Сесфюзмая л идтен., . 7., х»1й: ; рсг, п: . иг-: . с-gt; amp; ,: ; . д
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических Республика К ависимое от авт. свидетельс Кл. 426, 12 Заявлено 02.Х.1963 ( 868с присоединением заявки7/26-10) Государственныиомитет по делаизобретенийи открытий ССС ПК С 01 Ь иоритет УДК 53.717(088,8) Опубликовано 22 Х,1965, Бю Дата опубликования описани ллетень12я 29 Х 11.1965 СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОЛЩИНЪ ПОКРЫТИЯ МАТЕРИАЛОВ2 Известны способы контроля толщины покрытия материалов путем количественного определения светового потока, отраженного от части поверхности наносимого покрытия, с помощью фотоэлектрического устройства.Однако при контроле толщины покрытия материалов, имеющих сетчатую структуру (гальваническое, лакокрасочное или химическое покрытие), этот способ не обеспечивает необходимой точности измерений. Грапо эткоторния.мых включаскойгпает фик све лонным ых измер Большоесветово ет ошиб формы о точность опропускания сетки составляют деталям, толщина покрытия на яется методом прямого измереколичество окон сетки, попадае. й поток фотокалориметра, иску из-за отклонения геометричедельных окон от средней, повыизмерений.дм ет изобретения Способ контроля риалов путем кол ветового потока,целью оценки толщ меющих сетчатую ример, с помощы сивность светового отверстия в матери окрытия, и по гра мую величину.способолщины птурой путго лучаериале доя. Интет с помощзатем пощину пок позволяе окрытий ем измер проходя и после нсивность ью, напр графику рытия,Подписная группа Л 6 1 б 4 Предлагаемыи дить контроль т с сетчатой струк сивности светово отверстия в мат на него покрыти потока измеряю калориметра, а измеряемую тол произвоатериаловния интенщего черезнанесения светового мер, фото- пределяют толщины покрытия матеичествен ного определения отличающийся тем, что, с ины покрытия материалов, структуру, измеряют, нао фотокалориметра, интенпотока, проходящего через але до и после нанесения фику определяют измеряе
СмотретьЗаявка
868317
Б. Н. Бирюков, В. М. Корчемкин
МПК / Метки
МПК: G01B 11/06
Метки: иг, идтен, рсг, с-gt, сесфюзмая, х»1й
Опубликовано: 01.01.1965
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-172057-sesfyuzmaya-l-idten-7-kh1jj-rsg-p-ig-s-gt-amp-d.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Сесфюзмая л идтен., . 7., х»1й: ; рсг, п: . иг-: . с-gt; amp; ,: ; . д</a>
Предыдущий патент: Визирная марка для измерения несоосности отверстий
Следующий патент: Прибор для контроля прямолинейности направляющих поверхностей
Случайный патент: Поддон для пакета кирпичей