Способ определения деформаций деталей

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 11 Ц 654851 Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 06.10.77 присоединением зая Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий(43) Опубликовано 30.03.79. Бюлл (45) Дата опубликования описан 1,781,288.8) 0.03.7 2) Автор изобретени Х. Ф. Гитерм(71) Заявитель ьковский филиал Всесоюзного научно-иссл института по нормализации в машиност ательскогии Б ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРЧАЦИЙ ДЕТАЛЕЙ 4) С ются их трудоемкость, низкая точность и невозможность автоматизации процесса определения деформаций.Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса определения деформаций.Указанная цель достигается тем, что после наложения негативов просвечивают их нерасширенным пучком когерентного света, сканируют этим пучком по поверхности негативов и по образующейся на экране интерференционной картине определяют деформацию.Предлагаемый способ иллюстрируется чертежом.Способ заключается в том, что на исследуемую и эталонную деталь наносят сетки в виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали и накладывают негатив 1 эталонной детали на негатив 2 исследуемой детали. Затем негативы 1 и 2 просвечивают узким пучком 3 когерентного света и сканируют этим пучком по поверхности негативов, 1 и 2. По образующейся на экране 4 интерференционной картине определяют деформацию исследуемой детали,Опредс.способу Изобретение касается измерительной техники и может быть использовано для определения деформаций детали оптическими методами.Известен способ определения деформа ций с использованием муарового эффекта, заключающийся в том, что изготавливают оптически прозрачную модель детали, наносят на нее сетку, на модель детали накладывают прозрачную пластину с идентичной 10 сеткой, нагружают модель детали, получают при перемещении сетки на модели детали относительно неподвижной эталонной сетки картину муаровых полос, по которой определяют деформацию 11.15Наиболее близким по технической сущности к предложенному техническому решению является способ определения деформаций детали, заключающийся в том, что на исследуемую и эталонную детали наносят 20 сетки в виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали, накладывают один негатив на другой, перемещают их один относительно другого и определяют деформацию по отношению величин перемещений (скоростей) негатива сетки исследуемой детали и образующегося муарового пятна 2.Недостатками указанных способов явля- ЗО ление деформаций по данному производят по образующейся наПодписиоткрытий Заказ 314/13 Изд.258 Тираж 865НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Типография, пр. Сапунов экране 4 интерференционной картине путем определения вектора перемещения /г/ в исследуемой точкеЫ= в зависимости от длины волны источника когерентного света лрасстояния от негативов до экрана Ь, масштаба фотографирования т и периода интерференционных полос Т.Деформация по всей исследуемой детали определяется при сканировании лучом источника когерентного света по всей поверхности негативов. Поскольку требования к системе сканирования существенно ниже, а база усреднения значительно меньше, то тем самым процесс определения деформаций упрощается, а его точность повышается, Процесс определения деформаций можно автоматизировать при использовании фотоэлектронной системы анализа интерференционной картины, например фотодиодной матрицы.Данный способ может быть использован для исследования напряженно-деформированного состояния элементов конструкций и деталей машин и может дать при его реализации существенное упрощение и повышение точности определения деформаций, что особенно важно для диагностики технического состояния эксплуатируемых конструкций и при серийном производстве от ветственных деталей. Формула изобретенияСпособ определения деформаций деталей, заключающийся в том, что на исследу 10 емую и эталонную детали наносят сеткив виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали, накладывают одиннегатив на другой, отличающийся тем,15 что, с целью повышения точности и упрощения процесса определения деформаций,после наложения негативов просвечиваютих пер асширенным пучком когерентногосвета, сканируют этим пучком по поверхности негативов и по образующейся на экране интерференционной картине определяютдеформацию.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Дюрелли А. и Паркс В. Анализ деформаций с использованием муара. М., Мир,1974, с. 149 - 152.2. Авторское свидетельство СССР373522, кл. Ст 01 В 11/16, 1973,