Способ исследования деформированного состояния объектов

Номер патента: 521457

Автор: Кох

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено 15,01.74 (21) 1990642/28с присоединением заявки51) М. КлеСт 01 В 11/16 502 В 27/СО асударатаеннмн намнтетСааета Мнннатраа СССРда делам нзааретеннйн еткрытнй Приоритет -(45) Дата опубликования описания 24,09,76(54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ДЕФОРМИРОВАННО СОСТОЯНИЯ ОБЪЕКТОВ 2 стигается обу на по светочув зицией ф нагруже осуществл тем, что по предлагаеверхности объекта заствительный слой и двойормируют на нем сетку ния объекта. ляю ной эксподо и послеСпособзом. т следующим обра для Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при исследовании деформированного состояния деталей машин, элементов конструкций и их моделей, бИзвестен способ исследования деформированного состояния объектов, заключающийся в том, что с полющью двух интерферирующих когерентнь. х плоскопараллельных пучков света на поверхности объекта фор мируют сетку, нагружают объект, освещают его плоскопараллельным пучком света и по интенсивности света, дифрагировавшего на различных участках поверхности, определяют величину дефорлеацви. Изменение интенсив ности определяется изменением направления максимума диаграммы направленности дифрагировавшего света в результате поворота или изменения периода сетки при деформировании объекта. 20Недостатком известного способа является его сложность поскольку для определения деформаций необходимо проводить трудоемкие замеры и пересчет измеренных величинкаждого участка поверхности исследуемо-И го объекта, а для форлирования на поверхности сетки необходим мощный лавер,Белью изобретения является упрощение процесса исследования. На поверхности объекта закрегляют свето чувствительный слой ( например, фотоэмульсионный ), формируют на нем скрытое изображение сетки с помощью двух интерфери .- руюших когерентных плоскопараллельных пучков света, затем нагружают объект,по торно экспонирук.т светочувствительи слой, проявляют его, освещают плоскопараллельным пучком света и в дифрагировавшем на сетке свете наблюдают муаровую картину, по которой определяют деформации объекта,Заказ 4169/537 Тираж 864 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Филиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Формула изобретения Способ исследования деформированного состояния объектов, заключающийся в том, что на поверхности объекта формируют сетку с помощью двух интерферируюших когерентных плоскопараллельных пучков света, нагружают объект, освещают его плоскоиараллельным пучком света и по интенсивности света, дифрагировавшего на различныхучастках поверхности, определяют величинудеформации, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью упрощения процесса исследования, на поверхности объекта закрепляютсветочувствительный слой и двойной экспозицией формируют на нем сетку до и посленагружения объекта.

Смотреть

Заявка

1990642, 15.01.1974

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6977

КОХ АНДРЕЙ ИОСИФОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформированного, исследования, объектов, состояния

Опубликовано: 15.07.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-521457-sposob-issledovaniya-deformirovannogo-sostoyaniya-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования деформированного состояния объектов</a>

Похожие патенты