1 - длина волны света, а- угол сходимости пучков.Иэ теории оптических приборов известна формула линзы, которая для двухкомпонентной оптической системы, какой является капилляр (п 1 - показатель преломления стекла, п - показатель преломления личиной в этой формуле уемый сдвиг фаз Ьр, оспостоянны и могут быть тельное устройство как ения, Пусть С 1=бее с/Не. 1) и Се= 201. В плоскости изображения формируются две системы интерференционных полос: центральная и боковая, Период полос центральной интерференционной картины (ИК) функционально связан с г 1, с, пз, п 2, а период полос боковой ИК связан только с г 1, г 1.Фиксируя сдвиг фаз Ьр 1 в боковой...

Способ определения фотоиндуцированного двулучепреломления в светочувствительной пленке

Загрузка...

Номер патента: 1835505

Опубликовано: 23.08.1993

Авторы: Любин, Тихомиров

МПК: G01N 21/45

Метки: двулучепреломления, пленке, светочувствительной, фотоиндуцированного

...), Е =(и+ составляющей пропускания при модуляции2 ЖИ 2 2 2 2 )3 2 з дполяризаций непоглощаемого излучения с 4 ж 1 пц щ,заданной частотой. Эта необходимость слефср . 2, Поскольку наиболь дует из того, что явления ФДв и фоторефракции в фоторефрактивных пленках шие из известных значений фоторефракциине превосходят 0,1, а величина и обычно Фдв ведет к появлению анизотропии пролежит в диапазоне 1,5.4, то с точностью пускания ЬТ, возникновение фоторефрак% можно принять, что значения величин А, В, С, не изменяются из-за фоторефрак Т, т.е, изменению пропускания в обеих поции. Изменение Т из формулы (1) происхо ляризациях Г ц и Е 1, Сильная.фоторефракдит практически только из-за изменения ция ведетктому,что п-пц иТц -Т связаны .величины р и соз...

Интерференционный способ измерения абсолютного коэффициента преломления

Загрузка...

Номер патента: 1554573

Опубликовано: 30.11.1993

Автор: Бондаренко

МПК: G01N 21/45

Метки: абсолютного, интерференционный, коэффициента, преломления

...14 служит винт с микро- метрической резьбой. В качестве регистратора 9 интерференционной картины использован приемник электромагнит- наго излучения с соответствующей областью спектральной чувствительности с токаизмерительным прибором (например, для белого света используют фотодиод ФД КП с микроамперметром М, а также . коан для визуальной регистрации интерфе,;е.;цианной картины), В качестве фотопримка 24 используют фотодиод ФДКП,Способ осуществляют следующим образом, Для создания интерференционной картины в вакууме освещают интерферометр 1 источником 6 широкополосного излучения через конденсор 7 и прозрачное окно 8. Перемещением отражательного элемента 5 с помощью механизма 14 перемещения добиваются получения интерференционной карти н ы...

Устройство для измерения показателя преломления газов

Номер патента: 1496458

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мищенко, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/45

Метки: газов, показателя, преломления

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ГАЗОВ, содержащее источник излучения, оптически связанный с двумя последовательно установленными полупрозрачными зеркалами, и расположенные последовательно по ходу прошедшего через них излучения рабочую кювету, первый отражатель и третье полупрозрачное зеркало, оптически связанное с первым фотоприемником, второй отражатель и первую секцию сравнительной кюветы, выход которой оптически связан с третьим полупрозрачным зеркалом, установленные по ходу отраженного от второго полупрозрачного зеркала излучения, четвертое полупрозрачное зеркало, оптически связанное с вторым фотоприемником, вторую секцию сравнительной кюветы и третий отражатель, установленные по ходу излучения, отраженного от первого...

Интерференционный рефрактометр

Номер патента: 1498192

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мищенко, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, рефрактометр

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ РЕФРАКТОМЕТР, содержащий два интерферометра, первый из которых включает источник коллимированного белого света, оптически связанный с первой светоделительной пластиной и установленными по ходу прошедшего первую светоделительную пластину излучения измерительной кюветой, первым зеркалом, а также установленным по ходу отраженного от первой светоделительной пластины излучения вторым зеркалом, второй светоделительной пластиной, оптически связанной с первым фотоприемником, соединенным выходом с входом блока регистрации нулевого положения ахроматической полосы, а второй интерферометр включает источник монохроматического излучения, оптически связанный с третьей светоделительной пластиной и установленным по ходу прошедшего третью...

Интерференционный способ измерения показателя преломления газа

Номер патента: 1322790

Опубликовано: 30.05.1994

Автор: Мищенко

МПК: G01N 21/45

Метки: газа, интерференционный, показателя, преломления

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ГАЗА, включающий пропускание четырех коллимированных лучей через четыре соответствующие им кюветы интерферометра Рэлея, жестко скрепленные между собой, попарное сведение лучей с формированием двух интерференционных картин, введение в одну из кювет исследуемого газа и изменение параметров его состояния, определение изменения порядка интерференции по изменению взаимного смещения интерференционных картин по окончании изменения параметров состояния газа, по которому судят о показателе преломления газа, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, по окончании изменения параметров состояния газа кюветы вращают в двух различных плоскостях, параллельных оптической оси...

Способ измерения показателя преломления жидкости и газа в турбулентных потоках

Загрузка...

Номер патента: 1626855

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мартиросов, Мищенко, Петухов, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/45

Метки: газа, жидкости, показателя, потоках, преломления, турбулентных

...26 компенсации, установленного в одном из плеч интерферометра 14, и блок 27 управления элементами 25 и 26 компенсации. Наконец, рефрактометр содержит микроЭВМ, связанную двумя информационными входами с выходами блоков 13 и 23, а управляющим выходом - с входом блока 27, Элементы компенсации можно выполнить, например, в виде плоскопараллельной стеклянной пластины или кювет с контрольным газом,Рефрактометр работает следующим образом,Источник 2 белого света интерферометра 1 формирует с помощью светоделителя 3 и зеркала 5 деа луча белого света, один из которых проходит через камеру 7 с исследуемым потоком, а другой - через вакуумированную камеру 8, Прошедшие камеры 7 и 8 световые лучи собираются светоделителем 4 и зеркалом 6 с...

Способ регистрации изменений порядка интерференции

Номер патента: 1410647

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Гришин, Мищенко

МПК: G01N 21/45

Метки: изменений, интерференции, порядка, регистрации

СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ ИЗМЕНЕНИЙ ПОРЯДКА ИНТЕРФЕРЕНЦИИ по смещению полос интерференционной картины, заключающийся в осуществлении периодической модуляции порядка интерференции с периодом Tм, определении значений дробной части интерференционной полосы для каждого периода модуляции, определении изменений дробной части интерференционной полосы в моменты начала смещения полос и окончания, определении изменения числа целых интерференционных полос Q в смещении полос путем условного разбиения интерференционной полосы на три зоны и определения...

Способ определения показателя преломления прозрачных твердых тел

Номер патента: 1584555

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мищенко, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, твердых, тел

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ ТВЕРДЫХ ТЕЛ, заключающийся в формировании первого и второго когерентных монохроматических световых пучков с длиной волны излучения , пропускании первого светового пучка через исследуемый образец, выполненный в виде плоскопараллельной пластины, сведении первого и второго световых пучков с образованием первой интерференционной картины, изменении путем поворота исследуемой пластины угла падения на пластину первого светового пучка от 0 o до , измерении величины изменения порядка интерференции N1 для первой интерференционной картины при...

Интерференционное устройство для измерения дисперсии вещества

Номер патента: 1231987

Опубликовано: 30.05.1994

Автор: Мищенко

МПК: G01N 21/45

Метки: вещества, дисперсии, интерференционное

1. ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИСПЕРСИИ ВЕЩЕСТВА, содержащее интерферометр с оптическим уголковым элементом, оптическая ось интерферометра является оптической осью устройства, M лазеров, оптические оси которых параллельны оптической оси устройства, а выход интерферометра электрически связан с последовательно соединенными блоком измерения дробной части интерференционной полосы, блоком регистрации целых интерференционных полос, коммутатором, один из управляющих входов которого соединен с выходом блока измерения дробной части интерференционной полосы, M регистрами памяти, выходы которых соединены с блоком вычисления, а также генератор пилообразного напряжения, выход которого соединен с преобразователем поворота, кинематически...

Устройство для измерения оптических разностей хода в фотоупругих материалах

Номер патента: 1808210

Опубликовано: 20.04.1995

Автор: Болдин

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: материалах, оптических, разностей, фотоупругих, хода

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ РАЗНОСТЕЙ ХОДА В ФОТОУПРУГИХ МАТЕРИАЛАХ, содержащее последовательно установленные и оптически связанные источник излучения, двухлучевой интерферометр с поляризаторами с взаимно перпендикулярными плоскостями поляризации в каждом плече интерферометра, компенсатор, анализатор и жидкостную кювету для исследуемого материала, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности измерений, источник излучения выполнен немонохроматическим, устройство снабжено дополнительным поляризатором, плоскость пропускания которого составляет равные углы с плоскостями пропускания поляризаторов в плечах интерферометра, установленным за источником по ходу излучения, эталонной пластиной, установленной в одном из плеч...