Способ определения толщины упрочненного слоя на нетравленом металлическом образце

Номер патента: 299801

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Государственный, Грибко, Научно, Холодный

МПК: G01N 21/01

Метки: бетонного, образца, поверхности, прицельной, реплики

...это тем, что последний перед маркировкой раскалывают, выбирают участок, поверхность излома которого находится к поверхности шлифа под углом )90, и наносят прицельную реплику на этот участок и на граничащую с ним поверхность излома.Сущность способа заключается в следующем,Из исследуемого образца портландцементного клинкера готовят шлиф, полируют его, протр авливают.Затем шлиф раскалывают под любым углом к его полированной поверхности и для исследований выбирают ту часть образца, угол между поверхностью излома и поверхностью шлифа которого равен или больше 90. Под световым микроскопом на участке шлифа, граничащем с поверхностью излома, отмечают анализируемый участок с помощью твердоме ра ПМТ-З, в котором алмазная пирамидка...

Номер патента: 654853

Опубликовано: 30.03.1979

Авторы: Мазуренко, Скрелин, Топорец

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, непрозрачных, образцов, поверхности, фотометрический, шероховатости

...тем, что с целью повышения точности и упрощения процесса измерения последовательно измеряют сигналы от полного и диффузного отражения от поверхности изделия потоков и среднеквадратическую высоту шероховатости определяют по формуле где Л - длина волны облучающего пучка света;1 дифф, Гало/дн - СООТВЕТСТВЕННО СИГнаЛЫ ОТ диффузного и полного отраженных потоков;а=3,1416 - известная постоянная.На чертеже изображена принципиальная схема установки для реализации и предлагаемого способа.Установка содержит источник света 1(лазер), зеркало 2, экран 3, ловушку света 4, фотометрический шар 5 с отверстиями б - 9 и фотоприемник 10.Осуществляется предлагаемый способ следующим образом. Световой пучок, имеющий малое угловое расхокдение, от источника 1 с...

Номер патента: 1355899

Опубликовано: 30.11.1987

Авторы: Ерусалимский, Панкратов

МПК: G01N 3/24

Метки: испытания, листовых, образцов, срез

...тонкостенные образцы, например элементы труб,Пель изобретения - повышение точ 5ности при испытании криволинейныхобразцов путем исключения их изгиба.На Фиг, 1 изображена схема устройства; на фиг. 2 - сечение А-А наЛиг, 1; на Лиг. 3 - испытуемый образец; на Лиг. 4 - сечение Б-Б нафиг. 3,Устройство содержит три захвата,выполненные в виде трех прилегающиходин к другому торцами дисков 1-3,имеющих упорные элементы 4-6 и общуюось 7 их вращения, и нагружающееприспособление, выполненное в видеклина 8, одна рабочая поверхность (9)которого взаимодействует с упорнымиэлементами 4 и б, а другая (10) - супорным элементом 5. Винты 11-14предназначены для закрепления образца 15 с отверстиями 16-21, 25Устройство работает следующимобразом.На...

Номер патента: 362184

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Виноградов, Витковский, Гринац

МПК: G01B 11/02, G01B 11/06

Метки: направлении, непрозрачной, нормали, объекта, перемещения, поверхности

...панели взо 35 40 45 отсутствии конденсата, 4 - тень от нити на поверхности конденсата, 5 - нить, натянутая параллельно панели, б - направление подсвета, 7 в направление наблюдения, Н - расстояние от нити до панели, Ьо - видимое расстояние от нити до тени на поверхности панели, Ь - видимое расстояние от нити до тени на поверхности конденсата, Х - толщина слоя конденсата.Устройство содержит вакуумную камеру 8 источника 9 света, вакуумный насос 10, холодильную станцию 11, тубус с оптическим стеклом 12 и фотоаппарат 13.Способ реализуется следующим образом, Перед установкой препарированной криогенной панели 1 в вакуумную камеру 8 параллельно поверхности панели на державках натягивают нить 5 и любым известным способом измеряют расстояние...

Номер патента: 872959

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Скрелин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, образцов, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатости

...о определяемые, напр формулами Френеля, воначальном положе разца;Т 1 - коэффициент пропускания4измеряемой поверхности итолщи образца в первоначальном его положении;Т " сигналы от диффузного и1полного потоков, отраженных от поверхностей в первоначальном его положении, , г - коэффициенты зеркальногоотражения измеряемой и противоположной изповерхностей образределяемые, напримформулами френеля,перевернутом положеобразца;У - коэффициент пропуспротивоположной измой поверхности и ний за счет искажений, вносимых слоем при воспроизведении микрорельефа, и в ряде случаев делает непригодными образцы для эксплуатации.Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерения.Поставленная цель достигается тем, что после...