Способ анализа ионов по массам
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 177674
Автор: Линник
Текст
ПИСАН ИЕ ОБРЕТЕНИЯ Союз Соввтскив алистическисРеспублик Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 20.1.1964 ( 877191/26-25) единением заявкиоритетпубликовано 18.Х.1965. Бюллетеньата опубликования описания 9.11,1966 Комитет по деламизобретений н аткрытипри Совете МинистровСССР втор, Н, Линник зоорете Заявител ОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ ПО МАССА Изменение частоты ионизации от времени о предложенному закону осуществляется геератором качающейся частоты, сигнал с коорого подается на ионизпрующий электрод. 1. Спос О мененпемфарвитр осуществ, ионов ка 5 сигнала,менп ос.щ ствляют по закону а- , где пойрадуировке ии прибора; выбирается выходного с й ионов. остигаетсякаждой ма ала. при этом пределах ала датградуирован баний ионов зависимости сла колебан ря этому д ебаний ионов страции сиги ются при число коле линейной чика от чиБлагода цессе реги а и 6 выбирают при стоъ прибор2. Сп числолинейн чика от а.особ по п. 1, от.гичающай олебанпй ионов выбирают ой зависимости выходного с числа колебаний ионов. я тем, что в пределах гнала датинаково ы в про Данное изобретение относится к способам анализа ионов по массам с применением индикатора парциальных давлений фарвптрон.Известны способы анализа ионов по массам с применением фарвитрона, в которых изменение частоты ионизации от времени осуществляется по линейному закону. При этом отсутствует пропорциональность между высотами пиков на экране осциллографа и величинами соответствующих им парциальных давлений анализируемых газов.По предложенному способу изменение частоты ионизации от времени осуществляется1по закону а -- , где постоянные а и 6 выбпрагдПредмет изобретен об анализа ионов по массам с прппндпкатора парциальных давлений он, от.гггчающайся тем, что, с целью ения одинакового числа колебаний дой массы в процессе регистрации змененпе частоты ионизации от вре
СмотретьЗаявка
877191
Л. Н. Линник
МПК / Метки
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-177674-sposob-analiza-ionov-po-massam.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа ионов по массам</a>
Предыдущий патент: Способ ядерного анализа материалов
Следующий патент: Способ насыщения норового нространства
Случайный патент: Устройство для измерения постоянных магнитных полей