Устройство для спектрометрических измерений диэлектрических параметров материалов

Союз СоветсиикСоциалистическихРеспублик пц 1 тК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Дополнительное к авт. свид-в 22) Заявлено 17.04.78 (21) 2606313/18-0)М. Кд, ( 01 Р 27/26 присоединением заяв сударствснный кемнт(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТ ИЗМЕРЕНИЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИМАТЕРИАЛОВ РИЧЕСКИ АМЕТРОВ ПА Изобретение относится к технике СВЧ, а именно к устройствам для спектромет рических измерений.Известно устройство для спектрометрических измерений диэлектрических параметров материалов, содержащееперестраиваемый по частоте генератор излучения, поляризованный интерферометр с поляри затором и анализатором излучения и приемник излучения 1,11.Однако известное устройство длят спектрометрических измерений диэлектрических параметров материалов обладает недостаточной точностью измерений,Целью изобретения является повышение точности измерений.Цель достигается тем, что в устройство для спектрометрических измерений диэлектрических параметров материалов, содержашее перестраиваемый по частоте генератор излучения, поляризованный интерферометр с поляризатором и анализатором излучения и приемник иарчения, введен второй приемник излучения, установлении распространения й от анализатора изпунабжен устройством пои, перпендикулярной его д каждым приемником влено по дополнительномуения с механизмом пои, перпендикулярной его вленный на напр олны, отраженн чения, который сворота вокруг осплоскости, а переизлучения устанополяризатору иэлучворота вокруг осплоскости.На чертеже пр иведено е ус с стройст измерений диэлектр материалов, содерж по частоте генерат ризованный интерфе тором 3 и анализат приемник, 5 излучен излучения, установл распространения вол анализатора 4 излуч устройством поворо пендикулярной его пл каждым приемником явитель . Ордена Л спектрометрических ических параметров ашее перестраиваемый ор 1 излучения, полярометр 2 с поляриэаором 4 излучения и ия, второй приемник 6 енный на направлении ны, отраженной от ения, который снабжен та 7 вокруг оси, пероскости, а перед5 и 6 излучения усУстройство для спектрометрических из 10 мерений диэлектрических параметров материалов, содержащее перестраиваемый почастоте генератор излучения, поляризованный интерферометр с поляризатором и анализатором излучения и приемник иэлуче 15 ния, отличающеесятем,что, с.целью повышения точности измерений, вве-,ден второй приемник излучения, установленный на направлении распространенияволны, отраженной от анализатора излучения, который снабжен устройством поворота вокруг оси, перпендикулярной егоплоскости,2. Устройство по п, л и ч ф (Ир+о)= 1005чальная расстройкарферометра 2, опред 1где Ь Го -ванного ин оляризоемаяшение о о 3 4 СоВ д Чо 1 сОВ Используя полученные данные дпя модуля и фазы коэффициента пропускания образца,можно на основании соответствуиюцих формул рассчитать зависимость от частоты излучения коэффициента и поглощения исследуемого образца.Таким образом, предложенное устройство для спектрометрических измерений диэлектрических параметров материалов дает возможность повысить точность измерений. Кроме того, расчети К материала производится на основе аналитичеЭ ских соотношений, не требующих применения приближенных численных методов. На точность измерений не сказывается не-.- . стабильность мощности генератора излуче 1,отеред ка аю щ е е с я тем, что и5 емником излучения устан нительному поляризатору ханиэмом поворота вокр кулярной его плоскости. овлено по дополизлучения с меуг оси, перпендиинформации,ание при экспертизеидетельство СССР268,кл.С, 01 Р 27/26 ИсточникОпринятые во вним1. Авторскоепо заявке М 2561977 5 Подписное Тц Заказ 9964/6 ВНИ оа, ул. Проектная,тент", г. Филиал ПП 5 881626 6 где Ко - некоторый коэффициент, завися- ния. Использование двух приемников иэлущий от Р и Р 1, а - угол наклоначения позволяет вдвое сократить время проволочек поляризатора 3 излучения.На измерений. Все это выгодно отличает предих основе можно получить следующие фор- ложенное устройство от известного. мулы, связывающие в явном виде измеряемые величины с фаэовым сдвигом, вносимым образцом формула изобретения