Способ измерения массовых чисел спектральных линий б масс спектрометрах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 288399
Авторы: Кузьмин, Могильницкий, Специальное
Текст
ОП И САНИ ЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Саветскив Социалистические Республикоритет Комитет ао двлз зобретений и открытнпри Совете МинистровСССР убликовано ОЗ.Х 11.1970. Бюллетень ЛЪ 36та опубликования описания 1.11.1971 Авторы зоб ретения А, ф. Кузьмин и А, М. Могильницкий Заявитель ециальное конструкторское бюро аналитическог приборостроения АН СССРСПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАССОВЫХ ЧИСЕЛ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ В МАСС-СПЕКТРОМЕТРАХедмет изобретения особ измерения массовых ых лпшш в масс-спектром а вводе в масс-спектроме исследуемым эталонного ровки шкалы, отличающиповышсцця быстродейст Спральнныйно скалцоцелью чисел спекгетрах, основанр одновремецвещества дляйся тем, что, сця и точности 30 Нахождение соразмерности между спектральными линиями в масс-спектре и соответствующими этим линиям массовыми числамц является одной цз первостепенных задач массспектрометричвского анализа.Известен способ измерения массовых чисел спектральных литий в масс-спектрометрах, применяемый в масс-спектрометрах, работающих совместно с универсальными вычислительными машинами УВМ, согласно которому вместе с анализируемым веществом в напускной объем масс-спектрометра вводят эталонное, масс-спектр которого известен с высокой точностью. Этим способом могут быть определены с высокой точностью значения массовых чисел в широком диапазоне, однако он требует привлечения большой универ,сальной вычислительной машины с запоминающим устройством объемом порядка 4096;(24 бцт,Предлагаемый способ измерения массовых чисел отличается тем, что в процессе записи масс-спектра исследуемого вещества в массспектрометр вводят одновременно эталонное вещество, модулированное по давлению; постоянный и переменный сигналы в цепи регистрации масс-спектрометра (постоянный - от исследуемого вещестза, переменный - от эталонного) разделяют с помощью фильтров и определяют шкалу массовых чисел на основе теоретического значения разности молекулярных весов линий масс-спектра эталонного вещества. Прц этом масс-спектр исследуемого вещества не загрязнен лцниямп эталонного. Этот способ позволяет исключить поиск рецерпых пиков В смешанном масс-спектре (масс-спектре смеси исследуемого ц эталонного веществ), а также экстраполяццю, что создает возможность ускорить вычисления ц применить вместо УВЧ простой спсццалпзпрованньш вычисли О тель с объемом памяти порядка 256(17 бцт,Этот объем памяти почти полностью используется для решения задачи интерполяции и других задач обработки. Прц этом задача интерполяции закона раззертки на интервалах масс, 5 содержащих несколько реперных линий, может решаться в реальном масштабе времени.Следует отметить, что нет необходимости в поддержании строгого постоянства давления эталонного вещества, поэтому для его ввода в 20 масс-спектрометр может быть применено несложное вакуумное оборудование.288399 Составитель Н. В. Алимова Редактор Б. Б. федотов Корректор А. П. Васильева Заказ 3979/11 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 измерения и упрощения аппаратуры, поток эталонного вещества, вводимый в массспектрометр, модулируют по давлению, а суммарный электрический сигнал, создаваемый на выходе масс-спектрометра, разделяют на сигналы исследуемого и эталонного веществ и регистрируют их одновременно в отдельных каналах.
СмотретьЗаявка
1298396
А. Ф. Кузьмин, А. М. Могильницкий, Специальное конструкторское бюро аналитического приборостроени СССР
МПК / Метки
МПК: G01N 27/60, H01J 49/26
Метки: линий, масс, массовых, спектральных, спектрометрах, чисел
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-288399-sposob-izmereniya-massovykh-chisel-spektralnykh-linijj-b-mass-spektrometrakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения массовых чисел спектральных линий б масс спектрометрах</a>
Способ измерения интенсивности линии в оптическом спектре
Номер патента: 667822
Опубликовано: 15.06.1979
Авторы: Козлов, Козлова, Смолин
МПК: G01J 3/30
Метки: интенсивности, линии, оптическом, спектре
...содерж литическую линию исследуемого на фоне помехи, проходит через щель 1 монохроматора, ширина плавно или дискретно изменяется м667822 Формула изобретения Составитель А, СубоТехред О. ЛуговаяТираж 765 Редакт Заказ Л. БатанО/36 орректПодписи га дарственног изобретени Ж - 35, Р нт, г, Уж НИИПИ Го по делам 035, Москва ал ППП Паета СССР крытийнаб., д. 4/5 л. Проектная, 4 ком и о шска ф мя фиксированными значениями при помощи привода 2. Одновременно тем же приводом изменяется эффектйвная высота щелимежду двумя фиксированными значе.ниями, причем крайние положенйя для указанных высот могут быть заданы перед началом измерений при помогци заслонки 3.Заслонка 3 управляется тем же приводом 2.Излучение, поступающее в спектрометр через...
Способ измерения интенсивности линий в оптическом спектре
Номер патента: 1060953
Опубликовано: 15.12.1983
Автор: Борисов
МПК: G01J 3/30
Метки: интенсивности, линий, оптическом, спектре
...изобретения - повышение чув-. ствительности и точности измерения интенсивности спектральных линий путем увеличения спектрального разреше нияа также устранения модуляции ,переменного Фона и влияния посторон них спектральных линий в окрестности регистрируемой линии.Цель достигается тем, что согласно способу измерения интенсивности линии в оптическом спектре путем пе риодического изменения взаимного полокения спектральной линии и выходной щели монохроматора, преобразования оптического сигнала в фототок иизмерения амплитуды фототока от линии на частоте модуляции сигнала,изменение взаимного положения спехтральной линии н выходнои щели монохроматора осуществляют путем периодического поворота щели вокруг оптической оси монохроматора с...
Устройство для измерения массового расхода вещества
Номер патента: 1257409
Опубликовано: 15.09.1986
МПК: G01F 1/66
Метки: вещества, массового, расхода
...доплеровской частоты иблолок 11 статистической обработки фа"зы доплсроэского сигнала,Поскольку величина доплероэского сдвига Г частоты, несущая полезную информацию о скорости Ч потока, зависит также и от величиныв данном случае являющейся возму-,40щающим Фактором, то для достижениянезависимости результата измерения7 от влияния измененийсигналы свыходов блоков 10 и 11 подаются наделитель 12, где осуществляется опе 45рацияделения величины,пропорциональной Г , на величину, пропорционапь 1ную ьЧ . В результате вычисляетсязначение скорости измеряемого потока.0(Т, -й. )Ч50 т 1ФсГьтд соз 6,Для определения плотностивещества,функционально связанной с его диэлектрической проницаемостью Е,сигналы свыхода блока 11 подаются...
Устройство для определения массового расхода вещества
Номер патента: 1753281
Опубликовано: 07.08.1992
Авторы: Ахобадзе, Плотников, Совлуков
МПК: G01F 1/66
Метки: вещества, массового, расхода
...комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано дляизмерения массового расхода веществ, перемещаемых по трубопроводам,Известны устройства для измерениямассового расхода веществ, основанные нэ: "корреляционном методе измерения и средифх:в частности, корреляционный радиово 4 оуый массовый расходомер, Он содержит корреляционный СВЧ-датчик скоростипотока вещества, а также датчик плотности(концентрации) вещества, вычислитель скорости потока и вычислитель плотности вещества умнокитель выходных сигналовэтих вычислителей, Недостатком являетсяневысокая точность измерения, обусловленная несовершенством используемых амплитудных измерителей...
Способ определения спектрального разрешения спектрометров сметанина е. а.
Номер патента: 972254
Опубликовано: 07.11.1982
МПК: G01J 3/28
Метки: разрешения, сметанина, спектрального, спектрометров
...1 импульсов,светодиод 2, конденсор 3, фильтр 4, спект рометр 5, регистратор 6.Способ осуисествляют следующим образом.Светодиодом 2 генерируют световые импульсы с частотой и длительностью, кото 972254формула изобретекия О рые задаются генератором 1 импульсов. Конденсором 3 формируют импульсный расходящийся поток излучения от светодиода 2 в параллельный, который пропускают через фильтр 4, при этом получак)т дискретную форму спектрального сигнала и по ней определяют разрешение спектро метр а 5 по формуле К = Ь 1/п,где К - разрешение прибора;ЬА - полоса пропускания фильтра;п - количество регистрируемых линий. Регистратор 6 фиксирует то количество линий, которое проходит через фильтр 4 и спектрометр 5 с учетом всех характеристик последнего,...
Предыдущий патент: Устройство для измерения содержания углекислого газа, растворенного в жидкости
Следующий патент: Вытягивающий электрод квадрупольного масс-спектрометра с накоплением
Случайный патент: Релейный преобразователь для систем с переменной структурой