Патенты с меткой «масс-спектрометрического»

Номер патента: 1218852

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Манагадзе, Сагдеев, Шутяев

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, космических, масс-спектрометрического, объектов, поверхностей

...и исследуемым объектом1 = 25 м, равно Затем выделенные ионы регистрируются детектором 4, При этом каждой 50 массе соответствует пик с определенной задержкой от начала развертки.По амплитуде пиков можно судить о процентном содержании элементов в грунте. Для регистрации и запоминания 55 сигнала можно использовать многоканальный анализатор, функционально аналогичный, например прибору МАЧЕГОКМКЕСОКЭЕК модель 8100 фирмы 3 Р ьг 14, 2 Уг= 5 10ионов. 1 121885Изобретение относится к областикосмического приборостроения и можетбыть использовано для дистанционногоисследования элементного состава космических объектов, лишенных атмосФеры.. Целью изобретения является повышение точности результатов и расширение функциональных...

Номер патента: 1343258

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Афанасьева, Еремин, Левина, Назаров

МПК: G01M 3/02

Метки: герметичность, испытаниям, масс-спектрометрического, подготовки, течеискателя

...снизить фоновый сигнал по сравнению с исходным в150 раз, аа 47 мин и перейти к испытаниям ца герметичность на одной изчувствительных шкал течеискателяшкале 0,3 В, что обеспечивает пороговую чувствительность испытаний )=и мПа- 3210--- гдето,Э 9 мин- минимальный поток пробного газа, регистрируемый течеискателем.При обычном способе подготовкиэтого же течеискателя СТИк испытаниям даже через 2,5 ч откачки анализатора фоновый сигнал 450 мВ, т.е.це достигает установившегося значения200 мВ,Предлагаемый способ подготовкитечеискателя к испытаниям особенноэффективен в случае высокочувствительного контроля на герметичностьпо методике накопления гелия в системе анализатор-проверяемое иэделие.В этом случае в течеискателе СТИпосле включения средств...

Номер патента: 1172405

Опубликовано: 30.10.1987

Авторы: Александров, Галль, Лебедев, Санченко

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...пакеты ионов детектируют на линии фокусов, получая пространственный масс-спектр.На фиг. 1 представлена схема времяпролетного масс-спектрометра; на фиг, 2 изображен управляемый коммутатор.Устройство содержит источник 1 ионов (фиг. 1), первую пролетную камеру 2, первый сетчатый электрод 3, второй сплошной электрод 4, детектирующую пластину 5 с фотоэмульсионным слоем, источник питания б, управляемый коммутатор 7, вторую пролетную камеру 8, детектор 9 по времени попадания ионов, Управляемый коммутатор содержит генератор 1 О прямоугольных импульсов (например, Г 5- 56) с диапазоном длительности импульсов 1 О+1000 мкс, генератор 11 источника ионов, генератор 12 разрядника 13, блок 14 питания.Принцип работы электронного коммутирующего...

Номер патента: 1458905

Опубликовано: 15.02.1989

Авторы: Коваль, Соловей, Танцырев, Шкурдода

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ввода, веществ, жидкостной, масс-спектрометрического, методами, разделенных, тонкослойной, хроматографии

...цилиндрическую поверхность,что в совокупности с сальником (непоказан) обеспечивает его вращение и 35перемещение относительно корпуса безнарушения вакуума в масс-спектрометре. На конце штока вмонтирован изолятор 4, на котором закреплена цилиндрическая обойма с винтовой канав кой 5. Шток 3 имеет резьбу 6, шаг которой равен шагу винтовой канавки наобойме. Реэьбовая часть штока 3 ввинчена в корпус 1. В приборе имеетсяисточник 7 первичных ионов, камера 8 45перезарядки, вытягивающие линзы 9,Устройство работает следующим образом,В винтовую канавку 5 штока 3 укладывается отрезок ленты или полоскаиэ гибкого материала, на которой нанесены анализируемые вещества. Затемшток 3 ввинчивается в корпус 1, Производится откачка воздуха иэ...

Номер патента: 1567919

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Иваненко, Карпенко

МПК: G01N 1/04

Метки: анализа, газа, горных, масс-спектрометрического, минералов, пород, проб

...способу выделение пробы газа из каждого конкретного обрз ца минерала или горной породы, исклк)чдц д рязнснис от пр дылущей пробы, пс)сколькуверлая фззд, получаемая прокапываци и при плавлении образца, остается нз,це тигля и в анализах после,чуюпих бр;цов нс црогревзется и цч Гц ),). )зц)ъ . япрог Газ), вь чгения и: олцо ) ,) и) образца и цоцкдораной кювстс. Пример 1. Образец11493 океанического оливин-плагиофирового база;ыд анализируется известным способом двз рззз; первая проба этого образца, загруженная вместе с пробами других образцов в блок загрузки, перемещается на дно молибденового тигля и расплавляется при 1500"С для выделения газовой фазы.В чабл. 1 указан результат масс-спсктромстрического измерения этой пробы (1,з). Вторая проба...

Номер патента: 1615823

Опубликовано: 23.12.1990

Авторы: Давыдов, Корольков, Лепин

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, изотопного, масс-спектрометрического, рубидия, стронция

...сцелью сокращения и родолжительности анализа,ЗО снижения трудоемкости и упрощения способа, выделенные фракции рубидия и стронция смешивают, полученную смесь обрабатывают концентрированной плавиковой кислотой и наносят ее на первую ленту испарителя, а на вторую ленту испарителя наносят гидрофторид калия и далее регистрируют массспектрц рубидия при температуре 35 40 испарителя 168 + 7 С и температуре ионизатора 660 й 8 С, используя мэсовые числа 85 и 87 а,е,м., затем регистрируют масс-спектр стронция при температуре испарителя 380 + + 8 С и ионизатора 766 + 100 С, используя массовые числа 103, 105, 106, 107 а.е,м. Составитель В,КудрявцевТехред М.Моргентал Корректор Т.Палий Редактор Л.Зайцева Заказ 3993 Тираж 398 Подписное ВНИИПИ...

Номер патента: 1628106

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Оксеноид, Рамендик, Сильнов, Сотниченко

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, лазерного, масс-спектрометрического

...чиглд и нов рдзли - ЦЫХ ЭЛЕМЕНТОВ, ЧТО СттРДжлЕтСЯ В ПО- стоянстве .цдчеций КЧ, ЛГсо(тютя(Р значения ЕГЧ в этой О(ллсти лнигят от эф(Ьетститтности про(Рос он ионизл(цти и ускорения, Этд обллг.ть хлрлктери- ЭУЕтСЯ ЦДИЛУЧШЕй НОС ЦРСЧЦИМСС ТИ) РЕЗУЛЬтдтОВ ДцадцЛ ЦРИ ПОГтЯЦНОй с незлнисимо рдзмерл с 1, Рагс мотргццР различных физическх углов(тй но:дг - ствия излучения цл пробу и рлницлющихся при этом осцовц(,(х процсссов В ПЛдЗМР дОКдЗЫВЛС Т ВЫГСцтРц(й С 1 и с из об.(дс тс . 10 (;кь с. . с .и 108 Вт, см1(5 (т г(т-;(5(5 по - 2, т( - г ВыОн(5 точигт кон(чсг т сццГО анализа пробь цл цримгсСпособ реализонлц цл:лсрцгм маге спектрометре Э)ЛЛ, Испльзовдли стандартный образец состава СИс содержанием тримегей ца уровне 10 2 мас,7, в ц(ироком...

Номер патента: 1108954

Опубликовано: 30.03.1991

Авторы: Гурский, Чилипенко

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, изотопного, лития, масс-спектрометрического, состава

...температуру плавления образца108954 Измеренное значение 1.1/ 1. Номер опыта тПроба Р 2 Проба У 3 Проба У 4 Проба У 1 18,16+0,09 18)24+0,12 18,30+0,07 18,25+0,08 18,20+0,05 18,27+0,03 18)26+0,02 18,28+0,02 18,25+0,02 18,27+0,01 18,24+0)02 18,26+0,01 18,20+0, 11 18,18+0,08 18,25+0,05 18,31+0,08 18,27+0,05 18,28+0)02 18,27+0)02 18,25+0,02 18,26+0,01 18,28+0,02 8,26+0,01 18,25+0,02 123456 Редактор С,Титова Техред А.Кравчук Корректор С,Шевкун Заказ 1061 Тираж 310 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород) ул. Гагарина,101(450 фС) и рабочую температуру лентыиспарителя (450 ОС). В результате...

Номер патента: 1565215

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Вагин, Иванова, Муравьева, Павлов, Папко

МПК: G01M 3/02

Метки: герметичности, масс-спектрометрического

...следующее уравиениеф(4)После подстановки в выражение (4) значений ЬР, 6 Р, Р соответственно из выражений (1), (2), (Э) получим искомую величину измеряемоготок д г1Ч + Чч, Ччй0П ЬР --- "- +О щ гаюаюО н фЧ СиЬро (5)снИз (5) получаем выражение, показывающее вклад различных факторов процесса контроля герметичности изделия 2 в величину измеряемого изменения концентрации в анализаторе 9 после перепуска1 Оо 1 ч снЧч 6 Ра Чч Ооч + о (6) Ч ЧУ Ч 1 гдеЧ Ч +Ч,. Иэ формулы (6) следует, что ввп 1- чина изменения концентрации после перепуска зависит не только от Яв, й н,и Ч, но и от ряда других Факторов, таких, как фоновый поток пробного газа в анализаторе 9 0,Р, соотновение объемов иэделия 2 и анализатора 9 Ч.)Ч , величина перепада концентрации...

Номер патента: 1661870

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Грабовский, Еременко, Оксенойд, Пятахин, Рамендик, Сотниченко, Файнберг, Хромов

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, лазерного, лазерный, масс-спектрометр, масс-спектрометрического

...тока и предыдущим его значением из фиксатора 28 тока, которое определяет величину следующего приращения в регуляторе 32 приращений, полученную в сумматоре 33 приращений и вызывающую перемещение объектива 2 на этувеличину, По мере. приближения к максимальному значению тока разность и, следовательно, величина приращения уменьшаются, при прохождении че 1661870рез максимум тока знаки разности и перемещения сменяются на противоположные,обеспечивая установление максимальногозначения тока. Сигнал окончания поискамаксимума тока вырабатывается компаратором 30 окончания цикла в случае, еслиразность лежит в пределах, вырабатываемых формирователем 34 допустимых пределов изменения тока, исходя изнестабильности тока и числа импульсов усреднения из...

Номер патента: 664412

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Готт, Темный

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/26 ...

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...недостаткам магнианализа следует отнесттосилу прибора; необхной юстировки МА отновзаимовлияние рассеяни электрического полеметрии наобласть вну 01 И 27/62,В 01 0 59:/44Заказ 3048ВНИИПИ Государственн1130 Подписноениям и открытиям приая наб., д. 4/5 Тираж 326о комитета по изобрет Москва, Ж, Раушс Т ССС иааваиаюаВе ю т и аетт ааею аааааваевав а аПроизводственно-издательский комбинат "Патент", гУжгород, ул. Гагарина, 1 О 1 аа-дд аае Этодостигается тем, что потоквъщеленных ионов пропускают сквозьтвердую мишень, в которой потери " Ънергии ионов отличаются на величи 5ну, превышающую дисперсиюих потерь,"и определяют массы ионов путем срав" "нения полученных потерь с известнъяидля мишеней той же толщины и состава,Поток ионов,...

Номер патента: 1681340

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Додонов, Додонова, Разников, Тальрозе, Чернушевич

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, времени, ионов, масс-спектрометрического, непрерывного, пролета, пучка

...5 10 15 20 25 30 35 Ионы, находящиеся в момент выталкивания в зазоре между выталкивающим электродом 7 и сеткой 8 и частично в зазоре между пластинами 11 и 12, выталкиваются однородным полем в пространство 5 дрейфа, где разделение ионов по массам осуществляют во времени пролета. После прекращения действия выталкивающих, вытягивающих и запирающих импульсов ионы от внешнего источника начинают поступать в область между электродом 7 и сеткой 8, Это происходит одновременно с разделением ионов по массам в пространстве 5 дрейфа, а энергию ионов подбирают такой, чтобы за время пролета ионами самой тяжелой массы пространства 5 дрейфа зти ионы как раэ успели бы заполнить область между выталкивающим электродом 7 и сеткой 8, т.е. эта энергия...

Номер патента: 1711262

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Жуков, Либ, Фрейдин

МПК: H01J 49/38

Метки: анализа, газов, динамического, масс-спектрометрического, смеси

...электрическое поле направлено45 вдоль оси Х и имеет вид Е = 1 Е сов ( йЪ т),постоянное магнитное поле действует пооси Е, а частица имеет начальный векторскорости 50 ЧоЧхо + )Чуои начальное положениег = 3 Х +)Уо,.Обозначив в 1 =-и - и К = -дВ Еа В 55 получаютследующее решениеуравнения(1)в любой момент времени.В случае, когдасобственная циклотронная частота иона в не равна частоте возбуждения ао,+ - т СОЗ Во т - З 1 П Во1 с К 25Полученные решения интерпретируются следующим образом.Каждый, образовавшийся на оси оме-,гатрона, ион участвует одновременно в двух 30независимых движениях - в круговом с собственной (циклотронной) частотой, обусловленном начальной скоростью иона в моментвозникновения, и в движении по спирали,. шаг которой...

Номер патента: 1720108

Опубликовано: 15.03.1992

Автор: Черепин

МПК: H01J 49/30

Метки: анализа, ионов, масс-спектрометрического

...в меридиональной плоскости, которая сама поворачивается относительно оси полюсов, Для строгого описания такого движения иона решают связанные дифференциальные уравнения движения вида: где гп - масса иона;о - заряд;Н - напряженность магнитного поля;Ех, Еу, Е - компоненты напряженностиэлектрического поля,В аналитическом виде решить эти уравнения невозможно и нужно применять численные методы, Однако для обоснования предлагаемого способа достаточно приближенной оценки, основанной на рассмотрении проекции траектории ионов на экваториальную плоскость (фиг.2).Если ион с энергией цОО и скоростью Ч; - т р я движется в вкввторивявП 1 ной плоскости в магнитном поле Н, то поддействием силы Лоренца траектория становится дугой окружности с...

Номер патента: 1721663

Опубликовано: 23.03.1992

Авторы: Артамонов, Оксенойд, Сотниченко, Тюрин

МПК: H01J 49/08, H01J 49/26

Метки: анализа, лазерного, масс-спектрометрического

...зада 15 чей выбирают иэ числа закрытых элементы,подлежащие обнаружению, идентификациии определению, Затем определяют изотопный состав примесных элементов, присутствующих в пробе, и значения п 1/г в20 масс-спектре, которые не закрыты ионамиосновы и примесей. Исходя из этого, выбирают ряд дополнительных элементов К, которые в соединении с элементом,подлежащим определению Х, образуют+25 ионы ХК, изотопы которых попадают насвободное место в масс-спектре (т.е. массахотя бы одного из изотопов получаемогосоединения должна быть на пустом месте вмасс-спектре). Далее, используя таблицы30 энергий разрыва химических связей (3), выбирают из полученного ряда элемент К снаибольшей энергией диссоциации соединения ХК . Элемент К вводят в пробу в...

Номер патента: 692362

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...: ", :. трическая прочностьпромежутка пони, Недостатком способа является .жаетсЯ до значения0,7-0,8 .кВ/ми.недостаточная точность результатов . ,: Таким образом, импульсом напряженияанализа (не лучше 10-20 относитель- . : 1 5 кВ можно осуществить"электриценых), Это объясняется тем, цто вслед- ЗОский пробой промежутка длиной 2 мм.ствие высокой электрицескои прочно- Увеличивая. пробивное.напряжение дости вакуума велицина межэлектродного . обычного для масс"спектрометрии знапромежутка при знацениях амплитуды ":- цения .10-20 кВ,;можно снизить велиимпульсного электрицеского напряжения ".,чину локального давления до; 1010-20 кВ составляет"малую величину- 10 мм рт.ст."столба или увелйчить500-200 мкм, В процессе анализа .за. . . межэлек 1...

Номер патента: 1108876

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Васюта, Гречишников, Держиев, Ремендик

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, твердых

...влияющими на атомизацию иионизацню вещества и тем самым на Ео 22 2 10 Дж,правильность и точность результатованализа, являются плотность выделе- а плотность мощности в анодном пятния мощности в приповерхностных слоях з 5 2 10-Фтвердого тела, длительность разряда, не И = = 2 -10 вт/и, в пе "величина напряжения пробоя и ппощадь, 10 10выделения энергии в одном пробое, ресчете на объемную плотность Ю/ зпричем указанные параметры должны - 2 10 вт/ибыть постоянными в процессе проведе- При изменении плотности мощностиния анализа.30состав . масс-спектра меняется. ПриС этой точки зрения известный спо- обычно используемых параметрах разсоб атомизации и ионизации вещества ряда отношение двухразрядных ионовне является оптимальным Полная...

Номер патента: 695295

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик, Черепин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/34 ...

Метки: анализа, масс-спектрометрического, твердых, тел

...см, так что эплотность мощности, выделяющейсяв поверхностных слоях мишени лежитв диапазоне 10 - 10" Вт/смз.Предлагаемый способ. характеризуется тем, чтов результате мощногоимпульсногб воздействия первичногопучка на образец происходит взрывооб. разное разрушение материала образцана глубину проникновения первичныхионов,в твердое тело (для энергииионов 1"50 кэВ глубина проникновенияменьше 10".ь см) и у поверхности образ"ца образуется облако плазмы с плот- ностью электронов 10 - 1 О см э7 19 -эи температурой электронов 5 эВ, Таким образом ионизация нейтральныхчастиц происходит не. в результатевыбивания отдельных частиц как в ". прототипе, а в плазме по термическому (столкновйтельному) механизму.Это позволяет снизить до одного поряд-.ка...

Номер патента: 1739398

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Мордехай, Николаев, Франкевич

МПК: H01J 49/38

Метки: анализа, ионно-циклотронного, масс-спектрометрического, методом, поверхности, резонанса

...ниЯ М 2.Разрешение по массе определяется энергетической шириной спектра ионов рассеяния, которая зависит от разрешения экспериментальной установки по энергии и углу. Для детектора с достаточно малым углом сбора разрешающая способность по массе определяется разрешающей способностью экспериментальной установки поЕ 1энергии-3: МгМг Е 1 М 1ЛЛ 2 ЪБ(М 2 + 1)М 1(гу - зпго - созб(Мгу зпо) М 1 М 1 Из этого соотношения видно, что максимальное разрешение получается при угле О= 180 О т,е. рассеивании назад. При пред. лагаемом способе анализа угол рассеивания равен 180 О, что позволяет получать максимально возможное разрешение по массе,Способ анализа осуществляется следующим образом,Ионы, образованные в ионном источнике 1 (фиг.З), ускоряются в поле,...

Номер патента: 1756827

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Изидинов, Назаров, Разяпов

МПК: G01R 1/00

Метки: анализа, вторично, ионного, количественного, кремния, лазерного, масс-спектрометрического, образцов, основе, поверхности, примесей, создания, сравнения, структур

...и (2)величинами концентрации примеси в интервале 10-10 5 мас.0 в исходном расгворе.Предлагаемый способ характеризуютследующие свойства:простота операций, общедоступностьлабораторного оборудования и оснасткидля создания ОС;простота и точность регулирования впределах не менее 4 порядков содержайиястандартизируемого элемента-примеси;возможность высокой точности прогнозирования содержания примеси и направлейного его изменения на основе простогосоотношения, параметры которого мотутбыть найдены путем простых расчетоввследствие высокой восп роизводймостисвойств матрицы из СПК;тонкая структура и равномерное распределение микропор (обусловливает равномерное распределение примеси пообъему СПК);большая толщина СПК (100 - 200 мкм);что позволяет...

Номер патента: 1756972

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Гамаюнова, Коппе, Физгеер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, диэлектрических, кристаллов, масс-спектрометрического

...пучка первичных ионов и площади входной диафрагмы системы сбора вторичных ионов позволяет сохранить условия выбивания и сбора вторичных ионов, исключая влияние 30 35 40 45 50 55 ионов меди, ее поверхностных и обьемных загрязнений и их соединений с медью, компаундов, образующих вследствие взаимного перезапыления образца и сетки, а также ионов, выбиваемых с поверхности держателя, что приводит к повышению достоверности результатов анализа.При несоблюдении соотношения указанных параметров 3231 45 э происходит снижение достоверности результатов анализа эа счет влияния ионов, выбираемых изматериалов держателя,На фиг,1 схематически изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг,2 - в большем масштабе часть устрайствэ, включающая...

Номер патента: 1816973

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Лапшин, Мычковский

МПК: G01M 3/02

Метки: герметичности, масс-спектрометрического

...испытываемого изделия 2 от средств вакуумной откачки начинают отсчет времени накопления (т 1) фоновых газов испытываемого иэделия 2.Оценку минимально необходимого времени накопления проводят перед началом испытаний с учетом величины минимально достоверного сигнала регистрирующей з и па рзтур ы (порога чувствительности) адостцены деления акалы К регистрирующей аппаратуры и величины допустимой течи (потока О через течь) испытываемогоизделия д по Формуле:К атнПосле истечения времени Ь непосредственно перед перепускзнием накопленных газов прекращают откачку из анализатора 15 пробного газа (закрывают клапан 6), продолжая откачку остальных газов и начинают регистрацию концентрации пробного. газа в анализаторе, В фиксированный момент времени Т...

Номер патента: 1830556

Опубликовано: 30.07.1993

Авторы: Качан, Чеджемов

МПК: H01J 49/26

Метки: газовой, масс-спектрометрического, смеси, состава

...и точности способа были проделаны в течение недели на масс-спектрометре МХ 1321 анализы той же смеси гелий+неон, В каждом эксперименте было использовано одно и то же количество смеси газа равное 3,95 10 м Па. Получение отношения ионного тока гелияк ионному току неонаи среднее значение приведены в табл,З.Второй пример использования изобретения заключался в следующем. При том же объеме резервуара напуска, что и в первом примере, проводимость отверстий диафрагмы напуска (их число) была увеличена так, что для гелияР/Ч было равно 6,798 10 с 1 и для неонаГ/Ч=2 634 10с 1. Газ (смесь гелий+неон) в количестве 6,59 10 з м Па (т,е. в 6 раэ меньшем, чем в первом примере) подавался из резервуара напуска в ионный источник, Результаты анализа и...

Номер патента: 1612859

Опубликовано: 10.02.1996

Авторы: Галль, Саченко

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВ, содержащее электростатический анализатор в виде двух коаксиальных электрически изолированных электродов, соединенных с блоком питания, источник ионов и детектор, соединенные с импульсным блоком питания и обращенные рабочей поверхностью в пространство между электродами анализатора, отличающееся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и расширения энергетической полосы пропускания при сохранении габаритов анализатора и одновременном упрощении его конструкции, внутренний и внешний коаксиальные электроды анализатора выполнены с уменьшающимися в направлении вылета ионов радиусами поперечных сечений, а оси источника, детектора и электродов анализатора пространственно...

Номер патента: 1362353

Опубликовано: 10.08.1996

Авторы: Бабаин, Веренчиков, Галль, Краснов, Николаев, Шкуров

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрометрического, соединений, химических

1. Способ масс-спектрометрического анализа химических соединений по авт. св. N 1270814, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности качественного и количественного определения, величину ускоряющего электрического поля устанавливают выше пробойной, а ток разряда ограничивают величиной 10-7 10-8 А.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что исследуемый раствор предварительно разбавляют органическим растворителем, например метанолом, при соотношении объемов органический растворитель вода от 100:1 до 1:1.

Номер патента: 1093162

Опубликовано: 27.07.2000

Авторы: Веселова, Дергачев, Якимова

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, изобары, изотопного, имеющих, компонентов, масс-спектрометрического, смеси, элементов

Способ масс-спектрометрического изотопного анализа компонентов смеси элементов, имеющих изобары, включающий нанесение рабочего вещества на термоионный эмиттер, получение положительных ионов при нагревании эмиттера в масс-спектрометре и регистрацию масс-спектра при фиксированном значении температуры эмиттера, отличающийся тем, что, с целью упрощения анализа, сокращения его длительности и уменьшения навески образца, рабочее вещество, взятое в виде смеси анализируемых элементов, наносят на термоионный эмиттер, регистрируют масс-спектр смеси при первом фиксированном значении температуры эмиттера, соответствующем началу ионизации компонентов смеси, затем увеличивают температуру эмиттера до...