Датчик квадрупольного масс-спектрометра

Номер патента: 286330

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Занский, Зенкин, Матвеев, Могильченко, Шеретов

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, квадрупольном, масс-спектрометре, накоплением

...объ еме анализатора и медленно уходят на электроды, что снижает разрешающую способность и увеличивает время анализа.Целью изобретения является повышение разрешающей способности и быстродействия 20 способа анализа ионов в масс-спектрометре.Предлагаемый способ отличается тем, что ионизацию анализируемого газа осуществляют в рабочем объеме датчика на расстоянии от центра системы. 25Поток ионизирующих частиц вводят в объем датчика, представляющего собой полый цилиндр, в виде отдельных лучей или под углом к осп системы, Поток ионизирующих частиц можно отклонять от центра системы с помо- ЗО щью магнитного поля.Поскольку ионы нестабильной массы, образуемые вдали от центра системы, быстрее уходят на электроды, предлагаемый способ позволяет...

Номер патента: 1699968

Опубликовано: 23.12.1991

Авторы: Неуймин, Полойко, Соловьев, Станкевич, Цукерман

МПК: C03C 8/02

Метки: атмосферы, датчика, печной, потенциала, стекло, углеродного

...материала и выполняющий одновременно функции электрического проводника. Нижний торец патрубка 7, обращенный к внутрен нему электроду 5 и находящийся с ним внепосредственном контакте, снабжен слоем платины 8 для осуществления надежного . электроконтакта и имеет прорези для выходаэталлонного газа. 15Датчик углеродного потенциала атмос, феры печи работает следующим образом,С внутренней стороны керамическая пробирка 2 омывается эталонным газом сизвестным содержанием кислорода, напри мер воздухом, а с другой - анализируемым газом, Работа датчика основана на возникновении ЭДС на поверхности керамической пробирки 2, так как она разделяет вещества с различной химической активностью кис лорода.Приготовление клея-стекла осуществляют...

Номер патента: 284412

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Зенкин, Матвеев, Мргильченко, Шеретов

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, квадрупольном, масс-спектрометре

...от точки д, кточке д по прямой ОБ, то при этом 6 вначале уменьшается, проходит через минимум и при приближении к точке д вновь увел 11 чпвается (на границах зоны стабильности бсо ).25 (Под Лподразумевается максимальнсе отклонение от оси по любой координате.Минималыным значение 6 будет для ионов,рабочая точка которых является точкой пересечения соответствующих изо-Д-ливий совме щенных зон стабильности (па ч ртеуке эта281412 Составитель Н, АлимоваТехред Л. Я, Левина едактор Г, Рыба 1(орректор Н, Л. Бронская Заказ 6069 Тираж 480ЦИИИПИ Ь;огяитета по делам изобретений и открытий прн СоветМосква, Ж, Раушская наб д. 4/5 Подписноеиннстров СССР агорская типография кривая показана пунктиром, а точка, соответствующая бя, обозначена как д...

Номер патента: 1064349

Опубликовано: 30.12.1983

Авторы: Евстифеев, Шаботенко

МПК: H01J 49/42

Метки: анализатора, квадрупольного, масс, питания, спектрометра

...генераторауправляющего напряжения, а второйвход - к второму входу контурной 40системы.Управляемые конденсаторы выполнены в виде последовательно соединенных конденсатора постоянной емкости и варикапа, а блок управления 45величиной их емкости содержит диф- .ференциальный усилитель е парафазными выходами, которые соединены сварикапами, а входы подключены косновномуи дополнительному выходамвысокочастотного детектора,Блок управления величиной индук"тивности контурной системы содержитдополнительный дифференциальныйусилитель, выход которого соединенс первым выводом обмотки подмагничивания, дополнительно введенной вконтурную систему, второй выход которой соединен с общей шиной массспектрометра, а первый вход подклю-.чен к выходу детектора,...

Номер патента: 1228161

Опубликовано: 30.04.1986

Авторы: Колотилин, Овчинников, Самодуров, Чердаков, Шеретов

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, ионов, масс, масс-спектрометрический, спектрометр

...постоянное напряжение, меньшее потенциала катода источникаэлектронов, л с выхода 17 на другуюсетку подается импульсное напряжениеБ. Первая сетка служит для предотвращения попадания электронов изионного источника в пролетный анализатор, а вторая - для предотвращения попадания ионов из ионного ис"точника в пролетный анализатор вовремя процесса накопления ионовнокаол )(ТСпособ реализуется с помощью указанного устройства следующим образом.В течение времени С , (либо втечение части его) в ионйый источниквводят ионизирующий электронный поток.В течение этого времени ионы накапливаются в ловушке и при правильном выборе параметров питающего напряженияП и У сортируются. При этом ионнаяловушка настроена на те же ионы, чтои пролетный...