Способ определения масс ионов органическихсоединений

Номер патента: 512419

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Борнгардт, Ланин, Павленко, Разников, Тальрозе, Фридлянский, Шутов

МПК: G01N 27/62

Метки: высокого, масс-спектра, массы, пиков, разрешения

...автономной регистрации спектров на магнитной ленте, накопители 27, 28 на магнитной ленте, ЭВМ 29, блок 30 программного управления устройством.Устройство работает следующим образом.Анализируемое вещество вводится с помощью устройства 4 прямого ввода пробы в источник 5 ионов, ионизируется электронным ударом и в виде пучка ионов направляется в масс-анализатор 6, где происходит разложение пучка на компоненты с одинаковым отношением массы к заряду. Ионы регистрируются системой 7 регистрации ионных токов, а в массовое число определяется при этом датчиком 8 масс. Высокий вакуум в масс-анализаторе поддерживается вакуумной системой 3, управляемой от пульта 2 автоматического управления, через который по сигналу от блока 30 программного управления...

Номер патента: 546817

Опубликовано: 15.02.1977

Авторы: Кириллов, Михеев, Николаев, Прокопьев, Соколов

МПК: G01N 33/34

Метки: абсолютно, волокна, волокнистой, количества, массы, потоке, сухого

...термоприемник 14 и регул лирующий блок 15.Устройство работает следующим образом,Излучение от СВЧ-генератора 1 (например,магнетрона) проходит через прозрачнуюдля волн СВЧ-диапазона фторопластовуюЗО стенку участка 2 в массопровод и частично отражается дискретными частицами волокон движущейся массой суспензии. Частота отраженных колебаний отличается от исходной частоты СВЧ-генератора и функционально связана со скоростью движения дискретных волокон массы выражениемЬ= созе.сгде Л - сдвиг частоты;о - скорость дискретных волокон (частиц);с - скорость света;я - угол между направлениями движения волокон (частиц) и излучения.Выделение доплеровских биений осуществляется в балансном смесителе 9 детекторами 5 и 6, выходной...

Номер патента: 751429

Опубликовано: 30.07.1980

Авторы: Компанцев, Михайлов, Ольсевич, Салтанов

МПК: B03C 1/28

Метки: выделения, массы, металлические, потока, примеси, содержащих, технологической, частей

...втулок 12 - валики 13, фиксируемые цластицами 14, Валики 13 соединяют рычаги 11 с промежуточцой вилкой 15, вилками 16 и 17. Соединение тяги 18 демпфера и вилки 16, а также 5 коря 19 эс 5 ектр 0 ЯпиТа и вилки 17 осуществляется ацалоп 5 цо. 11 а кронштецнах, фиксируемых штифтами ц закрепленных ца корпусе болтами, по посадочным отверстиям установлены электромагнит 20 и демпфер 21 прямого хода, Демпфер 21 прямого хода представляет собой корпус, в котором установлены втулки 22 из аптифрцкционного материала, внутри втулки 22 перемещается тяга 18, на которой закреплен ударник 23. Перемещение демпфера прямого хода ограничено крышкой 24, Эцергия удара демпфера гасится резиповой прокладкой 25. Возврат системы в исходное положение производится...

Номер патента: 1376003

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Логвинов, Поминов

МПК: G01N 15/06

Метки: газа, жидкости, массы, потоке, твердых, частиц, числа

...усиливаются усилителем 10 и анализируются амплитудным анализатором, распределяющим сигналы в зависимости от амплитуды по соответствующим каналам. Когда амплитуда сигнала превышает пороговое напряжение компаратора 11 К-го канала, на выходе компаратора возникает импульс, который засчитывается счетчиком 12 соответствующего канала, Пороговое напряжение К-го компаратора соответствует амплитуде сигнала от частиц заданной массы щ. Число импульсов, зарегистрированных К-м счетчиком, равно числу частиц с массой, превышающей ш,Электрический сигнал пьезокристалла при ударе частицы о поверхность протектора прямо пропорционален ударному импульсуггБ=РаС, (1)огде Р - сила удара;С - время;Г - длительность удара.Ударный импульс равен изменению...

Номер патента: 672672

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Кузьмин, Либман, Малеев, Цымберов

МПК: H01J 39/40

Метки: анализатор, магнитный, масс-спектрометра

...напряженностей магнитного поля в пределах рабочей ионной траектории, Требуемаяпараллельность в данном случае достигается точностью изготовления деталей магнита и правиль.б 72672между торцами подвижной и неподвижной частей ь. диполя, незначительно увеличивает магнитные поь терн устройства. Расчет и эксйериментальиые исследования возможных влияний магнитных по.терь в зазоре М показали, что величина потерьявляется несущественной и влияния иа топогра го, фию магнитного поля в рабочем зазоре не ока. б- зывает.Испытания показали, что с помощью регули 1 о ровки можно получить требуемую по расчету однородность магнитного поля, соответствующуюзаданной разрешающей способности масс-спектрометра в поле магнита,иПостоянныи магнит для...