Способ анализа ионов по массам
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 256339
Автор: Линник
Текст
О П Сотое СоветсннвСоциалистическикРеспублик ЙЗСБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУЗависимое от авт. свидетельства М 1 с,л, 42/, 3/О 9.Х 1.1966 ( 111342126-25 Заявл 1 ПК 60 ПриоритетОгубликовацо 04.Х 1.1969, Бюллетень М Дата опубликования описацпя 26.111.19 Комитет по делам аобретений и открыти при Совете Миаистров ССРЪ Д 1 543.51(088.8) вторзобретеция Л. Н, Лиццик аявител АЛИЗА ИОНОВ ПО МАССА СПОС и- произвольцьпосто яццыеерсмсццой состав часто 2 поля); ые вели ггг с присоединением заявки У Дацпос изооретсцие относится к ооластц масс-спектрометрии.Известен статический спосоо анализа ионов по массам, па ос овс которого работает ицд;1- кзтор парцидсгьцых давлений фарвитроц.С псль 10 весцсц 15 т 1 зззрспгз 101 цей спосооности и сшжс:шя фона нерегистрируемых ионов, по предлагаемому способу ионь, колеблющиеся в цотспциальцой яме прострацства дрейфа, подвергают совместному действию 10 высокочастотного и постоянного квадрупольных электрических полей.Получясмь,и В цоццом источцикс пучок электронов модулируют по ццтецсивцостц с частотой колсодцци регистрируемой массы 15 вдоль оси простр;нства дрейфа, формируют в иоцизирующий луч и производят импульсцую иоцизацию исследуемого газа. Пакеты ионов под воздействием постоянного поля совершают в пространстве дрейфа продолжительные про дольцые колебания. Далее пакеты ионов различных масс, образовавшвеся в результате импульсной цоцизациц, подвергают совместному действию высокочастотного и постояцного квадрупольцых электрических полей, распределенных в прострацстве дрейфа, например, в виде погсццизльцой ямы.Действие квздрупольцых полей сводится к раскачиваццо ионов в поперечном направлении относительно продольных колебапий, прц чем попы церегпстрцрусмых мгсс рдскячцваЮТС 51 ДО ТЕХ ПОР, ПСКЗ ЦС В 1 СЗЖИВЗЮТС 51 ЦД Ого яиц 11 Вг 011 ис электрод) и р остр 1 цстВ я дрейфя, т. с. уддлются цз дцдлцздтора масс.Од.дко при опрсдслснцых пдрдметрзх квадрупольного поля попсрсчцыс колебдцця ионов анализируемой мдссы ограничены, ионы соВсршдот продОлжцтслыьс продолыые колеОдцпя В зцализзт 01 с асс. В этом сл 1 зс попы могут быть нзкоплсны в колеблющемся пакете для повышения чувствитсльцостц и зарегц. стрпров аы. П яр ямстры регистрируемых ПОПОВ ДОЛТКЦЫ М;10 ВЛСГВОР 5 ТЬ СТДОИЛЬЦОММ ИЗ рсшсццй урзвцсццй Мятьс, которые опцсыва ОТ ПОДООЦЫС ДВЦЖСЦП 51 ЗЯОЯЖСЦЦЫХ ЯСТИЦ.Рсшсци 1РЗВцсци 51 1 дтье В 001 цсм Видс отцосггельцо координаты х перпендикулярно оси анализатора масс имеет вцд:х=Ле"- ) С Се - "ляюцей квддрупольцоСи и р - постоянцые. определячиизми81 гг - 4 гтгсг:, г/=тгги256339 Предмет изобретения Составитель Й. В. АлимоваРедактор Т. 3. Орловская Техред А. А. Камышникова Корректор В. И. Жолудева Заказ 660,14 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква Ж, Раушская наб., д, 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 где г, - заряд иона м ассы т,;ф и с" - постоянная и переменная составляющие квадрупольного поля по амплитуде;г, - наименьшее расстояние от ограничивающих электродов до продольной оси г анализатора масс. Стабильные колебания поддерживаются, когда р = ф (О ( Р (1) является чисто мни мой величиной.После удаления фона шумовых ионов регистрация анализируемых ионов осуществляется либо высаживанием их на сигнальный электрод, либо путем индуцирования колеблющи мися ионами на этом электроде сигнальных напряжений.Удаление шумовото фона нерегистрируемых ионов позволяет увеличить верхний предел замеряемых давлений, исключить ложные пики 20 в спектре масс, улучшить линейный участок зависимости амплитуд сигналов от величин парциональных давлений, увеличить максимально допустимый разброс энергий регистрируемых ионов,Способ анализа ионов по массам, при котором производят импульсную ионизацию исследуемого газа, накапливают ионы определяемой массы в потенциальной яме пространства дрейфа и регистрируют их с помощью сигнального электрода, отличающийся тем, что, с целью увеличения разрешающей способности и снижения фона нерегистрируемых ионов, ионы, колеблющиеся в потенциальной яме пространства дрейфа, подвергают совместному действию высокочастотного и постоянного квадрупольных электрических полей.
СмотретьЗаявка
1113421
Л. Н. Линник
МПК / Метки
МПК: H01J 49/26
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-256339-sposob-analiza-ionov-po-massam.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа ионов по массам</a>
Предыдущий патент: Кювета для рентгеноспектрального флуоресцентного анализа жидкостей
Следующий патент: Способ определения ферромагнитных примесей в диэлектрической среде
Случайный патент: Устройство для регулирования напря-жения в линии электропередачи