Способ измерения упругих деформаций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕл 1 зыиИЗОБРЕТЕН ИЯ Сооа Соаетскпл Социалистммеснмх ре".лублмк(51) М.00 16 присоединением зая3) Приоритет асударственна 1 й намитетСовета Министров СССРао делам изобретенийн открытий 43) Опубликовансю 05.05.76.бюллетень1 5) Дата опубликования описаиия 18.05.7 53) УДК 531. 781. 2 (088.8) пушив, Л.П. КашВ,К. Ярошевич орожкин В.А К) Заявит проблем надежности и долговечности мвшин АН Белорусской ССР нст ОРМАБ(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УПРУГИХ ДЕ ДЕТАЛЕЙ СЛОЖНОЙ ФОРМЫ е 1 Бельти измеренгается тем,ванной лонерпостороннеке ловерхносПредлагаспедуюцюм,ние точнесаций- достиизобретения - повы ия упругих дефор что в качестве дефоркнимаю хности детали и обработанную на ть жесткой загс мьй способ закл од ф тан м ж бретени Формула Способ измеренттдеталей сложной фо товки. чается в упругих деформаций лн при их и:.:иготовл Изобретение относится к исследованиям упругих деформаций деталей сложной формы в процессе их изготовления.Известны способы исследования деформацттй деталей сложной формы, например оболочек, заывочаюшиеся и том,что величину деформаций определяют. ортическим методом как разность результатов юме рений координат точек. деформированной поверхности и поверхности, соответствующей недеформированному состоянию той же детали. Указанную недеформированную поверхность получают путем изготовления слепков из пластичных материалов, что приводит к низкой точности измерения д формаций,Детали сложной формы, изготавливаемые на копировальных станках,в процессеупругих деформаций системы вставок приспособление - инструмент-деталь получают откпояенэя размеров от здной фор" мы, рааеейе мим.упругим деформацням.Дпя койтропя величины упругих деформа ций на том же сташеа изготавттивают де таль. из жесткой,заготовтце упругими де О формациями коъэрой можно пренебречь,проводя обработку ее поверхности только с одной стороны. Полученная поверхность будет отличаться от поверхности , исследуемой детали сложной формы на величину упругих деформаций последней. Дляполучения значений этой деформации определяют оптическим методом координаты то;ек обеих поверхностей и по разности значений координат соответствующих то- О ек поверхности судят о величаю деформаций.513244 Составитепь Н, ТимошенкоТехред О, Луговая Корректор А, Гусева Редактор М, Васильева Заказ 674/33. Тираж 864 Г 1 одписное 11 НИИГ 1 И Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открыти 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Филиал 11 ПГ "Патент" Ужгород, ул, 1 роектная 4 3нии на копйровальных станках заключающийся в том,что величину деформаций определяют оптическим методом как разность результатов измерений координат точек деформированной поверхности и поверхности, соответствующей недеформированному состоинию той же детали, о т и иа ющ и й с я тем, что, с цепью повышения точности измерений, за недеформированную . поверхность детали принимают односторонаие обработанную на том же станке поверхность жесткой заготовки,
СмотретьЗаявка
2092423, 03.01.1975
ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ НАДЕЖНОСТИ И ДОЛГОВЕЧНОСТИ МАШИН АН БЕЛОРУССКОЙ ССР
ДОРОЖКИН НИЛ НИКОЛАЕВИЧ, КАРПУШИН ВЯЧЕСЛАВ АЛЕКСЕЕВИЧ, КАШИЦЫН ЛЕОНИД ПАВЛОВИЧ, САХНОВИЧ ВАЛЕРИЙ ТАНХУМОВИЧ, ЯРОШЕВИЧ ВЛАДИМИР КИРИЛЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, упругих
Опубликовано: 05.05.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-513244-sposob-izmereniya-uprugikh-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения упругих деформаций</a>
Предыдущий патент: Отсчетно-измерительное устройство для измерения линейных перемещений
Следующий патент: Устройство для автоматического измерения отклонений от прямолинейности поверхности
Случайный патент: Реле уровня