Времяпролетный масс-спектрометр

Номер патента: 1469465

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Бойко, Помухина

МПК: G01N 33/68

Метки: анализатора, вестибулярного, диагностики, дифференциальной, периферического, поражения, уровней, центрального

...методу, на что затрачено около 3 ч рабочего времени врача-оториноларинголога. При выполнении политермической пробы у больной наблюдалось выраженное головокружение в момент совпадения направления посткалорического и спонтанного нистагма. В результате исследования выявлен вестибулярный рекруитмент справа, более характерный для периферического поражения вестибулярного анализатора, однако коэффициент лабиринтной ассиметрии был 162.При исследовании слуха методом тональной пороговой аудиометрии выявлено незначительное повышение порогов на высокие частоты 6-8 тыс.Гц) в пределах 15 дБ по типу нарушения звуковосприятия, что является косвенным признаком центрального уровня поражения вестибулярного анализатора.Таким образом, данные,...

Номер патента: 1471233

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Бабанская, Маньковский, Черепин

МПК: H01J 49/44

Метки: анализа, анализатор, ионов, разрешением, рассеянных, угловым, энергетический

...16 и 19 заземлены. Расстояние между диаграммами и потенциал 7 на диафрагме 18 выбираются из условия, что фокус Й лежит в плоскости щелевой диафрагмы 20, Приближенное значение можно получить из выражения1 3 еУ2К 80 К.где Е - энергия электронов;Э - расстояние между диафраг"мами.Щели в диафрагмах 16, 18 и 19лежат в исследуемой плоскости (плоскости рассеяния ионов). Щель в щелевой диафрагме 20 находится под углом оС к исследуемой плоскости (Фиг. 3), Чем больше угол Ы и чем меньше ши" рина щели Й в щелевой диаграмме 20, тем лучше разрешающая способность по углам. Но необходимо учитывать, что уменьшение ширины щели Й уменьшает чувствительность анализатора, а величина угла ы, ограничена расстоянием Ь между отклоняющими пластинами 2 1 н 22...

Номер патента: 1780132

Опубликовано: 07.12.1992

Автор: Мамырин

МПК: H01J 49/34

Метки: магнитный, масс-спектрометр, резонансный

...сторону от входной щели по сравнению с модулятором, т.к.в противном случае ионный пучок подойдет 5 не под прямым углом к линии щелей, как этонеобходимо для правильной работы магнитного резонансного прибора, а под острым, при этом на 180 от входной щели (где расположены щели модулятора) пучок ионов не 10 30 35 40 45 50 55 15 20 25 будет сфокусирован. Таким образом, каждый признак в предлагаемой конструкции необходим, а все вместе они достаточны для достижения целей изобретения.Автору неизвестна заявленная совокупность существенных признаков. Взаимовлияние всех отличительных признаков приводит к появлению новых возможностей: уменьшению зазора магнита и использованию в приборе внешних источников ионов с повышенным давлением...

Номер патента: 1014068

Опубликовано: 23.04.1983

Автор: Фишкова

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, тройной, фокусировкой

...электрод выполнен в виде двугранного угла величиной %2, ребро которого лежит в средней глоскости электромагнитного анализатора:, а грани расположейы симметрично относительно этой плоскости, при этом кратчайшие расстояния от ребра двугранного угла до полюсов электромагнита и до первого электрода электростатической системы равны между собой, а также равны расстоянию от первого электрода до плоской части ярма электромагнита.При указанном взаимном расположении полюсрв и электродов создается совмещенное в пространстве комбинированное электромагнитное неоднородное поле, изменяющееся по линейному закону, причем силовые пинии электростатического поля перпендикулярны магнитным силовым линиям (скрещенные поля).Для малых углов наклона пучка...

Номер патента: 1051618

Опубликовано: 30.10.1983

Авторы: Борискин, Брюханов, Быковский, Еременко, Лаптев

МПК: H01J 49/28

Метки: двойной, масс-спектрометра, фокусировкой, юстировки

...масс-,спектрометра.Таким образом, преломление траектории ионного пучка на границахэлектрического поля накладывает еЩеболее жесткие требования к механи;ческой юстировке всей ионна-оптической схемы, так как отклонение точки 10ввода ионного пучка от оптимальнойприведет к нарушению условий фокусировки уже в первом приближении.Экспериментальная проверка теориипоказала, что при изменении потенциала на центральной траекторииэлектростатического анализатора припроизвольном вводе ионного пучка вэлектрическое поле наблюдается лиФнейное смещение масс-спектра вдольфокальной плоскости магнитного анализатора со значительным падениемразрешения прибора (в 2-3 раза).Было установлено также, что одс новременно с изменением. аберрацийпри изменении 0 О...