Способ определения деформаций

Номер патента: 637703

Авторы: Резников, Сегаль

ZIP архив

Текст

Союз Советсиик Социалистических РеспубликОП ИСААКИЕ бзпозИЗОБРЕТЕН ИЯ(22) Заявлено 23.05. 77 (21) 2488074/2551) М. Кл, Й 01 В 11/16 рисоединением звявк осударственна 1 й квинт Совета Мннкстроа ССС по делам нзобретеннйн открытий, М. Сегал и Б, И. Резник ут ЛН Ьелорусской еский ннсти Физико-те(54) СПОСОБ ОПРГДЕЛГНИЯ ДГФОРМА).ИЙ к способамкартинам му Изобретение относит ти и ения деформа олос,оп еде особа яв ерять де координ ровыхИзв ций, ко б ражец тец способ рый вкл 1 оч елеция де рмат цакл цефор картинеции спо сходно рма получецпемации оп полос пут го диффе растров и лос. Дефо м числренци ров муаровых графическНедост увеличени зультатов тком этого высокая трудоемкостьность определениядефгрешностей численногодифференцирования. н овыщ маний из зали графическо Известен способ/ций, заключающийзец наносят растрфотографируют дефосовмещают два из ного растра, и по лос определяют де способ является н 1 ды ва цие изо1 ированногомуаровых попо картиналнного илцци я 111,оба являетсяысокая точопределения деформася в том, что на обра, деформируют образец,рмированцый растр, об ражения деформирован картине муаровых по- формации 2. Данный аиболее близким к изобретеццю по техническо 1 ущносгаемому эффекту.Недостатком известного спется то., что он позволяет измформации только в декартовыхтах, в то же время при примесоба необходимо измерять дефополярных координатах.В этом случае понижаетсяопределения деформации из-запогрешности при обработке реизмерений,Целью изобретения являетс ние точности определения деформаций,Это достигается тем, что по предлагае мому способу после совмещения изображентп 1 деформированного растра, одно из них поворачивают относительно другого вокруг центра системы координат и реГистрируют картину муарОВых ПОлос, затем изготав,п 1 вают изображение деформированного растра в другом масштабе, сов мещают его с исходным изображением и регистрируют картину муаровых полос,637703 Составитель Б, ЕвстратовРедактор И, Шубина Техред 3. Фанта Корректор П, Макаревич Заказ 7096(33Тираж 830 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Б, Раушская наб д. 4/5филиал ППП фПатент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Способ осуцествляют следующим образом,На исследуемый объект наносят растрсетку ), деформируют его, фотографируютдеформированный растр и на полученноенегативное изображение наносят, например, царапанием, полярную систему координат, и получают позитивное изображение. Затем совмещают полученные изображения, поворачивают одно из них относительно другого вокруг центра системыкоординат и регистрируют картину муаровых полос, которые являются линиямичастных производных перемещений по угловой координате, Затем изготавливаютпрозрачное позитивное изображение деформированного растра в другом масштабе исовмещают его с исходным негативнымизображением деформированного растратак, чтобы центры систем координат ипинии начала отсчета угловых координатсовпали, и получают картину муаровых полос, являющихся линиями частных производных перемещений по радиусу. По картинам муаровых полос определяют деформации,Изображение позволяет получить компоненты тензора деформации в полярныхкоординатах при использовании любойсистемы растров, что расширяет круг задач, решаемых с применением метода муара.формула изобретенияСпособ определения деформации, заклю-чающийся в том, что на образец наносятрастр, деформируют образец, фотографируют деформированный растр, совмещают два изображения деформированного растра, и по картине муаровых полос опреде ляют деформации, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности, после совмещения изображений деформированного растра одно из них поворачивают относительно другого вокруг центра 1системы координат и регистрируют картину муаровых полос, затем изготавливают изображение деформированного растра в другом масштабе, совмещают его с исходным иэображением и регистрируют картиф ну муаровых полос. Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе:1. Сухарев И. П., Ушаков Б. Н, "Исф следование деформаций и напряжений методом муаровых полос". М., Машиностроение, 1969, с. 32-33.2, Дюрелли А., Парке В, "Анализ деформаций с использованием муара". М., ф Мир, 1974, с, 184.

Смотреть

Заявка

2488074, 23.05.1977

ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ АН БЕЛОРУССКОЙ ССР

СЕГАЛ ВЛАДИМИР МИРОНОВИЧ, РЕЗНИКОВ ВУЛЬФ ИЗРАЙЛЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

Опубликовано: 15.12.1978

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-637703-sposob-opredeleniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций</a>

Похожие патенты