Способ наблюдения теневой картины
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 188061
Автор: Забелин
Текст
Соое Советских Социелиотическик Республикиорите Каиитет па лелзм обретений и открыт ри Совете Министра СССРОпубликовано 20.Х.1966. БюллетеньДата опубликования описатпгя 6.Х 11.196 Авторизобретен. Л, Забели аяви СПОСОБ НЛБА 1 ОДЕНЛЯ 1 ЕНЕВО ТИНЬ 1 2 вые пучтной чаи проеость ноооъек кц пр сти 5 пирую жа 7,оходят и пол т изоб где фо ина Чтобы получить изооражение. теневои картины в другом сечении, используют щель 8 другого тенсгого прибора, из которой световые пучки, отразившись от полупрозрачной и;астицы б, проходят через объектив 5 и исследуемый объект 4 в обратном направлении и объективом 8 (которьш в данном случае играет роль объектива приемной части) после отражения от полупрозрачной пластины 2 фокусируотс 5 ца цож 9, где и образуется втора 5 ТееЛя картина.Так как обе щели 1 и 8 и оба ножа 7 и 9 поворачигаются независимо друг от друга, можно одновременно наблюдать две теневые картины с независимыми настройками в двух произвольно выбранных сечениях,Ухудшец ваемос и пои, )оц цых одной цз ской осц ми оборач пласпш. тУстройство мого способа фиг. 2 изобр Свет. цап 1 щель 1 тепе.; лупрозрачцуо ектив коллцмаизооражения, вызы.плоскопар аллельных устраняют поворотом а 90- вокруг оптичевводом х 5 ежд,ннзастемы разделительной пе качества римецецием5;-аспшок,и, синок и системы цлишающей с О (фиг. 2). для осуществления представлено ца жена оборачиваоп авлсццый коцдецс го прибора, пройд пластиу 2, попал тора 8 и далее цапредлагаефпг. 1; ца ая система. ором спсз я сквозь цоает ца объьсслсдуемый 3 Известные способы одновременного наблюдения теневой картины в двух плоскостях, заключающиеся в освещении объекта через щель теневого прибора и формировании объективом коллиматора соответствующе о изображения. требуют примсцсия сложных оптических систем и поляроидов.Предлагаемый способ позволяет наблодать теневую картину в двух произвольно выбранных сечениях с независимыми наст ройками картины и расширить объем ицфорвации о распределении плотностей в аэродинамических полях. Он отличается тем, что наблюдаемый обьект освещают двумя анги- параллельными световыми пучками, направи ляемыми через щели двух теневых приборов и объективы коллиматоров, одновременно являющихся приемниками для встречных пучков, Световые пучки разделяются полупрозрачными параллельными пластинами, уста 2 навливаемыми лиоо в световых пучках. либо между лицзами оборачивающей системы. атем отклоненные свето сквозь объектив прие.прозрачную пластину б ражецие щели в плос рмируется теневая кар(.Оетавптегп 1 д. И. И.лепко Р,.1;коБ. Б. Фе Отов 1 кр;Л. . Кпппикепа ПррекОрь С. Н. Соколова1,Ч. Курд ововаЗаказ 3641,13 Т:рая; МО 11 ора бу., 6 ьХ 901,в )Гьек 0,16 изд. л. 1 ОдппеноеЦИИПИ Коиет 1 по;1 етам и;ОГрете;и и открь: пн прп Ггьете М и 1, гргпМоекп;1, Ц.нтр пр. Срон, .1, .1 Типография, пр. Гапуноеа 2 Способ наблюдения теневой картины, заключд 1 опцйся н освс 1 цснии ндбл оддемого объекта с последующей регистрацией полученного теневого изображения, ит.тчаОц 11 йся тем, что, с целно одновременного 11 дблю,ення тепе гой картины в двух произвотпно выбрдн 11 ых сечениях с:1 ездвцсимымц настройками теневой картины и расширения объе;1 д нпфо(Т 1 дциц о распределении плотпостсй в аэродинамических полях, наблюдаемый объект освеца от двумя антипаралг:сл 1 н 1 ми световыми пучками, направляе,1 ымц через цели теневых приборов и объсктив 1 КОТ 1,има 1 торов, ОдноВременно яВляюццхс 11 приемниками встречных пучков, а рдздслснцс световых пучков осуществляют ;1 олупрозрачными пластинами, установленными либо в световых пучках, либо между 10 лпцздми обордчивдющей системы.
СмотретьЗаявка
1025391
А. А. Забелин
МПК / Метки
МПК: G01N 21/45
Метки: картины, наблюдения, теневой
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-188061-sposob-nablyudeniya-tenevojj-kartiny.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ наблюдения теневой картины</a>
Предыдущий патент: Пневматической разгрузки зеркал астрономических инструментов
Следующий патент: Фотоэлектрический спектрополяриметр
Случайный патент: Устройство для контроля технического состояния станков