Патенты с меткой «элементного»

Номер патента: 172119

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Зайцев, Смирнов, Усенков, Якубович

МПК: G01N 23/22

Метки: альфа-фотонного, альфанейтронного, анализа, двухкомпонентного, состава, способа, элементного

...альфа-излучения 10 крепится под нейтронным счетчиком по его центру активной поверхностью вниз.В парафиновом блоке 9 предусмотрен горизонтальный канал 11 для введения под источник альфа-излучения с помощью подвижной планки 12 кюветы 13 с исследуемым препаратом. Кювета цилиндрической формы изготовлена из органического стекла, глубина 1 - 2 мм, внутренний диаметр соответствует диа. метру активной поверхности источника. Подвижная планка 1 фиксируется в канале таким образомчто исследуемый препарат устанавливается точно под активной частью источника.Взаимное расположение счетчиков, подвижной планки, кюветы с пробой и источника вы. брано так, чтобы расстояние между активной поверхностью источника и поверхностью пробы не превышало 0,5...

Номер патента: 300860

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Бибинов, Петренко, Хайдаров, Хасанов

МПК: G01N 23/02

Метки: анализа, веществ, состава, твердых, элементного

...тем, что, с я точности и производитель- изготавливают клиновидной ют в пучок гамма-лучей межи толщины. 1Изобретение относится к ядерно-физическим способам анализа элементного состава твердых веществ и может быть применено в металлургической, геологоразведочной, горной и других областях промышленности,Способ основан на просвечивании гамма- лучами образцов исследуемых материалов и последующем измерении интенсивности гамма-излучения, прошедшего через анализируемые образцы,Известные способы предусматривают тщательную подготовку образца для анализа, например вырезание пластинки с заданной толщиной и плоскопараллельными гранями.После изготовления пластинки необходимо с помощью микрометра проверить ее толщину. В случае отклонения толщины...

Номер патента: 314050

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Опытно, Турецкий, Урина, Халдей, Щипун

МПК: F25B 37/00

Метки: h»hu-ian-•библпотнл, абсорбера, оросительного, охлаждения, т1, элементного

...установке путем отвода выделяющейся теплоты абсорбции колодной водой.Описываемый способ отличается от вестных тем, что колодную воду подают араллельпо в верхний и нижний элементы, а теплую воду отводят из рядом расположенных средних элементов.Зто позволяет уменьшить расход воды при переменных нагрузках,На чертеже изображен элементный абсорбер для осуществления описываемого способа.Абсорбер состоит, например, из трубчатых элементов 1 - б, расположенных один над другим. Наружная поверхность труб орошается раствором, который последовательно проходит по каждому элементу сверху вниз, а по трубам протекает охлаждающая вода. одную воду параллельно ин и нижний б элементы пои 8, а тепл ю вод отводят из рженных элементов 8 и 4 по пат5 В...

Номер патента: 392438

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Варик, Вител

МПК: G01N 23/222, G01V 5/00

Метки: анализа, образцов, элементного

...Изобретение относится к неитроннвационному анализу, в частности, к,ведению на установках Нейтрон,ном размножителе (НР) и других, гдзуются представительные навески ротбитые массы.При навесках до 100 г. и более, используемых при .проведении нейтронного активационного анализа на установках Нейтрон, НРи других, часто на результаты анализа влияет состав проб. В особенности это относитсяк анализу пород, в которых могут иметь местозначительные вариации содержаний сильнопоглощающих нейтроны элементов, таких, какбор, кадмий, хлор. Вариации элементного состава приводят к разной степени возмущениянейтронного поля пробами в зоне облучения,причем эффект может достигать 50 отн. % посравнению с эталонными пробами. В связи сэтим невозможен подбор...

Номер патента: 429342

Опубликовано: 25.05.1974

Авторы: Бородулина, Иоонсон, Милли, Ревельский

МПК: G01N 30/78

Метки: веса, молекулярного, соединений, состава, элементного

...отношению произведения числа атомов этого элемента на его атомный вес к молекулярному ЗО весу анализируемого вещества.При введении одинаковых объемов паровили газа анализируемого вещества и стандарта число атомов определяемого элемента рассчитывают по формуле, полученной из фор хмулы (3) после подстановки величины - "=1:т стгде Ях, Зст - показания интегрирующегорегистратора 4 для анализируемого вещества и стандарта соответственно;д, уст - навески анализируемого вещества и стандарта соответственно;М;М;М в молекулярн вес анализируемого вещества, стандарта и газа-носителя;При введении одинаковых по объему проб- паров или газа анализируемого вещества и стандарта, взятых при одинаковом давлении и температуре, молекулярный вес рассчитывают по...

Номер патента: 442826

Опубликовано: 15.09.1974

Авторы: Девятьяров, Пинигин, Хлюпин

МПК: B01J 11/50

Метки: анализа, катализаторов, окисления, окисных, элементного

...окислы переходных металлов - окись ванадия, двуокись марганца, 5 окись хрома, окись вольфрама, подвергают прокаливанию при температуре 200 в 3 С в муфельной печи. Известным способом загрязнения из катализатора удаляются не полностью. 1С целью повышения степени очистки катализаторы нагревают в токе кислорода при температуре на 150 - 200 С ниже температуры их разложения с последующим охлаждением до комнатной температуры в среде кислорода. 15П р и м е р 1. В кварцевую трубку с оттянутым концом помещают катализатор - пяти- окись ванадия. Трубку в вертикальном положении устанавливают в электрическую печь и пропускают через слой пятиокиси ванадия 20 кислород, Расход кислорода 50 в 1 мл/мин. Прокаливают в течение 2 ч при 550 С, затем...

Номер патента: 462133

Опубликовано: 28.02.1975

Авторы: Белов, Иоонсон, Поляк, Ревельский

МПК: G01N 31/08

Метки: газохроматографический, компонентов, смеси, состава, элементного

...содержание элементовв молекуле анализируемого вещества;1 х, 52 Ах - проинтегрированные сигналы (площади пиков), полученные для анализируемого вещества и продукта конверсии, соответствующего определяемому элементу соответственно;К - поставленная пропорциональность,определяемая прн хроматографировании и конверсии вещества с известным элементным составом:К: - САст у2 Астгде СА - процентное содержание определяемого элемента в молекуле вещества - стандарта;51 ст, 52 Аст - ПрОИНтЕГрнрОВаННЫЕ СИГНаЛЫ(площади пиков) вещества - стандарта и продукта конверсии, соответствующего определяемому элементу.На чертеже приведена схема реализации предлагаемого способа.Источник газа-носителя 1 соединен с устройством 2 для ввода пробы, на выходе которого...

Номер патента: 396657

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Виценко, Орехов, Орлов, Очкур, Пшеничный, Чернявский

МПК: G01V 5/00

Метки: анализа, горных, пород, руд, элементного

...устр с сдвумя источниками излучений.На основе зондового устройства 1 смонтрованы детектор излучения 2, зашитнь;еэкраны 3, в коллцмационных каналах 4 которь х размешены источники 5 излученЗашитные экраны 3 выполнень; поворотвокруг осей 6, перпендикулярных плоскости,дяшей через линию цстэчники в детекоси коллиматора, и закреплены фикса 7 на масштабной шкале 8,Остов зондового устройства 1 имеет паз9 для перемешенця источника 5 излученияпо линии истэчн;к в детект. Рассточниемежду детектором 2 ц ближайшим источнц3ком 5 устанавливают таким, чтобы оно было больше минимального расстояния между поверхностью 10 исследуемой среды и детектором 2, а расстояние между детектором 2 и,дальним источником 5 - больше максимального расстояния между...

Номер патента: 274859

Опубликовано: 28.02.1982

Авторы: Гамбарян, Казаченков, Штань

МПК: G01N 23/00, G01V 5/00

Метки: анализа, вещества, количественного, нейтронного, состава, элементного

...минимального временного 15 интервала между пиками импульсного захватного гамма-излучения присутствующих в веществе элементов.Таким образом, в предлагаемом способеиспользуется явление резонансного погло щения в анализируемом веществе нейтронов определенных энергий, что становится возможным в результате применения тяжелого замедлптеля импульсного источника нейтронов и временной селекции захватного 25 гамма-излучения.В качестве импульсного источника нейтронов может использоваться импульсный генератор нейтронов, либо импульсный реактор на быстрых нейтронах. ИспользоваЗО ние импульсного реактора на тепловых нейт2748594ьшой Формула изобрстсния Редактор Н. Багирова Техрсд А, Камьииникова Корректор Л. Исаева Заказ 1287 Изд. Ла 112 Тираж 719...

Номер патента: 435701

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Божко, Ключарев

МПК: G01N 23/00

Метки: анализа, элементного

...величина градиента внутрикристаллического электрического поля может быть измерена по ядерному сверхтонкому расщеплению. Поскольку необходимо измерять сверхтонкое расщепление на примесных атомах, концентрация которых составляет 0,1% ат. и менее, предлагается воспользоваться ядерно-спектроскопическими методами измерения сверх- тонкого расщепления короткожпвущих ядерных возбужденных состояний, например методом возмущенных угловых корреляций, который может быть реализован, если примесный гафний будет содержать радиоизотоп гафний.Из расплава ниобия отбирают пробу в количестве около 1 г, в которую добавляют металлический гафний, содержащий радиоизотоп гафнийс удельной активностью активированного гафния, достаточной для измерения угловой 7...

Номер патента: 411359

Опубликовано: 07.06.1983

Авторы: Гамбарян, Николаенко

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, состава, элементного

...ускорителей заряженных частиц.Известны способ элементного анализа вещественного состава, основанные на облучении исследуемого образ ца потоком ионизирующего излучения различной энергии, испускаемого мишенью при бомбардировке ее пучком частиц.Однако по известному способу необходимо последовательно облучить исследуемый образец при различных энергиях, что увеличивает продолжительность анализа пропорционально количеству элементов, содержащихся в исследуемом веществе.Цель изобретениясокращение времени проведения анализа и уменьшение погрешности.Это достигается тем, что одновре-, меннооблучают несколько образцов анализируемого веществарасположенных относительно направления первичного пучка частиц под различными углами так, что одному из...

Номер патента: 1111567

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Волковицкий, Гаврилов, Голуб, Захарченко, Семенов, Скрипкин

МПК: G01N 15/00, G01N 21/00

Метки: аэрозольных, состава, частиц, элементного

...аэрозоль" ЗОные частицы испаряются и их пары,нагреваясь до высокой температуры,служат источником эмисионного спектра,по которому судят о наличии тех илииных элементов, входящих в состав 35аэрозольных частиц,Цель изобретения - расширениедиапазона размеров анализируемыхчастиц в сторону меньших размеров,Поставленная цель достигается 4 Отем, что в способе определения элементного состава азрозольных частиц,включающем воздействие на аэрозольную среду импульсным лазерным излучением, инициирующим оптический пробой в среде, и регистрацию эмиссионного спектра излучения факела, образовавшегося при пробое, по которомусудят об элементном составе частиц,на аэроэольную среду вначале воздействуют излучением с интенсивностью в несколько раз...

Номер патента: 1170335

Опубликовано: 30.07.1985

Авторы: Гоганов, Лукьянченко

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, диспергирующий, рентгеноспектрального, состава, элемент, элементного

...3 и 4, 4 и 5 плотно примыкают друг к другу, кристяллографические плоскости а 1 а в кристал" лах 1-5 расположены под разными угла"Ю ми п, с относительно рабочей поверхности кристалла Б,Линейный размер с/Ч; каждого кристалла К; удовлетворяет соотношению25к- "к(2 Ы со 59 зл Ч где Ь - расстояние между центром 30кристалла и источником рентгеновских лучей,1 -1 - минимальная разность длинрволн К - линии анализируемого элемента, и К в .линии 35этого же элемента или элемента с атомным номером Е;6 - угол Вульфа-Брэгга,а кристаллографические плоскости,по крайней мере в двух кристаллах, 40расположены под разными углами о относительно рабочей поверхности кристалла. Рабочая поверхность Б каждого кристалла плоская, а уголь, длякаждого кристалла...

Номер патента: 1203414

Опубликовано: 07.01.1986

Авторы: Гоганов, Лукьянченко

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, вещества, диспергирующий, рентгеноспектрального, состава, элемент, элементного

Номер патента: 1326963

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Гуменюк, Дегода, Суржко, Чепелев

МПК: G01N 21/64

Метки: анализа, конденсированных, люминесценции, средах, центров, элементного

...- относительная атомная 20масса и концентрация примеси (1 И) соответственно,М, и - относительная молекулярная масса и концентрация молекул матрицы (УА 10,г) 25 соответственно.Переразрядка центров свечения происходит ке только за счет их фотопоглощекия первичного рентгеновского излучения, ко и вследствие поглощения вторичного флуоресцентного излучения, иокизации быстрыми электронами отдачи, а также путем захвата тепловых электроноВ и дырок; эта связанная с матрицей часть возбуждения (а) также пропорциональна количеству поглощенкых рентгеновских квантов(2). Полная интенсивность рентгенолюминесценцин (РЛ) исследуемых центров свечения 40 х " и+я =м(р+ ) (3)Р Апи - г ) - РМп,45где знаки + и )-" относятся соответственно к электронному и...

Номер патента: 1534379

Опубликовано: 07.01.1990

Авторы: Давыдов, Климанова, Никифоров, Цеханович, Цыганков

МПК: G01N 25/46

Метки: каменноугольных, масел, нефтепродуктов, состава, элементного

...к способам контроля элементного состава нефтепродуктов и каменноугольных масел, и может быть использовано при исследовании нефтепродуктов. Цель изобретения - упрощение способа и повышение его оперативности. Известное количество исследуемого вещества сжигают в известном количестве окислителя и к потоку продуктов полного горения подводят или отводят контролируемые количества тепла. Измеряют температуру продуктов горения до и после подвода тепла. По величине изменения температуры с учетом знания удельных теплоемкостей продуктов горения и стехиометрических соотношений между элементами в веществе определяют элементный состав последнего. 1 ил,лительного устроиства 8, в котором осуществляется расчет количества подведенного или отведен ного...

Номер патента: 1691906

Опубликовано: 15.11.1991

Авторы: Коган, Павлов

МПК: H01J 49/40

Метки: веществ, изотопного, состава, элементного

...)ИИ,1)Р 1)Йфа ДС ПР)48 Л 414 ИК(Э, сЭСТОЯНИЕ148 Х;,)у Областями дрейса (л приемника госта( ляет 550 мм, В ксэчсстве приемника ионсв(СЛ 101484 Т НИЗКОЙ ЭсСп(ЭОСТРВНЕННОСТИ ИС"цо,ьзуется шевронная сборка микрока 1 )-Ь)х пласти 11,Р 1 сН с(ЛИЗЕ ВВОИВ )ИЙ ДЕЙТЕРИЯ Б ДО -НЫХ Э ГЛО)КБНИЯХ В КгЕСТВР ИССЛЕД/ЕМО)0Об)ЛЗЦа исГ)ользуют пробы дон)ых стло)к"1(Лй, 1.еобхОДимаЯ веп;и)48 н(П 1)яКснн эСТ)( 1 сз ГНИ Г 1400 ГОЛ 1 ОцрЕДЕЛЯ/(ВСЬ Г 0;1 Ть Б 1 смен 1 в:с 14 ени 1" 0 цооиг Г- ;1(т ьч(брос зарях(енных )астиц из (;сгоч)(ика 1 се частицы обладают ссставляющи,",лс;01(.с)и, нэГ)1)авлРн ными кэ 1, Вдоль,11,Г 1(Х 1, ПС)цво(ЗК 1/ МагИТНОГО ПОЛЯ.88 счет поперея;(гй сос:га:) ЯющэйГ)ВИ)К ТСЯ ПР Л;(РОРОс)с(ЭЛМ Р;)Д)4/Са(41, Б(с(Ичин ы кот опых си...

Номер патента: 1718056

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Ананьин, Быковский, Жуков, Запов, Попов, Пронин, Узиенко

МПК: G01N 21/39

Метки: аэрозольных, состава, частиц, элементного

...что для осуществления оптического пробоя в воздухе, не подвергавшемся специальной очистке, необходимыплотности потока лазерного излученияФ- 10 Вт/см . Повышение количест 9 10 2ва находящихся в воздухе пылинок ведет к 50уменьшению пороговых значений Ф и придостижении определенных концентрацийчастиц (Кпор) в среде развивается низкопороговый коллективный оптический пробой(НКОП). Известно, что для инициирования 55НКОП требуются потоки Ф Бт/см, чтоб 2на 3 - 5 порядков ниже Ф, необходимых дляинициирования пробоя в воздухе, Размерчастиц б и Кпор для каждого вида порошкаподбирается индивидуально. Как следует из проведенных исследований, рекомендуемыми являются следуюшзие параметры; б 10 мкм, Кпор 10 ч/см, Эмиссионныйзспектр из...

Номер патента: 1551065

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Зуев, Кордонский, Скрябин

МПК: G01N 1/28

Метки: анализа, подготовки, пробы, твердых, тел, элементного

...погрешность измерений зависит от аналитического окончания способа и в случае ЭПР-измерений составляла 10-157.П р и м е р 1. Пробоотбор для определения меди в белой латуни.В качестве источника лазерного излучения использовался технологический лазер "Квант" при напряжении накачки 800 В. В качестве образца 3 (см. фиг.1) использовалась белая латунь (цинк 85%,медь 10%, алюми - ний 5%). Для хлорида аммония и медного образца была найдена С = 25.г/л (см фи 2) СБ О г/лАнализ раствора выполнялся на радиоспектрометре ЭПР Х-диапазона.Спектры ЭПР фиксировались в виде первой производной линии поглощения. Они представлены на фиг.З. Аналитический сигнал меди (11), как и всех других изученных парамагнитных ионов, определялся по стандартной методике...

Номер патента: 1763975

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Красников, Метлушенко, Пыщев, Этметченко

МПК: G01N 31/00

Метки: веществ, органических, состава, элементного

...м)/А; для СОг Вм=АмхМСОг/МйнгсОИНг==Амх 0,6000,где Ам - навеска мочевины,П р и м е р 1, Контрольные сожжениястандартных веществ для доказательстватого, что добавка мочевины не влияет на где В - привес поглотительного аппарата, вмг;А - навеска, мг;Р-фактор пересчета(РС, Гн, Рз, Рге)Рс=М с/ Мсог=0,2 729 Н=Мнг/Мнго=0,1119РЗ=МЗ/Мзо 4=0,3338ЕГе=МЕег/МРегоз=0,7000. 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 точность определения отдельных элементов,В табл.1 приведены данные элементного анализа сахарозы (1), которая обычно используется в микроанализе в качестве стандарта для установления поправочных факторов, а также перхлората 2,4,6-трифенилпирилия (2), строение которого строго доказано многочисленными синтезами различными способами, ИК-спектрами и...

Номер патента: 1777055

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Дробнич, Мастюгин, Поп

МПК: G01N 21/62

Метки: анализа, твердых, тел, элементного

.../) 55 можно определить спектр масс. поверхностных атомов вещества, а по высоте изломов - концентрации этих частиц. Следует отметить; что функции распределения по другим, отличным от Ч составляющим скорости такЦЧ ) - Р) (Ч ) +(Чд, (3) где б Чг) и и( (Ч) - функции распределе(4) ( )ния соответственно однократно и многократно рассеянных частиц. Многократно рассеянные частицы проходят в веществе достаточно большой путь и взаимодействуют с разными атомами мишени, Поэтому 11) (Ч) не имеет каких-либо ярких особенностей, и из нее трудно извлечь полезную информацию. Информа)цию о поверхности дает распределение 1 (Ч), Действительно, при однократном квазиупругом рассеянии первичный ион взаимодействует только с одним атомом мишени, расположенным...

Номер патента: 1777187

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Миловзоров, Шерозия, Шишлаков

МПК: H01J 49/14

Метки: анализа, поверхностных, слоев, твердых, тел, элементного

...уровень увелицивает вероятность ионизации атома при взаимодей- щ ствии с поверхностью распыленного , образца. Взаимодействие в этом слуцае происходит на расстоянии от поверхности, равном 1"104 А, так как ра" диус орбиты возбужденного электрона зависит от главного квантового числакак г п и при и= 85 составляет около 1 мкм, Таким образом, при переводе атома в высоковозбужденное состояние вероятность его ионизации рас тет с уменьыением высоты и шириныпотенциального барьера.Вероятность Р; ионизации атома при воздействии лазерного излуцения И 2 - вероятность ионизации врезультате взаимодействия с поверхностью, равная ко" эффициенту прохождения потенциального барьера Р.При .знацениях ., интенсивности излуцения лазера 11 яо...

Номер патента: 1625231

Опубликовано: 10.02.1996

Авторы: Букин, Волков, Коробейникова, Нахабцев

МПК: G01N 23/223

Метки: вещества, кристалл-дифракционного, рентгеноспектрального, состава, элементного

...отражения,Графики 7, 11 на этих фигурах характеризуют изменение аналитического параметра ц = йо/Йз = ЦЬ), где й и й, соответственно потоки флуоресцентного и рассеянного излучения, измеренные в первом порядке отражения, причем поток Йв соответствует рассеянному излучению содлиной волы Л = =1545 мА (когерентно рассеянное излучение Со Ка - присутствующей в спектре излучения рентгеновской трубки).Графики 8, 12 на этих фигурах также характеризуют отношение флуоресцентного Й и рассеянного И излучений. зарегистрированных в первом порядке отражения, с той только разницей, что длина волны выбрана равной длине волны рассеянного излу ения, зарегистрированного во втором и рядке отражения в описанном способе.Графики 9, 13 на этих фигурах...

Номер патента: 464224

Опубликовано: 20.05.1996

Авторы: Бурмистенко, Гамбарян, Иванов, Тарабрин, Феоктистов, Штань

МПК: G01N 23/221

Метки: активационного, анализа, вещества, состава, элементного

Способ активационного анализа элементного состава вещества, заключающийся в облучении цилиндрического образца потоком ионизирующего излучения, транспортировка его в препаратопроводе прямоугольного сечения к детектору и измерении наведенной активности, отличающийся тем, что, с целью повышения представительности и точности анализа образцов, диаметр которых больше высоты и вес порядка сотен грамм при облучении их проникающим излучением с анизотропным распределением интенсивности, образец вращают при облучении вокруг собственной оси, расположенной перпендикулярно оси пучка проникающего излучения, приводят вращающийся образец в соприкосновение с нижней поверхностью препаратопровода, а при измерении образец устанавливают так, что его ось...

Номер патента: 1825122

Опубликовано: 10.11.1998

Авторы: Беков, Компанец

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, изотопного, лазерного, фотоионизационного, элементного

...атомов каждого из и элементов серией из и импульсов излучения и регистрация соответствующего каждому элементу полного аналитического сигнала 1, а также возбуждение серией из п импульсов и регистрация фонового сигнала 1 для каждого элемента.фонПосле этого процесс возбуждения и регистрации аналитического сигнала и фона повторяется снова, начиная с наиболее летучего элемента и заканчивая наиболее труднолетучим, и так многократно, до полного испарения пробы за время То. При осуществлении изотопного анализа выбор последовательности определения элементов не имеет принципиального значения, Число серий импульсов выбирают достаточным для того, чтобы в результате такого циклического процесса зарегистрировать сигналы, соответствующие...