Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре

284412 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союа СоветскихСоциалистическими Республик Зависимое от а. свидетельс 42/, 3,0 аявлено 11,Ч 1969 ( 13387 ем заявки-МПК В 014 59/441-1 011 39/346 01 и 27/б 0 с присоединен Комитет по делам изобретений н открыт при Соевтв Министре СССРриорите ЧК 621.384 (088.8 ллетонь32 Опубликовано 14.Х.1970.Дата опубликования описаии 27.1.19 Авторы зобрете П. Шеретов, Г, А, Могильченко, В. А. Зенкин и В ев Заявит и радиотехническии ит заис ООЗНдй ПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ В КВАДРУПОЛЬНОМ МАСС-СПЕКТРОМ ЕТРЕ Данное изобретение относится кмасс-апектрометрического анализа.По извеспному способу анализа ионов в квадрупольном масс-апектраметре анамые ионы вводят тонким потоком потемы.Однако известный способ не обеспечивает при достаточно высокой разрешающей способности высокую чувствительность и скорость сортировки ионного потока.Отличительной особетовостью предлагаемого способа является то, что поток анализируемых частиц вводят в анализатор параллельно его оси на расстоянии от последней, либо в виде отдельных узких лучей, либо,в виде полого цилиндра. на диаграмма ст области ионов в квадрупольном т, что если рабочая точдится в пределах диаг. о чем ближе она к граи, тем больше величина ной амплитуды колебае ввода иона в высоколизируе. оси свсб= ";чи ч0тся по оси системы. ается эффективность возотного поля на ио)ны, так возрастает при удалении что позволяет уменьшить лизатора, не снижая разсти, и тем самым упроспроцесс изготовления датвод ионного потока не по ает искажения, вносимые м зарядом в раопределеет еще больше увеличить счет увеличения плотносводим ого в ан ал из атор. При этом повыш дейспвия высокочаст как величина поля от оси анализатора, длину стержней ана решающей, способно тить конструкцию и чика. Кроме того, в оси системы уменьш его пространственнь ние поля, и позволя чувствительность за ти ионного потока, в На чертеже изобрабильности.Анализ траекторийанализаторе показываека данного ис 1 на нахораммы стабильности, тнице зоны стабильностотношения максималыний иона к коордйнатчастотное поле. отсчи гываю1 з Все рабочие точки, ионов лежат на рабочейпрямой (прямая ОБ), угол сс наклона которой определяется отношением амплитуды высокочастотного потенциала, подаваемого на стерукни квадруполя, к постоянному смещечию. Ес.О ли рабочая точка перемещается от точки д, кточке д по прямой ОБ, то при этом 6 вначале уменьшается, проходит через минимум и при приближении к точке д вновь увел 11 чпвается (на границах зоны стабильности бсо ).25 (Под Лподразумевается максимальнсе отклонение от оси по любой координате.Минималыным значение 6 будет для ионов,рабочая точка которых является точкой пересечения соответствующих изо-Д-ливий совме щенных зон стабильности (па ч ртеуке эта281412 Составитель Н, АлимоваТехред Л. Я, Левина едактор Г, Рыба 1(орректор Н, Л. Бронская Заказ 6069 Тираж 480ЦИИИПИ Ь;огяитета по делам изобретений и открытий прн СоветМосква, Ж, Раушская наб д. 4/5 Подписноеиннстров СССР агорская типография кривая показана пунктиром, а точка, соответствующая бя, обозначена как д а, ) Прп увеличении разрешающей способности угол, наклона прямой ОБ увеличивают, стремясь сузить диапазон пропускаемых масс 5 д - й. При этом точка (а 91 О ),приближается к точечкам (и д,) и, соответственно д увеличивается. Это приводит к значительяному уменьшению диаметра ионного потокапроходящего вдоль оси а 1 нализатора, 10 уменьшению трансмиссии и чувствительности.В условиях реализации, высокой разрешающей спосооности чувствительность, таким образом, пропорциональна плотности ионного потока на вхоДе анализатоРа и ИваДРатУ Ля 15 определяемому, соотношением:яЛ ;= . , где ч, - радиус поля.оМ,В случае входа иа 1 нов в анализатор полым цилиндрическим потоком с шинимальным радиусом Л лри координатах данной рабочей точки а , д2Л и ни один ион не попопадаетя в измерительное устройство. уменьшая а, увеличиваем, тем самым, Лни ста,новится возможным пропускать через анализатор только ионы выбранной массы, т. е. осуществить такую же высокую разрешающую способность, как и при раооте в,вершине тре. угольника стабильности, Но при этом резко возрастает чувствительность за счет увеличения площади поперечного сечения ионного потока. Вероятно, для получения одной и той же разрешающей способности при трансмиссии,близкой к единице, значения ЛХ и радиуса входной диафрагмы должны иметь один и тот же порядок.Поэтому по предлагаомому способу на,входе ионного потока чувствительность должнаивозрасти в 2 - раз, т, с. при работе с высокимДяразрешением приблизительно па дват 1 орядка. При этом эффективность воздейст,вия высокочастотного поля на ионы, возрастает, так как дни вводятся в область значительного поля и уменьшается время сортировки ионов. Это приводит к уменьшению длины стержней анализатора. Предмет изобретения 1. Способ анализа попов в квадрупольном масс-спектрометре, в котором поток анализируемых частиц вводят в рабочий объем датчика, выделяют и регистрируют ионы определяемой массы, отличаюи 1 ийся тем, что, с целью увеличения чувствительности, разрешающей способности и скорости анализа, поток анализируемых частиц вводят в анализатор параллельно его оси на,расстоянии от последней,2, Способ по п. 1, отличаощийся тем, что поток анализируемых частиц вводят в виде ,полого цилиндра.3, Способ по п. 1, отличаои 1 ийся тсм, что лоток анализируемых частиц вводят в виде от. дельных узких лучей,