Способ бесконтактного измерения линейных перемещений
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е 1545856ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Саве Сееетских Сарааистиче сках Ресиубаии(45) Дата опубликования описания 11.03.7 72) Авторы изобретен 71) Заявитель, В 54) СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙемопоФормула изобретени Изабретение относится к аптическпм методам измерений линейных перемещений и может быть использовано для измерения деформации при испытании образцов материалов и конструкций.5Известен способ бесконтактного измерения линейных перемещений, заключающийся в том, что на поверхность измеряемого объекта наносят растр, формируют с помощью оптической системы изображение этого растра в 10 плоскости растра-оригинала и по получаемой муаровой картине определяют линейные перемещения, в том числе и деформации объекта 11.Недостатком такого способа является це обходимость нанесения на поверхность измеряемого объекта растра, что не позволяет использовать его для исследования деформаций объектов со сложной конфигурацией.20 Наиболее близким по техни. ской сущности к изобретению является способ бесконтактного измерения линейных перемещений, заключающийся в том, что монохроматическое когерентное излучение расщепляют на 2 два пучка, один из которых направляют на поверхность измеряемого объекта, а второй - на поверхность базового неподвижного объекта, совмещают на входе фотоприемника отраженные пучки, выделяют частоту доппле ровского сдвига и по ней определяют линейное перемещение 2.Недостатком этого способа является невозможность измерения деформации объекта.Цель изобретения - обеспечение возможности измерения деформации объекта.Это достигается тем, что по предлага му способу второй луч направляют на верхность измеряемого объекта.Сущность способа поясняется чертежам.Когерентное излучение 1 (в частности излучение ОКГ) расщепляют ца два параллельных,цучка 2 и 8, которыс направляют на поверхность измеряемого объекта 4, отраженные в базовых точках Л и В пучки 5 и 6 с помощью оптической системы 7 совмещают на входе фотоприемника 8, на выходе которого выделяют частоту допплеровского сдвига и по ней определяют деформацию объекта,Изобретение может быть использовано для измерения деформаций объектов сложной конфигурации с высокой скоростью нарастания деформаций,Способ бескоцтактного измерения линейных перемещений, заключаюгццйся в том, что монохроматцческое когерецтцое излучение расщепляют на два,пучка, один цз кото545856 3 алый оставитель ЕТехред Н. ектор В. Гутча Подписно СССРедактор И етанина Изд416 сударственного ком по делаьн нзобрет Москва, Ж, Рау Заказ 76/14 Тир итета Советний и откр шскаи паб.,П 4 ИПИ ред, Патент и, Харьк рых направляют на поверхность измеряемого объекта, совмещают на входе фотоприемника отраженные пучки, выделяют частоту допплеровского сдвига и по ней определяют линейное перемещение, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с,целью обесгсчения возможности измерения деформации объекта, второй луч направляют на поверхность измеряемого объекта. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1, Дюрелли А., Паркс В. Анализ дефор 5 маций с использованием муара, М Мир, 1974, стр. 250. 2. Застрогин Ю. Ф, Приборы и системы управления, 1975,3, стр. 23 - 26,1 О Ь,орж 899а Министровтийд. 4/5
СмотретьЗаявка
2161676, 29.07.1975
ДИНЕЛЬТ ЮРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, ХАЛТУРИН ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: бесконтактного, линейных, перемещений
Опубликовано: 05.02.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-545856-sposob-beskontaktnogo-izmereniya-linejjnykh-peremeshhenijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ бесконтактного измерения линейных перемещений</a>
Предыдущий патент: Двухлучевой сканирующий интерферометр
Следующий патент: Способ определения оптической постоянной оптически чувствительного материала
Случайный патент: Текстурованная трансформаторная сталь