Патенты с меткой «центров»

Номер патента: 952520

Опубликовано: 23.08.1982

Авторы: Козлов, Кусков, Сарыгин

МПК: B23Q 7/04

Метки: выдачи, линию, поштучной, станка, центров

...отсекателей 6 ии неподвижный упор 9.На конце штока гидроцилиндра 3 укреплен корпус питателя 1 О с губкой 11 захвата, неподвижно сидящей на оси 12, вращающейся в боковых планках 13 и 14, скрепленных с питателем 10. Над губкой 11 захвата между планками 13 и 14 установлены два подпружиненных одноплечих рычага 15 и 16 со скосами7 с возможностью поворота на ограниченный угол до неподвижного упора. На оси 12 с наружной стороны планки 13 укреплен одноплечий рычаг 18, зафиксированный фиксатором для исходного (закрытого) положения губки 11 захвата и взаимодействующий с подпружиненным подвижным упором 19, смонтированным на основании 2,Устройство работает следующим образом.При подаче давления в гидроцилиндр 3 его шток вместе с корпусом питателя...

Номер патента: 974234

Опубликовано: 15.11.1982

Автор: Смынтына

МПК: G01N 25/00

Метки: активных, заряженных, катализатора, концентрации, концентраций, поверхности, соотношения, центров

...при комнатной температуре после десорбции молекулярного кислорода;Д - электропроводность катализа"3тора, измеренная при комнатной температуре после десорбции атомарного кислорода,Экспериментально установлено, цто концентрация зарлженных активных центров на поверхности катализатора 25 определяется по йормупе1 о = (4)1 ж= :Но, Ь) где М,; в . концентрация междоузельныхатомов металла; Й Ж)- концентрация вакансий халькогена;. коэффициент, зависящий от свойств поверхности катализатора, определенный экспериментально-расчетным путем, например для катализатора типа селенида кадмия он ра" вен 1-1,2/1 И, 40 Согласно формулам ( 2 ), ( 3 ), ( 4 ),) соотношение между концентрациями заряженных активных центров на поверхности катализатора, например,...

Номер патента: 993182

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Горбунова, Любимов, Нефедов

МПК: G01W 1/16

Метки: грозовых, движения, направления, центров

...точнее определять15 направление движения грозы относительно каких-либо обьектов, как наземных,так и воздушных, например, самолетов,и тем, самым, обеспечивает своевременное и более надежное оповещение20 грозовой опасности,25 Устройство для определения направ, ления движения грозовых центров, содержащее экранируюший корпус и расположенные по его наружной поверхности на,равных расстояниях друг от друга элекЗО троды-датчики коронного тока в видеметаллических стержней, подсоединенных к измерительному блоку, о т л и -ч а ю ш е е с я тем, что, с целью .повышения точности определения направления путем измерения угла склоненияна грозовой центр, экранируюший корпусвыполнен в виде шара, а длина электродов-датчиков коронного тока - не болеерадиуса...

Номер патента: 1024814

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Жидович, Стельмах, Столяров, Трофимов

МПК: G01N 24/10

Метки: изучения, магнитного, магнитных, образца, плоского, поверхности, распределения, резонанса, спектрометр, центров

...столик 10 с возможностью перемещения по трем координатам относительнр отверстия 6 с пластинкой 7, исследуемый плоский образец 11, закрепленный на столике 10, изолирующую диэлектрическую пластину 12, контур 13 модуляции мдгнитнбго поля.Измерительная ячейка ( фиг, 1 выполнена не в виде объемного резона". тора, а в виде замкнутого с одного конца прямоугольного волновода, и отверстие 6 измерительной ячейки расположено на половине длины волны Н, от замкнутого поршнем 8 концапрямоугольного волновода на его широкой стенке ч и содержит электропроводящую пластинку 7 изолированную от стенок волновода.На фиг. 2 показано образование .,при возбуждении колебаний типа Н смаксимумом компоненты - .Н на полови 4.не длины волны от замкнутогр...

Номер патента: 1061015

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Ерчак, Рутковский, Стельмах, Федорук

МПК: G01N 24/10

Метки: парамагнитных, спина, центров

...спектровЭПР в веществах с несколькими типами парамагнитных центров, спин одного из которых неизвестен. По данному способу после записи спектра ЭПРанализируют число компонент спектраизучаемого центра, исключая компоненты известных, Этим способом значение спина определяется косвенно,посредством сопоставления эксперимен.тально наблюдаемого спектра с рассчи-.танным теоретически (2),Однако в ряде случаев его применение становится затруднительным,например, если в образце имеетсянесколько типов центров, линии магнитного резонанса которых попадаютв один спектральный интервал и перекрываются друг с другом, или жев случае центров с малыми величинами тонкого расцепления, Кроме того, 40данный способ не позволяет определить спин центров,...

Номер патента: 1061016

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Баграев, Власенко, Рожков

МПК: G01N 24/10

Метки: возбужденном, концентрации, кристалле, находящихся, состоянии, триплетном, центров

...с парамагнитными центрами, поляризация которых Р отличается приосвещении от равновесной поляризации РНа фиг. 1 приведена схема энергетических уровней центра в возбужденном триплетном состоянии и сигналыЭПР; на фиг. 2 - зависимость степени оптической поляризации ядер решетки кремния, содержащего центры,находящиеся при освещении в возбужденном триплетном состоянии, от величины магнитного поля Н, на фиг.3 зависимость измеренной концентрациицентров, находящихся в кристаллекремния в возбужденных триплетныхсостояниях, от интенсивности света.Центры в возбужденном триплетномсостоянии имеют спин Я=1 В сильноммагнитном поле Н 0 три энергетическихподуровня триплетного центра характеризуются значениями проекции.спина Я 2 на направление...

Номер патента: 1073655

Опубликовано: 15.02.1984

Авторы: Линев, Фигурин, Фурса

МПК: G01N 24/10

Метки: анализатор, концентрации, парамагнитных, центров

...методом ЭПР, в котором исследуемый и калибровочный образцыпомещают в один и тот же объем резонатора поочередно (13. 10Точность известного устроистваограничена погрешностью, обусловленной изменением параметров измерительного резонатора при смене образцови временной нестабильностью коэффициента передачи системы регистрации.Общее время измерения включает времяраздельной регистрации спектров отисследуемого и калибровочного образцов. Известное устройство не позволяет осуществлять непрерывный контроль концентрации исследуемого вещества,Наиболее близким к изобретениюявляется анализатор концентрации парама.гнитных центров, содержащийэлектромагнит с блоком управления,измерительный резонатор с исследуемым и калибровочным образцами, блокСВЧ,...

Номер патента: 1089392

Опубликовано: 30.04.1984

Авторы: Глухов, Ломов

МПК: G01B 5/25

Метки: величины, несоосности, устройств, центров

...перемещений, измерительный стержень которого расположен перпендикулярно оси валика, приводят измерительный стержень в соприкосновение с валиком по нормали к его цилиндрической 20 поверхности и регистрируют показание датчика 1,1Однако известный способ имеет низкую точность измерений, так как при измерении величины несоосности перемещают стол с центрами и контрольным валиком относительно датчика. При этом погрешности направляющих стола приводят к погрешностям измерения несоосности центров. 30Цель изобретения - повьппение точности измерений.Поставленная цель достигается согласно способу измерения величины несоосности центров устройств, заключающемуся в том, что устанавливают в контролируемые центры контрольный валик, на станине исследуемого...

Номер патента: 1095135

Опубликовано: 30.05.1984

Авторы: Ерош, Жаботинская, Жаботинский

МПК: G05B 15/00

Метки: круглых, предметов, центров

...б тактовых импульсов через элемент И 5 начинаютпоступать на объединенные входы элементов И 4, На выходах элементов И4, связанных с фотодатчиками 1, подкоторыми находится предмет 3, появляется ф 1 ф, При этом на выходахтрехвходовых мажоритарных элементов9, реализующих Функцию два из трех,появляется 1 Сигнал 1 можеттакже появиться на выходах элементовИ 7 и 8 записи при подаче 11 ф наоба входа. Как только центр предмета3 окажется под Фотодатчиками 1, навыходе одного из элементов И 11 поянится сигнал 1, который запишется в соотнетстнующий разряд регистра 12 памяти, При появлении 1на выходе блока 17 пороговых элементов через элемент И 14 сигналы с да=чика 13 поЛожения ленты конвейерапоступают на вход триггера 15, Каждый второй импульс...

Номер патента: 1105794

Опубликовано: 30.07.1984

Авторы: Милов, Пусеп

МПК: G01N 24/10

Метки: парамагнитных, плотности, распределения, центров

...магнитного поля, что при переходе к ЭПР-спектроскопии значительно су 45 жает возможную область исследований. Цель изобретения - расширение области применения.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения распределения плотности парамагнитных центров, при котором воздействуют на образец радиочастотным импульсом заданной продолжительности и интенсивности, после чего воздействуют на 55 образец импульсами неоднородного магнитного поля заданной конфигурации, продолжительности и интенсивности,после окончания воздействия импульсами неоднородного магнитного поля воздействуют на образец вторым радиочастотным импульсом, получают сигнал спинового эха, по зависммости которого от интенсивности и продолжительности...

Номер патента: 1124208

Опубликовано: 15.11.1984

Авторы: Гасюк, Дудков, Муромцев

МПК: G01N 24/10

Метки: вещества, времен, парамагнитных, релаксации, центров

...на образец,Наиболее близок к предлагаемомуспособ измерения времени релаксациипарамагнитных центров вещества,заключающийся в периодическом выведении парамагнитной системы из равновесия возмущающим воздействием, представляющим микроволновый импульс,синхронно с которым изменяют значение напряженности поляризующего магнитного поля с нерезонансного на резонансное и осуществляют модуляциюрезонансного поляризующего магнитного поля по закону случайно флюктуирующей во времени функции, выбранной так, что ее среднее значениеравно нулю, а среанеквапратичноеотклонение превышает глубину кроссрелаксации, и с окончанием насыщающего микроволнового импульса возвращают значение напряженности поляризующего магнитного поля к первоначальному значению, и...

Номер патента: 1133693

Опубликовано: 07.01.1985

Авторы: Косачев, Нестеров

МПК: H04N 7/18

Метки: выделения, интерференционных, интерферограмм, полос, центров

...нулевого уровня сигналом с. выхода дифференцирующей схемы, не совпадают с задержанным стробирующим импульсом и центры интерференционных полос не .вьделяются.Цель изобретения - вьделение центров интерференционных полос в ши40 роком диапазоне частот.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для вьделения центров интерференционных полос интерферограмм, содержащее последова тельно соединенные передающую телевизионную камеру, блок дифференцирования и первый блок сравнения, второй вход которого является входом порого- . вого напряжения, а также последовательно соединенные компаратор и блок совпадения, при этом вход компаратора подключен к выходу блока дифференцирования, введены второй блок сравнения и триггер, первый, второй входы 55...

Номер патента: 1140018

Опубликовано: 15.02.1985

Авторы: Гасюк, Дудков, Муромцев

МПК: G01N 24/00

Метки: зависимости, парамагнитных, радиоспектроскопических, релаксационных, температуры, характеристик, центров

...оптимума, например, таких параметров,как интест мо поля, 50усиление приемного тракта и т,д.приводит к необходимости для поддержания необходимой точности измеренияувеличивать число накоплений, чтов свою очередь автоматически требуетувеличения времени измерения, а неправильный выбор таких параметров,как период повторения прямо приводит к увеличению времени измерения.При существующей точности установки температуры и точности регист; 60рации радиоспектроскопических и релаксационных величин оптимальнымявляется полином 3-5 степени. Учеттолько 3-5 последних измеренных величин позволяет при сохранении тре буемой точности ускорить расчет параметров аппроксимационной функции.Оптимизация параметров измерительного прибора позволяет значительно...

Номер патента: 1155418

Опубликовано: 15.05.1985

Автор: Мурыкина

МПК: B23Q 7/00

Метки: линию, установки, центров

...призмой выступом, а угол се верхней призмы определяется по зависимостисС= 2 ФС ЯМЬИ 1 ф 2/21- иана ггде аг - угол нижней призмы.Предлагаемая конструкция устройства повышает производительность при установке деталей различных диаметров, так как устраняет его переналадку,На фиг. 1 изображено устройство, общий вид; на фиг. 2 - пооперационная схема работы устройства; на фиг. 3 - геометрический чертеж к выводу математической зависимости,Устройство для установки деталей на линию центров состоит из установочных элементов: верхней 1 и нижней 2 призм, установленных в основании направляющих 3 под линией центров, жестко связанного с нижней призмой 2 упора 4, снабженного регулировочным винтом 5. Верхняя 1 и нижняя 2 призмы имеют призматические...

Номер патента: 1164911

Опубликовано: 30.06.1985

Авторы: Косачев, Нестеров

МПК: H04N 7/18

Метки: выделения, интерференционных, полос, центров

...второй 3блок сравнения, блок 4 совпадения,блок 5 памяти, блок 6 вычитания,элемент 7 ИЛИ, первый Р-триггер 8, 20второй В-триггер 9, фазируемый генератор 10, координатный счетчик 11,первый параллельный регистр 12, второй параллельный регистр 13, газоразрядный сумматор 14. 25Устройство для вьщеления центровеентерФеренционных полос работает следующим образом.С выхода Передающей телевизионнойкамерыснимается видеосигнал отннтерферограммы, представляющий собой сложное колебание, близкое к синусопдальному. С выхода 2 передающейтелевизионной камеры 1 на вход севхронизации фазируемого генератора 1035и на вход сброса координатного счетчика 11 поступают строчные синхроимпульсы, синхронизирующие работу координатного счетчика 11 со...

Номер патента: 1098466

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Пономарев, Приходько

МПК: H01L 21/66

Метки: вырождения, глубоких, квантомеханического, полупроводнике, фактора, центров

...разделаполупроводник в диэлектр с учетомтемпературного размытия, функции Ферми и по взаимному сдвигу полученныхспектров определяют квантомеханичес- З 5кий фактор вырождения глубоких центров,Способ осуществляют следующим образом.На поверхности исследуемого полупроводника, содержащего мелкую легирующую примесь, формируют слой туннельно непрозрачного диэлектрика,т,е. слой с толщиной, превышающейо100 А. При формировании этого слоя 45создают условия, обеспечивающие получение пассивированной границы разделаполупроводник-диэлектрик, в случаеиспользования в качестве исследуемогополупроводника кремния слой диэлектрика формируют окислением поверхности кремния в сухом кислороде с последующим отжигом в азоте, что дает плотность поверхностных...

Номер патента: 1217378

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Бобров, Дюбко, Рыжков, Шелешков

МПК: A61B 17/56

Метки: вращения, суставных, центров

...столО сетку и оси коо вено п имеющи-Х,)+ Л,М динат. щую ис т заме принадлеж у, - координаты центра вращ у, - координаты первом полоХ суставног оордина й данно звену, произво точки М для тр ения звен точки М в лож Х женин;ором положеже во в Составитель Н,ЗемлякЦиткина Техред А,Комарницкая Корректор М.Демчи Реда ака 1 одпи си ое тета СС крытии наб., дФилиал ППП "Патент", г.ужгород, улПроектная, 4 Изобретение относится к способам морфологического исследования тела человека, а именно к способам опреде ления координат суставных центров вращения и длин звеньев тела человека, и может быть использовано при проведении соответствующих измерений в медицине, спорте и эргономике,Целью изобретения является определение смещений суставных центров при...

Номер патента: 1264869

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Бардиер, Безменов, Головко, Гродзинский, Клюкина, Юдин

МПК: A01G 7/00

Метки: адсорбции, количества, листа, поверхности, растения, центров

...на центре адсорбции молекулы вещества-метки к вероятности нахождения на аналогичном центре адсорбции молекулы воды;Р - отношение плотности вещества.метки к плотности воды.Величину Ф можно определить, если известно время прохождения через колонку хроматографа вещества-метки и воды, при данной температуре Ф --Т. Тв(2) где Т. - время прохождения через колонку газового хроматографа вещества- метки; Т. - время прохождения через колонку хроматографа воды. Для данного вещества-метки при даннойтемпературе Ф является постоянной величиной (для этанола при 20 С Ф=0,083).Пример.Из середины листа клена-явора вырезают площадку размером 1 х 1 см, присоединяют к электродам и измеряют электрическое сопротивление образца, которое равно 1,15 МОм....

Номер патента: 1293597

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Важенин, Горлов, Потапов

МПК: G01N 24/10

Метки: знаков, констант, начального, относительных, парамагнитных, расщепления, сверхтонкой, структуры, центров

...положенийи относительных интенсивностей двух верхних и двух нижних СТС-компонент, что позволяет уменьшить диапазон исследуемых частот. 0 знаках констант судят по аналогичной зависимости для указанных компонент (фиг.1 и 2).П р и м е р . Предлагаемый способ б ыл использован для определения относительных знаков констант СТС и начального расщепления иона Мп в кристалле РЬ Се Ов, который имеет следующие параметры спинового гамильтониана: д = 2,00 Ь 2- 8670 МГц, /А= 245 МГц.Измерения проведены на спектрометре РЭ 1301 при температуре 296 К на образцах, выращенных методом Чохральского с примесью Мп 0 -0,02 моль 2 3 ного 7. Резонансные магнитные поляН ) измеряли с помощью измерителя магнитной индукции 1-1,.частоту микроволнового генератора...

Номер патента: 1296396

Опубликовано: 15.03.1987

Авторы: Гришков, Носко

МПК: B25D 5/00

Метки: детали, кернер, отверстий, переноса, сопрягаемые, центров

...2, арежущий выступ 4 выполнен в виде лезвия сверла. Кернер снабжен съемной 35регулирующей шайбой 5, для размещения которой на головке 3 выполненыпродольные лыски б, и одеваемыми нарезьбовую часть 1 сменными втулками7 для резьбовых и гладких отверстии408 сопрягаемых деталей 9 и 10.Перенос центров отверстий на однуиз сопрягаемых деталей осуществляютследующим образом. ловка 3 имеет режущий выступ 4 в виделезвия сверла, Шайбу 5 устанавливаютв продольные лыски 6, выполненные наголовке 3. При выворачивании кернерананосят метку на деталь 10, Затем де"таль 10 снимают и по метке сверлят вней отверстие, 2 ил,2Размечаемую деталь 10 устанавливают на опорах (не показаны) на расстоянии, большем высоты составного кернера без съемной регулирующей...

Номер патента: 1322076

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Ломов, Ломова, Николаева, Финаев

МПК: G01B 5/25

Метки: величины, несоосности, центров

...стержни 6 и 7 располагаются в одной диаметральной плоскости Б перпендикулярно оси валика 1 встречно друг другу, На валике 1 установлены два подпружиненных 20 рычажных элемента 8 й 9, которые располагаются в сквозных от наружной поверхности валика 1 до внутренних конических поверхностей 2 и 3 направляющих пазах 10 и 11, которые выпол 25 иены по разные стороны от оси валика 1, Рычажные элементы 8 и 9 установлены на осях 12 и 13, расположенных равноудаленно от оси валика 1 и перпендикулярно диаметральной плоскости Б, Измерительные стержни б и 7 взаимодействуют с большими линиями рычажных элементов 8 и 9,Устройство работает следующим образом. 35Устройство устанавливают в проверяемые центры 14 и 15 и записывают начальные показания...

Номер патента: 1326963

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Гуменюк, Дегода, Суржко, Чепелев

МПК: G01N 21/64

Метки: анализа, конденсированных, люминесценции, средах, центров, элементного

...- относительная атомная 20масса и концентрация примеси (1 И) соответственно,М, и - относительная молекулярная масса и концентрация молекул матрицы (УА 10,г) 25 соответственно.Переразрядка центров свечения происходит ке только за счет их фотопоглощекия первичного рентгеновского излучения, ко и вследствие поглощения вторичного флуоресцентного излучения, иокизации быстрыми электронами отдачи, а также путем захвата тепловых электроноВ и дырок; эта связанная с матрицей часть возбуждения (а) также пропорциональна количеству поглощенкых рентгеновских квантов(2). Полная интенсивность рентгенолюминесценцин (РЛ) исследуемых центров свечения 40 х " и+я =м(р+ ) (3)Р Апи - г ) - РМп,45где знаки + и )-" относятся соответственно к электронному и...

Номер патента: 1330556

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Постнов, Юрченко

МПК: G01N 31/00

Метки: кислотных, поверхности, силы, твердого, тела, центров

...Корректор Н,Король Редактор А,Лежнина Заказ 3577/47 Тираж 776 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д.4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул,Проектная,4 Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способамопределения силы кислотных центровповерхности твердого тела.Цель изобретения - упрощениеспособа и повышение его точности.Способ осуществляют следующимобразом.П р и м е р, Исследуют четырестандартных порошкообразных образца; кислотность которых установленапо способу-прототипу. Первый образец представляет собой подвергнутый в течение 2 ч термообработке15упри 200 С кремнезем ЯО, второй,третий и четвертый образцы - кремнезем,...

Номер патента: 1330676

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Горбань, Одулов, Олейник, Соскин

МПК: G01N 21/00, H01L 21/66

Метки: дефектных, диэлектрических, материалах, положения, полупроводниковых, примесных, уровней, центров, энергетического

...угол из этого диапазона. В данном случае =2.Экспонирование светом производят до тех пор, пока дифракционная эффективность 1 решетки, записываемой в кристалле, измеряемая при помощи дополнител.ного тестирующего лазера с неактивным излучением, не достигнет заметной величины, не превышающей 0,01-0,02. В этом случае дифракционная эффективностьоказывается прямо пропорциональной квадрату изменения показателя преломления п, что облегчает пересчет полученных температурных зависимостей.После экспонирования, как и во всех способах определения энергетической структуры по термостимулированным процессам, образец подвергают нагреву; наиболее удобным с точки зрения последующей расшифровкй температурных зависимостей является линейный по времени...

Номер патента: 1332563

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Косачев, Нестеров

МПК: H04N 7/18

Метки: интерференционных, полос, центров

...бло" ков сравнения поступают на входы второго элемента И 13. Одновременно с этим на выходе второго сумматора 10 образуется сигнал разности О-А, а на выходе первого сумматора 11 - сигнал разности О-С, Эти два сигнала сравниваются первым блоком 12 сравнения. В том случае, когда (О-А)(О-С) на первом выходе появляется сигнал логической единицы. Этот сигнал совместно с сигналами логической единицы с выходов третьего 7 и четвертого 8 блоков сравнения вызывает появление логической единицы на выходе второго элемента И 13 и элемента ИЛИ 15. Это соответствует ситуации правильного выделения центра интерференционной полосы в данном направлении анализа по оси х.В случае, когда сигнал на первом входе блока 12 сравнения, больше сигнала на его втором...

Номер патента: 1379324

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Антипов, Данченко, Иванченко, Конышев, Мирошниченко, Подольский, Розенталь, Шумилин

МПК: C21D 9/34

Метки: колес, локомотивных, термической, центров

...производятодо 500 С, после чего центры подверогдют отпуску при 500 С в течение2,5 ч. Длительность термообрдботки порежимам 2 - 4 составляет 4 ч 20 минч 25 мин,Остаточные напряжения на внутренней поверхности стрпицы определяютэкспериментально с отделением частиступицы, оборудовдцной розетками тенэоддтчиков с базой 1 О мм. Используюттенэометрический мост. Значения окружных остаточных напряжений (осевыенапряжения пренебрежимо малы) притермической обработке по известномуспособу (режим 1) и с дополнительнымохлаждением внутренней поверхностиступицы по трем вариантам (режимы2 - 4) приведены в таблице. Остаточные Режим обработки напряжения,Н/мм-40 Термическая обработка по режиму 4 соответствует предлагаемому способу с оптимальным значением...

Номер патента: 1379706

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Татаринов

МПК: G01N 21/88

Метки: детали, дефектов, координат, центров, яркости

...усиления фотоприемника (или коэффициент передачи по аналогии с автоматикой и радиоэлектроникой).При этом на фотоприемники поступает световой поток только от наиболееяркого дефекта. Рабочую точку всехтрех фотоприемников, в качестве которых используют ФЭУ, выбирают в начале линейного участка характеристики освещенность - напряжение питания ФЭУ. Возможна и обратная комбинация: рабочую точку ФЭУ выбирают вконце, т.е, наверху, линейного участка характеристики освещенность - напряжение питания ФЭУ, а коэффициентпропускания жидкокристаллической матрицы выбирают равным единице, те.матрица в на але работы прозрачна.Таким образом, в начале контроляиз-за минимального коэффициента пропускания светового потока определяются координаты центра...

Номер патента: 1413684

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Галанов, Потихонов, Степкина

МПК: H01L 21/66

Метки: концентрации, локальных, полупроводниках, центров

...на дисплей 20.Отношение сигналов ЕП есть магнитный круговой дихроизм и определяется соотношением 4 ос 1 4 нк д(1,е+1,е )зхп 2 й 1где ьы. - приращение коэффициента поглощения для циркулярно поляризованного излучения,обусловленное магнитным полем;Ж о. - коэффициент поглощения электромагнитного излучения присовпадении направлений распространения излучения с направлением магнитного поляи при противоположной направленности распространенияизлучения и магнитного полясоответственно;й - толщина образца;1 - поток излучения, прошедшийчерез образец при напряженности магнитного поля Н=О,Величина 4 Р связана с концентраци ей локальных центров Б в полупроводнике следующим соотношении: 6 В Б = М-и ед,пл.где М=О, 310 - . -- калибровочныйсм...

Номер патента: 1421976

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Небылицкий, Попов

МПК: G01B 5/25

Метки: отверстий, центров

...2, подпружиненных пружиной3 к центру корпуса 1. Механизм перемещения плунжеров 2 выполнен в видевтулки 4, установленной соосно корпу су 1 с возможностью вращения и имею- .щей на ее боковой поверхности 1 риплоские площадки, роликов 5, взаимодействующих с соответствующими плоскими площадками втулки 4 и плунжерами 2. Втулку 4 приводят во вращениерычагом 6 поворота. Рычаг 6 поворотаприводят в движение с помощью винта7 с левой и правой резьбой и взаимоцействующих с винтом 7 Гаек 8 и 9 сцапфами. Цапфа гайки 8 входит в кронштейн 10 и рычаг 6 поворота. К корпусу 1 прикреплена крышка 11, а цапфагайки 9 входит в кронштейн 12 и крыш-ку 11. Кронштейн 10 прикреплен к ры" 40чагу 6 поворота, кронштейн 12 - к крышке 11 винтами 13. Пружина 3 одним...

Номер патента: 1453279

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Куликовских, Монтволинская, Ромбак, Яновский

МПК: G01N 24/10

Метки: анализатор, концентрации, парамагнитных, центров

...коэффициентом усиления, выход которого подключен к катушкам 9 модуляции магнитного поля. Анализатор работает следунщимобразом,Исследуемый 4 и калибровочный 5образцы помещают в.одну и ту же область резонатора 3, расположеннуюмежду полюсными наконечниками электромагнита 1, и облучают электромагнитным излучением от блока.6СВЧ. Задание начального значениямагни 1 ного поля и его разверткаосуществляется блоком 2 управления.Модуляция магнитного поля на исследуемом и калибровочном образцахпроизводится с помощью катушек мо"дуляции 9, на которые подается сигнал частоты д. Изменение магнитного поля во времени Н(й) на исследуемом и калибровочном образцахбез учета развертки магнитного поляописывается выражением1Н2 Нмзпгде Н- амплитуда модуляции...