Способ анализа ионов по массам

ОПЙСАЙК ИЗОиРЕ 1 Е Я И И АИОРСЫОМУ СВИДЕ 7 ЕЛЬСТВ Союз Ссаетсхиз Социалистических Республииьисимое от авт. свидетельстваЗаявлено 08.1 Ъ.1965с присоединением зПриоритетОпубликовано 22,Ю Щ 100259526-25) Кл, 421, 3 явкиМП 1 С 01 пУДК 543.51(088.8) Комитет по делаи изобретений и отнрытн при Совете Министров СССР967, Бюллетень2описания 15,11,1968 публ иковани ат Авторизобрете. Н, Линни аявител ПОСОЕ АНАЛИЗА ИОБОВ ПО МАССА ассакополебассам, ии во анализа ионов по мение частоты иониза го (Лиопиз лектро ДОМ;+ К 2 п - 2Я=п28 О- ." + Кч+У Д К 2 п) 25 Из получе любого чи л нальным а зависящего выходные сг ЗО ном электронного выража колебанийс точностьюот массы иогналы, индуде анализат о, что после пропорциоициента, не м образом, на сигнальпосле и сния види Я будет до коэфф нов. Таки цируемыеора масс Изобретение относится к способа спектрального анализа с применением ления ионов регистрируемой массы в лющемся пакете. Известен способ по которому изменремени осуществляется по закону где постоянные а и в выбираются при градуировании прибора, При этом число суммируемых пакетов выбирается строго Одинаковым для каждой массы и в пределах линейной зависимости выходного сигнала датчика от числа суммируемых пакетов.В предложенном способе в последовательность действий вводится новая операция, заключающаяся в удалении части ионов в процессе каждого колебания, пропорциональной их общему числу. Кроме того изменяется операция суммирования элементарных колеблющихся ионов каждой массы. Число суммируемых пакетов выбирается не строго одинаковым для каждой массы, а для каждой массы суммируется любое число пакетов, большее минимальной величины, которая определяется достигаемой точностью количественных измерений.Применение указанных операций позволяет более простыми методами достичь высокой точности количественных измерений, снять ограничения па закон изменения частоты ионизации во времени, создать равноправные условия по чувствительности и разрешающей способности для всех масс регистрируемого диапазона.Способ заключается в следующем. Пусть д-заряд ионов спределенной массы, образующийся в результате отдельного акта ионизации, а К - коэффициент прохождения ионов, т, с, число, показывающее какая часть ионов из общего количества проходит через анализатор масс при одном колебании. При этом после первого колебания к сигнальному электроду датчика приблизится Кд ионов, после второ д+д) К и т. д. В результате и актов ации и суюирований к сигнальному э ду приблизится уже пакет ионов с заряколебаний ионов того илн иного газа, пропорциональны зарядам ионов отдельных актов иопизации, т. е.,пропорциональны ,парциальным давлениям соответствующых газов.В статическом режиме, т, е. при суммирова. нии бесконечного числа элементарных пакетов д, Я будет возрастать до тех пор, пока число удаляемых за один период колебаний ионов, не станет равным числу ионов, которое поступает в анализатор масс в результате отдельного акта ионизации. При этосе, Ябудет ассимптотически приближаться и своему предельному значению: Отсюда видно, что при бесконечно большом числе сухируемых пакетов ионов, выходной сигнал тоже оудет пропорциональным заряду ионов отдельного акта ионизации, т. е. в статическом режиме работы массспектрометрического датчика будут соблюдаться количественные соотношения между выходными сигналами и соответствующими парциональными давлениями.В динамическом режиме при быстром изменении частоты ионизации для осуществления количественных измерений с точностью е необходимо и достаточно, чтобы было просуммировано для каждой из масс число элементарных пакетов большее ип, определяемогоиз следующего соотношения:1 1 пв52 1 пКПри г(=0,95 для достижения погрешностиколичественных измеРений не более 4 оо достаточно, чтобы было просуммировано число 10 элементарных пакетов каждой массы большеел= 30.Удаление из колеблющихся пакетов частиионов, пропорциональной их общему количеству, может быть осуществлено рядом извест ных устройств и приемов, например постановкой на пути колеблющихся ионов сеток, системы электродов или магнитного поля.Предмет изобретен и я20 Способ анализа ионов по массам с накоплением ионов в пакетах, колеблющихся в электрическом поле анализатора масс, и регистрированием на сигнальном электроде переменных напряжений, отличающийся тем, что, 25 с целью повышения точности и чувствительности анализа, из колеблющихся пакетов, удаляют, например, с помощью сеток, системы электродов или магнитного поля часть ионов, пропорциональную нх общему числу.Составитель М. В. ПантелеевРедактор Э. Юибаева Текред А. А. Камышникова Корректоры: Т, В, Егорова и Л. В. Наделяева Заказ2/15 Тираж 530 ПодписноеЦИИИПИ Комите 1 а до делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2