G01B 11/06 — для измерения толщины

Номер патента: 723362

Опубликовано: 25.03.1980

Авторы: Бухтиярова, Павлов, Фокеев

МПК: G01B 11/06, G01N 1/28

Метки: окисной, пленки, толщины

...изготовление металлографического шлифа, измерение толщиныокисной пленки, перед изготовлениемметаллографического шлифа проводяториентацию частиц окисной пленки воднородном магнитном поле,П р и м е р, Определяют толщинуО окисной пленки на поверхности горячекатанной проволоки диаметром6,5 мм из стали марки БСтОм поГОСТ 14085-68, отбирают окиснуюпленку от 3-х участков одного мотка(массой 500 кг) проволоки знакопеременным изгибом; затем частицыокисной пленки помещают в магнитноеполе с индукцией, равной 6500 гс(применяют постоянный магнит скоэрцитивной силой 470 эрстед),что7233 б 2 По известному способу По предлагаемому способу Характеристики Отбор окисной пленки (образцы с окисной пленкой) 15 Ориентировка частиц окисной пленки вмагнитном...

Номер патента: 732663

Опубликовано: 05.05.1980

Авторы: Богданов, Иванов, Клюев, Кряжев

МПК: G01B 11/06

Метки: непараллельности, плоскостей, прибор

...1 у мсякностью вертикаль ния столик 3,На стойке 2 послед новлены на карданном кое зеркало 5 со шуп в виде трехконтактно 6, неподвижно закреп 7 с отражающей повер верстием 9, а также10 25 ЗО полненный в ниде сферического сегмента со шкалой 11 в виде параллелейи меридианов с отверстием 12, проходящим через начало координат шкалы,осветитель 13 с оптической системой14 настройки.С целью уменьшения общих габаритов прибора за счет уменьшениячисла последовательных отраженийлуча отражающая поверхность 8 неподвижного зеркала 7 может быть выполнена в виде поверхностей второгопорядка.Прибор работает следующим образом.Деталь 15 размещают на поверхности столика 3 и плотно прижимают.Столик поднимают до соприкосновенияс трехконтактным наконечником 6,...

Номер патента: 777408

Опубликовано: 07.11.1980

Авторы: Бржезинский, Гречухина, Петровский, Скалецкий, Цейтлин

МПК: G01B 11/06

Метки: мера, покрытия, толщины

...высшей точности с погрешностью менее 0,0001 мкм или контактным профилометром с увеличением до 106. Результаты аттестации маркируются на боковой поверхности основания. Число ступеней не ограничивается, но не менее двух, С увеличением числа ступеней увеличивается число воспроизводимых мерой значений толщин (многозначная мера), В выборке помещена капля маловысыхающсй однородной жидкости б, в частности, ртути, и сохраняются прослойки воздуха,Защитная пластина 2 имеет на верхней грани скос, который позволяет без помех производить интерференционный контроль, например, стабильности меры, либо является полуцилиндром (см. фиг 2) или полусферой (на чертеже не показано) радиуса .О/2,Достоинством описываемой меры толщины покрытий является...

Номер патента: 789682

Опубликовано: 23.12.1980

Авторы: Ватулин, Тузов

МПК: G01B 11/06

Метки: вакууме, детали, интерферометр, нанесения, пленок, поверхность, процессе, толщины

...вы расположены софокусно между собой располагаемой под углом 45 е к поверх. оптический блок выполнен из последо ности детали.Рабочая ветвь интерферометра включает в себя верхние призму 3 и клин 5 и участок поверхности детали (точка Г;), на который напыляется пленка, эталонная ветвь - нижние призму 4 и клин 6 и участок поверхности (точка Е), свободный от напыляемой пленки благодаря экрану 11.Клинья 5 и 6 имеют Форму полудисков, попарно скрепленных вершинами, и могут разворачиваться вокруг оптической оси интерферометра на равные углы в противоположные стороны.Отражатели 12 и 13 склеены с объективами 8 и 9 и перемещаются поступательно вдоль оптической оси интерферометра.Интерферометр работает следующим образом.Пучок света от осветительной...

Номер патента: 807054

Опубликовано: 23.02.1981

Авторы: Балагуров, Петров, Симонов

МПК: G01B 11/06

Метки: многослойных, покрытий, толщиныслоев

...на рабочие подложки4 слоя из материала, например с высоким показателем преломления, однаиз контрольных подложек 3 закрытаэкраном 5, а другая оставлена в техже услови)х,что и рабочие подложки,т. е. не закрыта экраном. При прохождении незакрытой экраном контрольной подложки под световым лучомисточника 7 света датчик 16 положени) контрольных подложек вырабаты вает электрический импульс, поступающий на управл)ющие входы уйравл)етых электронных ключей 13 и 14 иоткрывающий их. В результате этоговыделенный монохроматором 10 и усиленный ФЭУ 11 электрический сигналс фото;:риемника 9 проходит на входблока 15 обработки сигналов фотоприемника, на выходе которого появляется электрический сигнал, пропорциональный амплитуде световогосигнала,...

Номер патента: 813132

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Кушпиль, Михайлов, Черепанова

МПК: G01B 11/06

Метки: нанесениядиэлектрических, слоев

...толщины слоев в процессе изготовления светофильтров ведется по контрольному образцу, расположенному в центре вращающегося дерателя образцов, а гн отавливаемые образцы а некоторм расстояни ращения держателя. И условиях напыления арактеристики контро очих образцов оказыв ыми. цель достигается тем, во для автоматическодиэлектрических слоев мя поворотными призмаенными по обе стороны езд держателя образцов ными с возможностью синхронно с держателемпризмы 6, соединительный вал 7, Фоторегистрирующий блок 8.Устройство работает следующиМ образом.В процессе нанесения слоев держатель 3 образцов совместно е призмами 6 вращается вокруг вертикальной оси вакуумной установки 1. Благодаря тому, что обеспечено синхронное вращение держателя образцов и...

Номер патента: 813133

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Иоффе, Кузнецов, Родионов

МПК: G01B 11/06

Метки: впроцессе, доводки, пластин, толщиныкристаллических

...показана), наклоняющуюся вокруг горизонтальной оси. Пластины вырезаны параллельно оптической оси, ориентированы друг относительно друга так, что их главные сечения взаимно перпендикулярны и закреплены в оправе так, что главное сечение одной из пластин параллельно 60 формула изобретения нераторы опорных напряжений,.выхода.ми связанные соответственно с первыми входами Фазометра и синхронного детектора, вторые входы которыхподключены к выходам соответствующихселективных усилителей.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого устройства; на Фиг. 2положение интерференционных максимумов при различных толщинах кристаллической пластины (в - порядокинтерференции, Ер- рабочая длинаволны света); окружностями, эллипсами и прямыми линиями...

Номер патента: 815484

Опубликовано: 23.03.1981

Авторы: Бабуркин, Конев, Любецкий, Пунько

МПК: G01B 11/06

Метки: тонкихпленок

...Наличие тонкой пленки на поверхности подложки сильно влияетна условия возбуждения и распространейия поверхностной волны вдольгр 4 ницы раздела "подложка-воздух",а следовательно, на изменение поляризационных характеристик отраженнойволны по отношению к падающей,В этом же зазоре "призма-подложка" происходит обратное преобразование поверхностей волны в объемную,которая под углом падения отражается от основания призмы 7 и попадает 35 40 50 60 в призму 4 полного внутреннего отраже ния, которая направляет отраженноеизлучение в анализатор 5, соединенный с приемником 6, где измеряют грани этой призмы ориентированы перпендикулярно падающему и выходящему из нее излучению.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для...

Номер патента: 815485

Опубликовано: 23.03.1981

Авторы: Агеев, Братковский, Градюшко, Комиссаров, Мороз, Панютин, Хлопков, Языченко

МПК: G01B 11/06

Метки: толщиныпокрытия

...толщины. Указанная цель достигается тем, что в качестве вещества с известными спектральными характеристиками используют фольгу с известной толщиной, а в качестве второй спектральной линии1в паре спектральных линий выбирают линию, принадлежащую веществу исследуемого покрытия.. Определение толщины покрытия со815485 ФоРмУла изобретения Составитель О. ФоминРедактор В. Еремеева Техред Н.Бабурка Корректор Л. Иван 1011/бб Тираж 642 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Заказ Филиал ППП "Патеит", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 гласно способу осуществляется следующим образом.Фольгу известной толщины, изготовленную из материала с известными спектральными...

Номер патента: 815486

Опубликовано: 23.03.1981

Автор: Беседин

МПК: G01B 11/06

Метки: деформаций, иперемещений, объекта, поверхности, устройстводля

...с некоторым напуском над его торцом,обеспечивая освещение растровых сопряжений передающим световодом с его торцовой и боковой поверхностей. Измерительных каналов, в состав которых входит приемный световод 1 с сетками 2 и передающие световоды 4 с эталонными сетками 3, может быть несколько, а остальные элементы устройства - в единичном экземпляре.О 20 Элементы 5 связи на световодахполучают путем травления их поверхностей кислотами или же пескоструйной обработкой,Определение перемещений поверхностей объекта производят следующимобразом.Растровое сопряжениеобразуемоерабочими сетками 2, нанесенными наповерхность объекта, и эталоннымисетками З,является своего рода оптическим индикатором перемещения.Передающий 4 и приемный 1 световодыжестко...

Номер патента: 842403

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Демченко, Цейтлин

МПК: G01B 11/06

Метки: измерений, покрытий, толщины

...способу,Способ осуществляется следующимобразом.Голограмма Ь прИ экспонировании45последовательно оптически связана собъектом 2 измерения через пучок 3предметного светового излучения иопорный пучок 4 светового излучения,который связан с интерференционнымиполосами на исходнои поверхности 550подложки 6, поверхности 7 нанесенногопокрытия, поверхности 8 подложки, свободной от покрытия.По предлагаемому способу голограм 55му 1 и подложку б размещают в ходесветового излучения для полученияэкспозиции исходной поверхности 5 под"ложки 6 на голограмме 1. Затем под 3 фложку 6 удаляют из зоны излучения инаносят на часть ее поверхности покрытие,исцользуя для этого специализированное оборудование эпитаксиальногожидкостного вакуумного или газофазного...

Номер патента: 845804

Опубликовано: 07.07.1981

Авторы: Гернот, Ханс-Петер, Хорст

МПК: G01B 11/06

Метки: слоев, толщиныоптически, тонких

...не показаны) подвижнав радиальном направлении относительнокорпуса 28. Соединение между приемниками излучения 16, 18 и корпусом выполнено с помощью штекеров 32, ЗЗ,Работе устройства заключается в следующем.Во время процесса напыления луч от источника 1 проходит через узел прерывания излучения 2 и попадает на светоделитель 3. Благодаря светоделителю3 часть измерительного луча под углом90 отклоняется и попадает на опорныйоцриемник 18, а прошедшая через свето- делитель часть измерительного луча проходит через окно 11 и попадает настекло 9, расположенное на оптическойоси системы. От объекта измерения частьизмерительного луча отражается и пооптической оси отклоняется обратно насветоделитель 3. От светоделителя приходящая из вакуумной камеры...

Номер патента: 859806

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Лаврентьев, Седов, Урывский, Чуриков

МПК: G01B 11/06

Метки: видимой, нанесенной, области, отражающую, пленки, подложку, прозрачной, разнотолщинности, спектра

...пластины 3, свегофильтр 4, линейный поляризатор 5, компеисатор 6 - фазовую пластинку в 1/4 длины волны, анализатор 7 и измерительныйсветофильтр 8, В качестве линейного поляризатора используют дихроичный поляри- Озатор в виде диска диаметром 180 мм.Защитный светофильтр представляет собойцветное стекло в виде пластины размером200 х 200 мм и толщиной 6 мм, Онслужит для предохранения фоторезистивной Б 5пленки от засветки.Способ реализуется следующим образом. 4Свет от источника 1 света проходит через конденсатор 2, защитный светофильтр 4, линейный поляризатор 5 и под опреденным углом падает на исследуемую пластину 3, представляющую собой пленку, нанесенную на отражающую подложку, Отражаясь от исследуемой пластины 3 линейно...

Номер патента: 861935

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Бассель, Башкатова, Сахиев, Славнова, Щелкунов

МПК: G01B 11/06

Метки: толщины, частиц

...соотношение между характерным размером проекции и толиной, втаком количестве, чтобы в поле зрениямикроскопа было приблизительно одинаковое число измеряемых и эталонныхчастиц, Затеи последовательно Фокусируют микроскоп на измеряемые частицы. Для каждой измеряемой частицыопределяют толщину, как величину,пропорциональную линейному размерупроекции эталонной частицы, лежащейв той же фокальной плоскости,.чтои измеряемая. При этом оказываютсясфокусированными частицы, имеющиетолщину, равную толщине измеряемойчастицы. Все остальные частицы оказываются не в фокуее, Эталонныечастицы выбирают близкими по раз;меру к измеряемым, В качестве эталон"ных частиц на схеме показаны сферыдля которых диаметр проекции равенО. Микроскоп сфокусирован на...

Номер патента: 868343

Опубликовано: 30.09.1981

Автор: Попов

МПК: G01B 11/06

Метки: пластин, прозрачных, толщины

...света. Линза 2 согласует апертуру микро- объектива 3 с диаметром лазерного пучка. Измеряемая пластина б располагается на предметном столике 4, щ который перемещается в двух взаимно . перпендикулярных направлениях, что позволяет наводить пучок света на любую точку пластины б.Для наблюдения интерференционных полбс служит экран 5 из матового стекла, на котором нанесена шкала.Лазер 1, микрообъектив 3 и лин за 2 объединены в один блок. Этот блок может перемещаться вдоль своей оси относительно пластины б, что 40 позволяет точно фокусировать пятно света на поверхность пластины. В устройстве производится измерение угло-, вой ширины полосы равного наклона под углом 1:45 О . . 65 Способ осуществляется следующимобразом.Пластину б располагают на...

Номер патента: 872955

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Вильдгрубе, Лапушкина, Тимофеев, Федотов

МПК: G01B 11/06

Метки: слоя, толщины

...и вторым фотоприемником.На чертеже показана схема измерения.Устройство измерения толщины слоясодержит осветитель 1, например ла,зер, направляющий световой поток 2нормально к поверхности напыляемогона прозрачную подложку 3 слоя 4.Световой поток, прошедший через этотслой, характеризуется регулярной составляющей 5 и диффуэно-рассеяннымисоставляющими б и 7. На одной оптической оси 1-1 по ходу потока 2 размещены модулятор 8 света, Фотоприемник9, Фокусирующая оптическая система1 О и Фотоприемник 11. Фотоприемники9 и 11 электрически связаны соответ.ственно с измерительными схемами 12и 13 Прозрачная подложка 3 с нанесенным иа нее слоем 4, толщина которого измеряется, размещается междумодулятором 8 и оптической системой10. Фотоприемник 9...

Номер патента: 879293

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Кулюкин, Целиков

МПК: G01B 11/06

Метки: пленки, прозрачной, толщины

...оптической системы,имеющий показатель преломления,равный показателю преломления нещестнапленки, что исключает преломлениелучей припереходе границы разделасветовода и пленки.Предлагаемое устройство позволяет измерять амплитуду и скорость движения волн по поверхности жидкойпленки по времени пересечения впадиной волны пучка света заданной толщины, а также оценивать форму поверхности и толщину пленки н диапазонеот 0,01 до 5 мм (например, слояжидкости, движущегося по внутренней 15 поверхности трубы при кольценбм режиме течения двухфазной смеси) с точностью до + 5, причем нижняя граница диапазона измерений ограниченаразрешающей способностью ячейки Фото 2 О приемника, а верхняя - линейной протяженностью фотоприемника. е Г ргде О толщина пленки,...

Номер патента: 894356

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Витман, Гребенюк, Гребнев, Жуков, Захаров, Сазонов, Суминов

МПК: G01B 11/06

Метки: оптических, толщины

...световодов,объе-:4 диненных в единый жгут, расположеныпод углом к плоскости, перпендикулярной осям симметрии световодов жгута.Источники инФормации,принятые во внимание при экспертизеБО 1. Патент США М 3565531кл. 356-156, 23,02.71,2, Бэий"Сален. Волоконно-оптический датчик смещения для исследованияповерхности твердого образца, облу 55 ченного интенсивным импульсным электронным пучком. - "Приборы для научнык исследований", 1975, т, 16, У 7,с. 80-84 (прототип),Это обусловлено тем, что большаячасть светового потока выходящегоиз подающего световода, распространяется в пределах малого апертурногоугла, т,е. почти перпендикулярно кповерхности детали. Поскольку величина ложного сигнала будет зависетьот качества поверхности нижней грании...

Номер патента: 918784

Опубликовано: 07.04.1982

Автор: Снегирев

МПК: G01B 11/06

Метки: листового, регистрации, слоистой, стекла, структуры

...измерений. . включают источник 1 света и регистриПоставленная цель достигается теи, руют иэображение структуры 3 на экра что при регистрации слоистой струк- ве .Формула изобретения оСоставитель О,Строганоц дактор О.Юрковецкая Техред А. Бабинец Корректшко Заказ 2119/2ВНИИП 11303 614 Подпис о комитета СССР ений и открытий Раушская наб., д. 4/ Тира венно зобре ЖГосуда по дела , Иоскв Филиал ППП "Патен Ужгород, ул ктн 3 918788 промежутках между вспышками с различными линейныии скоростяии кювету 41 с структурой 3 и экран б одновременно перемещают .в плоскости, перпендикулярной световому лотоку. При очередной вспышке Фиксируют соседний участок ленты стекла и т.д пока не зарегистрируется полная картина слоистости всего образца.Интервалы...

Номер патента: 920369

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Вайнблат, Хохлов

МПК: G01B 11/06

Метки: бесконтактный, измеритель, листового, стекла, толщины

...оптические дефекты, например пластинок слюды,Применение непрозрачного фильтра, располо.женного между измеряемым стеклом и фото.электрическими преобразователями с линзой,позволяет выделить рассеянный дефектами све.товой поток и направить его на третий фото.электрический преобразователь, а схема блоки.ровки ложных сигналов позволяет производитьизмерение толщины прозрачного листового стек.ла, отстраиваясь от погрешностей, вносимыхоптическими дефектами в измеряемом стекле. 3 9203 в виде зеркального барабана 3, закрепленногона валу 4 электродвигателя (последний на чертеже не показан), оптическую систему 5, непрозрачный фильтр 6, с окнами 7 и 8, фо. тоэлектрические преобразователи 9 и 10 и оптико. электронный блок 11, выполненный в виде...

Номер патента: 938005

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Муниц, Петров, Шендерович

МПК: G01B 11/06

Метки: параметров, пленки, прозрачной, тонкой

...системыдиэлектрических слоев на границепоследнего слоя и полного внутреннего отражения на грайице измеряемойпленки с воздухом.Способ эффективен,для измерения 30параметров особо тонких прозрачныхпленок.Схема, с помощью которой осуществляют способ, включает основание 1,систему диэлектрических четвертьвол- уновых слоев 2, последний слой 3 подложки, измеряемую пленку 4,. призму5, просвечивающее излучение 6.Зависимость Фазовой характеристики подложки от фазового сдвига в посвледнем слое имеет вид Ь =Х(9), гдед=й-йр, а и Ьр - фазовые сдвигидля Я и Р компонент отраженного света. четвертьволновых слоев с высоким и50 низким показателями преломления, расНа фиг. 3 приведена зависимость значений 1-К =Е(Ы) для системы ди-.электрических слоев от...

Номер патента: 945647

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Бакашвили, Карсанидзе, Шварцман, Шойхет

МПК: G01B 11/06

Метки: интерферометрический, пленки, смазочной, толщины

...и по мере увеличения толщины смазочной пленки регистрируют смену интерференционных полос, Допустим, что при некото 50 рой скорости Ч, в центре контакта зарегистрирована интерференционная полоса с номером ИТогда тбпшину пленки, со ответствующую данной скорости, определяют по формуле55 7 4жение, постулируюшее возможность однозначной интерпретации статистической интерферограммы. При высоких давлениях,характерных дня рабочих условий шарикоподшипников и при наличии смазки в контакте, истинная интерферограмма можетоказаться значительно отличающейся оттеоретической, в которой фактор высокого давления и наличия смазки не учитывается, Проявлением этого недостаткаявляется то, что статистическая тарировка приводит к различным значениям...

Номер патента: 947640

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Мокеров, Петрова

МПК: G01B 11/06

Метки: пленки, подложке, толщины

...падения излучения на,60 образец, близкого к нормальному, эти величины вычисляют по Формулам)3/оЛЬ4 вЬаИнтервал толщин Ь, измеряемыхданным способом, составляет от0,001 мкм до Л /2 (граничение, обусловленное теоретической модельюрасчета 1), т.е. при использованииНе-Ме лазера с длиной волны Л:0,63 мкм верхний предел Ь равенн0,3 мкм. Точность измерений величины Ь при использовании лазера состабилизированной мощностью излучения не хуже 10.Технологический процесс формирования отражательной Фазовой дифракционной решетки на подложке 3(фиг.2-6) сводится к нанесениюотражающего покрытия 7 из того жематериала, что и пленка, на подложку 3 (фиг.2); нанесению слоя 8 материала, обладающего свойствомселективного травления по отношению к материалу...

Номер патента: 947641

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Кудрявцев, Финарев

МПК: G01B 11/06

Метки: образцов, оптических, свойств, толщины, эллипсометр

...содержащем тубус падающегосвета и тубус отраженного света,установленные под углом друг к другу, кювету для размещения образцаи оптические окна, оптические окнарасположены на торцах тубусов, обращенных к кювете.На чертеже изображена принципиаль.ная схема эллипсометра для измерения толщины и оптических свойствобразцов.Эллипсометр содержит тубус 1 падающего света и тубус 2 отрЙженногосвета, декоративные крышки 3 и 4,полые трубки 5 и 6, вставленные внаправляющие втулки 7 и 3 каждогоиз тубусов, оптические окна 9 и 10,из плавленного кварца, приклеенныек торцу каждого тубуса, кювету 11для размещения образца, выполненнуюв виде стакана и расположенную напредметном столике 12. В стакане(кювете) 11 имеется отверстие соштуцером, который...

Номер патента: 953453

Опубликовано: 23.08.1982

Авторы: Агеев, Банников, Бартенев, Градюшко, Егоров, Неделько

МПК: G01B 11/06

Метки: покрытия, толщины

...тепловой диффузии 0 зависит от частоты и) модуляции источника светового пото- ка где 3=Кфс - коэффициент теплопроводности образца,20К - коэффициент температуро"проводности;у - удельная плотность,с - удельная теплоемкость.Дпя твердого тела, представляющего собой двуслойную разнородную структуру, например тонкую пленку, при достаточно высоких частотах модуляции светового потока в энергетическом балансе процессов, сопровождающихся поглощением света и возникновением волны давления в окружающей газовой среде, основную. роль играет пленка, а именно ее оптические и теплофизические характеристики. С понижением частоты модуляции растет длина те35 пловой диффузии в пленке и при некоторой частоте в перераспределение поглощенной энергии...

Номер патента: 977945

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Лисенков, Сачук, Старостин

МПК: G01B 11/06

Метки: измерений, линейных, размеров, стеклянной, трубки

...вследствие чего на экран 5 фотоприемника 4 направляют лишь световойпучок, отраженный от внутренней поверх ности труоки 6, пропорциональный толщине стенки трубки 6. На экране 5 фотоприемника 4 наблюдают широкую полосу с четкими границайи, по которой определяют толщину. стеклянной трубки, 6.Предлагаемый способ обеспечиваетвысокую точность измерения. Способ измерения линейных размеров стеклянной трубки, например толщины стенки, заключающийся в том, что направм ляют параллельный световой пучок на трубку, получают на экране изображение, образованное световым пучком, по которому и судят об измеряемом размере, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения, экранируют отраженный от наружной поверхности трубки...

Номер патента: 991155

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Бекин, Гохберг, Мухин, Теренин

МПК: G01B 11/06

Метки: корда, обрезиненного, толщины

...ЗОнии Ъ, равном толщине обрезиненногокорда 8 согласно технологическим требованиям, Лента обрезиненного корда8 проходит между цилиндром 1 и опорным роликом 7. Свет от источника 2 Зсвета через фокусируюший узел 3 и прозрачную поверхнОсть цилиндра 1 падаетна лист обрезиненного корда 8, отражается его поверхностью и попадает вприемник 4 светового излучения, а эаОтем через усилитель 5 сигнал поступает на индикатор б. Известно, чторельеф листа обрезиненного корда 8представляет, собой такую поверхность,что линия ее пересечения плоскостью,.перпендикулярной направлению нитей 45корда 8, имеет видУ=Я созщ 1,где У - текущая высота микрорельефа линии пересечения поверхности листа обрезиненного корда 8 плоскостью влюбой произвольной точке,мм;А -...

Номер патента: 1010461

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Леус, Шевелева

МПК: G01B 11/06

Метки: варианты, воды, его, нефтяной, пленки, поверхности, толщины

...раньше, чем интенсивность отраженного луча в процессе увеличения толщины пленки достигнет первого максимума (при утолщении пленки более, чем в 10 раз нефть скачкообразно переходит иэ пленки в комочек или веточку нефти).По второму варианту поставленная цель достигается тем, что направляют на пленку нефти в редуктора оптичеекий луч, погружают редуктор в пробу до увеличения толщИны пленки в 18(10 раэ, измеряют соответствующее значение Ь редуктора и интенсивность луча, отраженного от, чистой водной поверхности, и находят толщину .М нефтяной пленки по формулемаксовгде %э - толщина нефтяной пленки в сечении б редуктора, определяемая ог ношением интенсивностей лучей, отраженных соответственно пленкрн в сеченииредуктора и чистой водной...

Номер патента: 1013752

Опубликовано: 23.04.1983

Автор: Гафанович

МПК: G01B 11/06

Метки: кинематической, механизмов, погрешности

...и проходят от нее по одну илипо разные стороны на расстоянии, определяемом из следующей зависимости:", +гГде г и г - расстояние от оси цент 1 2рального отверстия диска, размещаемого на начальном звене механизма,до биссектрисы угла клиньев;г и г - расстояние от оси цент2рального отверстия диска,размещаемого на конечномзвене механизма, до биссектрисы угла клиньев,номинальное передаточноеотношение механизма.На чертеже изображена структурная схема устройства для контроля кинематической погрешности механизмов.Устройство включает основание 1, двухлучевой интерферометр 2, и плоские отражатели 3 и 4 света, закрепленные на основании 1 и оптически связан- ные с интерферометром 2, два диска 5 и б с центральным отверстием, каждый из которых...

Номер патента: 1024703

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Сорока, Юрин

МПК: G01B 11/06

Метки: диэлектрической, пленки, подложке, показателя, преломления, толщины

...поляризованным.излучением под углом к поверхности, измеряют интенсивность отраженного излучения, определяют коэффициент отражения, по которому вычисляют значения угла Брюстера, и определяют толщину и показатель преломления пленки, помещают пленку виммерсионную .жидкость, освещение 15 производят излучением, поляризованным перпендикулярно к плоскости па, дения излучения, а затем компланарно плоскости падения излучения, угол Брюстера вычисляют для двух 20;случаев поляризации по минимальному значение коэффициента отражения, а толщину и показатель преломления пленки определяют по известным за- ВИСИМОСТЯМСпособ осуществляется следующим образом,При изменениях угла падения излучения от 0 до 90 е коэффициент отражения света от пленки с подлож...