G01B 11/06 — для измерения толщины

Прибор для измерения толщины зеркального стекла

Загрузка...

Номер патента: 24639

Опубликовано: 31.12.1931

Автор: Клобуков

МПК: G01B 11/06

Метки: стекла, прибор, зеркального, толщины

...и с нониусом с, снабженная выступающим за вершину угольника изогнутым концом е и перемещаемая по удерживающему ее катету посредством винта АПри пользовании прибором пластинку и устанавливают в такое положение,%при котором преломленные измеряемым стеклом лучи, несущие изображение конца е пластинки д получают направление по гипотенузе угольника а и проходят через визир Ь. В момент совпадения отражения конца е пластинки и с точкой 1 вершины угольника а отсчет по нониусу с расстояния между точками е и / дает толщину измеряемого стекла. Это доказывается следующим рассуждением: согласно закону преломле. ния, Бт угла наклона преломленного стеклом луча, несущего изображение конца е пластинки и, равен коэфициенту преломления стекла, умноженному...

Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн

Загрузка...

Номер патента: 39986

Опубликовано: 30.11.1934

Авторы: Зимин, Циммерман

МПК: G01B 9/02, G01B 11/06

Метки: световых, помощи, прибор, волн, интерференции, точных, измерений

...мери тельный штифт, передвижной в осевомНа чертеже фиг. 1 схематически изображает предлагаемый прибор сприменением микроскопа для отсчета; фиг. 2 предлагаемый прибор с отсчетом простым глазом.Прибор состоит из двух стеклянных пластин 1 и 2, из которых первая неподвижная, а вторая подвижная и имеет опорную поверхность 4. Между пластинами 1 и 2 помещена фольга 3. Обмеряемыи предмет 17 помещается на подставке 16, сдвигая при этом в осевом направлении Мерительный штифт 5, поад Д. иену-ы;.мещенныйв корпусе 2 прибора Штифт доказывает давление на подвижную пластинку 2, перемещая ее. Вследствие этого воздушная прослойка между пластинами изменяется, а следовательно изменяется цвет и количествоДля отсчета количества полос может быть применен...

Способ массовой сортировки листочков слюды по интерференционным цветам

Загрузка...

Номер патента: 55055

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Аршинов

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: цветам, листочков, массовой, сортировки, интерференционным, слюды

...и параллельным линии глаз сортировщицы.Вторая сортировщица устанавливает листочки слюды, вращая их рукой на конвейерной ленте на затемнение, т. е. в положение, когда плоскость оптических осей листочков слюды будет совпадать с плоскостью ходящей через нормаль к листочкуи ось наклоненной трубы.Рассматривание слюдяного листоч-ка через трубу под углом к его нор-мали в плоскости Хр - %п позволяет наблюдать интерференционныецвета, несколько более высокие.Для увеличения разности ходаинтерферирующих лучей лучше, однако, пользоваться наложением на исследуемые листочки слюды пластинок той же слюды или других двупреломляющих минералов с известной разностью хода.При толщине листочка слюды в 0,02 лм и при силе ее двупреломления Ид - Хш = 0,0055...

76963

Загрузка...

Номер патента: 76963

Опубликовано: 01.01.1949

МПК: G01B 7/06, G01B 11/06

Метки: 76963

...наблюдают за спектром в исследуемой области.По секундомеру отсчитыва 1 от время от включения разряда до момента равной интенсивности выбранных для сравнения линий и, пользуясь заранее построенными градуировочными графиками для данного сорта покрытия, определяют толщину последнего.Источником питания разряда служит генератор активированной .1 уги переменного тока, при этом для тонких покрытий до 50,к) прнМ 76963меняют один высокочастотный разряд; для покрытий свыше 50 унк в генераторе выключают катушку ипдуктивности контура дуги и используют схему искрового режима.Важнейшие преимущества предлагаемого способа:1) Определение толщины покрытия на металлическом изделии производится с весьма малой затратой времени, которая определяется...

Оптический толщемер

Загрузка...

Номер патента: 78579

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Шахвердов

МПК: G01B 9/04, G01B 11/06

Метки: толщемер, оптический

...трубки. От тубуса микроскопа 8 под углом 90 отведена дополнительная трубка (опак), несущая марку (диафрагму, щель) и осветительную систему (конденсатор и лампочку от карманного фонарика).Полупосеребренный кубик, помещенный в тубусе против дополнительной трубки, позволяет получить изображение марки в предметной точке микрообъектква микроскопаЮстировка прибора выполняется при постройке и заключается в том,861что микроскопы должны иметь общую оптическую ось, совпадающую с центром отверстия столика,Марки должны быть установлены с таким расчетом, чтобы их изображения точно совпадали с аредметными точками микрообъективов, Для периодического контроля юсти. ровки необходимо микрообъективу одного из микроекопов обеспечить движение,...

Прибор для измерения толщины льда

Загрузка...

Номер патента: 81676

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Артюхов

МПК: G01N 21/59, G01B 11/06

Метки: льда, толщины, прибор

...реши толщины льда.Извесгны приборы, которыми опреДСЛ 5 П)Т Тс)ГППИНУ .ЬДЯ ПО ЕГО ЭЛЕК- трическому сснрсНв, С 5110, однако Оци с)ець с Ож ны.Нре)сление тог- цицы льда цепосредсгвсццым замером т)сбмс затраты 00;ЬцОго колисс) вя рм,11 ц вре.Сцп ц 1 мстроиство проруби.1 рс,иЯгсмый цриоор, принцип ДЕНСВЦ 5 КСС)РС)ГО ОСНОВЯН Н ЦС- пользовании различной прозрачности Л)1 Ц ВсЫ, Ц ПМЕСТ СГМСЧЕЦПЬК вьццс нс состтссв и цсзволяет определять толщину льда с достаточной точцссн .На чертеже сссмятичсски цзосражец поиООр, устяцовгсццый ц Г 1 ьду.В сОрц) с 1 приооря, крь 1)ка 2 И ДНС,., КСГОРСН О ЗГСГСВЛСЦЫ ИЗ прсзрячНго матс риала, вОптировап паряоолцческцй рефлектор 4 с эгекгрсля)Нс с, питаемой током от аксм)мг 5 Ооцс)и с)ятяреи Г),11 к;Гя 7 служит...

Поляриметр

Загрузка...

Номер патента: 94493

Опубликовано: 01.01.1952

Авторы: Корольков, Кудрявцев

МПК: G02F 1/03, G01J 4/04, G01B 11/06 ...

Метки: поляриметр

...через СНТ(ЕсОС ВЕШЕГТВО д, ЯНЛПЗЯТОр 6 П (1)1(КГ 1)МС"1 ГЯ ЛНН ( с Нс ФОТО- эслс)Гн, О. ФОГОПООкн ПОГле ) ГнлнтслЯ ) ВОЗ;1(1.стВ О и; илик;3 т 01) плн (ГОГс:,Пы .(Сязм 10.11 Г:30 МОЛ, ВТОР ПОЛ ВОЗЛССТВПС.,1 Э,ГКТРН"СКОГО 13(151 ЛСС)ОРМП)С С Я,О В)ЯЗЫЗЯВН ТрЕНН 1 Е НсПрЯЖЕНН 5 В К).СТЯЛЛС 1 С, С,",ОВ 3 ТСЛЬ- но, н ПОВОРОГ нлоскОГт П 1)0.(ОЛ 5)н(ГГО чс)(3 кР;Г слл ПОЛ ЯР 30 Бс)н 130 ГО ЛЯ Г 3 СТ 3, О. НОВОРО;1 ЛЧ;1 НРОПРЦНОН)ЛСН НЯПР):ЖСН;1;0 13 (.;1 ГТ)ЛЛ (.ПО Осн Яосцисс Отло)кеи угол ПОВОрота:( Яиализатора, Я 510 Оси ординат - сила светового потока ( иа фотоэлсменте, Точка а соответствует смещению поляризатора ио отношению к анализатору ия 45". При этом зя Один период электрического поля кристалл путем натяжения дВяжды умеН 1...

Способ определения толщины оксидных пленок

Загрузка...

Номер патента: 99388

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Борзов

МПК: G01B 11/06, G01J 3/36

Метки: пленок, толщины, оксидных

...является входящего в сов другая - оссплава, на котсная пленка. змеряютсть парстарыхемента,чпителя,ементана оксид Предметом изобретения является способ определения толщины оксидного покрытия на металлических сплавах, отличающийся от известных способов тем, что толщина оксидной пленки определяется сравнением интенсивности спектральных линий химического элемента, введенного в эту пленку, с интенсивностью спектральных линий осповнсго элемента оксидированного металлического сплава.Предлагаемый способ состоит в том, что в поры оксидной пленки вводят, например, путем окунания, наполи итель, представляющий собой соль какогс-либо химического элемента, пе содержацегося в оксидированном сплаве и имеющего удобные спектральные линии в...

Способ оптического определения толщины пленок лакокрасочных покрытий с помощью двойного микроскопа

Загрузка...

Номер патента: 102090

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Каск, Ландра

МПК: G01B 11/06, G01B 9/04

Метки: толщины, лакокрасочных, помощью, покрытий, оптического, микроскопа, двойного, пленок

...01 Т 0,1 п 1ну пленки ланнй плоц)л)1 ст,ьгл)йции г 15 я и)н ( т 1)ут)П 3 гтя)и и 3)знигйо Ними отгв)ла нсчн)г 3 ми о, р, л;МГЧСНТй И)П)КОС.ОВСИИЯ И),Ы Г П, СП; Г) Ь. О Г 1 ованн,с и злсктричсскик)ойстй.и зц)исящик от состояния пленки и г 1)ель, мйу 1 лйть ОН 1 ио)3, ги)у г,цвлс н указнно)1 зявисимоетьв),Г 3 "); ЗГК ТСЛОП ЕЛ;йгйе)1 з 1 ПОСО) Л)1 ИС) ЗТ СГОТКОВ, й 1 ъ КК И)3 с)С)3 С Я 10 ВТО)ГУ СПцсябу нс Вьз 1)вйст никк)1 к Лс)1 ор)йп 01 лсн -; Ви;ит от состояния пленки, и оирслеление мопкст оыть нрослепо г л," точке повсрлнсти пленки.,1" ЛИС, уст)павлийОт л 3 его тубуса в вертикальной плоскости полуглл 31" яру к Тругу н ИОЛ углом в 1 а к горизонтальной и)Вор),нести пленки. 1 ри 10)10)ЦИ одного туоуса на место изме )И 1 Я ) Н(, т это)...

Способ определения толщин многослойных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 102941

Опубликовано: 01.01.1956

Авторы: Борзов, Ильина

МПК: G01B 11/06, G01J 3/36

Метки: толщин, многослойных, покрытий

...слоя производится при помощи постоянных градуировочмях ирнвьгк, которые строятся заранее по специально изготовленным дли этого эталоном (по 34 эталона для наиддого слоя, путем измерения времени,прогсиагощего от момента зазниганггя ра 2 ряда до того згомента, когда наступает равенство интенсивностей рассматриваемой пары линггй. При этом равенство интенсивностей может устанавливаться при иомонги мхшрофотоьтетра.Последовательное возбуждение спектра слоев покрытия производится дшпиЫм или исгоровьгтг разридом небольшой мощности(сила тона до 1,5 а). Порча поверхности образца при опредолеигги нс 31 аЧ:тгслтннадиаметр поражаемого участка соечаилъгет 23 мм.Определение толпгииы крогогцих слоев но иредггонаснноагу способу глоэчгио удобно сочет...

Способ определения толщины и показателя; преломления тонких пленок

Загрузка...

Номер патента: 104005

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Карасев

МПК: G01B 11/06, G01N 21/21, G01N 21/43 ...

Метки: тонких, преломления, пленок, показателя, толщины

...устройства Й (последнее - необязательно), модулируется, причем модуляция светового потока достигает 100 7 о.Для определения азимута поляризации слукит источник белого света 5 лучи которого проходят через жестко связаш)ый с компецсатором К поляроид Р (а также поляроид Р.,), вращавшийся поляроид Р, ц падаю; на катод Фотоэлектронного умножитсля (или Фотоэлемента ФЗУ, соответственно фотоумножителя ФЗУ-З), Когда плоскости колебания поляроидов Р, ц Рсовпадают, то мскду фототоками в Фотоуможитслях (или Фотоэлементах) нет сдвига фаз. Когда поляроид Ра поворачивается, то между Фототокамц возникает сдвиг фаз, равцьш углу поворота плоскости поляризации. Сдвиг фаз измеряется логометром Е (типа фазометра). Для определения отцо 1 цения амплитуд...

Устройство для автоматического измерения малых толщин пленок

Загрузка...

Номер патента: 104007

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Карасев

МПК: G01B 11/06, G02B 27/28

Метки: толщин, пленок, малых

...переменная составляющая фототока будет скомпенсирована.На вторую обмотку логометра подается ток, питающий синхронный электродвигатель, который вращает второй поляризатор, В результате, отраженный от пленки свет, пройдя через пластинку 10 четверть волны, плоско поляризуется, причем азимут поляризации зависит от толщины пленки.Плоско поляризованный свет, пройдя третий вращающийся поляризатор 11 и второй деполяризатор 12, поступает на второй фотоэлектронный умножитель 1 З. Одновременно на третий фотоэлектронный умножитель 14 поступает свет, не отраженный от пленки и прошедший через третий поляризатор, второй деполяризатор и четвертый поляризатор 15, установленный так, чтобы переменные составляющие фототоков в обоих фотоумножителях были бы...

Фотоэлектрический микрометр

Загрузка...

Номер патента: 109214

Опубликовано: 01.01.1957

Авторы: Бусыгин, Меламед

МПК: G01B 11/06, G01B 7/06

Метки: фотоэлектрический, микрометр

...методу,ООЕСПСЧИВдОШС.11 У Г 10 ВЫГПС 1 ИС ТОП 10- сти измсрешГя,Устройство описываемого микро. метра схематически изооражсно на чертеже. Прибор состоит из осветителей 1, объектива 2 с апертурной Гиафрагмой 3 в виде прямоугольной щели, обтюратсра 4 цилиндрической формы с узкими прямоугол 1:- ными щелями, фотоэлектронного л нож 11 тс,151 о 11 зсрка,Га б 11 ап 1 жного Отражател 51, установленГОГО под углом в 45 к Оптической ос;1 объектива 2 для ГГолученпя изображения кромки листа или толщины круглого материала на внутренней цилиндрической поверхности обтюратора. Пред мет изобретения 1. Фотоэлектрический микрометр для непрерывного измерения толп 1 ипы листового и проволочного материала непосредственно в процессе его...

Способ контроля толщины слоя краски на оттисках при печати и устройство для осуществления этого способа

Загрузка...

Номер патента: 113366

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Казакевич, Ромбиков

МПК: G01B 11/06, G01B 7/06, B41F 31/18 ...

Метки: толщины, способа, краски, оттисках, этого, слоя, печати

...которого усиливается с помощью мостовой усилительной схемы. Усиленный фототок направляется на оомотку 5 трехпозиционного поляризованного реле 6,Усилительная схема отрегулирована таким образом, что при нормальном количестве краски на метке 2, ток в обмотке б равен нулю и реле не срабатывает, При отклонении толщины слоя краски от заданной количество отраженного света также меняется (увеличивается или уменьшается), что приводит к срабатыванию реле и замыканию контактов 7 или 8. В результате загорается красная сигнальная лампа 9, свидетельствующая об избытке краски на оттиске, или зеленая лампа 10, сигнализирующая о недостаточном количестве краски,Так как время просмотра метки 2 очень незначительно, то для более продолжительного свечения...

Фотоэлектрическое устройство для определения толщины листового материала

Загрузка...

Номер патента: 113949

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Меламед, Бусыгин

МПК: G01B 11/06, G01B 7/06

Метки: листового, толщины, фотоэлектрическое

...1, Изменение этих расстояний может получаться как вследствие изменения толщины д листа. так и в результатс его поперечных колебаний а, Каждый из аппаратов 2 с помощьо следящей системы, состоящей из фотоэлемента 5 и электронных усилителей 6 и 7 с тиратронным блоком на выходе, преобразует измеряемую величину смещения светового сечения в пропорциональную ему величину электрического напряжения l и Ог соответствующей полярности. Так как величины смещений световых сечений имеют функциональную зависимость от величин расстояний Г ир между аппаратами и поверхностямн измеряемого листа, то величины напряжения (/ и Г 2 также пропорциональны этим расстояниям. Напряжения У и О суммируютКЬ 11 Яс 1,1 с 1 Предмет изобретения Фооэлсктричсскос устройсио...

Способ контроля кристаллических пластин интерференционно поляризационных фильтров в процессе их доводки

Загрузка...

Номер патента: 121240

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Иоффе

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: фильтров, интерференционно, поляризационных, доводки, кристаллических, пластин, процессе

...4 и 5. Излучение с длиной волны , для которой изготовляется интерференционно-поляризационный фильтр, выделяется с помощью светофильтра б или монохроматора из пучка света, подаваемого от источника 7. Полученное излучение направляется в термостат через линзу 8 и поляризатор 9. Световой поток, выходящий из термостата, направляется через анализатор 10, врашаюшийся от электродвигателя 11, и линзу 12 на приемник излучения 13. Отсутствие модуляции достигается поворотом компенсатора 2; при этом угол поворота -;, отсчитываемый по шкале приемника излучения, дает значение дробной части порядка интерференции. Так как круговая поляризация получается, когда дроб121240 ная часть порядка интерференции при совместном действии пластин 1 и 2 равна 0,25 1...

Прибор для непрерывного контроля поперечных размеров пряжи, нитей и т. п.

Загрузка...

Номер патента: 134431

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Вернер

МПК: G01B 11/06

Метки: пряжи, нитей, прибор, непрерывного, поперечных, размеров

...на пути лучавращается обтюратор с двумя рядами отверстий, которые поочередносовпадают то с одним, то с другим отверстиями ширмы,Обтюратор и ширма служат для модулирования света и получениядвух раздельных серий световых импульсов на фотоэлементе (соответственно каждому окну ширмы).Луч света, пройдя через обтюратор и окна ширмы, попадает на фотоэлемент, который в своей цепи имеет две серии импульсов тока, Серия импульсов тока от окна, на которое проектируется изображениепротягиваемой нити, будет иметь меньшую амплитуду по сравнениюс импульсами тока от окна, свободного от изображения нити. Импульстока фотоэлемента от окна с нитью будет тем меньше, чем толще проходящая нить.Путем сравнения импульсов тока фотоэлемента можно судитьо...

Малоинерционный прибор для бесконтактного измерения величины петли металла непрерывного сортового стана

Загрузка...

Номер патента: 141326

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Афанасьев, Тихомиров

МПК: G01B 11/06, B21C 51/00

Метки: малоинерционный, петли, сортового, бесконтактного, величины, непрерывного, прибор, стана, металла

...зеркала падают лучи света от прокатываемого металла.В крышке камеры 3 устанавливаются две оптические системы 5 с фотодиодами б и собирательными линзами 7. Правая оптическаяЛо 141326система имеет перед фотодиодом 6 диафрагму 8, при помоши которой фиксируется величина светового луча, падающего на фотодиод, У левой оптической системы имеется осветитель 9, лучи света которого, падая па зеркало барабана, отражаются на фотодиод б при определенном положении зеркала. Это положение соответствует такому положению брабана 1, при котором лучи света от металла, находящегося в крайнем нижнем положении Н, отражаясь от зеркала, попадают на фотодиод б правой оптической системы, При этом импульс, поступаюгций на правый фотодиод, несколько опережает...

Интерференционный способ измерения толщины тонких прозрачных пленок

Загрузка...

Номер патента: 145756

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Швец

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: интерференционный, пленок, прозрачных, тонких, толщины

...оптическом приборе, основанные на использовании поляризованного света путем сравнения измеряемой пленки с эталоном по цвету сложны и не обеспечивают высокой точности измерения.В предлагаемом способе эти недостатки устранены тем, что для измерения используют отраженный свет от передней и задней (внутренней) поверхности пленки.На фиг. 1 изображено сечение исследуемой пленки; на фиг. 2 - схематическое изображение систем интерференционных полос, ооразованных белым светом.В наблюдаемой интерференционной картине, образованной белым светом, падающим нормально к поверхности пленки и отраженным от наружной 1 и внутренней 2 ее поверхностей, измеряют расстояние между двумя парами ахроматических полос и между соседними полосами. С этой целью...

Способ измерения толщины стенок стеклоизделий

Загрузка...

Номер патента: 147327

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Гуревич

МПК: G01B 11/06, B65D 1/02

Метки: стеклоизделий, толщины, стенок

...б микроскопа, на предметном столике которого устанавливают ванну 3, затем сквозь стекло б в дне 7 ванны, проходит сквозь слой иммерсионной жидкости, стенки изделия 1, выходит из жидкости и попадает в окуляр 8 микроскопа. При этом внутреннюю часть изделия 1 наблюдают в виде резко очерченного черного поля 9, расстояние между границами 10 и 11 которого, соответствующими переходу стекло - жидкость и стекло - вакуум, замеряют при помощи шкалы 12 микроскопа. В случае необходимости определения разностенности изделия 1 его повора. чивают при непрерывном наблюдении за положением границ 10 и 11. Первая остается на месте, поскольку изделие 1 во время вращения не. прерывно прижимают к подставке 2, а вторая по мере изменения толщины стенок в...

Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки

Загрузка...

Номер патента: 151036

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Ройтштейн, Хаит, Глаговский

МПК: G01B 7/06, G01B 11/06

Метки: лаковой, пленки, прозрачной, толщины

...и 2, Каждая из систем содержит соответственно источник света 8 и 4, оптическую систему 5 и б и фотоэлемент 7 н 8, Фотоэлемент 7 освещен светом, отраженным от покрытой лаком 0 поверхности изделия 10, а фотоэлемент 8 - от чистой поверхности последнего, Эти фотоэлементы включены дифференциально в цепь измерительного прибора 11, причем фотоэлемент 7 - непосредственно, и фотоэлемент 8 - через схему 12 задержки времени.Принцип измерения толщины пленки основан на законах Бера и Бугера, связывающих поток лучистой энергии, падающий и прошедший через среду определенной толщины. Поэтому константы, входящие в эти законы (например, коэффициенты рассеяния лака, отражения чистой поверхности изделия и др.), определяются экспериментально и учитывактся...

Машина для автоматического измерения средней толщины, например, жестких кож

Загрузка...

Номер патента: 152065

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Брагинский

МПК: C14B 1/00, G01B 11/06

Метки: толщины, средней, жестких, например, кож

...И, одна из щек 14 которого несет фотоэлементы 15 и 1 б, засвечиваемые от осветителя 17, установленного на другой щеке 18. В результате прохождения затемняющих экранов 19 лепестковой формы, укрепленных на вращаю152065щемся валу 20, в проемах 21 кронштейнов 13 происходит последовательное затемнение фотоэлементов 15 и 16, включенных параллельно катушкам 22 и 23 генераторов 3 и 4, имеющим высокое внутреннее сопротивление. В периоды затемнения происходит прохождение импульсов от генераторов 3 и 4 к электронным счетчикам 5 и 6. Форма кривых 24, по которым описана торцевая часть экранов 19, выбирается таким образом, чтобы подъем кронштейнов 13, соответствующий толщине кожи 9 в точках измерения, был пропорционален длительности периода...

159176

Загрузка...

Номер патента: 159176

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/06, G01N 21/01

Метки: 159176

...поворотной осц и сфокусированы на чувствительной поверхности одного из фотоэлементов 2 или 3.Фотоэлементы включены в плечи мостовой схемы (см, фиг. 2), в диагональ которой включено реле блокировки б. В схему вкгцочець переменное сопротивление 7, исполнительное реле 8, ко невой выключатель 9.Листовой или ролевой материал 5 перемещается между осветителем 1 и системой зеркал 4, заслоняя цх. При этом лучи, рассеиваемые поверхностью материала, попадают в равной степени на оба фотоэлемента 2 и 8,В этом случае величины цх сопротивлений бул т равны.Прц наличии дыр ц,ш трещин в любом месте перезешаезого атернала асть зеркал окажется открытой и освсценной осветителем 1. Направлен,ые и отраженные от зеркал лучи попадут ца чувствительную поверхность...

160337

Загрузка...

Номер патента: 160337

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 11/06

Метки: 160337

...вакуумного осаждения не позволяют производить непрерывньш контроль спектральной характеристики осахкдаемых слоев в процессе их нанесения и требуют для своего осуществления серии э 1 алонных фильтров.В предлагаемом способе в отличие от известных модулированньш световой пучок направляют через испытуемый образец в монох ром атор, а из него - на регистрирующий прибор, используя огибающую электрических импульсов на регистрирующем приборе. Огибающая в этом случае представляет спект. ральную характеристику пропускания слоя в области некоторой длины волны, для которой требуе 1 ся получить максимум пропускания многослойной системы. Наблюдения нзменешш энергетического баланса светового пучка н его спектра ведут непосредственно в процессе...

Способ измерения толщины стенок труб

Загрузка...

Номер патента: 164435

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Докунина, Васильев, Поденков

МПК: G01B 11/06

Метки: толщины, стенок, труб

...с О помощью оптико-механического устройства, о т л и ч а ю щ и й с я целью повышения точности и о контроля толщины стенок труб,как из магнитных, так и немагнит 5 лов, измерения производят по по рика, используемого в качестве визирования, который перемещаю бы и удерживают в фокальной пл;еского отсчетного устройства О электромагнита, ляется как арика (его го ролика и а испол Подписная гругггга Известны способы измерения толщины стенок труб, выполненных нз немагнитных матс- риалов. Известны также способы измерения толщины изделий с помощью оптических устройств, служащих для отсчетов измеряемои величины,ОписываехгьШ способ более совершенен, чем известные, так как позволяет производить измерение толщины стенок труб независимо от магнитных...

Сесфюзмая л идтен., . 7., х»1й: ; рсг, п: . иг-: . с-gt; amp; ,: ; . д

Загрузка...

Номер патента: 172057

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Бирюков, Корчемкин

МПК: G01B 11/06

Метки: идтен, рсг, х»1й, с-gt, иг, сесфюзмая

...при контроле толщины покрытия материалов, имеющих сетчатую структуру (гальваническое, лакокрасочное или химическое покрытие), этот способ не обеспечивает необходимой точности измерений. Грапо эткоторния.мых включаскойгпает фик све лонным ых измер Большоесветово ет ошиб формы о точность опропускания сетки составляют деталям, толщина покрытия на яется методом прямого измереколичество окон сетки, попадае. й поток фотокалориметра, иску из-за отклонения геометричедельных окон от средней, повыизмерений.дм ет изобретения Способ контроля риалов путем кол ветового потока,целью оценки толщ меющих сетчатую ример, с помощы сивность светового отверстия в матери окрытия, и по гра мую величину.способолщины птурой путго лучаериале доя. Интет с...

Визуальный фотометр

Загрузка...

Номер патента: 180375

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Мотовилов

МПК: G01B 11/06, G01J 1/58

Метки: визуальный, фотометр

...2Далее изображение светящегося тела водо.родной лампы вогнутым спектрозональным зеркалом б, отражающим заданную длину волны, переносится на светящийся экран 7, 5 который защищен кожухом (на чертеже непоказан) от засвечивания посторонними ис.точниками света, и вызывает свечение фосфора соответствующего сектора экрана своимцветом.10 Экран представляет собой кольцо из трехравновеликих секторов 8, 9 и 10, покрытых фосфором и светящимися синим, зеленым и красным светом под действием падающих на них трех потоков, разделенных по спектру, 15 На поверхность образца спроектированысовмещенные интегральные УФ-изображения 11 источников. Спектрозональные зеркала с полосами отражения 240 - ;280 тр вызывают синее свечение, 280 - :330 тр -...

Способ определения толщины упрочненного слоя на нетравленом металлическом образце

Загрузка...

Номер патента: 196421

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Пульцин, Рудеико

МПК: G01N 1/36, G01B 11/06

Метки: образце, металлическом, нетравленом, упрочненного, слоя, толщины

...трудоемкости и повышения точности процесса определения глубины упрочнецного слоя, плоскость среза образца полируют в фиксированном направлении, исследуют рельеф поверхности полученного шлифа, например с помощью интерферецционного микроскопа, и измеряют расстояние от края упрочцецного слоя до места изменения рельефа поверхности шлифа.Иа чертеже показан образец, закрепленный в оправке, для осуществления предлагаемого способа.Образец 1, имевши Р пендикулярной или наклонной к упрочненному слою 2, закрепляют в оправке 3 путем заливки, например, легкоплавким сплавом или пластмассой 4. Затем производят полировку плоскости среза в направлении А от сердцевины к краю упрочненцого слоя и исследуют рельеф поверхности полученного шлифа с...

Устройство для определения толщины смазочного слоя между тяжелонагруженными вращающимисядеталями

Загрузка...

Номер патента: 200179

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Мишарин, Ушаков

МПК: G01B 11/06, G01D 5/30

Метки: между, толщины, вращающимисядеталями, слоя, тяжелонагруженными, смазочного

...содержит центральный диск 1,приводимый в движение двигателем 2 постоянного тока; два нажимных самоустанавли вающихся диска 3, вращающихся под действием силы трения в зоне контакта; гидравлическое устройство 4, резервуар (на чертеже не показан) и фитиль 5 для подачи смазки; светонепроницаемый кожух б, в верхней час ти которого установлен кронштейн 7.Поверхность диска освещается ртутно-кварцевой лампой 8, заключенной в защитную коробку, соединенную с трубкой-световодом 9.Световой поток люминесценции пленки, воз буждаемой ультрафиолетовым светом лампы,преобразуется оптико-электрическим преобразователем, содержащим коллиматор 10, све.тофильтры 11, световод 12 и фотоумножитель 13, в электрические импульсы. Источник све.30 та и преобразователь...