G01J 3/36 — исследование двух и более спектральных полос с помощью отдельных детекторов излучений

Номер патента: 49362

Опубликовано: 31.08.1936

Авторы: Боброва, Орловский

МПК: G01J 1/44, G01J 3/36

Метки: фотометр

...экранами, работающими на отдельные части спектра, с последующим разрядом их катодным пучком, При помощи предлагаемого фотометра возможно производить измерения 1) спектральной характеристики излучения в эргах и люменах; 2) интегральной мощности излучателя в эргах и люменах, а также излучать быстро меняющиеся потоки лучистой энергии (примерно 1,10 сек.).На приложенном чертеже фиг. 1 изображает общую схему фотометра; фиг. 2 - светочувствительные экраны; фиг. 3 - катодный коммутатор; фиг, 4 - то же вид сбоку; фиг. 5 - электрическую схему; фиг, 6 и 7 в светонепроницаемые экраны.В предлагаемом фотометре спектрально разложенный при помощи спектроскопа 1 (фиг, 1) испытываемый ноток лучистой энергии направляется линзой через частично...

Номер патента: 86882

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Вейнгеров

МПК: G01J 3/08, G01J 3/36

Метки: спектрометр, фотоэлектрический

...6, поток 1, пРОе шие чеРез ЩеЛИ, СпбнрдОТС 5 ВМССТС И ПспрдВЛ 51 ЮТС и 05 НО )ЕСТО ПОВЕРХНОСТИ ПРИЕМ- ии;д 7. 1 ргем ик логжсн быть нзстолысо мдлсннерциоииых;, чтооы рд:ниде 25 Пд вцхоле элскртолви)куи с 1,. а слсловала за молу- ЛЯ ИИСИ И:3)С)ЯСМЫХ ПОТОКОВ, 5 ВЛЯЯСЬ СМХ 301 Э СКТРОЛВИЖУНИХ СИЛ, ВОЗиПИОННх 3 рсзмльтзе ВозлеЙствя ня приемник потокоВ энеОГии, про .,о;У,ПРОсиных с Раз,Пчиьми частотами. В 13 цхо;ной сдсти с) п 1)исоеЛииеиы шликдторы, например ГЗЛьваномстрь 9, число которых равно 1 ислу Вылелсипцх спсктряльпцх интер.3 я,013; В(с пиликяторы дест 3 уЯб 882 Предмет изобретения Фотоэлектрический спектрометр, отл и ч а ю щи й с я тем,что, с целью одновременного измерения нескольких спектральных интервалов, в нем в плоскости...

Номер патента: 99388

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Борзов

МПК: G01B 11/06, G01J 3/36

Метки: оксидных, пленок, толщины

...является входящего в сов другая - оссплава, на котсная пленка. змеряютсть парстарыхемента,чпителя,ементана оксид Предметом изобретения является способ определения толщины оксидного покрытия на металлических сплавах, отличающийся от известных способов тем, что толщина оксидной пленки определяется сравнением интенсивности спектральных линий химического элемента, введенного в эту пленку, с интенсивностью спектральных линий осповнсго элемента оксидированного металлического сплава.Предлагаемый способ состоит в том, что в поры оксидной пленки вводят, например, путем окунания, наполи итель, представляющий собой соль какогс-либо химического элемента, пе содержацегося в оксидированном сплаве и имеющего удобные спектральные линии в...

Номер патента: 102941

Опубликовано: 01.01.1956

Авторы: Борзов, Ильина

МПК: G01B 11/06, G01J 3/36

Метки: многослойных, покрытий, толщин

...слоя производится при помощи постоянных градуировочмях ирнвьгк, которые строятся заранее по специально изготовленным дли этого эталоном (по 34 эталона для наиддого слоя, путем измерения времени,прогсиагощего от момента зазниганггя ра 2 ряда до того згомента, когда наступает равенство интенсивностей рассматриваемой пары линггй. При этом равенство интенсивностей может устанавливаться при иомонги мхшрофотоьтетра.Последовательное возбуждение спектра слоев покрытия производится дшпиЫм или исгоровьгтг разридом небольшой мощности(сила тона до 1,5 а). Порча поверхности образца при опредолеигги нс 31 аЧ:тгслтннадиаметр поражаемого участка соечаилъгет 23 мм.Определение толпгииы крогогцих слоев но иредггонаснноагу способу глоэчгио удобно сочет...

Номер патента: 104008

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Рябинкин

МПК: G01J 3/36

Метки: вещества, двух, интенсивности, линий, спектре, сравнения

...Обтюратор (8) вращаясь, последовательно перекрывает то верки)о)о, то нижн)ою поло- ВИНУ ЩеЛИ СПЕКТРДЛЬН 010 с 1 ППаРс)тс 1, ПОСЫ- лая тем С 1 оп)м на фотоэлектронный умноъитель (ФЭЬ) (9) то одну, то другую лини 10 сраВнения сстов 010 пот 011 д От исследуемого вещества, (ФЭ",)с) посылает на выкод и)п)ульсы напряжения, пропорциональные интенсивности линии сравнения. Синкронпзпрованные с обт)оратором два контактора (10 - 11) (или электронный переключдтел 1) рдздсля)от импульсы, вы 315 дннь 10 5501)сщсше) (Ф )Ь ), для Однои и ДРУТОП;1)П 1 ИП. Мо 1 Н 1) 15 КЛ)ОЧ)ПЬ 1 СИ;1 И- тель (12) д усиленн 1 е импульсы подавать через контакторы (10 - 11) на приборы )к 5)1 с 5 сни)1 (13 - 11). Шксдл) приборов грддуиру)отея и 1 дпнпцак отношений, Пршюры...

Номер патента: 108093

Опубликовано: 01.01.1957

Авторы: Авербух, Иванцов, Кандинов

МПК: G01J 3/14, G01J 3/36

Метки: спектрограф, фотоэлектрический

...измеряемой катодпы.;с ольвсетрсв. 20, рассчитанным на измерение разности потенциалов до О, в.Так как дуга и искра являются исто Ником мощных радиопомех, лияние которых пе может быть ГОСНОСТЫО ЕССК:ЮЕ 10, ТО ВОЛЬТМСТЕ) 20 подключается к конденсаторам 18 и 19 толье(0 по ОкОнчании эксгеозиции, В осталысос время вход усилителя лампового вольтметра замкнут накоротко. Тас(и.л образом, измерение разности потенциалов про. изводитсяотсутствии источника иоьех.ПредНет изобретения1, Фотоэлектри сеский снектро)сссс), СОст 05 сщс)Й из 1(ол.им(ТОРЯ со щельсо, диспергирующсй системы из трех призм, объктива со щелью и расположешюго за последней фотоэлемента, о тл и ч а ю щ и й с я тем, . гс), с целью фотоэлектрического .;равссения интенсивностей эталон"...

Номер патента: 136950

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Жиглинский, Заидель, Карклина

МПК: G01J 3/36, G01N 27/62, G12B 15/04 ...

Метки: анализа, давлении, повышенном, проведения, спектрального

...виде герметичной снабженной входным штуцером и предохранительным клапаном Оарокамеры, внутри которой размсшсны два электрода, Охлаждасмыс кольцевой водяной рубашкой.На чертеже схематически изображено устройство для проведения спектрального анализа при повышенном давлении.Устройство представляет собою оарокамеру 1, внутри которой на держателях 2 установлены электроды 3, охлаждаемые посредством кольцевой водяной рубашки 4 с проточной водой, поддерживающей постоянную температуру барокамеры. Барокамера снабкена предохранительным клапаном 5 и входным штупсром 6 для подвода рабочего (1, глекпслого) газа. Герметизация барокамспы достигается с помощью уплотнптельной прокладки 7 из резины. Электроды можно сближать и разводить один от другого...

Номер патента: 149599

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Островский

МПК: G01J 3/36

Метки: анализа, приставка, проведения, спектрального, спектроскопу

...и линий, сгруппированных по элементам, ссответственно. Предлагаемая приставка позволяет специализироватьспектроскоп для решения небольшого числа конкретных задач, чемзначительно расширяет возможности визуального спектрального анализа, упрощает процесс исследования и увеличивает производительностьтруда,На чертеже изображена описываемая приставка, состоящая из пластинки 1 с прорезями, положение которых совпадает с положением аналитических линий в спектре спектроскопа (они прорезаются по шаблону-фотопластинке полученной на том же спектроскопе), содержащимиторцы светопроводов; коробки 2, в которую уложены светопроводы;пластинки 3 с прорезями, сгруппированными,по элементам, в которыевыведены вторые торцы светопроводов, и лупы 4 со...

Номер патента: 284358

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Косик, Трилесник

МПК: G01J 3/36

Метки: анализа, спектрального, фотоэлектрическое, эмиссионного

...содержит источник 1 возбужденияспектра, цолцхроматор 2, блок 3 иптегри 1)ующцх конденсаторов, входную коммутцрую 10 щую систему 4, логарцфмирующее устройство5, выходную камагутцрующую систему 6, лццсйцый высокоомпый вольтметр 7, калибровочную ячейку 8, регистрирующее устройство9, дополнительную коммутирующую систему5 10, программное устройство 11, систему 12 автоматики ц коммутации,Установка действует следующим образом,От источника 1 всзбуждецця спектра свет.полученцыц в результате электрического разряда между исследуемым образцом ц протцвоэлектродом, попадает через входную щель полихроматора 2 на дифракццоцную решетку,которая разлагает свет в спектр, Выделенныевыходными щелямц полихроматора спектральные линии посылаются ца...

Номер патента: 384023

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Федоров, Шарыгин

МПК: G01J 3/36

Метки: фотохронограф

...на 180, Объективы 2, 3 совместно с зеркалами б, 7 образуют оптическую линоо с изменяющейся при одновременном перемещении зеркал б, 7 величиной задержки. Поскоэьку 20 исследуемый источник световых сигналов ифотокатод электронно-оптического преобразователя находятся в фокальных плоскостях Объекттвен ", 3 паст.окусироп 1 ки изображения источника световых импульсов на фотокатоде 25 4 при перемещении зеркал б, 7 не происходит.11 зображс 1 ыя с фотокатОДа 4 переностсяна экран 13 электронно-оптического преобразоьателя и разворачиваются по эллипсу. Эллипсоидная развертка создается путем подачи 30 на вертикальные и горизонтальные отклоняю384023 Предмет изобретения 10 Составитель Т. ДозоровТсхред Л, Грачева Корректор Г Агаян Рсдактор И....

Номер патента: 382939

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G01J 3/36

Метки: геометрии, периодических, структур, фотоимпульсный

...в этом случае сние его выходного тока.В длительности полос получаемого ступенчатого электрического сигнала заложена полная информация о геометрии структуры.На фиг. 1 иллюстрируется принцип получения ступенчатого электрического сигнала при контроле цветных полосчатых структур, где / - опектральная характеристика фотоэлектрического,приемника; П - ксан про.тируемая структура; П/ - ступенчатый электрический сигнал фотоэлектрического приемника, тде ширина ступеней (т) пропорциональна ширине цветных полос (К - краеная полоса, 3 - зеленая, С - синяя).На фиг. 2 изображена блок-схема устройства автоматического контроля геометрии экрана цвегного кинескопа со сплошным люминофорным покрытием, реализующего цредлатаемый...

Номер патента: 895200

Опубликовано: 07.08.1983

Авторы: Журавлев, Музалевский, Петров, Сысак

МПК: G01J 3/36

Метки: параметров, плазмы, пучка, электронного

...так как в противном случае величина уширения не может быть определена однозначно, Способ не применим для определения параметров плазмы, движущейся с релятивистской скоростью и релятивистских электронных пучков.Известен способ измерения парамет" ров электронного пучка или плазмы по 30 рают в спектре рассеяния частотные интервалы, число которых не меньше числа определяемых параметров) в каждом из выбранных интервалов измеряют угол между направлением максимальной поляризации рассеянного излучения и плоскостью, содержащей электрический вектор падакщей и волновой вектор рассеяной волны.Суть способа заключается в следукщем, Зондируют изучаемый объект мо"Ф/2 мснохроматическим ш ")= плоскопо". ляриэованным излучением) определяют направление...