Способ измерения параметров деформированного состояния деталей

Номер патента: 501272

Авторы: Григорьев, Дашковский, Калин, Скоров

ZIP архив

Текст

Союз Советских Сокналнстических Республик1) Дополнительное 2) Заявлено 16,04,7с присоединением авт. свид) 1908841/25-28 1) М. Кл. С 01 В 19/5 вкисударственный комнте 23) Приоритет публиковано 30,01.76. Бюллетеньовета Министров СССРпо делам изобретений и открытийригорьев, А, И. Дашковский, Б. А. Калин и Д. М. Ско Московский ордена Трудового Красного Знамени инженерно-физический институтНИЯ ПАРАМЕТР ОСТОЯНИЯ ДЕТ Е Для нанесения такого покрыт рованную поверхность образца кладывают шаблон в виде сетк мым размером ячейки и нанося крытие. После снятия шаблона сти образца остается четкая сет ная хрупким покрытием, с про выявленной микросгруктурой. При невысоких величинах(упругие и малые упруго-плас формации) исследование прово трескиванию хрупкого покрытия шем при увеличении деформаци евам искажения делительной сетия на полиплотно наи с необходит хрупкое пока поверхнока, образованмежутками с деформации тическпе дедят по раса в дальней- и по величии. Способ измерен ванного состсяния хрупких покрыти что, с целью расш мых деформаций, в виде делительнои деформиро применение щнйся тем она измеряе ытие нанося я параметро деталей сотличаю ирения диапа хрупкое покр сетки. Изобретение относится к области изучения деформированного и напряженного состояния в образцах при их испытаниях.Известен способ изучения деформированного и напряженного состояния в деталях и об разцах при помощи сплошных хрупких лаковых покрытий.Однако такой способ позволяет исследовать деформированное и напряженное состояние в ограниченном интервале величин 10 деформации. Кроме того, сплошнос покрытие, нане"енное на поверхность образца, пе позволяет проводить при необходимости металлографическое изучение микроструктуры в процессе исследования. 15Цель изобретения - расширение диапазона величин измеряемых деформаций и получение возможности микроскопического наблюдения микроструктуры образца в процессе исследования. 20Это достигается тем, что на поверхности образца, предназначенного для изучения деформации методом оптической микроскопии, хрупкое покрытие наносится в виде дели- тельной сетки. 2 Формула изобретения

Смотреть

Заявка

1908841, 16.04.1973

МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНЖЕНЕРНО ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ГРИГОРЬЕВ АЛЕКСАНДР ЕВГЕНЬЕВИЧ, ДАШКОВСКИЙ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, КАЛИН БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ, СКОРОВ ДМИТРИЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформированного, параметров, состояния

Опубликовано: 30.01.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-501272-sposob-izmereniya-parametrov-deformirovannogo-sostoyaniya-detalejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров деформированного состояния деталей</a>

Похожие патенты