Способ контроля качества поверхности металлических изделий

Номер патента: 324219

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Изо

МПК: C01F 11/22

Метки: кристаллов, оптических, флюорита

...получения оптически.; кристаллов флюорита В вакууме и фторировднной атмосфере. При этом в качестве исходно- ГО СЫ)ЬЯ ИСИОЛЬЗУ)ОТ фТО)ИСТЫЙ КДЛЬЦпй С СО- держанием основ)юго всцсствт) 99,98%.Основными нсдостдткдми известного способа я 13 л 5110 тс 51 нс 111 сокйс к 11 Сство 1)лчсннь 1 к кристаллов, д также невозможность использовать в качестве сводного сырья м;исрдлы г)1 дротсрмяльн 1)к 3 с тэрождсний.По предлагаемому способу процесс Ведут В присутствии 1 - -2 всс. % фтористого свпщд. Это позволяет получить качественны кристаллы, снизить стоимость сырья и рдсширить сырьевую базу.П р им с р. В качестве нскодюг;) сырья 1 спользу)от синтетический фторпстый кальций и природныйлдвиковый шпдт с новыиСнным содержанием Г) ВС 1 ЦССТВ 1311 Р...

Номер патента: 429083

Опубликовано: 25.05.1974

Авторы: Висти, Горина, Иванов, Ордена, Чист, Шубникова

МПК: C09K 19/52

Метки: жидкого, кристалла, нормального, слоя

...получать нормальный слой путем добавления к жидкому кристаллу такого поверхностного вещества, как ионол, Нормальный слой жпдкого кристалла имеет подвижную структуру и любая внешняя сила (механическая, электрическая, магнитная и т. д.) способна изменить расположение молекул в слое, вызывая просветления его меж ду скрещенными николями. Но как тольковнешнее воздействие снимается, нормальный слой быстро восстанавливается, и жидкий кристалл снова становится темным между скрещенными николями, Время восстановле ния нормального слоя будет зависить от толщины слоя, убывая с уменьшением последнего. Так как в тонких слоях ориентирующее действие подложки с закрепленной на ней мат.рицей из примеси более сильное, то и упругие 15 слои более...

Номер патента: 576559

Опубликовано: 15.10.1977

Авторы: Гриднев, Калинина, Клейнман, Рабинович, Чупахин

МПК: G02F 1/13

Метки: гомеотропного, жидкого, кристалла, слоя, электрооптической, ячейке

...получают практически однородный гомеотропно ориентированный слой НЖК (плотность дефектов уменьшается в 10 раз в сравнении с известным способом), с улучшенными электрооптпческимп характеристиками, например контраст в режиме динамического рассеяния возрастает на 15 - 25%, и с высокой стабильностью электрооптическпх характеристик во времени (срок служоы элсктрооптической ячейки до 10000 - 17000 ч). Пример. Ячейка из стекол с токопроводящими прозрачными электродами (слой ЯпО,) е нематнчсскпм жидким кристаллом - и-метоксибензилиден-и-и-бутнланилином (МББА), Толщина слоя 30 мкм. Ячейка герметизирована. В соответствии с предлагаемым способом ячейка нагревается до 65+-5 С и к токопроводящпм электродам подводится постоянное электрическое...

Номер патента: 1320667

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Ибраимов, Кринов, Олейников, Палант, Соболевская, Степнов, Херсонский

МПК: G01J 1/04, G01N 21/958, H01L 21/66

Метки: качества, оптически, пластин, прозрачных

...фототока усиливается усилителем 12, логарифмируется и черезблок 14 управления поступает в блок15 памяти вычислительного прибора.Затем включается реле 5 и плоская диафрагма 3 заменяется объемной 4. Вэтом положении фотоприемником 2 регистрируется излучение, прошедшеесквозь образец 11 без изменения направления и вектора поляризацииЗарегистрированный сигнал логарифмируется и через блок 14 управления поступает на схему 16 вычитания. Одновременно на схему вычитания из блока 15 памяти поступает первый сигнал.По величине разности сигналов определяется разность линейных коэффициентов поглощения материала при первом и втором измерениях.В положении, показанном на чертеже, измеряется оптическое пропускание материала (измеряются...

Номер патента: 425043

Опубликовано: 25.04.1974

Авторы: Изобретени, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, оптических, поверхностей

...восстановленной голограммой 8. Если поверхность 6 не имеет отступлений от заданной формы, то теневая или ин.терференционная картина на экране 11 представляет однородный фон. При наличии отступлений на экране 11 возникают соответствующие перераспределения освещенности, по которым оценивают качество оптической поверхности. Для получения голограммы 8 на место контролируемой поверхности устанав.ливается высококачественное вогнутое сферическое или цилиндрическое зеркало с точно известным радиусом кривизны и с отверстием в середине, соответствующей юстировкой добгваются совмещения его центра кривизны с фокусом Р объектива 4 и их оптических осей путем наблюдения интерференционной картины на экране 11. По получении мини. мального числа...