Призменный масс-спектрометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваКл, 427, 3/ 235026/26-:25) влено 23.1 Ч.1968 вкиприсоединением 1 ПК б 01 ттДК 543 51(088 8) Приорите Комитет по делам зобрвтений и открытий при Совете Министров СССРубликовано 22,Х 11,1969, Бюллетень3 за 1970 та опубликования описания 18.Ч.1970. Менбаев А А. Жданов витель ЕННЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР П 2 Изобретение относится к технике массспектрометрии и, в частности, касается построения,призменных масс-спектрометров большой разрешающей силы.В извеспных призм енных,масс-спектрометрах наблюдается уширение изображения щели источника ионов за счет аберраций электронных линз.Целью изобретения является создание призменного масс-спектрометра с усовершенствованной системой фокусировки, обладающего большой разрешающей способностью по сравнению с известными приборами этой группы.Отличием предлагаемого устройства является установка между фокусирующей линзой и приемником ионов ионно-оптического зеркала, что позволяет устранить сферическую аберрацию фокусирующей линзы и укоротить выходное плечо масс-спектрометра.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, состоящего из источника 1 ионов, расположенного в фокусе коллиматорной электростатической линзы 2, ионно-оптической призмы 3, электростатической фокусирующей линзы 4, ионна-оптического зеркала Б, установленного на пути ионного пучка после, выхода его из фокусирующей линзы 4 на расстоянии, составляющем примерно т 4 фокусного расстояния выходной лвнзы, и приемника б ионов, расположенного в фокусе системы, состоящей из выходной линзы 4 и зеркала 5. Параметры конно-оптического зеркала 5 рассчитывают, исходя из условий компенсации сферической аберрации.В известных призменных масс-спектромеграх для увеличения разрешающей силы необходимо увеличивать фокусное расстояние фокусирующей (выходной) линзы, что приводит к увеличению габаритов прибора.Предложенный 1 призменный масс-спектрометр при тех же разрешениях имеет значительно меньшее выходное плечо (как минимум, в 4 раза), так как эффективная плоскость отражения 7 находится за зеркалом 5 на расстоянии, большем или равном расстоянию между приемником б и зеркалом б. Расстояние от эффективной плоскости отражения 7 до плоскости мнимого изображения 8 равно расстоянию между приемником ионов б и плоскостью отражения 7. Расстояние между приемником ионов, расположенным рядом с фокусирующей линзой 4, и зеркалом Б в четыре раза меньше эффективного фокусного расстояния , определяющего разрешение прибора, Это позволяет значительно уменьшить длину выходного плеча призменного массспектрометра высокого разрешения, а следовательно, и габариты прибора в целом.Ионно-оптическое зеркало может быть циЗ 0 линдрическим. В этом случае разведение пря260277 Составитель Н. В. Алимовадактор Б. С, Наикина Техред Т. П. Курилко Корректор А, А. Березуев Заказ Я 56/5ЦНИИПИ Комите Тираж 500 о делам изобретений и открытий Москва Ж, Раушская наб., Подписири Совете Министров ССС4/5 ипография, пр. Сапунова мого и обратного ионного пучка производится предпочтительно в плоскости симметрии цилиндрического зеркала. Предмет изобретения1. Призменный масс-спектрометр, содержащий ионно-оптическую призму, коллиматорную электростатическую линзу, в фокусе которой расположен источник ионов, электростатическую фокусирующую линзу и приемник ионов, отличающийся тем, что, с целью исключения сферической аберрации и укорочения выходного плечамежду фокусирующей линзой и приемником ионов установлено иоанна-оптическое зеркало.5 2. Устройство по и. 1, отличающееся тем,что ионно-оптическое зеркало выполнено цилиндрическим.3. Устройство по пп. 1 и 2, отличающеесятем, что щель приемника ионов расположена 10 в плоскости симметрии цилиндрического ионно-оптического зеркала.
СмотретьЗаявка
1235026
О. М. Артамонов, Г. Н. Бродский, К. Менбаев Ленинградский государственный университетА. А. Жданова
МПК / Метки
МПК: H01J 49/26
Метки: масс-спектрометр, призменный
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-260277-prizmennyjj-mass-spektrometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Призменный масс-спектрометр</a>
Приемник ионов масс-спектрометра
Номер патента: 343703
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Специальное, Шерешевский
МПК: B01D 59/44, G01N 27/62
Метки: ионов, масс-спектрометра, приемник
...и двухлучевым методами имеют ограниченную чувствительность в случаях, когда интенсивностьфона превышает интенсивность анализируемого вещества.В предлагаемом устройстве, с целью и"ключсиия влияния фона на результаты измерений, два крайних коллектора приемникаионов, суммарная ширина щелей которыхравна ширине средней щели, электрическисоединены между собой и подключены навстречу центральному коллектору к дифференциальиому усилителю.Детектирование ионов осуществляется, таким образом, одновременно тремя коллекгорами, причем в цепи среднего коллектора создается ионный ток 2012 - Ур + 11,ф - ток фона;- измеряемый ионный ток,боковых коллекторов созки Уь и 1 з, обусловленньвьи других линий спектри этом соблюдается следующ1,+1,=1,. Влияние...
Источник ионов масс-спектрометра
Номер патента: 369478
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Вител, Мартынкевич, Ненарокомо, Рафальсон, Шутоц
МПК: B01D 59/44, G01N 27/62
Метки: ионов, источник, масс-спектрометра
...под углом к оси камеры ионизации, а между катодом и подкатодной щелью установлена система отклонения электронного пучка, которая может быть выполнена электростатической или магнитной. 20При такой конструкции область горячего катода оказывается отделенной от области ионизации большим сопротивлением газовому потоку, и, таким образом, проникновение продуктов химических реакций на катоде в 25 область ионизации практически исключается,На фиг. 1 изображена принципиальная схема источника с отклоняющим электростатическим конденсатором; на фиг. 2 - схема источника с отклоняющим магнитным полем,Обе конструкции включают в себя катод 1, ускоряющий электрод 2, отклоняющую систему 3 и ионизационную камеру 4. Электроны, эмиттируемые катодом 1,...
Источник ионов масс-спектрометра
Номер патента: 433919
Опубликовано: 30.06.1974
Авторы: Додонов, Кудров, Сшш, Тальрозе
МПК: B01D 59/44
Метки: ионов, источник, масс-спектрометра
...распределением потенциала в области ионизацин.Цель изобретения - увеличение чувствительности ионного источника.Это достигается тем, что в предлагаемом источнике ионов масс-спектрометра понизатор выполнен из шести сеток, помещаемых между анодом и катодом: двух центральных, расположенных под углом одна к другой и расходящихся в направлении движения ионов, двух экранирующих сеток, антидипатронной сетки и вытягивающей сетки.На чертеже показана схема источника ионов.Источник содержит катод 1 косвенного нагрева, первичный катод 2, вытягивающую сстку 3, экранирующую сето 4 со стороны като да, сетки 5 и 6, ограничивающие область ионизации и расположенные под углом относительно осп источника так, что расстояние 5 между ними увеличивается в...
Способ вторично-ионной масс-спектрометрии твердого тела
Номер патента: 708794
Опубликовано: 15.11.1986
Авторы: Арифов, Джемилев, Курбанов
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: вторично-ионной, масс-спектрометрии, твердого, тела
...элемента пропорционально амплитуде вторичногоионного тока.На фиг. 4 показана зависимостьраспределения по тощине слоев литияс эквивалентной толщиной 0,35, 0,72 40и 1,3 монослоя от времени бомбардировки ионами неона с энергией 13 кэВи плотностью тока на мишень 0,5х 0, 109 А/см . 1 ак видно,для представ-ленных кривых характерно экспоненци-. 45альное уменьшение интенсивности ионов 1 Эти результаты свидетельствуют о том, что осажденный слой лития присутствует только на поверхности пленки меди. Особенно это хорошо наблюдается для слоя с эквивалентной толщиной 0,35 монослоя. Однако дпя кривых 11 и 111 (эквивалентнаятолщина 0,72 и 1,3 монослоя) выходионов перестает меняться приблизительно после 200 и 340 с бомбардиров.ки соответственно,...
Способ масс-анализа ионов
Номер патента: 1758705
Опубликовано: 30.08.1992
МПК: H01J 49/40
Метки: ионов, масс-анализа
...компоненты ионного пучка.На фиг. 1 схематически представлено устройство, реализующее предлагаемый способ исследования масс-спектра непрерывного ионного пучка; на фиг. 2 - временная диаграмма ионного тока на мишени,Устройство состоит из ионного источника 1, системы 2 импульсного отклонения ионного пучка 3 от первоначальной траектории 1 роль системы 2 в ионных пушках могут выполнять отклоняющие электроды, на которые подается импульс напряжения), мишени. 4 устройства (роль мишени 4 в аналитических и технологических установках может выполнять распыляемый источником 1 образец), в которое встроен ионный источник 1, системы 5 регистрации ионного тока, которая может быть обычной системой регистрации времяпролетных спектрометров, источника 6...
Предыдущий патент: Способ качественного обнаружения замещенных оксамидов
Следующий патент: Устройство для измерения активной концентрации водородных ионов в крови
Случайный патент: Вибрационный классификатор