Способ определения толщины оксидных пленок

Номер патента: 590590

Опубликовано: 30.01.1978

Авторы: Лебедев, Чернышев

МПК: G01B 7/06

Метки: оксидных, пленок, покрытий, толщины

...для источника линейно возрастающего напряжения Напряжение источника, подаваемое на электролитический элемент, контролируется с помощью вольтмст 30 ра 7,590590 Формула изобретения Составитель С. Скрипник Техред Н. Рыбкина Корректор Л. Денискина Редактор О. Юркова Подписное Заказ 3182/9 Изд. л,в 159 Тираж 907 НПО Государственного комитета Совста Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 Принцип действия устройства основан на автоматической регистрации момента достижения критического напряжения на образце, при котором наблюдается пе 1)егиб на вольтамперной характеристике электролитической ячейки с образцом. Этот момент соответствует достижению предельного значения...

Номер патента: 894495

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Каган, Янковский

МПК: G01N 21/67

Метки: линий, самообращения, спектральных, уменьшения

...дополнительное поле не воздействует наплазму разряда,15На фиг, 1 показана схема предлагаемого устройства на фиг. 2 - регистрограммы провалов в центре спект"ральных линий, полученные без наложения дополнительного электрического 20поля и с его наложением.Устройство содержит (фиг. Ц основные электроды 1, между которымигорит электрический разряд 2. Основные электроды 1 устанавливают Внутридополнительного электрода 3, выпол"ненвого, например, в виде циливдра, вкотором сделано сквозное отверстие 4для выхода излучения. Яа дополиий род 3 посредством клеммы 5 подают потенциал относительноклеммы 6, соединенной через регисто"ры 7 у имеющие большое сопротивлевиерс основными электродами 1.П р и м е р 1. Медные электродыдиаметром б мм...

Номер патента: 1793197

Опубликовано: 07.02.1993

Автор: Гузенко

МПК: G01B 7/06

Метки: граничных, зубчатых, испытаниях, передач, пленок, смазочных, толщины

...скольжения зубча тых передач пропорционально толщине обтых и редач, полученные последовательно разования граничных смазочных пленок в нач льный момент подачи парафиновых при смазке образцов бензолом (кривая 1), углев дородов в зону контакта вращающих- толуолом (кривая 2), о-ксилолом (кривая 3), ся об азцов (кривая 1) и через 50 - 60 мин триметилбензолом(кривая 4),дифенилметапосле подачи в зону их контакта н-гесана 15 ном(кривая 5) идикумилметаном(кривая 6). при т мпературе смазки 233 К (кривая 2), Способ определения толщины граничн-окт на при температуре смазки 243 К ных смазочных пленок при испытаниях ма(крив я 3), н-декана при температуре смаз- териалов зубчатых передач осуществляют ки 29 К (кривая 4), н-додекана при темпе- ....

Номер патента: 148551

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Боберский

МПК: G01J 5/52

Метки: линий, методу, обращения, плазмы, спектральных, температуры

...пламени запускается ждущая развертка осциллографа 10 и открывается фотозатвор 4, Затем включается импульсная лампа 2 и через монохроматор 7 наблюдают на экране осциллографа некоторую спектральную линию от исследуемого объекта 11 на фоне непрерывного спектра лампы 2,Если температура пламени выше температуры лампы 2,видна на фоне непрерывного спектра, если температура плаже - линия обращена, и если температуры равны - линияИзменяя накал лампы 2 добиваются исчезновения линий.148551 Для упрощения измерений монохроматор 7 выполняют с двумя щелями, вырезающими два соседних узких спектральных участка, один из которых включает в себе исследуемую спектральную линию, а другой не включает ее. На экране осциллографа 10 записывают кривые изменения...

Номер патента: 737791

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Могилевский, Славный, Субочев, Фабелинский

МПК: G01J 3/42

Метки: линий, последовательной, регистрации, спектральных, спектрометр

...оптическое изображение в электронное. Одновременно включается блок 5 управлениядиспергируюшим элементом, Осуществляется перемещение изображения спектра источника 2 света с эталонным спектром по фотокатоду диссектора 6 (на фиг. 2 а.изображена часть указанного спектра с двумя линиями, имеюними длины волн Лэ и Л ). На отклоняющую систеМму 7 диссектора 6 подается переменное напряжение, например, синусоидальное, от генератора развертки 10 и постоянное напряжение от управляемого источника 11 постоянного напряжения. Постоянное напряжение на отклоняющей системе 7 вызывает смещение электронного изображения эталонного спектра от источника 2 (на фиг. 2величина смещения изображения линии Л., обозначена ь 1 ) относительно щелевого отверстия в...